一种闪烁体的余晖测量装置及系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种闪烁体的余晖测量装置及系统，余晖测量装置包括射线发射部，用于发射X射线；旋转部，包括第一旋转件和第二旋转件，第一旋转件的端面和/或第二旋转件的端面上开设有设定宽度的凹槽；第一旋转件的端面与第二旋转件的端面相互对接，以共同连接成旋转部，并形成用于射线穿过的透射孔；旋转部可转动地设置于射线发射部的一侧，以实现对待测闪烁体进行X射线照射的通断控制；数据采集部，设置于旋转部的远离射线发射部的一侧，以用于对待测闪烁体进行数据采集。该余晖测量装置通过将旋转部设计为分体式结构，从而仅便于在第一旋转件的端面和/或第二旋转件的端面开设凹槽，降低了加工难度，有利于提高生产效率。有利于提高生产效率。有利于提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】
一种闪烁体的余晖测量装置及系统


[0001]本技术涉及一种闪烁体的余晖测量装置，还涉及应用其的余晖测量系统，属于余晖测量


技术介绍

[0002]闪烁体的余晖特性对于X射线探测成像质量有重要影响，尤其对于图像穿透指标会造成较大影响。为了提高X射线探测系统性能指标，需要对探测器的余晖进行测试，用于筛选探测器，或用于图像数据计算时的余晖扣除。
[0003]申请号为：201921842486.8的专利申请，公开了一种余晖测量装置，采用转盘带动一个金属滑块来回滑动实现X射线的通断控制，转盘与金属滑块通过连杆连接，这样转盘，连杆和金属滑块形成了对心式曲柄滑块机构。金属滑块上开有通槽，随着圆盘转动，金属滑块来回往复直线运动，X射线可通过通槽照射到滑块下面安装的被测闪烁体，进而实现余晖测量。然而，这种测试机构结构较为复杂，不同尺寸的闪烁体需要配备不同尺寸通槽的金属滑块，这样既增加成本又影响测试效率；此外通槽扫过被测闪烁体后，穿过通槽的X射线依旧会有部分散射照到闪烁体，从而影响了测量精度。
[0004]申请号为：201711428826.8的专利申请，公开了另一种余晖测量装置，采用转轴开孔的方式来实现X射线的通断，转轴下方装有被测闪烁体，测量时转轴以一定速度旋转，转轴上的孔可实现X射线的通断。然而，这种方式需要在硬质金属转轴上开凿形状尺寸精确的孔槽，加工难带较高；针对不同尺寸的闪烁体需要匹配不同的转轴，也提高了测试装置的成本。

技术实现思路

[0005]本技术所要解决的首要技术问题在于提供一种闪烁体的余晖测量装置，以降低制造难度，提高生产效率。
[0006]本技术所要解决的另一技术问题在于提供一种闪烁体的余晖测量系统。
[0007]为实现上述技术目的，本技术采用以下技术方案：
[0008]本技术实施例的第一方面，提供一种闪烁体的余晖测量装置，包括：
[0009]射线发射部，用于发射X射线；
[0010]旋转部，包括第一旋转件和第二旋转件，所述第一旋转件的端面和/或所述第二旋转件的端面上开设有设定宽度的凹槽；所述第一旋转件的端面与所述第二旋转件的端面相互对接，以共同连接成所述旋转部，并形成用于射线穿过的透射孔；所述旋转部可转动地设置于所述射线发射部的一侧，以实现对待测闪烁体进行X射线照射的通断控制；
[0011]数据采集部，设置于所述旋转部的远离所述射线发射部的一侧，以用于对所述待测闪烁体进行数据采集。
[0012]其中较优地，所述第一旋转件的端面上开设有所述凹槽，所述第二旋转件的端面上具有限位凸起，所述限位凸起部分插入所述凹槽，以限制所述第一旋转件和所述第二旋
转件的相对转动。
[0013]其中较优地，所述限位凸起沿所述第二旋转件的轴线方向可移动地设置于所述第二旋转件上，以调节所述限位凸起插入所述凹槽的深度，进而调节所述透射孔的大小。
[0014]其中较优地，所述第二旋转件的端面上开设有收容槽，所述限位凸起能够沿所述第二旋转件的轴线方向移动，以凸伸出所述收容槽外或收容于所述收容槽内。
[0015]其中较优地，所述第一旋转件的端面上开设有多个第一限位孔，所述第二旋转件的端面上开设有多个第二限位孔，所述多个第一限位孔与所述多个第二限位孔一一对应；
[0016]限位销轴的两端分别穿设在所述第一限位孔和所述第二限位孔内，以限制所述第一旋转件和所述第二旋转件的相对位置。
[0017]其中较优地，还包括安装基座，所述安装基座的表面用于放置所述待测闪烁体，所述安装基座的表面的两端分别沿设定方向延伸出第一安装板和第二安装板，所述设定方向垂直于所述安装基座的表面；
[0018]所述第一旋转件的远离所述第二旋转件的一端可转动地安装于所述第一安装板上，所述第二旋转件的远离所述第一旋转件的一端可转动地安装于所述第二安装板上。
[0019]其中较优地，还包括旋转动力部，所述旋转动力部设置于所述第一安装板上并与所述第一旋转件连接，或所述旋转动力部设置于所述第二安装板上并与所述第二旋转件连接。
[0020]其中较优地，所述第一安装板上沿所述设定方向开设有多个第一安装孔，所述第二安装板上沿所述设定方向开设有多个第二安装孔，所述多个第一安装孔与所述多个第二安装孔一一对应；
[0021]所述第一旋转件能够通过不同的所述第一安装孔可转动地安装于所述第一安装板上，所述第二旋转件能够通过不同的所述第二安装孔可转动地安装于所述第二安装板上，以调节所述旋转部与所述安装基座的表面之间的距离。
[0022]其中较优地，所述安装基座的表面上具有多个真空吸附孔，所述真空吸附孔与气泵连接，以用于真空吸附所述待测闪烁体。
[0023]本技术实施例的第二方面，提供一种余晖测量系统，包括上述余晖测量装置。
[0024]本技术具有以下技术效果：
[0025]本技术提供的余晖测量装置，通过将旋转部设计为分体式结构，从而仅需在当第一旋转件的端面和/或第二旋转件的端面开设凹槽，即可通过拼接的方式形成透射孔，相比于直接在旋转部上开设尺寸精确的透射孔，降低了加工难度，有利于提高生产效率。此外，当其中一个旋转件损坏时，不影响另一旋转件的正常使用，可直接更换损坏的旋转件即可，避免了材料的浪费。
附图说明
[0026]图1为本技术实施例提供的一种闪烁体的余晖测量装置的主视图；
[0027]图2为本技术实施例提供的一种闪烁体的余晖测量装置的俯视图；
[0028]图3为第一旋转件的结构示意图；
[0029]图4为第二旋转件的结构示意图；
[0030]图5为安装基座的另一种结构示意图；
[0031]图6为待测闪烁体开始有X射线照射时的结构示意图；
[0032]图7为待测闪烁体的X射线照射面积第一次达到最大时的结构示意图；
[0033]图8为待测闪烁体的X射线照射面积最后一次达到最大时的结构示意图；
[0034]图9为待测闪烁体的X射线照射消失时的结构示意图；
[0035]图10为待测闪烁体的光输出变化图。
具体实施方式
[0036]下面结合附图和具体实施例对本技术的
技术实现思路
进行详细具体的说明。
[0037]如图1所示，为本技术实施例提供的一种闪烁体的余晖测量装置，包括：射线发射部1、旋转部2和数据采集部3。
[0038]其中，射线发射部1用于发射X射线。数据采集部3用于对待测闪烁体10进行数据采集。旋转部2可转动地设置于射线发射部1与数据采集部3之间，并具有用于透射X射线的透射孔201，以实现对待测闪烁体10进行X射线照射的通断控制。该待测闪烁体10位于旋转部2与数据采集部3之间。
[0039]本实施例中，具体的，旋转部2为分体式结构，包括第一旋转件21和第二旋转件22。该第一旋转件21和第二旋转件22均为旋转半轴，但不限定于该结构形式，在其他实施例中，也可以进行适应本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪烁体的余晖测量装置，其特征在于，包括：射线发射部，用于发射X射线；旋转部，包括第一旋转件和第二旋转件，所述第一旋转件的端面和/或所述第二旋转件的端面上开设有设定宽度的凹槽；所述第一旋转件的端面与所述第二旋转件的端面相互对接，以共同连接成所述旋转部，并形成用于射线穿过的透射孔；所述旋转部可转动地设置于所述射线发射部的一侧，以实现对待测闪烁体进行X射线照射的通断控制；数据采集部，设置于所述旋转部的远离所述射线发射部的一侧，以用于对所述待测闪烁体进行数据采集。2.如权利要求1所述的余晖测量装置，其特征在于，所述第一旋转件的端面上开设有所述凹槽，所述第二旋转件的端面上具有限位凸起，所述限位凸起部分插入所述凹槽，以限制所述第一旋转件和所述第二旋转件的相对转动。3.如权利要求2所述的余晖测量装置，其特征在于，所述限位凸起沿所述第二旋转件的轴线方向可移动地设置于所述第二旋转件上，以调节所述限位凸起插入所述凹槽的深度，进而调节所述透射孔的大小。4.如权利要求3所述的余晖测量装置，其特征在于，所述第二旋转件的端面上开设有收容槽，所述限位凸起能够沿所述第二旋转件的轴线方向移动，以凸伸出所述收容槽外或收容于所述收容槽内。5.如权利要求1所述的余晖测量装置，其特征在于，所述第一旋转件的端面上开设有多个第一限位孔，所述第二旋转件的端面上开设有多个第二限位孔，所述多个第一限位孔与所述多个第二限位孔一一对应；限位销轴的两端分别穿设在所述第一限位孔和所述第二限位孔...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘建军，李超，
申请(专利权)人：芯晟捷创光电科技常州有限公司，
类型：新型
国别省市：