本实用新型专利技术公开了一种用于集成电路的顶窗式测试装置，包括上盖、底座、压爪、弹簧、第一长轴、第二长轴、导电体模组，上盖、底座设置有卡扣连接，第一长轴使压爪与上盖连接，底座设置有压爪导向槽，第二长轴穿过压爪第二长轴孔后并放置在底座的压爪导向槽里，弹簧缩短的同时上盖带动压爪旋转、第二长轴在压爪导向槽里滑动后压爪张开，弹簧可将上盖顶起的同时上盖带动压爪旋转、第二长轴在压爪导向槽里滑动后压爪压住所待测试的物品，压爪导向槽的靠近底座中心的一端低于靠近底座边缘的一端。通过将压爪导向槽的靠近底座中心的一端低于靠近底座边缘的一端、压爪导向槽呈弧形，使得压爪可张开更大，更方便测试操作。更方便测试操作。更方便测试操作。
【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路的顶窗式测试装置
[0001]本技术涉及集成电路
，特别涉及一种用于集成电路的顶窗式测试装置。
技术介绍
[0002]目前在集成电路的老化、烧录及测试领域，有一种顶窗式结构的测试装置被广泛应用，主要用在自动化老化、烧录及测试设备上。这种设备里压爪导向槽是水平直线型的，存在压爪张开距离不够的问题。
技术实现思路
[0003]本技术要解决的技术问题是提供一种用于集成电路的顶窗式测试装置，解决压爪张开距离不够的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术的技术方案为：一种用于集成电路的顶窗式测试装置，包括上盖、底座、压爪、弹簧、第一长轴、第二长轴、导电体模组，其中上盖、底座设置有卡扣连接以免弹簧把上盖、底座分离开来，上盖可相对于底座上下滑动，第一长轴分别穿过上盖的上盖第一长轴孔和压爪上的压爪第一长轴孔来使压爪与上盖连接，底座设置有压爪导向槽，第二长轴可在压爪导向槽里滑动，第二长轴穿过压爪上的压爪第二长轴孔后并放置在底座的压爪导向槽里，在外力压在上盖时弹簧缩短的同时上盖带动压爪旋转、第二长轴在压爪导向槽里滑动后压爪张开，外力消除后弹簧可将上盖顶起的同时上盖带动压爪旋转、第二长轴在压爪导向槽里滑动后压爪压住所待测试的物品，压爪导向槽的靠近底座中心的一端低于靠近底座边缘的一端。
[0005]优选的，压爪导向槽从靠近底座中心的一端到靠近底座边缘的一端的宽度相等。
[0006]优选的，压爪导向槽的宽度大于第二长轴的直径。
[0007]优选的，压爪在与底座接触的一侧设置有凸台以便压爪向外旋转。
[0008]优选的，压爪导向槽通过压爪导向槽中心线竖直剖面的底部曲线呈弧形。
[0009]采用本技术方案的有益效果：通过将压爪导向槽的靠近底座中心的一端低于靠近底座边缘的一端，使得压爪头部有不断抬起和向外旋转的过程，压爪张开距离会越来越大，更方便测试操作。
附图说明
[0010]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0011]图1为本技术的立体图；
[0012]图2为本技术顶开状态的立体图；
[0013]图3为内部结构图；
[0014]图4为本技术的结构图；
[0015]图5为本技术另一角度的结构图；
[0016]图6为压爪的立体图；
[0017]图7为压爪导向槽的位置图。
[0018]图中，1
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上盖，2
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底座，3
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压爪，4
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弹簧，5
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第一长轴，6
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第二长轴，7
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导电体模组，8一压爪导向槽，9
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上盖第一长轴孔，10
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压爪第一长轴孔，11
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压爪第二长轴孔，12
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方形壁，13
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方形槽，14
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凸台，15
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凹台面。
具体实施方式
[0019]为进一步说明各实施例，本技术提供有附图，这些附图为本技术揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理，配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本技术的优点，图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。
[0020]下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步说明。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本技术，但并不构成对本技术的限定。此外，下面所描述的本技术各个实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0021]参考附图，一种用于集成电路的顶窗式测试装置，包括上盖1、底座2、压爪3、弹簧4、第一长轴5、第二长轴6、导电体模组7，其中上盖1、底座2设置有卡扣连接以免弹簧4把上盖1、底座2分离开来，上盖1可相对于底座2上下滑动，第一长轴5分别穿过上盖1的上盖第一长轴孔9和压爪3上的压爪第一长轴孔10来使压爪3与上盖1连接，底座2设置有压爪导向槽8，第二长轴6可在压爪导向槽8里滑动，第二长轴6穿过压爪3上的压爪第二长轴孔11后并放置在底座2的压爪导向槽8里，在外力压在上盖1时弹簧4缩短的同时上盖1带动压爪3旋转、第二长轴6在压爪导向槽8里滑动后压爪3张开，外力消除后弹簧4可将上盖1顶起的同时上盖1带动压爪3旋转、第二长轴6在压爪导向槽8里滑动后压爪3压住所待测试的物品，压爪导向槽8的靠近底座2中心的一端低于靠近底座2边缘的一端。压爪导向槽8的靠近底座2中心的一端为封闭的。
[0022]优选的，压爪导向槽8从靠近底座2中心的一端到靠近底座2边缘的一端的宽度相等。
[0023]优选的，压爪导向槽8的宽度大于第二长轴6的直径。
[0024]优选的，压爪3在与底座2接触的一侧设置有凸台14以便压爪3向外旋转。底座2相应地设置有凹台面15以便压爪3向外旋转。
[0025]优选的，压爪导向槽8通过压爪导向槽8中心线竖直剖面的底部曲线呈弧形。
[0026]测试装置的上盖1在垂直外力的作用下下行，卡扣里上盖1中的方形壁12逐渐进入底座2的方形槽13内，两者在装置运动时起导向作用；上盖1下降中压缩弹簧4，上盖第一长轴孔9里的第一长轴5带动两侧压爪3的尾部下行，同时压爪3带动第二长轴6沿着压爪导向槽8底部曲线由装置中部位置向装置左右两侧运动，压爪3头部向上抬头，同时左右两个压爪3头部的距离越来越远，当上盖1的限位面与底座2的限位面贴合时，上盖1不再向下运动，
同时压爪3尾部下方的凸台14与底座2的凹台面15接触，使压爪3有向外旋转的趋势，从而使压爪3张开距离最大化；接着从上盖1窗口将集成电路放入导电体模组7的限位框内，放开集成电路；外力逐渐释放，弹簧4将上盖1的上顶，上盖1带动压爪3沿着底座2上的压爪导向槽8顶部曲线归位，当压爪3接触集成电路后，克服导电体和浮板弹簧向上的弹力，将集成电路、浮板和导电体下压，直至压爪3头部向下的压力与导电体模组7的抗力达成平衡，此时第二长轴6向上顶住底座2上的压爪导向槽8的顶部曲线，形成一个可转动的支点。
[0027]压爪3的传力比计算：
[0028]压爪3的传力比＝第二长轴6中心线到第一长轴5中心线的距离/第二长轴6到压爪与集成电路接触点的距离。本技术可以改善压爪3的传力比，使压爪3的传力比增大。
[0029]压爪3张开距离＝两个压爪3头部之间的最小距离。
[0030]本技术通过将压爪导向槽8的靠近底座中心的一端低于靠近底座边缘的一端、压爪导向槽8呈弧形，使得压爪3可张开更大，更方便本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路的顶窗式测试装置，其特征在于：包括上盖、底座、压爪、弹簧、第一长轴、第二长轴、导电体模组，其中所述上盖、底座设置有卡扣连接以免弹簧把上盖、底座分离开来，所述上盖可相对于底座上下滑动，所述第一长轴分别穿过上盖的上盖第一长轴孔和压爪上的压爪第一长轴孔来使压爪与上盖连接，所述底座设置有压爪导向槽，所述第二长轴可在压爪导向槽里滑动，所述第二长轴穿过压爪上的压爪第二长轴孔后并放置在底座的压爪导向槽里，在外力压在上盖时弹簧缩短的同时上盖带动压爪旋转、第二长轴在压爪导向槽里滑动后压爪张开，外力消除后弹簧可将上盖顶起的同时上盖带动压爪旋转、...
【专利技术属性】
技术研发人员：王国华，李泽林，
申请(专利权)人：深圳市斯纳达科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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