本实用新型专利技术公开一种验证电信号和光信号时序的测试装置，包括PON样机、电缆、光纤线、电探头、光电探头和示波器，其中所述示波器设置有第一接口CH1和第二接口CH2，所述PON样机设置有测试点和光纤接口，其中所述测试点通过电缆与连接电探头，并且所述电探头与第一接口CH1连接，所述光纤接口通过光纤线与光电探头连接，并且所述光电探头与第二接口CH2连接，所述电信号和光信号时序通过匹配模块实现时序比对。能够验证光信号和电信号之间的时序，并自动判定数值是否大于或者小于12.8ns，实现起来及其容易，成本低廉，性价比高。性价比高。性价比高。
【技术实现步骤摘要】
一种验证电信号和光信号时序的测试装置
[0001]本技术涉及电子
，且更具体地涉及一种验证电信号和光信号时序的测试装置。
技术介绍
[0002]无线产品中的FEM(射频前端模块)通常会集成PA(功率放大器)和LNA(低噪声放大器)，工作中的无线产品PA会不停的进行开关切换，而控制PA开关的信号为TX enable，PA发送的信号为TXpower，由于TXpower信号电压通常比较小，且无法区分起始点在示波器时间轴的位置，为了精确测试TX enable和TXpower之间时序关系，就需要将TXpower进行时域转换成频域，再由频域转换成时域的方法来进行精确的测量，而通常情况下都需要人为来进行示波器的设置，手动操作费时费力，效率低下。
[0003]为了保障PON(无源光网络)样机能稳定可靠地运行，就需要验证电信号和光信号之间的时序，现有技术测试过程中需要手动操作示波器和设置相关参数，过程繁琐，并且效率低下，测试流程复杂，测试效率低下。
技术实现思路
[0004]针对上述技术的不足，本技术公开一种验证电信号和光信号时序的测试装置，能够验证光信号和电信号之间的时序，并自动判定数值是否大于或者小于12.8ns，实现起来及其容易，成本低廉，性价比高。
[0005]本技术采用以下技术方案：
[0006]一种验证电信号和光信号时序的测试装置，包括PON样机、电缆、光纤线、电探头、光电探头和示波器，其中所述示波器设置有第一接口CH1和第二接口CH2，所述PON样机设置有测试点和光纤接口，其中所述测试点通过电缆与连接电探头，并且所述电探头与第一接口CH1连接，所述光纤接口通过光纤线与光电探头连接，并且所述光电探头与第二接口CH2连接，所述电信号和光信号时序通过匹配模块实现时序比对。
[0007]作为本技术进一步的技术方案，所述PON样机设置有无源光网络接口。
[0008]作为本技术进一步的技术方案，光信号和电信号之间的时序设置为12.8ns。
[0009]作为本技术进一步的技术方案，所述第一接口CH1接收电信号，所述第二接口CH2接收光信号。
[0010]作为本技术进一步的技术方案，当光信号和电信号之间的时序大于12.8ns时，则所述PON样机为合格机，当光信号和电信号之间的时序小于12.8ns时，则所述PON样机为不合格机。
[0011]作为本技术进一步的技术方案，匹配模块包括光信号输入模块、电信号输入模块、信号转换模块、电压偏置电路、A/D转换模块、FPGA处理模块、DSP处理模块、过零比较器、阈值比较模块、存储器和上位机，其中所述光信号输入模块和电信号输入模块的输入端与信号转换模块的输入端连接，所述信号转换模块的输出端与电压偏置电路的输入端连
接，所述电压偏置电路的输出端与A/D转换模块的输入端连接，所述A/D转换模块的输出端与FPGA处理模块的输入端连接，所述FPGA处理模块与DSP处理模块双向通信，所述DSP处理模块的输出端与分别与上位机和存储器连接，所述电压偏置电路的输出端还与过零比较器连接，所述过零比较器的输出端与阈值比较模块的输入端连接，所述阈值比较模块的输出端与FPGA处理模块的输入端连接，所述过零比较器的输出端与DSP处理模块输入端连接。
[0012]作为本技术进一步的技术方案，所述A/D转换模块为8通道16位的AD7606型号同步A/D转换器，实现8路单端16位高速同步模拟信号的数据采集。
[0013]作为本技术进一步的技术方案，所述信号转换模块为基于光耦模块的转换模块。
[0014]作为本技术进一步的技术方案，所述电压偏置电路为基于晶体管放大电路的偏置电路。
[0015]作为本技术进一步的技术方案，所述DSP处理模块为基于DSP TMS320C31型号的处理模块。
[0016]积极有益效果：
[0017]本技术能够验证光信号和电信号之间的时序，能够自动化测试光信号和电信号之间的时序，并对结果作判断。自动判定数值是否大于或者小于12.8ns，实现起来及其容易，成本低廉，性价比高。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：
[0019]图1为本技术一种验证电信号和光信号时序的测试装置的原理图；
[0020]图2为本技术一种验证电信号和光信号时序的测试装置中匹配模块的原理图；
[0021]图3为为本技术一种验证电信号和光信号时序的测试装置一种实施例示意图。
具体实施方式
[0022]以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的实施例仅用于说明和解释本技术，并不用于限定本技术。
[0023]如图1所示，一种验证电信号和光信号时序的测试装置，包括PON样机、电缆、光纤线、电探头、光电探头和示波器，其中所述示波器设置有第一接口CH1和第二接口CH2，所述PON样机设置有测试点和光纤接口，其中所述测试点通过电缆与连接电探头，并且所述电探头与第一接口CH1连接，所述光纤接口通过光纤线与光电探头连接，并且所述光电探头与第二接口CH2连接，所述电信号和光信号时序通过匹配模块实现时序比对。
[0024]在本技术中，所述PON样机设置有无源光网络接口。
[0025]在本技术中，光信号和电信号之间的时序设置为12.8ns。
[0026]在本技术中，所述第一接口CH1接收电信号，所述第二接口CH2接收光信号。
[0027]在本技术中，当光信号和电信号之间的时序大于12.8ns时，则所述PON样机为合格机，当光信号和电信号之间的时序小于12.8ns时，则所述PON样机为不合格机。
[0028]在本技术中，如图2所示，匹配模块包括光信号输入模块、电信号输入模块、信号转换模块、电压偏置电路、A/D转换模块、FPGA处理模块、DSP处理模块、过零比较器、阈值比较模块、存储器和上位机，其中所述光信号输入模块和电信号输入模块的输入端与信号转换模块的输入端连接，所述信号转换模块的输出端与电压偏置电路的输入端连接，所述电压偏置电路的输出端与A/D转换模块的输入端连接，所述A/D转换模块的输出端与FPGA处理模块的输入端连接，所述FPGA处理模块与DSP处理模块双向通信，所述DSP处理模块的输出端与分别与上位机和存储器连接，所述电压偏置电路的输出端还与过零比较器连接，所述过零比较器的输出端与阈值比较模块的输入端连接，所述阈值比较模块的输出端与FPGA处理模块的输入端连接，所述过零比较器的输出端与DSP处理模块输入端连接。
[0029]在本技术中，所述A/D转换模块为8通本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种验证电信号和光信号时序的测试装置，其特征在于：包括PON样机、电缆、光纤线、电探头、光电探头和示波器，其中所述示波器设置有第一接口CH1和第二接口CH2，所述PON样机设置有测试点和光纤接口，其中所述测试点通过电缆与连接电探头，并且所述电探头与第一接口CH1连接，所述光纤接口通过光纤线与光电探头连接，并且所述光电探头与第二接口CH2连接，所述电信号和光信号时序通过匹配模块实现时序比对。2.根据权利要求1所述的一种验证电信号和光信号时序的测试装置，其特征在于：所述PON样机设置有无源光网络接口。3.根据权利要求1所述的一种验证电信号和光信号时序的测试装置，其特征在于：光信号和电信号之间的时序设置为12.8ns。4.根据权利要求1所述的一种验证电信号和光信号时序的测试装置，其特征在于：所述第一接口CH1接收电信号，所述第二接口CH2接收光信号。5.根据权利要求1所述的一种验证电信号和光信号时序的测试装置，其特征在于：当光信号和电信号之间的时序大于12.8ns时，则所述PON样机为合格机，当光信号和电信号之间的时序小于12.8ns时，则所述PON样机为不合格机。6.根据权利要求1所述的一种验证电信号和光信号时序的测试装置，其特征在于：所述匹配模块包括光信号输入模块、电信号输入模块、信号转换模块、电压偏置电路、A/D转换模块、FPGA处理模块、DSP处...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈晨，
申请(专利权)人：太仓市同维电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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