【技术实现步骤摘要】
基于射频透射法的复合绝缘子芯棒缺陷检测方法
[0001]本专利技术涉及一种绝缘芯棒的检测方法,具体涉及基于射频透射法的复合绝缘子芯棒缺陷检测方法。
技术介绍
[0002]目前,针对复合绝缘子芯棒缺陷检测的方法有红外热成像法、电压法、X射线法、超声波法、紫外线法、微波反射法等。红外热成像法可以通过感应在复合绝缘子芯棒材料不连续性带来的温升来检测内部缺陷,但是容易收到阳光、温度、风速、湿度等环境因素的影响。电场法是一种应用非常广泛的检测方法,它可以通过测量复合绝缘子轴向电场强度的畸变水平来定位内部缺陷。然而,它不能在中高压水平下检测复合绝缘子中的导电缺陷。X射线具有很强的穿透能力,可以检测界面和复合绝缘子内部的微小裂纹,但成本高,生物辐射风险高。超声波方法可以通过倾听声音信号的回声并分析其振幅、时间和相移来检测大多数缺陷,但在检测操作之前,必须在被测绝缘子芯棒上应用特定的化学耦合剂。紫外线检测方法可以通过感应绝缘子芯棒不同位置电晕放电来检测缺陷,但这种方法只能在高环境湿度下进行。国内外已对微波无损检测技术进行了大量研究,但主要用于航天航空与军事领域,将微波检测用于复合绝缘子检测的研究还很少。Hinken等人用网络分析仪对树脂平板进行检测,证明可以检测到预设缺陷,Qaddoumi等使用近场微波检测内置缺陷的复合绝缘子样品,识别出内部缺陷,其对气孔识别能力较好,对金属缺陷的识别能力较差。清华大学王黎明教授等利用微波反射法识别出预设的毫米级深度缺陷,但长度、宽度尺寸较大,同时探测的效率不高。
技术实现思路
[0 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.基于射频透射法的复合绝缘子芯棒缺陷检测方法,其特征在于:(1)测量装置准备阶段微波透射法测量复合绝缘子芯棒检测设备组成包括:矢量网络分析仪器、同轴传输线、射频发射端口(四端口器件)、射频接收端口(四端口器件)、无缺陷芯棒(直径30mm,长度2400mm)、有缺陷芯棒(直径30mm,长度2400mm)、电脑等仪器设备。(2)测量装置连接阶段矢量网络分析仪通电后连接同轴传输线,同轴传输线另一端与射频发射端口相接。射频发射端口固定在复合绝缘子芯棒一端,微波信号通过发射端口耦合进入芯棒内,芯棒另一端接射频接收端口,接收微波信号。射频接收端口再通过同轴传输线将微波信号传回矢量网络分析仪,并将实时数据反应在电脑上。(3)数据测量阶段选取无缺陷复合绝缘子芯棒,矢量网络分析仪通过同轴传输线连接射频发射端口的port1,微波透射通过复合绝缘子芯棒,经射频接收端口port5由同轴线传输回矢量网络分析仪,此时,port2、port3、port4、port6、port7、port8接50Ω匹配负载,经此过程测量即得无缺陷复合绝缘子芯棒15方向的S2
(5)1(1)
数据。2.根据权利要求1所述的基于射频透射法的复合绝缘子芯棒缺陷检测方法,其特征在于:射频接收端口不动,发射端口改为port2,port1接50Ω匹配负载,即可测量无缺陷复合绝缘子芯棒25方向的S2
(5)1(2)
数据。再将发射端口改为port3,port2接50Ω匹配负载,即可测量无缺陷复合绝缘子芯棒35方向的S2
(5)1(3)
数据,同理,发射端口改为port4,port3接50Ω匹配负载,即可测量无缺陷复合绝缘子芯棒45方向的S2
(5)1(4)
数据。经此过程即可得无缺陷复合绝缘子芯棒5接收端口的测量数据共4组;照此类推,此后依次维持射频接收端口port6、port7、port8接同轴传输线不变,射频发射端口port1、port2、port3、port4轮换接同轴传输线,未接同轴线的port接50Ω匹配负载,即可得剩余12组无缺陷复合绝缘子芯棒数据;同理,针对有缺陷复合绝缘子芯棒进行同样数据测量,即得另外16组数据。3.根据权利要求2所述的基于射频透射法的复合绝缘子芯棒缺陷检测方法,其特征在于:进入到数据处理阶段,将同一接收端口的四个不同port方向发射端口的数据叠加,来模拟等幅同相的射频信号同时激励。以射频接收端口5为例,其表达式为:S2
(5)...
【专利技术属性】
技术研发人员:尹骏刚,邓林峰,李进,李超,刘艳,
申请(专利权)人:江苏双汇电力发展股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。