本发明专利技术公开了一种用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其包括：支架；以及压力测量装置，可相对于支架上下运动，压力测量装置包括基座、与基座间隔设置的滑块，以及安装于滑块上的压力传感器和压头，基座和滑块之间设有弹簧，弹簧的两端分别固定连接基座和滑块。此外，本发明专利技术还公开了一种用于辐照松弛检测的内应力测量方法。相对于现有技术，本发明专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法中，根据压力测量装置下降和上升过程中压头的位移、受力和弹簧的拉伸情况，可以精确计算辐照松弛样品在辐照条件和未受辐照条件下的内应力值，根据不同辐照条件的内应力值计算出对应的辐照松弛样品的辐照松弛量。样品的辐照松弛量。样品的辐照松弛量。
【技术实现步骤摘要】
用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法
[0001]本专利技术属于辐照松弛特性测量领域，更具体地说，本专利技术涉及一种用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法。
技术介绍
[0002]在核工业领域中，核安全问题影响着人们的生命财产安全、环境的可持续发展和经济的稳定运行，一直是社会关注的焦点。
[0003]结构件在服役过程中往往会在高温和辐射条件下发生蠕变，出现辐照松弛现象，辐照松弛会导致材料内应力降低和结构件失效。为了避免结构件因为辐照松弛而失效，需要掌握材料的辐照松弛特性规律并选择性能合适的材料制作结构件。因此，对结构件材料的松弛特性的测量与研究就变得格外重要。目前，关于结构件的应力、刚度等性能的研究以理论计算居多，对结构件受辐照后松弛特性的试验测量和分析很少，开展结构件受辐照后松弛特性测量工作具有重要意义。
[0004]在材料的松弛特性测量中，材料内应力的测量非常关键。内应力测量过程中需要对材料样品的受力和因此产生的形变或位移进行高精度测量，涵盖了力测量装置对材料样品施加力与此时装置推动压头移动走过的行程之间关系的测量。为了得到更精确的关系描述，期望得到在相同的施力条件下更长的行程。此过程难以全自动实现，也导致目前尚无全自动、高精度辐照松弛特性测量解决方案。
[0005]相关技术揭示了提出了一种辐照松弛特性测量方法和测量装置，测量装置内设置多个两点支撑两点下压结构，使辐照松弛样品形成梁的弯曲模型，利用梁的弯曲理论和梁的挠度计算应力，计算并比较不同辐照状态下的松弛情况。但是，相关技术的测量精度不高，空间受限，无法使用外部更精密的装置对辐照松弛样品进行测量，难以实现辐照松弛特性的高精度测量。
[0006]有鉴于此，确有必要提供一种用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法，以满足材料辐照松弛特性精密测量领域的高精度测量需求。
技术实现思路
[0007]本专利技术的目的在于：克服现有技术中存在的缺陷，提供一种可精确测量样品辐照松弛量的内应力测量装置和方法。
[0008]为了实现上述专利技术目的，本专利技术提供了一种用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其包括：
[0009]支架；以及
[0010]压力测量装置，可相对于所述支架上下运动，所述压力测量装置包括基座、与所述基座间隔设置的滑块，以及安装于所述滑块上的压力传感器和压头，所述基座和滑块之间设有弹簧，所述弹簧的两端分别固定连接于所述基座和滑块上。
[0011]根据本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置的一个实施方式，所述支架上设
有可相对于所述支架上下运动的安装板，所述压力测量装置安装于所述安装板上，并随着所述安装板相对于所述支架上下运动。
[0012]根据本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置的一个实施方式，所述支架设有电机和滑轨，所述电机驱动所述安装板沿着所述滑轨上下运动。
[0013]根据本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置的一个实施方式，所述安装板设有围绕所述压力测量装置的屏蔽壳体。
[0014]根据本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置的一个实施方式，所述屏蔽壳体由抗辐射材料制成，且可拆卸安装于所述安装板上。
[0015]根据本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置的一个实施方式，所述安装板设有竖直部和水平部，所述竖直部安装于所述支架上，所述水平部用于安装所述压力测量装置。
[0016]根据本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置的一个实施方式，所述基座两侧设有导向立柱，所述滑块位于所述导向立柱之间并沿着所述导向立柱上下运动。
[0017]根据本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置的一个实施方式，所述导向立柱两内侧分别设有凸出部，所述滑块对应的两外侧分别设有凹槽，所述凸出部对应安装于所述凹槽中并可在所述凹槽中上下运动。
[0018]为了实现上述专利技术目的，本专利技术还提供了一种用于辐照松弛检测的内应力测量方法，其包括以下步骤：
[0019]1)采用本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置，获取辐照松弛样品常温、未被辐照条件下，从两点支撑四点下压状态变成两点支撑两点下压状态时的最大内应力值σ0；
[0020]2)采用本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置，获取辐照松弛样品常温、辐照条件下，从两点支撑四点下压状态变成两点支撑两点下压状态时的最大内应力值σ；以及
[0021]3)根据公式η＝|(σ
‑
σ0)/σ0|
×
100％计算辐照条件下辐照松弛样品的松弛量。
[0022]根据本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量方法的一个实施方式，所述步骤1)和2)中，最大内应力值分别按公式σ＝3F(A
‑
L)/(bh2)计算，其中，F为压力传感器测得的压力值，A为压头两下端之间的距离，L为两支撑点之间距离，b为辐照松弛样品的宽度，h为辐照松弛样品的厚度。
[0023]相对于现有技术，本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法中，根据压力测量装置下降和上升过程中压头的位移、受力和弹簧的拉伸情况，可以精确计算辐照松弛样品在辐照条件和未受辐照条件下的内应力值，根据不同辐照条件的内应力值计算出对应的辐照松弛样品的辐照松弛量。
附图说明
[0024]下面结合附图和具体实施方式，对本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法进行详细说明。
[0025]图1是本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置的结构示意图。
[0026]图2是本专利技术用于辐照松弛检测的内应力测量装置中，压力测量装置的结构示意图。
[0027]图3是辐照松弛样品两点支撑两点下压的状态示意图。
[0028]图4是辐照松弛样品两点支撑四点下压的状态示意图。
[0029]其中，
[0030]10
‑‑
支架；100
‑‑
安装板；102
‑‑
竖直部；104
‑‑
水平部；106
‑‑
滑轨；20
‑‑
压力测量装置；200
‑‑
基座；202
‑‑
弹簧；204
‑‑
滑块；206
‑‑
压力传感器；208
‑‑
压头；210
‑‑
屏蔽壳体；212
‑‑
导向立柱；h
‑‑
辐照松弛样品厚度；L
‑‑
辐照松弛样品支撑点之间的距离；A
‑‑
压头两端之间的距离；F
‑‑
压头对辐照松弛样品的压力。
具体实施方式
[0031]为了使本专利技术的专利技术目的、技术方案和技术效果更加清晰明白，以下结合附图和具体实施方式，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解的是，本说明书中描述的具体实施方式仅仅是为了解释本专利技术，并不是为了限定本专利技术。
[0032]请参照图1和图2所示，本专利技术提供了一种用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其包本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其特征在于，包括：支架；以及压力测量装置，可相对于所述支架上下运动，所述压力测量装置包括基座、与所述基座间隔设置的滑块，以及安装于所述滑块上的压力传感器和压头，所述基座和滑块之间设有弹簧，所述弹簧的两端分别固定连接于所述基座和滑块上。2.根据权利要求1所述的用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其特征在于，所述支架上设有可相对于所述支架上下运动的安装板，所述压力测量装置安装于所述安装板上，并随着所述安装板相对于所述支架上下运动。3.根据权利要求2所述的用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其特征在于，所述支架设有电机和滑轨，所述电机驱动所述安装板沿着所述滑轨上下运动。4.根据权利要求2所述的用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其特征在于，所述安装板设有围绕所述压力测量装置的屏蔽壳体。5.根据权利要求4所述的用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其特征在于，所述屏蔽壳体由抗辐射材料制成，且可拆卸安装于所述安装板上。6.根据权利要求2所述的用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其特征在于，所述安装板设有竖直部和水平部，所述竖直部安装于所述支架上，所述水平部用于安装所述压力测量装置。7.根据权利要求1所述的用于辐照松弛检测的内应力测量装置，其特征在于，所述基座两侧设有导...
【专利技术属性】
技术研发人员：高长源，黄洁明，陈刘涛，崔俊宁，康博，齐宝军，丁宁，张国梁，
申请(专利权)人：中广核研究院有限公司中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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