一种样品台及测试方法技术

本发明专利技术涉及晶体检测领域，公开一种样品台及采用样品台进行晶体均一性测试的测试方法，样品台包括：直线滑动装置和旋转装置，直线滑动装置包括能够沿第一直线方向滑动的滑动件，旋转装置设置于滑动件上，旋转装置能够绕第二直线转动，且第一直线与第二直线二者相互垂直。与现有设置有X向滑台和Y向滑台的样品台相比，本发明专利技术提供的样品台及测试方法待测晶体位置变换过程中移动更小，本发明专利技术提供的样品台及测试方法能够在小移动的情况下完成晶体均一性测试。性测试。性测试。

【技术实现步骤摘要】
一种样品台及测试方法


[0001]本专利技术涉及晶体检测领域，特别是涉及一种样品台及测试方法。

技术介绍

[0002]根据布拉格方程，对于一束X射线，当光程差等于波长的整数倍时，晶面的散射线将加强，此时满足2dsinθ＝nλ，其中，d为晶面间距，θ为入射光线、反射光线与反射晶面之间的夹角，λ为波长，n为反射级数。因此，用已知波长的光照射位置结构的晶体，通过衍射角的测量，求得晶体中各晶面的间距d，进而可揭示晶体的结构。根据这一原理，X射线衍射仪被开发并使用，目前已被广泛应用于各领域、各种材料的结晶结构表征中。
[0003]目前为了方便测试X射线衍射仪内部均设置有样品台，且现有的样品台一般包括相互垂直的X向滑台和Y向滑台，测试过程中通过X向滑台和Y向滑台调整待测晶体的位置，进而实现对待测晶体不同位置的测试。但由于X射线衍射仪内部空间狭小，现有的样品台仅适用于小尺寸晶体测试，当对大尺寸晶体进行测试时，由于位置变换过程中，晶体的移动较大，导致晶体很容易发生碰撞，进行导致晶体很容易损坏。
[0004]因此，如何在小移动的情况下完成晶体均一性测试成为本领域技术人员目前所亟待解决的问题。

技术实现思路

[0005]为解决以上技术问题，本专利技术提供一种能够在小移动的情况下完成晶体均一性测试的样品台及测试方法。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：
[0007]本专利技术提供一种样品台，包括：直线滑动装置和旋转装置，所述直线滑动装置包括能够沿第一直线方向滑动的滑动件，所述旋转装置设置于所述滑动件上，所述旋转装置能够绕第二直线转动，且所述第一直线与所述第二直线二者相互垂直。
[0008]优选地，所述直线滑动装置还包括第一电机、丝杠和两个导轨，所述丝杠和各所述导轨均沿所述第一直线的长度方向设置，两个所述导轨对称设置于所述丝杠的两侧，所述第一电机与所述丝杠传动连接、以驱动所述丝杠转动，所述滑动件套设于所述丝杠上、并与所述丝杠螺纹连接，所述滑动件与各所述导轨均滑动连接。
[0009]优选地，所述滑动件为滑座。
[0010]优选地，所述旋转装置包括外壳、蜗杆、蜗轮、第二电机以及支撑件，所述蜗杆和所述蜗轮均可转动地设置于所述外壳内部，且所述蜗轮的轴线与所述第二直线相重合，所述第二电机与所述蜗杆传动连接、以驱动所述蜗杆转动，所述蜗杆与所述蜗轮相啮合，所述支撑件设置于所述蜗轮上、且二者轴线重合。
[0011]优选地，所述支撑件为支撑台。
[0012]优选地，样品台还包括用于驱动所述直线滑动装置沿第三直线方向升降的直线升降装置，所述第三直线与所述第二直线相平行。
[0013]优选地，样品台还包括用于驱动所述直线滑动装置绕第四直线摆动的角位移台，所述第四直线与所述第二直线相垂直。
[0014]本专利技术还提供一种测试方法，使用所述的样品台进行样品均一性测试，包括以下步骤：
[0015]步骤一，将待测晶体设置于所述旋转装置上，且所述待测晶体的轴线与所述第二直线相重合；
[0016]步骤二，沿所述第一直线方向移动所述滑动件，之后绕所述第二直线转动所述旋转装置；或者绕所述第二直线转动所述旋转装置，之后沿所述第一直线方向移动所述滑动件。
[0017]本专利技术相对于现有技术取得了以下技术效果：
[0018]本专利技术提供的样品台包括：直线滑动装置和旋转装置，直线滑动装置包括能够沿第一直线方向滑动的滑动件，旋转装置设置于滑动件上，旋转装置能够绕第二直线转动，且第一直线与第二直线二者相互垂直。使用样品台进行样品均一性测试，包括以下步骤：步骤一，将待测晶体设置于旋转装置上，且待测晶体的轴线与第二直线相重合；步骤二，沿第一直线方向移动滑动件，之后绕第二直线转动旋转装置；或者绕第二直线转动旋转装置，之后沿第一直线方向移动滑动件。与采用X向滑台和Y向滑台调整晶体位置相比，该样品台所需的移动空间更小，该样品台能够在小移动的情况下完成晶体均一性测试。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本专利技术实施例中提供的样品台的结构示意图；
[0021]图2为本专利技术实施例中提供的样品台与X射线衍射仪的配合方式示意图；
[0022]图3为本专利技术实施例中提供的直线滑动装置的主视图；
[0023]图4为本专利技术实施例中提供的旋转装置的俯视图；
[0024]图5为采用X向滑台和Y向滑台调整待测晶体位置时待测晶体的移动轨迹示意图；
[0025]图6为采用本专利技术实施例中提供的样品台调整待测晶体位置时待测晶体的移动轨迹示意图。
[0026]附图标记说明：100、样品台；1、直线滑动装置；101、第一电机；102、丝杠；2、旋转装置；201、外壳；202、第二电机；203、支撑件；3、X射线衍射仪；301、样品座；4、待测晶体；5、直线升降装置；6、角位移台。
具体实施方式
[0027]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0028]本专利技术的目的是提供一种能够在小移动的情况下完成晶体均一性测试的样品台及测试方法。
[0029]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。
[0030]参考图1
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图4所示，本实施例提供的样品台100包括：直线滑动装置1和旋转装置2，直线滑动装置1包括能够沿第一直线方向滑动的滑动件，旋转装置2设置于滑动件上，旋转装置2能够绕第二直线转动，且第一直线与第二直线二者相互垂直。该样品台100适用于各种尺寸晶体样品的测试，尤其是针对大面积晶体样品，采用该样品台100可实现在小移动空间内完成均一性测试。
[0031]采用X向滑台和Y向滑台调整待测晶体4位置时，如图5所示，以X向滑台的移动方向为X轴，以Y向滑台的移动方向为Y轴建立直角坐标系，为了对待测晶体4的任意位置均能够进行测试，在X轴方向和Y轴方向均需要预留移动空间。采用本专利技术提供的样品台调整待测晶体4位置时，如图6所示，以第一直线为Y轴建立直角坐标系，为了对待测晶体4的任意位置均能够进行测试，只需要在Y轴方向预留移动空间即可，且Y轴方向预留移动空间为采用X向滑台和Y向滑台调整待测晶体4位置时Y轴方向预留移动空间的一半。可见，与采用X向滑台和Y向滑台调整待测晶体4位置相比，该样品台所需的移动空间更小，该样品台能够在小移动的情况下完成晶体均一性测试。
[0032]使用样品台10本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种样品台，其特征在于，包括：直线滑动装置和旋转装置，所述直线滑动装置包括能够沿第一直线方向滑动的滑动件，所述旋转装置设置于所述滑动件上，所述旋转装置能够绕第二直线转动，所述旋转装置的轴线与所述第二直线相重合，且所述第一直线与所述第二直线二者相互垂直。2.根据权利要求1所述的样品台，其特征在于，所述直线滑动装置还包括第一电机、丝杠和两个导轨，所述丝杠和各所述导轨均沿所述第一直线的长度方向设置，两个所述导轨对称设置于所述丝杠的两侧，所述第一电机与所述丝杠传动连接、以驱动所述丝杠转动，所述滑动件套设于所述丝杠上、并与所述丝杠螺纹连接，所述滑动件与各所述导轨均滑动连接。3.根据权利要求2所述的样品台，其特征在于，所述滑动件为滑座。4.根据权利要求1所述的样品台，其特征在于，所述旋转装置包括外壳、蜗杆、蜗轮、第二电机以及支撑件，所述蜗杆和所述蜗轮均可转动地设置于所述外壳内部，且所述蜗轮的轴线与所述第二直线相重合，所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：张吉东，孟圣斐，宋新月，
申请(专利权)人：苏州锂影科技有限公司，
类型：发明
国别省市：