【技术实现步骤摘要】
一种处理器自动测试控制平台、控制方法及操作方法
[0001]本专利技术涉及元器件功能测试领域,尤其涉及一种处理器自动测试控制平台、控制方法及操作方法。
技术介绍
[0002]本专利技术基于一款32位RISC
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V内核的国产自主可控处理器芯片,包含UART、Timer、CAN、SPI、GPIO等多种外设接口。处理器全功能批量自动测试平台主要用于实现该处理器芯片出厂前覆盖全功能的自动测试,包括自动进行测试记录、测试结果分析、测试报告生成,有助于降低时间成本,提高测试效率。平台组成如图2所示。目前通用的测试方法是,将嵌入式测试程序一次性烧录进处理器内,再由上位机测试平台软件通过与处理器通讯,发送控制指令并接收测试结果与状态,最终达到自动控制测试流程的目的。
[0003]由于处理器出厂前需进行的全功能测试覆盖的测试项较多,功能较复杂,导致需烧写至处理器中的嵌入式测试程序可执行文件占用空间较大。同时,由于处理器内存受限,无法将全功能测试程序整体存储,也就无法一次性完成全功能测试。为解决该问题,可将全功能测试程序按照测试功能拆分,形成占用空间较小、可完成一项或多项功能测试的嵌入式测试子程序,并将测试子程序分多次向处理器进行烧写,最终由测试子程序完成全功能测试覆盖。
[0004]若要实现上述测试子程序分多次向处理器进行烧写的方案,处理器全功能批量自动测试上位机软件则需具备处理器芯片测试程序自动烧写的功能,而处理器芯片烧写要共同控制调试器连接软件C
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SkyDebugServer和 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种处理器自动测试控制平台,其特征在于,包括上位机与芯片功能测试板;上位机包括通过屏幕控制的处理器全功能批量自动测试上位机软件、调试器连接软件C
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SkyDebugServer及下载调试软件CDK;芯片功能测试板包括单片机、待测处理器及FPGA;其中,处理器全功能批量自动测试上位机软件通过串口连接于程控电源上,程控电源用于芯片功能测试板的供电;处理器全功能批量自动测试上位机软件通过串口连接于待测处理器上;处理器全功能批量自动测试上位机软件还通过USBCAN
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E
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mini连接于待测处理器;处理器全功能批量自动测试上位机软件通过串口连接于单片机上;调试器连接软件C
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SkyDebugServer通过JTAG连接于待测处理器上;调试器连接软件C
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SkyDebugServer通过虚拟网口连接于下载调试软件CDK。2.一种处理器自动测试控制方法,其特征在于,通过如权利要求1所述的处理器自动测试控制平台实现,包括步骤:步骤1,将芯片功能测试板待测处理器上的嵌入式软件按照测试功能拆分为小于处理器内存的测试子集,且每个测试子集对应一个ID;步骤2,通过可扩展的测试通信协议进行处理器全功能批量自动测试上位机软件的控制;步骤3,通过屏幕控制的方式对调试器连接软件C
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SkyDebugServer与下载调试软件CDK进行调用和控制;步骤4,通过图像处理技术对调试器连接软件C
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SkyDebugServer连接成功与否、或者下载调试软件CDK下载成功与否进行判断;步骤5,返回调试器连接软件C
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SkyDebugServer连接结果、或者返回下载调试软件CDK下载结果。3.根据权利要求2所述的处理器自动测试控制方法,其特征在于,可扩展的测试通信协议中的控制指令、测试结果以及测试状态数据的有效数据长度均为可变长度。4.根据权利要求3所述的处理器自动测试控制方法,其特征在于,可扩展的测试通信协议的格式均由帧头、帧计数、帧长、命令类型、指令标识、有效数据、帧尾以及校验组成。5.根据权利要求4所述的处理器自动测试控制方法,其特征在于,命令类型显示当前传输内容为控制指令、测试结果及测试状态数据。6.根据权利要求4所述的处理器自动测试控制方法,其特征在于,指令标识与有效数据中的必要字节构成测试项子集的ID;且有效数据中的必要字节长度可扩展,以使其覆盖全部测试项子集。7.根据权利要求2所述的处理器自动测试控制方法,其特征在于,步骤3中调试器连接软件C
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SkyDebugServer与下载调试软件CDK进行调用和控制的步骤为:步骤3.1,对程序烧写中每一操作流程环节中的调试器连接软件C
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SkyDebugServer和下载调试软件CDK软件界面按钮操作点进行定位,将多个人为操作动作转化为与其各自对应的定位坐标;步骤3.2,建立单独的操作线程,模拟鼠标移动及点击,代替用户操作,实现调试器连接...
【专利技术属性】
技术研发人员:马远航,刘鸿瑾,张绍林,李宾,王红霞,刘立强,张文,王小波,于薇薇,付宝玲,
申请(专利权)人:北京轩宇空间科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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