HIL测试的覆盖度检测方法、设备及存储介质技术

本发明专利技术公开了一种HIL测试的覆盖度检测方法、设备及存储介质，属于测试技术领域，方法为：获取HIL测试用例，并使用HIL测试用例对控制器进行HIL测试；在HIL测试过程中，检测并统计控制器的软件代码中各个功能函数的预设标记；基于预设标记的统计数据，确定HIL测试用例对功能函数的覆盖度。一方面利用HiL测试用例确定软件代码中功能函数的执行情况、判断功能函数的执行功能。另一方面通过软件代码中功能函数的执行情况判断HiL测试用例的覆盖度。相较于传统方案不仅可以提高HiL测试用例的功能函数覆盖度，同时可以优化控制器软件代码，减少“死函数”在软件代码中的占有率，降低软件代码的冗余率。码的冗余率。码的冗余率。

【技术实现步骤摘要】
HIL测试的覆盖度检测方法、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及测试领域，尤其涉及一种HIL测试的覆盖度检测方法、设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在现有对控制器进行HiL(Hardware in Loop，硬件在环)测试的过程中，通常是编写一定数量的HiL测试用例对控制器展开测试，通过测试用例的结果判断控制器的功能是否符合设计要求，同时对测试用例失败项进行分析，针对性的修改软件并进行回归测试，直至所有的HiL测试用例全部通过为止。
[0003]但是在上述操作的过程中，会存在以下问题，即由于HiL测试受限于黑盒测试的客观性，导致测试人员在编写HiL测试用例时，难以保证控制器软件的测试覆盖度，即无法保证控制器软件的每一个功能或者每一个函数均被成功测试和验证。例如某项目控制器需要进行HiL测试验证其功能策略和故障处理机制，此时测试人员编写1000条测试用例对控制器进行HiL测试，但是所编写的HiL测试用例可能只覆盖测试90％的控制器软件代码,剩余的10％控制器软件代码并未进行测试验证，导致对后期交付至客户的控制器产品功能造成隐患。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种HIL测试的覆盖度检测方法，旨在解决现有技术中HIL测试无法全面覆盖控制器软件代码的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种HIL测试的覆盖度检测方法，所述HIL测试的覆盖度检测方法包括：
[0006]获取HIL测试用例，并使用所述HIL测试用例对控制器进行HIL测试；
[0007]在HIL测试过程中，检测并统计所述控制器的软件代码中各个功能函数的预设标记；
[0008]基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度。
[0009]可选地，所述预设标记包括函数状态位和/或函数运行次数计数器，
[0010]在所述使用所述HIL测试用例对控制器进行HIL测试的步骤之前，还包括：
[0011]在所述软件代码的各个所述功能函数中添加设置所述预设标记。
[0012]可选地，在所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤之前，还包括：
[0013]获取所述软件代码中所有所述功能函数的第一函数总数；
[0014]获取在HIL测试过程中函数状态位和/或函数运行次数计数器发生变化的所述功能函数的第二函数总数。
[0015]可选地，所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤，包括：
[0016]以所述第一函数总数和所述第二函数总数的比值作为所述覆盖度。
[0017]可选地，在所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤之后，还包括：
[0018]获取所述控制器的软件测试报告和所述HIL测试用例的HIL测试报告。
[0019]可选地，在所获取所述控制器的软件测试报告和所述HIL测试用例的HIL测试报告的步骤之后，还包括：
[0020]若所述覆盖度小于100％，则基于所述软件测试报告和所述HIL测试报告对所述控制器的软件代码和/或所述HIL测试用例进行修改。
[0021]可选地，所述基于所述软件测试报告和所述HIL测试报告对所述控制器的软件代码和/或所述HIL测试用例进行修改的步骤，包括：
[0022]确定在HIL测试过程中函数状态位和函数运行次数计数器未发生变化的空闲功能函数；
[0023]基于所述软件测试报告和所述HIL测试报告确定所述空闲功能函数的产生原因；
[0024]基于所述产生原因对所述控制器的软件代码和/或所述HIL测试用例进行修改。
[0025]可选地，所述基于所述产生原因对所述控制器的软件代码进行修改的步骤，包括：
[0026]获取所述控制器的软件代码的当前软件版本；
[0027]若所述产生原因为：所述空闲功能函数为所述当前软件版本中所有所述HIL测试用例的非必要函数，则在所述软件代码中将所述空闲功能函数删除。
[0028]可选地，所述基于所述产生原因对所述HIL测试用例进行修改的步骤，还包括：
[0029]若所述产生原因为：所述空闲功能函数为所有所述HIL测试用例的必要函数但未被使用，则重新编写新的HIL测试用例，以覆盖使用所述空闲功能函数。
[0030]可选地，在所述基于所述软件测试报告和所述HIL测试报告对所述控制器的软件代码和/或所述HIL测试用例进行修改的步骤之后，还包括：
[0031]基于修改后的所述控制器的软件代码和/或所述HIL测试用例，执行所述使用所述HIL测试用例对控制器进行HIL测试的步骤，直至所述覆盖度等于100％。
[0032]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种HIL测试的覆盖度检测设备，所述HIL测试的覆盖度检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上述的HIL测试的覆盖度检测方法的步骤。
[0033]此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的HIL测试的覆盖度检测方法的步骤。
[0034]本专利技术实施例提出的一种HIL测试的覆盖度检测方法、设备及计算机可读存储介质，方法为：获取HIL测试用例，并使用所述HIL测试用例对控制器进行HIL测试；在HIL测试过程中，检测并统计所述控制器的软件代码中各个功能函数的预设标记；基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度。
[0035]本专利技术将控制器的HiL测试和控制器软件代码测试并行开展，基于检测并统计到的控制器的软件代码中各个功能函数的预设标记，确定HIL测试用例对各个功能函数的覆盖度。在HIL测试中，利用HiL测试用例确定软件代码中功能函数的执行情况、判断功能函数
的执行功能。从而优化控制器软件代码，减少“死函数”在软件代码中的占有率，降低软件代码的冗余率。
附图说明
[0036]图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的运行设备的结构示意图；
[0037]图2为本专利技术一种HIL测试的覆盖度检测方法一实施例的流程示意图；
[0038]图3为本专利技术一种HIL测试的覆盖度检测方法一实施例的设计原理架构图。
[0039]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0040]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0041]参照图1，图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的运行设备的结构示意图。
[0042]如图1所示，该运行设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(Central Processing Un本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种HIL测试的覆盖度检测方法，其特征在于，所述HIL测试的覆盖度检测方法包括以下步骤：获取HIL测试用例，并使用所述HIL测试用例对控制器进行HIL测试；在HIL测试过程中，检测并统计所述控制器的软件代码中各个功能函数的预设标记；基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度。2.如权利要求1所述的HIL测试的覆盖度检测方法，其特征在于，所述预设标记包括函数状态位和/或函数运行次数计数器，在所述使用所述HIL测试用例对控制器进行HIL测试的步骤之前，还包括：在所述软件代码的各个所述功能函数中添加设置所述预设标记。3.如权利要求1所述的HIL测试的覆盖度检测方法，其特征在于，在所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤之前，还包括：获取所述软件代码中所有所述功能函数的第一函数总数；获取在HIL测试过程中函数状态位和/或函数运行次数计数器发生变化的所述功能函数的第二函数总数。4.如权利要求3所述的HIL测试的覆盖度检测方法，其特征在于，所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤，包括：以所述第一函数总数和所述第二函数总数的比值作为所述覆盖度。5.如权利要求1所述的HIL测试的覆盖度检测方法，其特征在于，在所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤之后，还包括：获取所述控制器的软件测试报告和所述HIL测试用例的HIL测试报告。6.如权利要求5所述的HIL测试的覆盖度检测方法，其特征在于，在所获取所述控制器的软件测试报告和所述HIL测试用例的HIL测试报告的步骤之后，还包括：若所述覆盖度小于100％，则基于所述软件测试报告和所述HIL测试报告对所述控制器的软件代码和/或所述HIL测试用例进行修改。7.如权利要求6所述的HIL测试的覆盖度检测方法，其特征在于，所述基于所述软件测试报告和所...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚存昊，
申请(专利权)人：阳光电源股份有限公司，
类型：发明
国别省市：