本实用新型专利技术涉及半导体二极管技术领域，且公开了一种半导体二极管快速检测装置，包括上壳体，所述上壳体的内侧设置有顶板，所述顶板的内部设置有固定套筒，所述固定套筒的内侧设置有夹板一和夹板二。该半导体二极管快速检测装置，设置有上壳体和下壳体，上壳体上端的夹板一和夹板二通过调节机构调整间距，对半导体二极管的主体进行夹紧固定，半导体二极管的引脚穿过连接槽与两组接线机构接触，两组接线机构通过双向丝杆调节间距，左侧接线机构与外部电源相连，右侧接线机构与提示灯相连，可根据提示灯的亮灭判断半导体二极管是否合格，该装置结构简单，便于调节，大大减少了安装所需的时间，可同时安装三个半导体二极管，大大提高了检测效率。了检测效率。了检测效率。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体二极管快速检测装置
[0001]本技术涉及半导体二极管
，具体为一种半导体二极管快速检测装置。
技术介绍
[0002]半导体二极管是指利用半导体特性的两端电子器件，最常见的半导体二极管是PN结型二极管和金属半导体接触二极管，它们的共同特点是伏安特性的不对称性，即电流沿其一个方向呈现良好的导电性，而在相反方向呈现高阻特性，半导体二极管在生产完毕后需要进行检测才能投入使用。
[0003]现如今大部分的半导体二极管检测装置结构复杂，不便于调节，安装所需的时间较长，且无法同时对多个半导体二极管进行安装检测，检测效率得不到进一步的提升。
技术实现思路
[0004](一)解决的技术问题
[0005]本技术的目的在于提供一种半导体二极管快速检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出大部分的半导体二极管检测装置结构复杂，不便于调节，安装所需的时间较长，且无法同时对多个半导体二极管进行安装检测，检测效率得不到进一步的提升的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体二极管快速检测装置，包括上壳体和下壳体，所述上壳体的内侧设置有顶板，所述顶板的内部设置有固定套筒，所述固定套筒的内侧设置有夹板一和夹板二，所述顶板的内部开设有连接槽，所述上壳体的内部设置有调节机构；
[0008]所述下壳体的内部通过传动机构设置有滑块一和滑块二，所述滑块一和滑块二的上端设置有接线机构；
[0009]所述下壳体的内部的下端面设置有刻度线，所述下壳体的外侧设置有提示灯。
[0010]优选的，所述上壳体的下端与下壳体的上端为卡合连接，所述上壳体与下壳体的内部互相接通，所述固定套筒在顶板的内部等距设置有三个，上壳体通过卡扣与下壳体连接在一起。
[0011]优选的，所述调节机构包括转轴、旋钮一、限位杆一、限位杆二、连接杆一、连接杆二、齿条一、齿条二、齿轮，所述转轴通过阻尼转轴转动连接在上壳体的内部，所述旋钮一转动连接在上壳体的外侧，所述旋钮一与转轴固定连接，所述限位杆一、限位杆二对称分布在上壳体内部的左右两侧，所述连接杆一活动连接在限位杆一的外侧，所述连接杆二活动连接在限位杆二的外侧，所述齿条一固定安装在连接杆一的上端，所述齿条二固定安装在连接杆二的下端，所述齿条一和齿条二位于转轴的上下两侧，所述齿轮在转轴的外侧固定设置有两个，所述齿轮分别与齿条一、齿条二啮合连接，转动旋钮一带动转轴转动，齿轮随转轴转动，齿轮通过齿条一和齿条二带动连接杆一和连接杆二左右移动。
[0012]优选的，所述夹板一、夹板二的内侧为弧形结构，所述连接槽在固定套筒的内部左右对称设置有两个，所述夹板一穿过连接槽与连接杆一固定连接，所述夹板二穿过连接槽与连接杆二固定连接，半导体二极管的引脚穿过连接槽，夹板一、夹板二随连接杆一和连接杆二进行移动，对半导体二极管本体进行夹紧固定。
[0013]优选的，所述传动机构包括滑轨、双向丝杆、旋钮二，所述滑轨固定安装在下壳体内部的下端面，所述双向丝杆转动连接在下壳体的内部，所述旋钮二转动连接在下壳体的外侧，所述旋钮二与双向丝杆固定连接，所述滑块一、滑块二活动连接在滑轨的内侧，所述滑块一、滑块二与双向丝杆为螺纹连接，所述滑块一、滑块二和传动机构在下壳体的内部等距设置有相同的三组，所述刻度线位于滑轨的外侧，转动旋钮二带动双向丝杆转动，双向丝杆带动滑块一和滑块二沿着滑轨朝相反的方向移动。
[0014]优选的，所述接线机构包括限位架、弹簧、铜片一、铜片二，所述限位架固定安装在滑块一和滑块二的上端，所述弹簧的一端固定安装在限位架的内侧，所述铜片一与弹簧的另一端固定连接，所述铜片一活动连接在限位架的内部，所述铜片二固定安装在限位架内部远离铜片一的一侧，所述铜片一、铜片二的上端为倾斜结构，所述提示灯在下壳体的外侧等距设置有三个，半导体二极管的引脚通过铜片一、铜片二上端的倾斜结构插入到二者之间，弹簧对铜片一施加推力，通过铜片二对引脚进行夹紧，滑块二上端的铜片二与提示灯电性连接，滑块一上端的铜片二与外部电源相连，半导体二极管若正常，电流通过左侧的铜片二穿过半导体二极管传输到右侧的铜片二，最终点亮提示灯，若提示灯未点亮，则半导体二极管为不合格产品。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该半导体二极管快速检测装置，设置有上壳体和下壳体，上壳体上端的夹板一和夹板二通过调节机构调整间距，对半导体二极管的主体进行夹紧固定，半导体二极管的引脚穿过连接槽与两组接线机构接触，两组接线机构通过双向丝杆调节间距，左侧的接线机构与外部电源相连，右侧的接线机构与提示灯相连，可根据提示灯的亮灭判断半导体二极管是否合格，该装置结构简单，便于调节，大大减少了安装所需的时间，且可同时安装三个半导体二极管，大大提高了检测效率。
附图说明
[0016]图1为本技术立体结构示意图；
[0017]图2为本技术俯视结构示意图；
[0018]图3为本技术上壳体内部结构示意图；
[0019]图4为本技术下壳体俯视结构示意图；
[0020]图5为本技术内部结构示意图；
[0021]图6为本技术图4中A处放大结构示意图。
[0022]图中：1、上壳体；2、下壳体；3、顶板；4、固定套筒；5、夹板一；6、夹板二；7、连接槽；8、调节机构；801、转轴；802、旋钮一；803、限位杆一；804、限位杆二；805、连接杆一；806、连接杆二；807、齿条一；808、齿条二；809、齿轮；9、传动机构；901、滑轨；902、双向丝杆；903、旋钮二；10、滑块一；11、滑块二；12、接线机构；1201、限位架；1202、弹簧； 1203、铜片一；1204、铜片二；13、刻度线；14、提示灯。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1
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6，本技术提供一种技术方案：一种半导体二极管快速检测装置，包括上壳体1、下壳体2、顶板3、固定套筒4、夹板一5、夹板二6、连接槽7、调节机构8、转轴801、旋钮一802、限位杆一803、限位杆二804、连接杆一805、连接杆二806、齿条一807、齿条二808、齿轮809、传动机构 9、滑轨901、双向丝杆902、旋钮二903、滑块一10、滑块二11、接线机构 12、限位架1201、弹簧1202、铜片一1203、铜片二1204、刻度线13和提示灯14，上壳体1的下端与下壳体2的上端为卡合连接，上壳体1与下壳体2 的内部互相接通，上壳体1的内侧设置有顶板3，顶板3的内部设置有固定套筒4，固定套筒4在顶板3的内部等距设置有三个本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体二极管快速检测装置，包括上壳体(1)和下壳体(2)，其特征在于：所述上壳体(1)的内侧设置有顶板(3)，所述顶板(3)的内部设置有固定套筒(4)，所述固定套筒(4)的内侧设置有夹板一(5)和夹板二(6)，所述顶板(3)的内部开设有连接槽(7)，所述上壳体(1)的内部设置有调节机构(8)；所述下壳体(2)的内部通过传动机构(9)设置有滑块一(10)和滑块二(11)，所述滑块一(10)和滑块二(11)的上端设置有接线机构(12)；所述下壳体(2)的内部的下端面设置有刻度线(13)，所述下壳体(2)的外侧设置有提示灯(14)。2.根据权利要求1所述的一种半导体二极管快速检测装置，其特征在于：所述上壳体(1)的下端与下壳体(2)的上端为卡合连接，所述上壳体(1)与下壳体(2)的内部互相接通，所述固定套筒(4)在顶板(3)的内部等距设置有三个。3.根据权利要求1所述的一种半导体二极管快速检测装置，其特征在于：所述调节机构(8)包括转轴(801)、旋钮一(802)、限位杆一(803)、限位杆二(804)、连接杆一(805)、连接杆二(806)、齿条一(807)、齿条二(808)、齿轮(809)，所述转轴(801)通过阻尼转轴转动连接在上壳体(1)的内部，所述旋钮一(802)转动连接在上壳体(1)的外侧，所述旋钮一(802)与转轴(801)固定连接，所述限位杆一(803)、限位杆二(804)对称分布在上壳体(1)内部的左右两侧，所述连接杆一(805)活动连接在限位杆一(803)的外侧，所述连接杆二(806)活动连接在限位杆二(804)的外侧，所述齿条一(807)固定安装在连接杆一(805)的上端，所述齿条二(808)固定安装在连接杆二(806)的下端，所述齿条一(807)和齿条二(808)位于转轴(801)的上下两侧，所述齿轮(809)在转轴(801)的外侧固定设置有两个，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘迁，
申请(专利权)人：上海比尔半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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