一种异形工件的表面缺陷检测装置及生产线制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种异形工件的表面缺陷检测装置及生产线，其在对异形工件进行表面缺陷检测时，异形工件位于检测工位上，顶部光源沿竖直方向与异形工件相对设置，其光线能够为异形工件的内壁打光；接着，位于两侧的同轴光检测装置沿靠近检测工位的方向倾斜设置，使得同轴光检测装置的光线沿倾斜方向正射于异形工件的内壁上，并通过光反射携带内壁表面信息返回同轴光检测装置，完成对异形工件的表面检测；本方案的异形工件的表面缺陷检测装置及生产线通过顶部光源与同轴光检测装置的配合实现了对异形工件的表面缺陷检测，保证了对异形工件的检测效果，扩展了检测装置的应用范围。围。围。

【技术实现步骤摘要】
一种异形工件的表面缺陷检测装置及生产线


[0001]本技术涉及工件表面缺陷检测
，尤其涉及一种异形工件的表面缺陷检测装置及生产线。

技术介绍

[0002]工件表面缺陷检测技术具体指的是通过光源对工件表面打光，再通过摄像头获取从工件表面反射的光，从而获得工件的表面信息的一种检测手段。
[0003]现有技术中，常规的针对平面结构的检测手段为，在工件上方通过光源打光，并通过工件上方的摄像头获取工件的信息，该种方式适用于大多数的具备平面结构的工件。
[0004]但是对于U型、V型、W型等异形工件而言，该种检测方式具备一定的局限性，因为光源投射于异型工件的内壁时，光源的光线没有正射于异形工件的内壁上，导致部分光会被反射至摄像头外，导致摄像头获取的图像不清晰，即现有技术中的检测手段对异形工件的检测效果差。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种异形工件的表面缺陷检测装置及生产线，来解决目前检测手段对异形工件的检测效果差的问题。
[0006]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0007]一种异形工件的表面缺陷检测装置，包括检测工位和壳体；
[0008]所述壳体上安装有顶部光源，所述顶部光源与所述所述检测工位沿竖直方向相对设置；
[0009]所述壳体于所述顶部光源的两侧还分别安装有同轴光检测装置，所述同轴光检测装置沿靠近所述检测工位的方向倾斜设置。
[0010]可选地，所述同轴光检测装置包括同轴光支架；
[0011]所述同轴光支架上沿远离所述检测工位的方向依次按照有同轴光光源和同轴光摄像单元。
[0012]可选地，所述同轴光支架与所述壳体转动连接，且所述同轴光支架能相对于所述壳体滑动。
[0013]可选地，所述同轴光光源连接有滑块与定位块；
[0014]所述壳体对应所述滑块的位置开设有第一滑槽，所述滑块套设于所述第一滑槽内，且所述滑块能沿所述第一滑槽滑动；
[0015]所述同轴光支架对应所述定位块的位置开设有定位槽，所述定位块套设于所述定位槽内，所述定位块的形状与所述定位槽的形状相匹配。
[0016]可选地，所述同轴光支架设置于所述壳体外；所述定位块设置于所述滑块远离所述同轴光光源的一侧，并凸出于所述壳体；
[0017]所述定位块上开设有连接孔，所述连接孔通过连接件固定连接有固定板，所述固
定板设置于所述同轴光支架远离所述壳体的一侧。
[0018]可选地，所述壳体于所述第一滑槽外围绕设置有刻度盘，所述同轴光支架上开设有指针槽。
[0019]可选地，所述同轴光光源设置于所述壳体的内侧，所述同轴光摄像单元设置于所述壳体的外侧；
[0020]所述壳体对应所述同轴光摄像单元的位置开设有光线通过孔。
[0021]可选地，所述同轴光支架上开设有第二滑槽，所述同轴光摄像单元能相对于所述第二滑槽滑动；
[0022]所述壳体开设有第三滑槽，所述顶部光源能相对于所述第三滑槽滑动。
[0023]可选地，所述同轴光光源包括第一LED三色芯片，所述顶部光源包括第二LED三色芯片。
[0024]一种生产线，包括如上所述的异形工件的表面缺陷检测装置。
[0025]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
[0026]本技术提供的异形工件的表面缺陷检测装置及生产线，在对异形工件进行表面缺陷检测时，异形工件位于检测工位上，顶部光源沿竖直方向与异形工件相对设置，其光线能够为异形工件的内壁打光；接着，位于两侧的同轴光检测装置沿靠近检测工位的方向倾斜设置，使得同轴光检测装置的光线沿倾斜方向正射于异形工件的内壁上，并通过光反射携带内壁表面信息返回同轴光检测装置，完成对异形工件的表面检测；本方案的异形工件的表面缺陷检测装置及生产线通过顶部光源与同轴光检测装置的配合实现了对异形工件的表面缺陷检测，保证了对异形工件的检测效果，扩展了检测装置的应用范围。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0028]本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。
[0029]图1为本技术实施例提供的异形工件的表面缺陷检测装置的整体结构示意图；
[0030]图2为本技术实施例提供的异形工件的表面缺陷检测装置的透视结构示意图；
[0031]图3为本技术实施例提供的异形工件的表面缺陷检测装置的局部爆炸结构示意图；
[0032]图4为本技术实施例的同轴光检测装置的爆炸结构示意图；
[0033]图5为本技术实施例提供的异形工件的表面缺陷检测装置的光路结构示意
图。
[0034]图示说明：10、检测工位；20、壳体；21、第一滑槽；22、刻度盘；23、光线通过孔；24、第三滑槽；30、顶部光源；40、同轴光检测装置；41、同轴光支架；411、定位槽；412、第二滑槽；413、指针槽；42、同轴光光源；421、滑块；422、定位块；423、连接孔；43、同轴光摄像单元；44、固定板。
具体实施方式
[0035]为使得本技术的技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0036]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。
[0037]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。
[0038]请参考图1至图5，图1为本技术实施例提供的异形工件的表面缺陷检测装置的整体结构示意图，图2为本技术实施例提供的异形工件的表面缺陷检测装置的透视结构示意图，图3为本技术实施例提供的异形工本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种异形工件的表面缺陷检测装置，其特征在于，包括检测工位(10)和壳体(20)；所述壳体(20)上安装有顶部光源(30)，所述顶部光源(30)与所述检测工位(10)沿竖直方向相对设置；所述壳体(20)于所述顶部光源(30)的两侧还分别安装有同轴光检测装置(40)，所述同轴光检测装置(40)沿靠近所述检测工位(10)的方向倾斜设置。2.根据权利要求1所述的异形工件的表面缺陷检测装置，其特征在于，所述同轴光检测装置(40)包括同轴光支架(41)；所述同轴光支架(41)上沿远离所述检测工位(10)的方向依次按照有同轴光光源(42)和同轴光摄像单元(43)。3.根据权利要求2所述的异形工件的表面缺陷检测装置，其特征在于，所述同轴光支架(41)与所述壳体(20)转动连接，且所述同轴光支架(41)能相对于所述壳体(20)滑动。4.根据权利要求3所述的异形工件的表面缺陷检测装置，其特征在于，所述同轴光光源(42)连接有滑块(421)与定位块(422)；所述壳体(20)对应所述滑块(421)的位置开设有第一滑槽(21)，所述滑块(421)套设于所述第一滑槽(21)内，且所述滑块(421)能沿所述第一滑槽(21)滑动；所述同轴光支架(41)对应所述定位块(422)的位置开设有定位槽(411)，所述定位块(422)套设于所述定位槽(411)内，所述定位块(422)的形状与所述定位槽(411)的形状相匹配。5.根据权利要求4所述的异形工件的表面缺陷检测装置，其特征在于，所述同轴光支架(4...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈灵铭，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：