本实用新型专利技术公开了一种多角度打光检测装置及检测设备，在进行检测时，工件位于检测工位上，通过低角度环状光源装置向工件照射低角度均匀扩散光线，通过高角度环状光源装置向工件照射高角度均匀扩散光线；其中，低角度均匀扩散光线提供暗场照明环境，能够凸显工件的边缘、倒角、台阶过渡等不平整坡度信息；而高角度均匀扩散光线提供明场照明环境，能够凸显工件表面平整区域的轮廓特征，且表面粗糙程度不同或反射率不同的区域也会有明显差异，从而令摄像单元能够获取工件的毛刺信息以便进行起毛检测；即本方案通过低角度环状光源装置与高角度环状光源装置的组合实现了单一设备对工件的全面检测，提高了检测效率，从而提高了生产效率。效率。效率。
【技术实现步骤摘要】
一种多角度打光检测装置及检测设备
[0001]本技术涉及工件表面缺陷检测
，尤其涉及一种多角度打光检测装置及检测设备。
技术介绍
[0002]工件表面缺陷检测技术具体指的是通过光源对工件表面打光，再通过摄像头获取从工件表面反射的光，从而获得工件的表面信息的一种检测手段。
[0003]现有技术中，通过上述方式获取电子产品外壳边框(例如，手机外壳、笔记本电脑外壳体)、智能家电壳体(例如，万能遥控器壳体、智能冰箱壳体)等工件的表面缺陷，表面缺陷包括碰伤、划痕、雕刻等。
[0004]上述的检测手段由于光源设置单一，光照射在工件表面时通常只能检测碰伤、划痕、雕刻等比较明显的缺陷，不能有效检测到毛刺等比较细微的缺陷特征，往往还需要通过人工将带毛刺的产品筛出，导致检测过程较长，降低了生产效率，即现有技术中的检测手段效率低。
技术实现思路
[0005]本技术的目的在于提供一种一种多角度打光检测装置及检测设备，来解决现有技术中的检测手段效率低的问题。
[0006]为达此目的，本技术采用以下技术方案：
[0007]一种多角度打光检测装置，包括检测工位与壳体，所述壳体内形成有安装槽；
[0008]于所述安装槽内，所述壳体安装有低角度环状光源装置、高角度环状光源装置和摄像单元；于远离所述检测工位的方向依次，所述低角度环状光源装置、所述高角度环状光源装置和所述摄像单元依次设置。
[0009]可选地，所述低角度环状光源装置包括低角度支架和安装于所述低角度支架上的低角度环状光源；所述高角度环状光源装置包括高角度支架和安装于所述高角度支架上的高角度环状光源；
[0010]所述壳体对应所述低角度支架的位置开设有低角度滑槽，所述壳体对应所述高角度支架的位置开设有高角度滑槽；所述低角度支架能沿所述低角度滑槽滑动，所述高角度支架能沿所述高角度滑槽的槽壁滑动。
[0011]可选地，于所述低角度滑槽的一侧，所述壳体的外壁上开设有低角度刻度槽；所述低角度支架通过一带有水平标示线的螺栓穿过所述低角度滑槽与所述壳体可拆卸地连接；
[0012]于所述高角度滑槽的一侧，所述壳体的外壁上开设有高角度刻度槽；所述高角度支架通过一带有水平标示线的螺栓穿过所述高角度滑槽与所述壳体可拆卸地连接。
[0013]可选地，还包括一设置于所述检测工位上的旋转装置，所述旋转装置用于驱动工件旋转；
[0014]于所述安装槽内，所述壳体还安装有平行光源装置，所述平行光源装置用于向工
件照射平行光。
[0015]可选地，所述平行光源装置包括两个平行光单元，两个所述平行光单元分别设置于所述检测工位的两侧，且两个所述平行光单元的出光方向相交叉，且两个所述平行光单元的出光方向的交叉点设置于所述检测工位上。
[0016]可选地，所述平行光单元与所述壳体之间连接有调位组件；
[0017]所述调位组件包括安装于所述安装槽的槽壁上的固定单元，所述固定单元滑动连接有第一移动单元，所述第一移动单元能沿第一方向相对于所述固定单元滑动；
[0018]所述调位组件还包括第二转动单元，所述第二转动单元与所述第一移动单元转动连接，所述第二转动单元能沿第二方向相对于所述第一移动单元转动；
[0019]所述调位组件还包括第三转动单元，所述第三转动单元能沿第三方向相对于所述第二转动单元转动；
[0020]所述平行光单元安装于所述第三转动单元上。
[0021]可选地，所述壳体于所述安装槽的槽口边缘开设有进料口，所述进料口设置于所述检测工位的一侧；
[0022]其中，所述壳体于所述进料口处设置有激光测距传感器。
[0023]可选地，所述摄像单元设置于所述壳体外，所述壳体对应所述摄像单元的位置开设有摄像避让孔。
[0024]可选地，所述安装槽的槽壁及所述壳体内壁上均涂覆有漫反射涂层。
[0025]一种检测设备，包括如上所述的多角度打光检测装置。
[0026]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
[0027]本技术提供的多角度打光检测装置及检测设备，在进行检测时，工件位于检测工位上，通过低角度环状光源装置向工件照射低角度均匀扩散光线，通过高角度环状光源装置向工件照射高角度均匀扩散光线；其中，低角度均匀扩散光线提供暗场照明环境，能够凸显工件的边缘、倒角、台阶过渡等不平整坡度信息，还能够凸显表面比较杂乱的碰伤、划痕、雕刻等信息；而高角度均匀扩散光线提供明场照明环境，能够凸显工件表面平整区域的轮廓特征，且表面粗糙程度不同或反射率不同的区域也会有明显差异，从而令摄像单元能够获取工件的毛刺信息以便进行起毛检测；即本方案通过低角度环状光源装置与高角度环状光源装置的组合实现了单一设备对工件的全面检测，提高了检测效率，从而提高了生产效率。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0029]本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖
的范围内。
[0030]图1为本技术实施例提供的多角度打光检测装置的第一光路结构示意图；
[0031]图2为本技术实施例提供的多角度打光检测装置的第二光路结构示意图；
[0032]图3为本技术实施例提供的多角度打光检测装置的第一整体结构示意图；
[0033]图4为本技术实施例提供的多角度打光检测装置的第二整体结构示意图；
[0034]图5为本技术实施例提供的多角度打光检测装置的爆炸结构示意图；
[0035]图6为本技术实施例提供的多角度打光检测装置的局部结构示意图；
[0036]图7为图6在A处的局部放大结构示意图；
[0037]图8为图6在B处的局部放大结构示意图；
[0038]图9为本技术实施例的平行光源装置的结构示意图。
[0039]图示说明：10、检测工位；20、壳体；21、安装槽；22、低角度滑槽；23、高角度滑槽；24、低角度刻度槽；25、高角度刻度槽；26、进料口；27、激光测距传感器；28、摄像避让孔；
[0040]30、低角度环状光源装置；31、低角度支架；32、低角度环状光源；40、高角度环状光源装置；41、高角度支架；42、高角度环状光源；
[0041]50、摄像单元；60、平行光源装置；61、平行光单元；62、固定单元；63、本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多角度打光检测装置，其特征在于，包括检测工位(10)与壳体(20)，所述壳体(20)内形成有安装槽(21)；于所述安装槽(21)内，所述壳体(20)安装有低角度环状光源装置(30)、高角度环状光源装置(40)和摄像单元(50)；于远离所述检测工位(10)的方向依次，所述低角度环状光源装置(30)、所述高角度环状光源装置(40)和所述摄像单元(50)依次设置。2.根据权利要求1所述的多角度打光检测装置，其特征在于，所述低角度环状光源装置(30)包括低角度支架(31)和安装于所述低角度支架(31)上的低角度环状光源(32)；所述高角度环状光源装置(40)包括高角度支架(41)和安装于所述高角度支架(41)上的高角度环状光源(42)；所述壳体(20)对应所述低角度支架(31)的位置开设有低角度滑槽(22)，所述壳体(20)对应所述高角度支架(41)的位置开设有高角度滑槽(23)；所述低角度支架(31)能沿所述低角度滑槽(22)滑动，所述高角度支架(41)能沿所述高角度滑槽(23)的槽壁滑动。3.根据权利要求2所述的多角度打光检测装置，其特征在于，于所述低角度滑槽(22)的一侧，所述壳体(20)的外壁上开设有低角度刻度槽(24)；所述低角度支架(31)通过一带有水平标示线的螺栓穿过所述低角度滑槽(22)与所述壳体(20)可拆卸地连接；于所述高角度滑槽(23)的一侧，所述壳体(20)的外壁上开设有高角度刻度槽(25)；所述高角度支架(41)通过一带有水平标示线的螺栓穿过所述高角度滑槽(23)与所述壳体(20)可拆卸地连接。4.根据权利要求1所述的多角度打光检测装置，其特征在于，还包括一设置于所述检测工位(10)上的旋转装置(70)，所述旋转装置(70)用于驱动工件(80)旋转；于所述安装槽(21)内，所述壳体(20)还安装有平行光源装置(60)，所述平行光源装置(60)用于向工件(80)照射平行光。5...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈灵铭，
申请(专利权)人：广东奥普特科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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