用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置，打光装置包括安装基座、多个UV光源以及第一滤波片，其中，所述UV光源用于提供UV光，所述UV光源设置在所述安装基座上；所述第一滤波片为透明镀膜滤片，且所述第一滤波片与所述物镜配合设置，使得UV光通过所述第一滤波片被过滤；所述安装基座还与所述物镜配合设置，使得所述UV光源发出的UV光能够照射在待检测电路板上，进而令所述缺陷检测设备能够在UV光下进行缺陷检测。本实用新型专利技术提供的技术方案利用多个UV光源对电路板进行打光，打光充足，并通过滤光片的过滤作用，使检测系统能够在UV光的照射下进行电路板缺陷检测工作，安全可靠。安全可靠。安全可靠。

【技术实现步骤摘要】
用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置


[0001]本技术涉及电路板缺陷检测领域，特别涉及一种用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置。

技术介绍

[0002]目前，用于电路板缺陷检测的检修设备在检测扫面PCB板复查时，由于正常普通光的色彩问题会导致长时间工作后产生视觉疲劳的OP人员忽略一些缺陷，造成不必要的误判，并且正常光照下基材的荧光色在有的特殊需求下是无法满足观察基材的标准，即不清楚甚至模糊。
[0003]随着PCB板的制作越来越精密，原先有关于UV光源的方案已经不能满足需求，故现在需要重新设计并改良UV光源方案以应对现在以及未来的光源需求。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种高聚焦且安全可靠的用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置。
[0005]为达到上述目的，本技术采用的技术方案如下：
[0006]一种用于电路板缺陷检测的打光装置，所述打光装置与外部缺陷检测装置配合设置，所述缺陷检测装置包括物镜，所述打光装置包括安装基座、多个UV光源以及第一滤波片，其中，所述UV光源用于提供UV光，所述UV光源设置在所述安装基座上；所述第一滤波片为透明镀膜滤片，且所述第一滤波片与所述物镜配合设置，使得UV光通过所述第一滤波片被过滤；所述安装基座还与所述物镜配合设置，使得所述UV光源发出的UV光能够照射在待检测电路板上，进而令所述缺陷检测设备能够在UV光下进行缺陷检测。
[0007]优选地，所述第一滤波片为LP430滤波片，在所述第一滤波片的作用下，430nm以下的UV 光被过滤。
[0008]进一步地，所述UV光源包括灯珠，所述UV光源上设有透镜，所述透镜与所述灯珠配合设置，且所述透镜的焦距范围满足预设条件，使得所述UV光源发出的UV光能够照射在待检测电路板上。
[0009]进一步地，所述UV光源上还设有第二滤波片，所述第二滤波片与所述透镜和所述灯珠分别配合设置。
[0010]优选地，所述第二滤波片为BP390滤波片，所述第二滤波片为BP390滤波片，所述第二滤波片被配置为过滤390nm以上的光。
[0011]优选地，所述灯珠为405nmLED。
[0012]进一步地，所述打光装置还包括散热模组，所述散热模组与所述灯珠配合设置。
[0013]进一步地，所述安装基座上设有多个通孔，且所述UV光源通过所述通孔与所述安装基座配合设置，通过调整所述通孔的倾斜角改变所述UV光源的位置。
[0014]优选地，所述UV光源的数量为三个。
[0015]一种缺陷检测装置，所述缺陷检测装置用于电路板的缺陷检测，所述缺陷检测装置包括显示屏和上文所述的打光装置。
[0016]本技术具有的优点：利用多个UV光源对电路板进行打光，打光充足，并通过滤光片的过滤作用，使检测系统能够在UV光的照射下进行电路板缺陷检测工作，以获取区分度更加明显的图；并且，滤波片采用透明镀膜工艺，不妨碍在正常光照下的检测工作。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1是本技术实施例提供的缺陷检测装置的第一局部结构示意图；
[0019]图2是本技术实施例提供的缺陷检测装置的第二局部结构示意图。
[0020]其中，附图标记包括：1
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安装基座，2
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UV光源，21
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透镜，22
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第二滤波片，3
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第一滤波片，4
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普通光源，5
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装配底板。
具体实施方式
[0021]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。
[0022]需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
[0023]在本技术的一个实施例中，为了克服现有UV光源在现有高精密pcb板上打光不足的问题，提供了一种以直射聚焦型的UV光源为主的用于电路板缺陷检测的打光装置，打光装置与外部缺陷检测装置配合设置，缺陷检测装置包括物镜、显示屏。
[0024]如图1、2所示，打光装置包括安装基座1、多个UV光源2、第一滤波片3及散热模组，其中，UV光源2用于提供UV光，UV光源2设置在安装基座1上；第一滤波片3为透明镀膜滤片，且第一滤波片3与物镜配合设置，使得UV光通过第一滤波片3被过滤；安装基座1还与物镜配合设置，使得UV光源2发出的UV光能够照射在待检测电路板上，进而令缺陷检测设备能够在UV光下进行缺陷检测。在本实施例中，UV光源2的数量为三个；第一滤波片3为LP430 滤波片，在第一滤波片3的作用下，430nm以下的UV光被过滤，从而只通过荧光而过滤掉反射光。
[0025]UV光源2包括405nmLED的灯珠、供电模块，UV光源2上设有透镜21，透镜21与灯珠配
合设置，且透镜21的焦距范围满足预设条件，使得UV光源2发出的UV光能够照射在待检测电路板上；灯珠与散热模组配合设置，通过散热模组对灯珠散热，可以延长灯珠使用寿命；UV 光源2上还设有第二滤波片22，第二滤波片22与透镜21和灯珠分别配合设置，以减少405nmLED 的灯珠散射出来的杂光，从而减少图像中的噪点。在本实施例中，第二滤波片22为BP390滤波片，在第二滤波片22的作用下，灯珠散射出的390nm以上的光被过滤。
[0026]在本实施例中，安装基座1上设有多个通孔，且UV光源2通过通孔与安装基座1配合设置，通过调整通孔的倾斜角改变UV光源2的位置，从而使UV光源2朝向不同的位置发射UV 光，进而满足不同位置的检测需求。
[0027]另外，如图1、2所示，打光装置还包括多个普通光源4，普通光源4通过装配底板5设置在安装基座1上，以起到补光作用，或者在正常光下进行检测。
[0028]在本技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电路板缺陷检测的打光装置，其特征在于，所述打光装置与外部缺陷检测装置配合设置，所述缺陷检测装置包括物镜，所述打光装置包括安装基座(1)、多个UV光源(2)以及第一滤波片(3)，其中，所述UV光源(2)用于提供UV光，所述UV光源(2)设置在所述安装基座(1)上；所述第一滤波片(3)为透明镀膜滤片，且所述第一滤波片(3)与所述物镜配合设置，使得UV光通过所述第一滤波片(3)被过滤；所述安装基座(1)还与所述物镜配合设置，使得所述UV光源(2)发出的UV光能够照射在待检测电路板上，进而令所述缺陷检测设备能够在UV光下进行缺陷检测。2.根据权利要求1所述的打光装置，其特征在于，所述第一滤波片(3)为LP430滤波片，在所述第一滤波片(3)的作用下，430nm以下的UV光被过滤。3.根据权利要求1所述的打光装置，其特征在于，所述UV光源(2)包括灯珠，所述UV光源(2)上设有透镜(21)，所述透镜(21)与所述灯珠配合设置，且所述透镜(21)的焦距范围满足预设条件，使得所述UV光源(2)发出的UV光能够...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾德胜，
申请(专利权)人：苏州康代智能科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：