基于SSD的RAID实现方法、装置、可读存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种基于SSD的RAID实现方法、装置、可读存储介质及电子设备，接收SSD的校验位置确定请求；根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置；确定校验数据，并将所述校验数据写入所述校验位置，使得校验位置分散在不同面上，再将校验数据写入校验位置，能够将校验数据均匀保存在不同面上，避免将所有的读写压力集中在剩余面区域，以将读写压力分散在所有面上，提高了读写性能，延长了SSD的使用寿命。延长了SSD的使用寿命。延长了SSD的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
基于SSD的RAID实现方法、装置、可读存储介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及数据存储
，尤其涉及一种基于SSD的RAID实现方法、装置、可读存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]目前主流的企业级SSD（Solid State Drives，固态硬盘）主控都会支持RAID（Redundant Arrays of Independent Drives，磁盘阵列）功能，但大部分的RAID机制类似于RAID4的实现，即将条带的xor（异或） parity（校验）数据保存在固定的plane（面）位置；具体的data（有效数据）+parity数据分布如图4所示，这样的布局有优点也有缺陷，优点在于实现比较简单；缺点在于所有的parity数据保存在同一个plane上，使所有的读写压力集中在剩余的plane的区域，影响SSD这种依赖读写次数的介质的使用寿命。

技术实现思路

[0003]本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种基于SSD的RAID实现方法、装置、可读存储介质及电子设备，能够延长SSD的使用寿命。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的一种技术方案为：一种基于SSD的RAID实现方法，包括步骤：接收SSD的校验位置确定请求；根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置；确定校验数据，并将所述校验数据写入所述校验位置。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为：一种基于SSD的RAID实现装置，包括：请求接收模块，用于接收SSD的校验位置确定请求；校验位置确定模块，用于根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置；数据写入模块，用于确定校验数据，并将所述校验数据写入所述校验位置。
[0006]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为：一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述一种基于SSD的RAID实现方法中的各个步骤。
[0007]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为：一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述一种基于SSD的RAID实现方法中的各个步骤。
[0008]本专利技术的有益效果在于：根据校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置，确定校验数据，并将校验数据写入校验位置，实现了RAID功能，不再像现有技术中，将所有校验（parity）数据固定保存在同一个面（plane）上，而是按照预设间隔确定每一
条带的校验位，使得校验位置分散在不同面上，再将校验数据写入校验位置，能够将校验数据均匀保存在不同面上，避免将所有的读写压力集中在剩余面区域，以将读写压力分散在所有面上，提高了读写性能，延长了SSD的使用寿命。
附图说明
[0009]图1为本专利技术实施例的一种基于SSD的RAID实现方法的步骤流程图；图2为本专利技术实施例的一种基于SSD的RAID实现装置的结构示意图；图3为本专利技术实施例的一种电子设备的结构示意图；图4为现有技术的RAID4的实现示意图；图5为本专利技术实施例的基于SSD的RAID实现方法中的校验位布局示意图；图6为本专利技术实施例的基于SSD的RAID实现方法中的出现plane失效的示意图。
具体实施方式
[0010]为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0011]请参照图1，本专利技术实施例提供了一种基于SSD的RAID实现方法，包括步骤：接收SSD的校验位置确定请求；根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置；确定校验数据，并将所述校验数据写入所述校验位置。
[0012]从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：根据校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置，确定校验数据，并将校验数据写入校验位置，实现了RAID功能，不再像现有技术中，将所有校验（parity）数据固定保存在同一个面（plane）上，而是按照预设间隔确定每一条带的校验位置，使得校验位置分散在不同面上，再将校验数据写入校验位置，能够将校验数据均匀保存在不同面上，避免将所有的读写压力集中在剩余面区域，以将读写压力分散在所有面上，提高了读写性能，延长了SSD的使用寿命。
[0013]进一步地，所述根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位之前包括：获取面总数和预设存储利用率，并根据所述预设存储利用率确定预设值；根据所述面总数和预设值确定预设间隔。
[0014]由上述描述可知，根据预设存储利用率确定预设值，例如要求plane总数为16，用现有RAID4的方式存储利用率为15/16，而本专利技术存储利用率最大为14/15，当存储利用率可以比较低时，可以确定预设值为3或4，即可以设置较多的校验位置；根据面总数和预设值确定预设间隔，可根据实际情况进行预设间隔的灵活设置，预设间隔越大，在面总数相同的情况下校验位置的个数越少，纠错计算量越大，可根据不同场景的实际情况确定预设间隔以兼顾存储性能和纠错需求，且根据面总数和预设值共同确定预设间隔，能够保证预设间隔与面总数不相等，进而确保校验位置分散在不同面上，保证了RAID实现的灵活性。
[0015]进一步地，所述根据所述面总数和预设值确定预设间隔包括：将所述面总数和预设值进行减运算，得到预设间隔。
[0016]由上述描述可知，将面总数和预设值进行减运算，得到预设间隔，能够使每一行
page上都存在一个校验位置，且校验位置分散在不同的面上，进一步提高了校验数据的分散程度，进而分散了读写压力。
[0017]进一步地，所述根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置包括：根据所述校验位置确定请求从预设页位置开始按照预设间隔确定目标校验位置；将所述目标校验位置标记为预设页位置，并返回执行所述根据所述校验位置确定请求从预设页位置开始按照预设间隔确定目标校验位置步骤，直至剩余页的数量小于所述预设间隔。
[0018]由上述描述可知，从预设页位置开始按照预设间隔确定目标校验位置，将目标校验位置标记为预设页位置，再重复执行确定目标校验位置步骤，直至剩余页的数量小于预设间隔，以此实现了校验位置的确定，与现有技术相比，虽然降低了利用率，但将读写压力分散在不同面上，大大提高了读写性能，延长了SSD的使用寿命。
[0019]进一步地，所述确定校验数据之前包括：接收数据写入请求，所述数据写入请求包括待写入数据；所述确定校验数据包括：根据所述数据写入请求确定目标页；将所述待写入数据写入所述目标页，并判断下一目标页是否为所述校验位置，若是，则根据所述校验位置对应的待写入数据确定校验数据，若否，则返回执行所述将所述待写入数据写入所述目标页步骤，直至所述待写入数据均已写入。
[0020]由上述描述可知，将待写入数据写入目标页，并判断下一目标页是否为校验位置，若是，则根据校验位置对应的待写入数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于SSD的RAID实现方法，其特征在于，包括步骤：接收SSD的校验位置确定请求；根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置；确定校验数据，并将所述校验数据写入所述校验位置。2.根据权利要求1所述的一种基于SSD的RAID实现方法，其特征在于，所述根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置之前包括：获取面总数和预设存储利用率，并根据所述预设存储利用率确定预设值；根据所述面总数和预设值确定预设间隔。3.根据权利要求2所述的一种基于SSD的RAID实现方法，其特征在于，所述根据所述面总数和预设值确定预设间隔包括：将所述面总数和预设值进行减运算，得到预设间隔。4.根据权利要求1所述的一种基于SSD的RAID实现方法，其特征在于，所述根据所述校验位置确定请求按照预设间隔确定每一条带上的校验位置包括：根据所述校验位置确定请求从预设页位置开始按照预设间隔确定目标校验位置；将所述目标校验位置标记为预设页位置，并返回执行所述根据所述校验位置确定请求从预设页位置开始按照预设间隔确定目标校验位置步骤，直至剩余页的数量小于所述预设间隔。5.根据权利要求1所述的一种基于SSD的RAID实现方法，其特征在于，所述确定校验数据之前包括：接收数据写入请求，所述数据写入请求包括待写入数据；所述确定校验数据包括：根据所述数据写...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙成思，孙日欣，胡伟，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：