电子产品气密性检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了电子产品气密性测试设备，包括下模和可移动盖合或脱离下模的上模，上模盖合下模时与下模形成用于测试的测试腔，测试腔内设有可移动封堵电子产品泄音孔的密封组件。其通过设于测试腔内可移动封堵电子产品泄音孔的密封组件，实现电话手表泄音孔的自动封堵，提高操作精度和检测精度。提高操作精度和检测精度。提高操作精度和检测精度。

【技术实现步骤摘要】
电子产品气密性检测设备


[0001]本申请涉及气密性检测领域，尤其涉及电子产品气密性检测设备。

技术介绍

[0002]电话手表的气密性是电话手表的重要性能。在进行气密性测试时，需先将电话手表的泄音孔封堵，再进行气密性检测，而电话手表泄音孔的封堵通过人工贴胶纸实现，而人工贴胶纸封堵泄音孔，存在操作误差大、检测精度低、人力成本高和原材浪费的问题。

技术实现思路

[0003]本申请的目的在于提供电子产品气密性检测设备，其通过设于测试腔内可移动封堵电子产品泄音孔的密封组件，实现电话手表泄音孔的自动封堵，提高操作精度和检测精度。
[0004]本申请是通过以下技术方案实现的：
[0005]电子产品气密性检测设备，包括下模和可移动盖合或脱离所述下模的上模，所述上模盖合所述下模时与所述下模形成用于测试的测试腔，所述测试腔内设有可移动封堵电子产品泄音孔的密封组件。
[0006]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述密封组件设置在所述下模上，所述上模移动盖合所述下模时驱动所述密封组件移动封堵电子产品的泄音孔。
[0007]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述密封组件上形成有第一斜面，所述上模上形成有与所述第一斜面斜推配合的第二斜面，所述第二斜面在所述上模移动盖合所述下模时斜推所述第一斜面使所述密封组件移动。
[0008]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述下模上设有第一磁吸件，所述密封组件上设有与所述第一磁吸件磁吸配合的第二磁吸件，所述第二磁吸件在所述上模移动脱离所述下模时与所述第一磁吸件配合使所述密封组件移动复位。
[0009]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述第一磁吸件上形成有第一磁吸面，所述第二磁吸件上形成有与所述第一磁吸面磁吸的第二磁吸面，所述第一磁吸面在所述密封组件移动封堵电子产品的泄音孔时与所述第二磁吸面部分重叠。
[0010]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述第二磁吸面呈圆形，所述第二磁吸面的直径为D，所述上模移动盖合所述下模时所述密封组件的位移量为S，S：D为1：5。
[0011]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述第一斜面与竖直面的夹角为：35
°
～45
°
。
[0012]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述密封组件包括可沿所述下模滑动的滑块和设置在所述滑块上用于封堵电话手表的泄音孔的密封块，所述滑块上形成有所述第一斜面。
[0013]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述密封块为弹性材质。
[0014]如上所述的电子产品气密性检测设备，所述密封组件在第一方向上移动封堵电子
产品的泄音孔，所述下模上形成有限制所述密封组件移离第一方向的限位槽。
[0015]与现有技术相比，本技术具有如下优点：
[0016]本技术通过设于测试腔内可移动封堵电子产品泄音孔的密封组件，实现电话手表泄音孔的自动封堵，提高操作精度和检测精度。
【附图说明】
[0017]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0018]图1为本申请实施例电子产品气密性检测设备的立体图；
[0019]图2为本申请实施例中上模盖合下模的立体图；
[0020]图3为本申请实施例中上模盖合下模的剖视图；
[0021]图4为本申请实施例中上模脱离下模的剖视图；
[0022]图5为图4中A处的局部放大图；
[0023]图6为本申请实施例中下模的立体图；
[0024]图7为本申请实施例中上模的立体图。
【具体实施方式】
[0025]为了使本申请所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0026]如图1
‑
7所示的电子产品气密性检测设备，包括机架1，所述机架1上设有用于固定电子产品的下模2，以及设有可移动盖合或脱离所述下模2的上模3，所述上模3盖合所述下模2时与所述下模2形成用于测试电子产品气密性的测试腔4，所述下模2上设有可移动的密封组件5，所述上模3移动盖合所述下模2时驱动所述密封组件5移动封堵电子产品的泄音孔。本专利技术通过可移动封堵电话手表泄音孔的密封组件，实现电话手表泄音孔的自动封堵，降低操作误差、提高检测精度、降低人力成本。
[0027]进一步地，作为本专利技术的优选实施方式而非限定，所述密封组件5上形成有第一斜面51，所述上模3上形成有与所述第一斜面51斜推配合的第二斜面61，所述第二斜面61在所述上模3移动盖合所述下模2时斜推所述第一斜面51使所述密封组件5移动封堵电子产品的泄音孔。此结构实现了上模下移盖合下模时密封组件移动封堵电话手表的泄音孔，且结构简单、实施方便。
[0028]进一步地，作为本专利技术的优选实施方式而非限定，所述第一斜面51与竖直面的夹角为：35
°
～45
°
。优选地，所述第一斜面51与竖直面的夹角为40
°
。所述第一斜面51采用上述角度，可避免所述密封组件5移动相同距离时，所述上模3的下移量过大或过小，优化所述密封组件5的位移量与所述上模3的下移量之间的比例关系。
[0029]进一步地，作为本专利技术的优选实施方式而非限定，所述密封组件5与所述下模2可分离连接，所述下模2上设有第一磁吸件7，所述密封组件5上设有与所述第一磁吸件7磁吸配合的第二磁吸件8，所述第二磁吸件8在所述上模3移动脱离所述下模2时与所述第一磁吸件7配合使所述密封组件5移动复位。优选地，所述第一磁吸件7和所述第二磁吸件8均为磁
铁。上述结构通过所述第一磁吸件7和所述第二磁吸件8之间的磁吸作用，实现所述密封组件5的移动复位，结构简单、实施方便，且便于所述密封组件5的安装与更换。
[0030]进一步地，作为本专利技术的优选实施方式而非限定，所述第一磁吸件7上形成有第一磁吸面(图中未标出)，所述第二磁吸件8上形成有与所述第一磁吸面磁吸的第二磁吸面(图中未标出)，所述密封组件5移动封堵电子产品的泄音孔时，所述第一磁吸面与所述第二磁吸面部分重叠；所述密封组件5移动复位后，所述第一磁吸面与所述第二磁吸面完全重叠。此设置有利于密封组件的移动复位。
[0031]进一步地，作为本专利技术的优选实施方式而非限定，所述第一磁吸面与所述第二磁吸面的形状、大小均相同。此设置使所述下模2与所述密封组件5之间磁力均等，使所述密封组件5可快速准确地复位。
[0032]进一步地，作为本专利技术的优选实施方式而非限定，所述第二磁吸面呈圆形，所述第二磁吸面的直径为D，所述上模3移动盖合所述下模2时所述密封组件5的位移量为S，S：D为1：5。此设置使所述密封组件5可快速准确地复位。
[0033]进一步地，作为本专利技术的优选实施方式而非限定，所述密封组件5包括可沿所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电子产品气密性检测设备，其特征在于，包括下模(2)和可移动盖合或脱离所述下模(2)的上模(3)，所述上模(3)盖合所述下模(2)时与所述下模(2)形成用于测试的测试腔(4)，所述测试腔(4)内设有可移动封堵电子产品泄音孔的密封组件(5)。2.根据权利要求1所述的电子产品气密性检测设备，其特征在于，所述密封组件(5)设置在所述下模(2)上，所述上模(3)移动盖合所述下模(2)时驱动所述密封组件(5)移动封堵电子产品的泄音孔。3.根据权利要求2所述的电子产品气密性检测设备，其特征在于，所述密封组件(5)上形成有第一斜面(51)，所述上模(3)上形成有与所述第一斜面(51)斜推配合的第二斜面(61)，所述第二斜面(61)在所述上模(3)移动盖合所述下模(2)时斜推所述第一斜面(51)使所述密封组件(5)移动。4.根据权利要求1所述的电子产品气密性检测设备，其特征在于，所述下模(2)上设有第一磁吸件(7)，所述密封组件(5)上设有与所述第一磁吸件(7)磁吸配合的第二磁吸件(8)，所述第二磁吸件(8)在所述上模(3)移动脱离所述下模(2)时与所述第一磁吸件(7)配合使所述密封组件(5)移动复位。5.根据权利要求4所述的电子产品气密性检测设备，其特征在于，所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾东仁，
申请(专利权)人：广东力昌电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：