一种太阳能硅片的检测系统及其检测方法技术方案

本发明专利技术公开了一种太阳能硅片的检测系统及其检测方法，包括上位机、定位装置及检测装置，所述上位机与所述定位装置通信连接，所述上位机与所述检测装置连通信接，所述检测装置位于所述定位装置的中心，本发明专利技术通过所述定位装置对待测太阳能硅片进行定位校准，同时，所述检测装置对待测太阳能硅片进行破损检测，这样既提高了定位精度，又具有破损检测功能，提高了检测效率。高了检测效率。高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种太阳能硅片的检测系统及其检测方法


[0001]本专利技术涉及检测领域，具体涉及太阳能硅片的检测技术。

技术介绍

[0002]太阳能电池是通过光电效应或者光化学效应直接把光能转化成电能的装置，以光电效应工作的硅基太阳能电池为主流。硅基太阳能电池的制备过程中，硅片的处理和检测非常重要。由于晶体结构的自身特性，晶硅电池片十分容易发生破裂，晶体硅组件生产的工艺流程长，许多环节都可能造成电池片隐裂。隐裂直接影响光伏组件性能，也是电池片生产中需要重点检测分选的缺陷之一。例如，外观上会出现破损，如果破损严重，就会影响太阳能电池的外观及成品率，从而影响太阳能电池的光电转换效率和成本。因此，有必要对硅片进行检测。
[0003]传统的太阳能硅片检测方式有人工检测、专业的检测设备检测等，在人工检测方式中，人员工作效率低，而且检测精度相对较差。

技术实现思路

[0004]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种同时具有定位和破损检测功能的太阳能硅片的检测系统及其检测方法。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术首先提供了如下技术方案：
[0006]一种太阳能硅片的检测系统，包括上位机、定位装置及检测装置，所述上位机与所述定位装置通信连接，所述上位机与所述检测装置连通信接，所述检测装置位于所述定位装置的中心。
[0007]在本专利技术的一实施例中，所述定位装置包括控制器、多个定位相机，多个光源，所述多个定位相机与所述多个光源分别一一对应连接，所述控制器与所述多个定位相机连接。
[0008]在本专利技术的一实施例中，所述检测装置包括一检测相机及背光源，所述背光源设置于所述检测相机的正下方。
[0009]在本专利技术的一实施例中，所述定位相机包括相机模组及镜头，所述镜头与所述相机模组连接，所述相机模组内设有用于将光学图像转换成电信号的图像传感器。
[0010]在本专利技术的一实施例中，所述太阳能硅片的检测系统包括支架，所述支架包括第一安装板、第二安装板及支架本体，所述第二安装板与所述第一安装板连接，所述第一安装板与所述支架本体连接。
[0011]在本专利技术的一实施例中，所述第一安装板包括第一竖板及第一横板，所述第一竖板与所述第一横板固定连接；所述第二安装板包括第二竖板及第二横板，所述第二竖板与所述第二横板固定连接；所述第一竖板与所述第二竖板连接。
[0012]本专利技术提供的一种太阳能硅片的检测系统，包括上位机、定位装置及检测装置，所述上位机与所述定位装置通信连接，所述上位机与所述检测装置连通信接，所述检测装置
位于所述定位装置的中心，本专利技术通过所述定位装置对待测太阳能硅片进行定位校准，同时，所述检测装置对待测太阳能硅片进行破损检测，这样既提高了定位精度，又具有破损检测功能，提高了检测效率。
[0013]为了解决上述问题，本专利技术还提供了一种太阳能硅片的检测方法，包括以下步骤：
[0014]对定位装置进行标定，建立坐标系；
[0015]将标准太阳能硅片放置在工作台上，通过标定后的所述定位装置识别并保存所述标准太阳能硅片在所述坐标系中的位置；
[0016]将待测太阳能硅片放置在所述工作台上，在所述待测太阳能硅片上设置多个标记区域，通过上位机与所述定位装置建立通讯连接，所述定位装置对所述多个标记区域进行拍摄处理得到图像；
[0017]通过所述定位装置对所述图像进行算法处理，得到字符串并发送给所述上位机，所述上位机将所述字符串进行数值转换处理，得到偏移值，并将所述偏移值赋值给偏移变量以校准所述待测太阳能硅片的中心位置；
[0018]将校准后所述待测太阳能硅片的中心位置与所述标准太阳能硅片在所述坐标系中的位置进行比对，计算出偏差值，将所述偏差值发送至所述上位机进行再次校准；
[0019]利用检测装置对所述待测太阳能硅片进行破损检测，并将检测结果发送给所述上位机。
[0020]在本专利技术的一实施例中，所述对定位装置进行标定，建立坐标系，包括：
[0021]任意选取一张太阳能硅片，在所述太阳能硅片的四个角落设定标记区域，每个所述标记区域分别至少设置三个标记点，且所述三个标记点的位置关系固定，每个所述标记区域分别落在所述定位装置的视野范围内；
[0022]所述定位装置对所述三个标记点进行拍摄保存图像，根据所述太阳能硅片上四个角落的所述标记点之间的固定距离进行计算分析，得到一个统一的二维坐标系。
[0023]在本专利技术的一实施例中，所述偏移值包括方向偏移值及角度偏移值。
[0024]在本专利技术的一实施例中，所述利用检测装置对所述待测太阳能硅片进行破损检测，并将检测结果发送给所述上位机，包括：
[0025]首先在所述上位机中设置好所需的硅片参数，若所述检测装置检测得到的待测太阳能硅片的图像与设定的硅片参数不符合，则所述上位机发出报警提示。
[0026]本专利技术提供的一种太阳能硅片的检测系统，通过对定位装置进行标定，建立坐标系；将标准太阳能硅片放置在工作台上，通过标定后的所述定位装置识别并保存所述标准太阳能硅片在所述坐标系中的位置；计算所述待测太阳能硅片中心位置偏移值并进行第一次校准；将校准后所述待测太阳能硅片的中心位置与所述标准太阳能硅片在所述坐标系中的位置进行比对，计算出偏差值，将所述偏差值发送至所述上位机进行再次校准；利用检测装置对所述待测太阳能硅片进行破损检测，并将检测结果发送给所述上位机。本专利技术实现了对太阳能硅片同时进行定位校准及破损检测，提高了检测效率和检测精度。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领
域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1是本专利技术一实施例提供的一种太阳能硅片的检测系统的结构示意图；
[0029]图2是本专利技术一实施例提供的一种定位装置的结构示意图；
[0030]图3是本专利技术一实施例提供的一种检测装置的结构示意图；
[0031]图4是本专利技术一实施例提供的一种定位装置的立体图；
[0032]图5是本专利技术一实施例提供的一种定位相机的结构示意图；
[0033]图6是本专利技术一实施例提供的一种支架的结构示意图；
[0034]图7是本专利技术一实施例提供的一种太阳能硅片的检测方法的流程图。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]除非另外定义，本专利技术使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本专利技术中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种太阳能硅片的检测系统，其特征在于，包括上位机、定位装置及检测装置，所述上位机与所述定位装置通信连接，所述上位机与所述检测装置连通信接，所述检测装置位于所述定位装置的中心。2.根据权利要求1所述的一种太阳能硅片的检测系统，其特征在于，所述定位装置包括控制器、多个定位相机、多个光源，所述多个定位相机与所述多个光源分别一一对应连接，所述控制器与所述多个定位相机连接。3.根据权利要求1所述的一种太阳能硅片的检测系统，其特征在于，所述检测装置包括一检测相机及背光源，所述背光源设置于所述检测相机的正下方。4.根据权利要求2所述的一种太阳能硅片的检测系统，其特征在于，所述定位相机包括相机模组及镜头，所述镜头与所述相机模组连接，所述相机模组内设有用于将光学图像转换成电信号的图像传感器。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的一种太阳能硅片的检测系统，其特征在于，所述太阳能硅片的检测系统包括用于固定所述定位装置及所述检测装置的支架，所述支架包括第一安装板、第二安装板及支架本体，所述第二安装板与所述第一安装板连接，所述第一安装板与所述支架本体连接。6.根据权利要求5所述的一种太阳能硅片的检测系统，其特征在于，所述第一安装板包括第一竖板及第一横板，所述第一竖板与所述第一横板固定连接；所述第二安装板包括第二竖板及第二横板，所述第二竖板与所述第二横板固定连接；所述第一竖板与所述第二竖板连接。7.一种太阳能硅片的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：对定位装置进行标定，建立坐标系；将标准太阳能硅片放置在工作台上，通过标定后的所述定位装置识别并保存所述标准太阳能硅片在所述坐标系中的位置；将...

【专利技术属性】
技术研发人员：凌步军，朱鹏程，袁明峰，赵有伟，冯高俊，滕宇，吕金鹏，冷志斌，
申请(专利权)人：江苏亚威艾欧斯激光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：