一种毫米波雷达测试系统技术方案

一种毫米波雷达测试系统，包括：微波暗箱、滑轨、支撑杆、角反射器模块、转台以及测控台。通过滑轨控制，测量雷达对不同位置的静态目标、不同速度的动态目标的性能；通过替换不同大小的角反射器，模拟不同反射强度的目标点；通过增加角反射器数量，模拟不同数量的目标点。本发明专利技术结构简单，不需要价格高昂的雷达目标模拟器，成本较低。成本较低。成本较低。

【技术实现步骤摘要】
一种毫米波雷达测试系统


[0001]本技术涉及汽车传感器
，具体属于一种毫米波雷达测试系统。

技术介绍

[0002]随着汽车工业向智能化方向的发展，毫米波雷达逐渐成为智能汽车上不可缺少的关键部件。通过安装毫米波雷达装置，可以给汽车提供全方位的保护，加强了汽车运行过程中的安全性。
[0003]随着毫米波雷达市场的快速发展，毫米波雷达的品类也越来越多，测试工程师需要一种测试解决方案来评估雷达的性能。目前测试毫米波雷达的性能往往需要布置雷达测试环境，搭建雷达目标模拟系统。雷达目标模拟器目前广泛应用于各类毫米波雷达测试方案中，用作目标仿真，但因其系统成本高昂，尤其是多目标使得测试方案成本较高，并且，由于目标模拟器在微波暗室中安装位置，以及目前目标模拟器自身技术条件限制，大部分目标模拟器无法实现一米以内的目标仿真。

技术实现思路

[0004]本技术的技术方案为：一种毫米波雷达测试系统，包括：方形微波暗箱；安装于微波暗箱内部一端的转台；安装于转台上的雷达夹具；安装在微波暗箱底部的滑轨；安装于滑轨上的支撑杆；设于支撑杆上的角反射器模块，以及设于微波暗箱旁的控制台；所述控制台与所述转台以及所述滑轨电连接，用于控制。
[0005]所述微波暗箱为双层结构，上层内部覆盖吸波材料，用于创造无干扰的测试空间，下层固定有滑轨，上层与下层之间有窄槽连通。
[0006]所述滑轨固定于微波暗箱下层，滑轨的移动幅上固定有支撑杆，支撑杆通过微波暗箱的窄槽连通至微波暗箱上层，滑轨由伺服电机控制，可调节移动幅的移动速度和相对位置。
[0007]所述支撑杆上覆盖有吸波材料，支撑杆上方安装有角反射器。
[0008]所述角反射器模块可人为更换规格，用于模拟不同反射强度的目标，亦可增加角反射器数量，用于模拟多目标。
[0009]所述转台上设有雷达夹具，用于固定待测雷达并旋转待测雷达，旋转方向为水平旋转和俯仰旋转，由两个步进电机控制。
[0010]所述控制台通过工控机控制整套测试系统，待测雷达反馈的测试结果存储于工控机的存储组件中。
[0011]本专利技术与现有技术相比，有益效果在于：
[0012]不需大型测试场，只需较小的空间搭建小型微波暗室，便可进行测试。不需成本高昂的雷达目标模拟系统，通过滑轨和角反射器模块便可实现静态目标检测、动态目标检测、多目标检测的功能，大大降低了成本。降低对操作人员的技能要求，系统可通过工控机上的软件程序自动运行，操作人员只需完成雷达上料和运行程序的操作。系统可实现一米以内
的静态目标测试。
附图说明
[0013]图1为本技术的测试系统示意图。
[0014]图2为本技术的测试系统单目标测量的示意图。
[0015]图3为本技术的测试系统多目标测量的示意图。
[0016]1、微波暗箱；2、转台；3、支撑杆；4、滑轨；5、角反射器模块；6、控制台；7、夹具； 8、双角反射器模块；9、吸波材料。
具体实施方式
[0017]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图通过具体实施例来进行说明。如图1所示，其出示了本技术实施例的提供的一种毫米波雷达测试系统示意图，包括：方形微波暗箱1；安装于微波暗箱1内部一端的转台2；安装于转台2上的雷达夹具7；安装在微波暗箱1底部的滑轨；安装于滑轨上的支撑杆3；设于支撑杆3上的角反射器模块5，以及设于微波暗箱1旁的控制台；所述控制台与所述转台2以及所述滑轨电连接，用于控制。微波暗箱1支撑杆3角反射器模块5转台2控制台6
[0018]所述微波暗箱1为双层结构，上层内部覆盖吸波材料9，用于创造无干扰的测试空间，下层固定有滑轨，上层与下层之间有窄槽连通。
[0019]具体的，滑轨上的支撑杆3穿过窄槽，支撑杆3可在窄槽内前后运动。
[0020]所述滑轨固定于微波暗箱1下层，滑轨的移动幅上固定有支撑杆3，支撑杆3通过微波暗箱1的窄槽连通至微波暗箱1上层，滑轨由伺服电机控制，可调节移动幅的移动速度和相对位置。
[0021]所述支撑杆3上覆盖有吸波材料，支撑杆3上方安装有角反射器。
[0022]所述角反射器模块5可人为更换规格，用于模拟不同反射强度的目标，亦可增加角反射器数量，用于模拟多目标。
[0023]所述转台2上设有雷达夹具7，转台2用于固定待测雷达并旋转待测雷达，旋转方向为水平旋转和俯仰旋转，由两个步进电机控制。
[0024]所述控制台6通过工控机控制整套测试系统，待测雷达反馈的测试结果存储于工控机的存储组件中。
[0025]在本实施例中，测量待测雷达近场盲区时，将待测雷达装夹至转台2上，连接雷达，雷达输出数据上传至控制台6，调整转台2，使转台2回零点，雷达正面向角反射器模块5。调整滑轨，使角反射器模块5从远处缓慢运行至雷达前方零距离处，根据雷达最后探测到目标点时滑轨伺服电机编码器的读数判断雷达近场盲区范围。
[0026]在本实施例中，测量待测雷达测距精度时，将待测雷达装夹至转台2上，连接雷达，雷达输出数据上传至控制台6，调整转台2，使转台2回零点，雷达正面向角反射器模块5。调整滑轨，使角反射器模块5静止在不同位置处，根据雷达的读数和滑轨伺服电机编码器的读数，判断雷达的测距精度。
[0027]在本实施例中，测量待测雷达角度范围和精度时，将待测雷达装夹至转台2上，连接雷达，雷达输出数据上传至控制台6，调整转台2，使转台2回零点，雷达正面向角反射器。
调整滑轨，使角反射器模块5静止在远处不动。调整转台2，使转台2水平旋转，根据雷达的读数和转台2步进电机的读数，判断雷达的角度精度。根据达最后探测到目标点时转台2步进电机的读数判断雷达的角度范围。
[0028]在本实施例中，测量待测雷达角度分辨率时，将角反射器模块5替换为固定间距的双角反射器模块9，待测雷达装夹完成后，控制台6通过程序指令，控制转台2电机和滑轨电机，使转台2和滑轨移动到指定位置，然后控制滑轨电机缓慢运动，使角反射器模块5缓慢远离雷达，目标间角度α慢慢变小，控制台6根据雷达回传数据，计算雷达测得双目标点变为单目标点时的目标间角度，测得雷达的角度分辨率。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种毫米波雷达测试系统，其特征在于，包括：方形微波暗箱；安装于微波暗箱内部一端的转台；安装于转台上的雷达夹具；安装在微波暗箱底部的滑轨；安装于滑轨上的支撑杆；设于支撑杆上的角反射器模块，以及设于微波暗箱旁的控制台；所述控制台与所述转台以及所述滑轨电连接，用于控制。2.根据权利要求1所述的一种毫米波雷达测试系统，其特征在于：所述微波暗箱为双层结构，上层内部覆盖吸波材料，用于创造无干扰的测试空间，下层固定有滑轨，上层与下层之间有窄槽连通。3.根据权利要求1所述的一种毫米波雷达测试系统，其特征在于：所述滑轨固定于微波暗箱下层，滑轨的移动幅上固定有支撑杆，支撑杆通过微波暗箱的窄槽连通至微波暗箱上层，滑轨由伺服电机控制，可调节滑轨上的移动幅的移动速度和相...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱劼昊，陈佳杭，
申请(专利权)人：杭州智波科技有限公司，
类型：新型
国别省市：