一种检测系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种检测系统，包括用于放置待测工件的检测工位，以及用于照射所述检测工位的光源；还包括：校准机构，包括校准元件；当所述校准机构置于检测工位时，所述校准元件在所述光源的照射下能够形成暗区；其中，所述暗区的所在位置用于确定所述光源照射方向的偏转角，基于所述偏转角能够使所述光源调整至目标照射方向。本实用新型专利技术能够快速地确定光源的偏转角，从而在光源的照射方向存在偏差时能够快捷高效地将其调整至目标照射方向，省去了反复调试的过程，有利于缩短检测时长以提高检测效率。此外，通过设置校准机构，能够降低对于光源产品组装精度的要求，因此能够降低光源成本，有利于实现面向市场的推广。有利于实现面向市场的推广。有利于实现面向市场的推广。

【技术实现步骤摘要】
一种检测系统


[0001]本技术涉及视觉检测
，尤其涉及一种检测系统。

技术介绍

[0002]光度立体法是一种从不同的方向照射物体，并利用静态相机进行成像的检测方法，每个图像的光源方向不同，而不同的光源方向能够形成不同的表面反射率，从而能够在每个图像中捕获不同的特征点。当将这些图像进行处理后，能够生成具有较高对比度的图像，以实现细微特征的检测。
[0003]由于光源照射方向的分布均匀性会影响到光度立体法检测的可靠性，因此光源的分布一致性成为光度立体法发挥检测价值的障碍；为了提高光度立体法检测的可靠性，在检测前需要对光源的照射方向进行反复调试，该过程耗费时间过长，导致基于光度立体法的检测系统组装缓慢，使得检测效率过低，难以满足生产需求。同时，对光源产品的组装精度提出了更高的要求，因而应用于光度立体法的光源产品成本较高，难以实现市场推广。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供一种检测系统，解决现有技术中基于光度立体法的检测系统组装缓慢，且对于光源产品组装精度要求较高，导致光度立体法的检测效率较低、成本居高不下的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供以下的技术方案：
[0006]一种检测系统，包括用于放置待测工件的检测工位，以及用于照射所述检测工位的光源；还包括：
[0007]校准机构，包括校准元件；当所述校准机构置于检测工位时，所述校准元件在所述光源的照射下能够形成暗区；
[0008]其中，所述暗区用于确定所述光源照射方向的偏转角，基于所述偏转角能够使所述光源调整至目标照射方向。
[0009]可选地，所述校准机构还包括标定元件，所述标定元件具有与所述待测工件相同的表面特征；
[0010]所述校准元件连接于所述标定元件。
[0011]可选地，所述标定元件设有定位槽，所述校准元件设于所述定位槽内。
[0012]可选地，所述定位槽的截面形状为倒锥形。
[0013]可选地，所述校准元件为圆锥体、棱锥体、圆台或棱台。
[0014]可选地，所述校准元件的侧表面均匀分布有台阶结构。
[0015]可选地，所述的检测系统，还包括成像装置，所述成像装置对准于所述检测工位；
[0016]当所述光源照射于所述校准元件时，所述成像装置用于采集包含有所述暗区的校准图像。
[0017]可选地，所述的检测系统，还包括安装架；
[0018]所述光源设有多个，多个所述光源均可活动地安装于所述安装架上，且多个所述光源于所述安装架上呈均匀分布。
[0019]可选地，所述安装架上设有调节滑槽，所述光源可滑动地安装于所述调节滑槽内，所述光源能够沿所述调节滑槽滑动以靠近或远离所述检测工位；
[0020]所述安装架上还设有第一驱动件，所述第一驱动件用于驱动所述光源沿所述调节滑槽滑动。
[0021]可选地，所述光源通过一连接件可滑动地安装于所述调节滑槽内，所述光源与所述连接件之间为旋转连接；
[0022]所述安装架上还设有第二驱动件，所述第二驱动件用于驱动所述光源相对于所述连接件旋转。
[0023]可选地，所述安装架上设有用于检测光源调整角度的位置感应器，以及用于根据所述位置感应器的感应结果发出到位信号的声光报警器。
[0024]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
[0025]本技术提供了一种检测系统，通过将校准机构设置于检测工位上，当光源照射于该校准机构时，校准元件能够形成一暗区，暗区的所在位置用于确定光源照射方向的偏转角，基于偏转角能够使光源调整至目标照射方向。本技术能够快速地确定光源的偏转角，从而在光源的照射方向存在偏差时能够快捷高效地将其调整至目标照射方向，省去了反复调试的过程，有利于缩短检测时长以提高检测效率。此外，通过设置校准机构，能够降低对于光源产品组装精度的要求，因此能够降低光源成本，有利于实现面向市场的推广。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0027]图1为本技术提供的一种检测系统的结构示意图；
[0028]图2为本技术提供的一种检测系统的又一结构示意图；
[0029]图3为本技术提供的一种检测系统中于第一方向下暗区的位置分布示意图；
[0030]图4为本技术提供的一种检测系统中于第二方向下暗区的位置分布示意图；
[0031]图5为本技术提供的一种检测系统中于第三方向下暗区的位置分布示意图；
[0032]图6为本技术提供的一种检测系统中于第四方向下暗区的位置分布示意图；
[0033]图7为本技术提供的一种检测系统中校准元件的结构示意图。
[0034]上述图中：10、安装架；11、光源；20、成像装置；31、标定元件；32、校准元件；321、台阶结构；33、紧固件。
具体实施方式
[0035]为使得本技术的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下
面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0036]在本技术的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。
[0037]此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本技术的限制。
[0038]下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。
[0039]请结合参考图1和图2，本技术实施例提供了一种检测系统，包括用于放置待测工件的检测工位，以及用于照射检测工位的光源11；具体地，光源11设有多个，多个光源11分别从不同的方向照射于检测工位，以实现对置于检测工位上的待测工件的缺陷检测。
[0040]本实施例中，该检测系统还包括：
[0041]校准机构，包括校准元件32；该校准机构用于在检测前实现对光源11照射方向的检测，并为光源11照射方向的校准提供依据。
[0042]具体地，该校准元件32的高度与光源11高度及照射角度相关。同时，该校准元件3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测系统，包括用于放置待测工件的检测工位，以及用于照射所述检测工位的光源；其特征在于，还包括：校准机构，包括校准元件；当所述校准机构置于检测工位时，所述校准元件在所述光源的照射下能够形成暗区；其中，所述暗区用于确定所述光源照射方向的偏转角，基于所述偏转角能够使所述光源调整至目标照射方向。2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述校准机构还包括标定元件，所述标定元件具有与所述待测工件相同的表面特征；所述校准元件连接于所述标定元件。3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述标定元件设有定位槽，所述校准元件设于所述定位槽内。4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述定位槽的截面形状为倒锥形。5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述校准元件为圆锥体、棱锥体、圆台或棱台；所述校准元件的侧表面均匀分布有台阶结构。6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，还包括成像装置，所述成像装置对准于所述检测工位；当所述光源照...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹波，陈宏燊，王寅赫，
申请(专利权)人：东莞市沃德普自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：