曲面零件的测量方法、装置、设备和介质制造方法及图纸

技术编号:33718822 阅读:22 留言:0更新日期:2022-06-08 21:09
本发明专利技术实施例公开了一种曲面零件的测量方法、装置、设备和介质。方法包括:在三坐标测量中,确定曲面零件的至少一个理论点位置;根据至少一个理论点位置,建立第一零件坐标系,并利用第一零件坐标系,对曲面零件进行测量,得到每个理论点位置对应的第一实测点位置;根据每个理论点位置对应的第一实测点位置,建立第二零件坐标系,并利用第二零件坐标系,对曲面零件进行测量,得到每个理论点位置对应的第一实测点位置与每个理论点对应的第二实测点位置间的偏差值;若偏差值中的最大偏差值小于偏差阈值,则基于第二零件坐标系,对曲面零件进行测量。本发明专利技术提高了对曲面零件的侧量准确度,降低了对于测量辅助工装的依赖,减少了技术准备的工作量。术准备的工作量。术准备的工作量。

【技术实现步骤摘要】
曲面零件的测量方法、装置、设备和介质


[0001]本专利技术实施例涉及零件测量
,尤其涉及一种曲面零件的测量方法、装置、设备和介质。

技术介绍

[0002]随着制造行业水平的提升,不规则曲面零件逐渐被广泛使用。例如车辆天窗或者汽轮机叶片等。
[0003]目前,针对不规则曲面零件进行测量时,一般是测量人员与工艺人员进行沟通,确定曲面零件的工艺加工基准,然后根据确定的工艺加工基准制定测量计划,根据测量计划对曲面零件实施三坐标测量。
[0004]当曲面零件升版或者工艺方法(路线)发生更改时,会造成工艺加工基准发生变化,导致基于预先制定的测量计划无法测量曲面零件。此时,需要测量人员重新与工艺人员沟通重新确定工艺加工基准,增加了测量人员的工作量。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种曲面零件的测量方法、装置、设备和介质,提供一种无需依赖工艺加工基准,即可对曲面零件进行测量的方案,提高了对曲面零件的侧量准确度,降低了对于测量辅助工装的依赖,减少了技术准备的工作量。
[0006]第一方面,本专利技术实施例提供了一种曲面零件的测量方法,包括:
[0007]在三坐标测量中,确定曲面零件的至少一个理论点位置;
[0008]根据所述至少一个理论点位置,建立第一零件坐标系,并利用所述第一零件坐标系,对所述曲面零件进行测量,得到每个理论点位置对应的第一实测点位置;
[0009]根据所述每个理论点位置对应的第一实测点位置,建立第二零件坐标系,并利用所述第二零件坐标系,对所述曲面零件进行测量,得到所述每个理论点位置对应的第一实测点位置与所述每个理论点位置对应的第二实测点位置间的偏差值;
[0010]若所述至少一个偏差值中的最大偏差值小于偏差阈值,则基于所述第二零件坐标系,对所述曲面零件进行测量。
[0011]第二方面,本专利技术实施例还提供了一种曲面零件的测量装置,包括:
[0012]第一确定模块,用于在三坐标测量中,确定曲面零件的至少一个理论点位置;
[0013]第一测量模块,用于根据所述至少一个理论点位置,建立第一零件坐标系,并利用所述第一零件坐标系,对所述曲面零件进行测量,得到每个理论点位置对应的第一实测点位置;
[0014]第二测量模块,用于根据所述每个理论点位置对应的第一实测点位置,建立第二零件坐标系,并利用所述第二零件坐标系,对所述曲面零件进行测量,得到所述每个理论点位置对应的第一实测点位置与所述每个理论点位置对应的第二实测点位置间的偏差值;
[0015]第三测量模块,用于若所述至少一个偏差值中的最大偏差值小于偏差阈值,则基
于所述第二零件坐标系,对所述曲面零件进行测量。
[0016]第三方面,本专利技术实施例还提供了一种电子设备,包括:
[0017]一个或多个处理器;
[0018]存储装置,用于存储一个或多个程序,
[0019]当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如本专利技术实施例中任一所述的曲面零件的测量方法。
[0020]第四方面,本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本专利技术实施例中任一所述的曲面零件的测量方法。
[0021]本专利技术实施例公开的技术方案,具有如下有益效果:
[0022]通过在三坐标测量中,确定曲面零件的至少一个理论点位置,根据至少一个理论点位置,建立第一零件坐标系,利用第一零件坐标系,对曲面零件进行测量,得到每个理论点位置对应的第一实测位置点,并根据每个理论点位置对应的第一实测点位置,建立第二零件坐标系,利用第二零件坐标系,对曲面零件进行测量,得到每个理论点位置对应的第一实测点位置与每个理论点位置对应的第二实测点位置间的偏差值,如果至少一个偏差值中的最大偏差值小于偏差阈值,则基于第二零件坐标系,对曲面零件进行测量。由此,通过基于曲面零件的至少一个理论点位置,实现对曲面零件的测量,从而提供一种无需依赖工艺加工基准,即可对曲面零件进行测量的方案,提高了对曲面零件的侧量准确度,降低了对于测量辅助工装的依赖,减少了技术准备的工作量。
附图说明
[0023]图1是本专利技术实施例一提供的一种曲面零件的测量方法的流程示意图;
[0024]图2是本专利技术实施例二提供的一种曲面零件的测量方法的流程示意图;
[0025]图3是本专利技术实施例三提供的一种曲面零件的测量方法的流程示意图;
[0026]图4是本专利技术实施例四提供的一种曲面零件的测量方法的具体示例的示意图;
[0027]图5是本专利技术实施例五提供的一种曲面零件的测量装置的结构示意图;
[0028]图6是本专利技术实施例六提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0029]下面结合附图和实施例对本专利技术实施例作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术实施例,而非对本专利技术实施例的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本专利技术实施例相关的部分而非全部结构。
[0030]下面结合附图对本专利技术实施例的曲面零件的测量方法、装置、设备和介质进行详细说明。
[0031]实施例一
[0032]图1是本专利技术实施例一提供的一种曲面零件的测量方法的流程示意图。本实施例可适用于对不规则曲面零件进行三坐标测量的场景,该方法可以由曲面零件的测量装置来执行,该装置可由硬件和/或软件组成,并可集成于电子设备中。在本专利技术实施例中,电子设备优选为三坐标测量机。如图1所示,该方法具体包括如下:
[0033]S101,在三坐标测量中,确定曲面零件的至少一个理论点位置。
[0034]本专利技术实施例中,曲面零件是指具有或不具有用于构建零件坐标系的大平面、大圆孔等规则基准特征的零件。
[0035]其中,至少一个理论点位置包括所述曲面零件在空间中的不同自由度。通常,曲面零件在空间中的自由度可为6个自由度,具体为:沿X轴、Y轴、Z轴三个直角坐标轴方向的移动自动度和绕X轴、Y轴和Z轴三个坐标轴的转动自由度。当然还可以是其他数量的自由度,此处对其不做具体限定。
[0036]在执行S101之前,可通过用户人工识别装夹在测量平台上的曲面零件是否具备规则基准特征。其中,测量平台是指三坐标测量机上的测量平台。
[0037]具体的,确定曲面零件是否具备规则基准特征,可通过以下示例方式实现:
[0038]方式一:
[0039]用户通过肉眼观察该曲面零件是否具备规则基准特征。
[0040]方式二:
[0041]用户基于三维模型提供的数据确定零件是否具备规则特征。
[0042]可选的,当确定该曲面零件不具备规则基准特征时,用户可通过在三坐标测量机上显示的非规则基准列表中,选择符合该曲面零件的非规则基准。进而,三坐标测量机根据用户选择的非规则基准,自动确定该曲面零件的至少一个理论点位置。需要说明的是,在本专利技术本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种曲面零件的测量方法,其特征在于,包括:在三坐标测量中,确定曲面零件的至少一个理论点位置;根据所述至少一个理论点位置,建立第一零件坐标系,并利用所述第一零件坐标系,对所述曲面零件进行测量,得到每个理论点位置对应的第一实测点位置;根据所述每个理论点位置对应的第一实测点位置,建立第二零件坐标系,并利用所述第二零件坐标系,对所述曲面零件进行测量,得到所述每个理论点位置对应的第一实测点位置与所述每个理论点位置对应的第二实测点位置间的偏差值;若所述至少一个偏差值中的最大偏差值小于偏差阈值,则基于所述第二零件坐标系,对所述曲面零件进行测量。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述得到所述每个理论点位置对应的第一实测点位置与所述每个理论点位置对应的第二实测点位置间的偏差值之后,还包括:若确定至少一个偏差值中的最大偏差值大于或等于所述偏差阈值,则重复执行如下操作:将至少一个第二实测点位置作为当前实测点位置,根据所述当前实测点位置建立新零件坐标系,并利用所述新零件坐标系,对所述曲面零件进行测量,直至得到目标零件坐标系;基于所述目标零件坐标系,对所述曲面零件进行测量。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述得到所述每个理论点位置对应的第一实测点位置与所述每个理论点位置对应的第二实测点位置间的偏差值之后,还包括:若确定所述至少一个偏差值中的最大偏差值大于或等于所述偏差阈值,且将至少一个第二实测点位置作为当前实测点位置,并基于所述当前实测点位置建立的新零件坐标系,对所述曲面零件进行测量的重复次数达到预设次数,则向用户发送提示信息。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定曲面零件的至少一个理论点位置之后,还包括:确定每个理论点位置的方向信息;相应的,所述利用所述第一零件坐标系,对所述曲面零件进行测量,得到每个理论点位置对应的第一实测点位置,包括:在所述第一零件坐标系中,控制测头按照每个理论点位置的方向信息,依次移动至每个理论点位置;当所述测头移动到任一理论点位置时,记录该理论点位置对应的实测点位置,以得到每个理论点位置...

【专利技术属性】
技术研发人员:王诗源张伟忠张磊杜彬周玲王兆炜
申请(专利权)人:上海飞机制造有限公司
类型:发明
国别省市:

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