本发明专利技术提供一种面板显示伽马校正的方法和装置，属于显示参数设定技术领域，其可至少部分解决现有的面板显示伽马校正的方法耗时长、效率低的问题。本发明专利技术的显示面板的显示区包括用于设置屏下传感器的透过区和除透过区外的主显示区，透过区中的像素电连接第一参考电压端，主显示区中的像素电连接第二参考电压端；方法包括：根据透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值，确定提供给第一参考电压端的电压为第一校正参考电压；根据主显示区的显示亮度分布与预设的标准伽马曲线，确定主显示区的伽马参数为主显示区校正伽马参数；根据主显示区校正伽马参数对透过区的初始伽马参数进行校正得到透过区校正伽马参数，确定透过区的伽马参数为透过区校正伽马参数。区的伽马参数为透过区校正伽马参数。区的伽马参数为透过区校正伽马参数。
【技术实现步骤摘要】
面板显示伽马校正的方法和装置
[0001]本专利技术属于显示参数设定
，具体涉及一种面板显示伽马校正的方法和装置。
技术介绍
[0002]显示面板出厂前需进行伽马(gamma)校正，即根据其实际显示亮度设定伽马参数(伽马向量在各绑点灰阶下的伽马值)，以使校正后的显示亮度符合预设的标准伽马曲线(即各绑点灰阶下的显示亮度为标准伽马曲线在相应绑点灰阶下的亮度)。
[0003]采用屏下传感器，例如屏下摄像头(FDC，Full Display with Camera)技术的显示装置中，摄像头(传感器)设于显示面板背侧(背离出光面侧)，通过显示面板的透过区(或称FDC区)采集图像，而透过区是显示区的一部分。为使透过区既透光又能显示，其像素设计需与除透过区外的主显示区(或称常规区，Normal区)不同，如透过区的像素密度较低，或透过区的每个驱动电路驱动多个像素等。
[0004]因像素设计不同，故透过区和主显示区在相同显示参数下的显示亮度不同，为保证两区的显示效果都符合标准伽马曲线，需分别对两个区进行伽马校正，导致校正用的Tact Time(节拍时间)长，生产效率低。
技术实现思路
[0005]本专利技术至少部分解决现有的面板显示伽马校正的方法耗时长、效率低的问题，提供一面板显示伽马校正的方法和装置。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供一种面板显示伽马校正的方法，所述显示面板的显示区包括用于设置屏下传感器的透过区和除透过区外的主显示区，所述透过区中的像素电连接第一参考电压端，所述主显示区中的像素电连接第二参考电压端；所述方法包括：
[0007]根据所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压；
[0008]根据所述主显示区的显示亮度分布与预设的标准伽马曲线，确定所述主显示区的伽马参数为主显示区校正伽马参数；
[0009]根据所述主显示区校正伽马参数对透过区的初始伽马参数进行校正得到透过区校正伽马参数，确定所述透过区的伽马参数为透过区校正伽马参数。
[0010]可选的，所述根据所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压包括：
[0011]根据预先获取的标准差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压；
[0012]其中，所述标准差值为在向第一参考电压端提供第一初始参考电压，向第二参考电压端提供第二初始参考电压，且透过区和主显示区均显示标准灰阶时，所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值。
[0013]可选的，所述根据所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压包括：
[0014]向所述第一参考电压端提供第一初始参考电压，向所述第二参考电压端提供第二初始参考电压，使所述透过区和主显示区均显示标准灰阶，测得所述透过区的显示亮度和主显示区的显示亮度，确定所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的标准差值；
[0015]根据所述标准差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压。
[0016]可选的，所述标准灰阶为在向第二参考电压端提供第二初始参考电压时，使所述主显示区的显示亮度与预设的标准亮度最接近的灰阶。
[0017]可选的，所述根据所述主显示区的显示亮度分布与预设的标准伽马曲线，确定所述主显示区的伽马参数为主显示区校正伽马参数包括：
[0018]使所述主显示区显示预设的绑点灰阶，并检测所述主显示区的检测位置的绑点灰阶亮度；
[0019]根据所述绑点灰阶亮度与标准伽马曲线在相应绑点灰阶的亮度间的差值，确定所述主显示区在该绑点灰阶下的伽马值。
[0020]可选的，所述检测位置位于显示区的几何中心与透过区之间。
[0021]可选的，所述显示区具有相互垂直的高度方向和宽度方向；
[0022]沿所述高度方向，所述透过区位于显示区的中心线的第一侧；
[0023]沿所述高度方向，所述检测位置位于显示区的中心线的第一侧，且与所述中心线间的距离等于显示区沿高度方向的最大尺寸的四分之一；
[0024]沿所述宽度方向，所述检测位置位于显示区的中心线上。
[0025]可选的，所述根据所述主显示区校正伽马参数对透过区的初始伽马参数进行校正得到透过区校正伽马参数，确定所述透过区的伽马参数为透过区校正伽马参数包括：
[0026]根据所述主显示区校正伽马参数，通过二次非线性拟合对所述透过区的初始伽马参数进行校正得到透过区校正伽马参数，确定所述透过区的伽马参数为透过区校正伽马参数。
[0027]可选的，所述透过区校正伽马参数通过以下公式计算得到：
[0028]Y＝a(X+b)；
[0029]其中，所述Y为表示透过区校正伽马参数的伽马向量，所述X为表示主显示区校正伽马参数的伽马向量，a、b分别为预设的系数。
[0030]第二方面，本专利技术实施例提供一种面板显示伽马校正的装置，所述显示面板的显示区包括用于设置屏下传感器的透过区和除透过区外的主显示区，所述透过区中的像素电连接第一参考电压端，所述主显示区中的像素电连接第二参考电压端；所述装置包括：
[0031]控制模块，用于执行以下步骤：根据所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压；根据所述主显示区的显示亮度分布与预设的标准伽马曲线，确定所述主显示区的伽马参数为主显示区校正伽马参数；根据所述主显示区校正伽马参数对透过区的初始伽马参数进行校正得到透过区校正伽马参数，确定所述透过区的伽马参数为透过区校正伽马参数；
[0032]驱动模块，用于驱动所述显示面板进行显示；
[0033]检测模块，用于检测所述显示面板的显示亮度。
附图说明
[0034]图1为本专利技术实施例的一种显示面板的显示区结构示意图；
[0035]图2为本专利技术实施例的一种显示面板的像素的驱动电路的电路结构示意图；
[0036]图3为本专利技术实施例的一种面板显示伽马校正的方法的流程图；
[0037]图4为本专利技术实施例的一种面板显示伽马校正的方法中，调整提供给第一参考电压端的电压前透过区和主显示区的伽马曲线；
[0038]图5为本专利技术实施例的一种面板显示伽马校正的方法中，调整提供给第一参考电压端的电压后透过区和主显示区的伽马曲线；
[0039]图6为本专利技术实施例的另一种面板显示伽马校正的方法的流程图；
[0040]图7为本专利技术实施例的一种面板显示伽马校正的装置的组成框图。
[0041]其中，附图标记为：11、透过区；12、主显示区；3、检测位置。
具体实施方式
[0042]为使本领域技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细描述。
[0043]可以理解的是，此处描述本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种面板显示伽马校正的方法，其特征在于，所述显示面板的显示区包括用于设置屏下传感器的透过区和除透过区外的主显示区，所述透过区中的像素电连接第一参考电压端，所述主显示区中的像素电连接第二参考电压端；所述方法包括：根据所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压；根据所述主显示区的显示亮度分布与预设的标准伽马曲线，确定所述主显示区的伽马参数为主显示区校正伽马参数；根据所述主显示区校正伽马参数对透过区的初始伽马参数进行校正得到透过区校正伽马参数，确定所述透过区的伽马参数为透过区校正伽马参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压包括：根据预先获取的标准差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压；其中，所述标准差值为在向第一参考电压端提供第一初始参考电压，向第二参考电压端提供第二初始参考电压，且透过区和主显示区均显示标准灰阶时，所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压包括：向所述第一参考电压端提供第一初始参考电压，向所述第二参考电压端提供第二初始参考电压，使所述透过区和主显示区均显示标准灰阶，测得所述透过区的显示亮度和主显示区的显示亮度，确定所述透过区的显示亮度与主显示区的显示亮度的标准差值；根据所述标准差值，确定提供给所述第一参考电压端的电压为第一校正参考电压。4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述标准灰阶为在向第二参考电压端提供第二初始参考电压时，使所述主显示区的显示亮度与预设的标准亮度最接近的灰阶。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述主显示区的显示亮度分布与预设的标准伽马曲线，确定所述主显示区的伽马参数为主显示区校正伽马参数包括：使所述主显示区显示预设的绑点灰阶，并检测所述主...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭博，黄建邦，韩婷，陈功，朱乐，李雅君，
申请(专利权)人：成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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