一种电子设备制造技术

本申请公开了一种电子设备，属于电子设备技术领域。所述按键结构包括：按键、电路板和按压检测组件；按键插设于电子设备的框体上开设的按键通孔内、且可沿按键通孔的轴线运动，按键通过金属弹针与一测量电路电连接，按键为测量电路的一个测量电极；按压检测组件包括磁场产生单元、磁场检测单元以及控制单元，磁场产生单元用于产生磁场，磁场产生单元设置于按键或电路板上，控制单元根据磁场检测单元检测到的磁场强度判断按键是否被按压。在本申请中，通过在按键上设置磁场产生单元以产生磁场，从而根据磁场检测单元检测到的磁场强度判断按键是否被按压，提高了按键结构的使用寿命，按键触发逻辑简单、效果好。效果好。效果好。

【技术实现步骤摘要】
一种电子设备


[0001]本申请属于电子设备
，具体涉及一种电子设备。

技术介绍

[0002]目前市面上常见的智能设备通常设置有按键，当按键被用力按下时，按键会带着金属弹片内移，下压内置触点，完成一个按键触发的动作，而当按键上施加的力释放后，内部机构的弹簧会带动按键和金属弹片回位。
[0003]然而，上述设计至少存在以下问题：在使用过程中，按键通过下压金属弹片然后触发内置触点，因此金属弹片承受的应力会相对较大，此时金属弹片折弯处的形变比较大，容易出现金属疲劳，长期使用后会出现金属弹片回弹力不足，继而导致按键与内置触点接触不良。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的是提供一种电子设备，能够解决现有技术中金属弹片容易出现金属疲劳，长期使用后容易出现金属弹片回弹力不足，继而导致按键与内置触点接触不良的问题。
[0005]本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括：
[0006]按键、电路板和按压检测组件
[0007]所述按键插设于所述电子设备的框体上开设的按键通孔内、且可沿所述按键通孔的轴线运动，所述按键通过金属弹针与一测量电路电连接，所述按键为所述测量电路的一个测量电极；
[0008]所述按压检测组件包括磁场产生单元、磁场检测单元以及控制单元，所述磁场产生单元用于产生磁场，所述磁场产生单元设置于所述按键或所述电路板上，所述按键沿所述按键通孔的轴线运动时所述磁场检测单元检测到的磁场强度发生变化，所述控制单元根据所述磁场检测单元检测到的磁场强度判断所述按键是否被按压。
[0009]在本申请实施例中，通过在按键上设置磁场产生单元以产生稳定的磁场，当按键的位置发生变化时，磁场产生单元的位置随之发生变化，磁场检测单元检测到的磁场强度也将发生变化，从而根据磁场检测单元检测到的磁场强度即可判断出按键是否被按压，由此，避免了采用金属弹片等接触式结构来实现按键触控，提高了按键结构的使用寿命，并且按键触发逻辑简单、效果好。
附图说明
[0010]图1为相关技术中的按键结构的结构示意图；
[0011]图2为本申请实施例提供的矢量磁场强度H的分解示意图；
[0012]图3为本申请实施例提供的按键结构的示意图之一；
[0013]图4为本申请实施例提供的按键结构的示意图之二；
[0014]图5为本申请实施例提供的按键结构的示意图之三；
[0015]图6为本申请实施例提供的按键结构的示意图之四；
[0016]图7为本申请实施例提供的按键结构的示意图之五；
[0017]图8为本申请实施例提供的按键结构的示意图之六；
[0018]图9为本申请实施例提供的按键结构的示意图之七；
[0019]图10为本申请实施例提供的按键结构的示意图之八。
具体实施方式
[0020]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0021]本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0022]下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的电子设备进行详细地说明。
[0023]请参考图1，图1为相关技术中的按键结构的结构示意图。如图1所示，相关技术中，PCB板上设置有金属触点13，金属弹片12呈弯钩状设置，金属弹片12的一端与PCB板固定连接，另一端与按键11的端部固定连接，在按键11被施加外力时，按键11下压金属弹片12，从而与金属触点13接触，实现按键功能，当外力撤去后，金属弹片12施加回弹力使按键11复位。然而，上述结构至少存在以下问题：在下压过程中，金属弹片12承受的应力会相对较大，此时金属弹片12折弯处的形变比较大，容易出现金属疲劳，长期使用后(即多次按压后)会出现金属弹片12发生形变且无法恢复至原位，即回弹力不足，继而导致按键11与内置的金属触点13接触不良，导致按键效果不佳，同时，金属弹片12和按键11之间也会出现接触变差的情况。并且，在一些设计中，按键11采用金属材料制作，作为ECG测量的一个测量电极，若按键11与内置的金属触点13接触不良，也会导致无法捕捉到ECG信号，或者捕捉到的ECG信号很差甚至无效，继而导致ECG测量的准确度下降，甚至无法进行ECG信号的下一步分析处理。
[0024]由此，本申请一方面实施例提供了一种电子设备，该电子设备可以是手机、智能手表、智能手环等，该电子设备的框体上开设有按键通孔。本申请实施例中的电子设备包括按键、电路板以及按压检测组件，其中，按键可活动地插设在电子设备的框体上开设的按键通孔内，按键可以沿按键通孔的轴线做直线运动，并且，按键通过金属弹针与一测量电路电连接，该按键复用为测量电路的一个测量电极，按键需至少部分采用金属材料制作，也就是说，该按键即可当做常规的触发按键，也可以作为测量电路的测量电极，测量电路的种类包括但不限于ECG测量电路，从而实现相应检测功能。而按压检测组件则包括磁场产生单元、磁场检测单元以及控制单元，其中，该磁场产生单元用于产生磁场，磁场检测单元用于检测
磁场，磁场检测单元检测的磁场可包括地球磁场以及按键中的磁场产生单元产生的磁场，磁场产生单元设置于按键或者电路板上，示例性的，在磁场产生单元设置在按键上的情况下，当按键沿按键通孔的轴线做直线运动时，磁场产生单元的位置也随之发生变化，即意味着磁场产生单元与磁场检测单元之间的距离发生变化，则磁场检测单元检测到的磁场强度也将发生变化，磁场检测单元将检测到的磁场信号发送给控制单元，由此，控制单元根据磁场检测单元检测到的磁场强度的变化情况即可判断出按键是否被按压，当然，也可以将磁场检测单元设置在按键上，而磁场产生单元的位置固定不变(即磁场产生单元设置在固定不动的电路板上)，则当按键沿按键通孔的轴线做直线运动时，两者之间的相对位置同样发生变化，继而根据磁场检测单元检测到的磁场强度的变化情况即可判断出按键是否被按压。
[0025]在本申请实施例中，通过在按键上设置磁场产生单元以产生稳定的磁场，当按键的位置发生变化时，磁场产生单元的位置随之发生变化，磁场检测单元检测到的磁场强度也将发生变化，从而根据磁场检测单元检测到的磁场强度即可判断出按键是否被按压，由此，避免了采用金属弹片等接触式结构来实现按键触控，提高了按键结构的使用寿命，并且按键触发逻辑简单、效果好；并且，通过将按键复用为测量电路本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子设备，其特征在于，包括按键、电路板和按压检测组件，所述按键插设于所述电子设备的框体上开设的按键通孔内、且可沿所述按键通孔的轴线运动，所述按键通过金属弹针与一测量电路电连接，所述按键为所述测量电路的一个测量电极；所述按压检测组件包括磁场产生单元、磁场检测单元以及控制单元，所述磁场产生单元用于产生磁场，所述磁场产生单元设置于所述按键或所述电路板上，所述按键沿所述按键通孔的轴线运动时所述磁场检测单元检测到的磁场强度发生变化，所述控制单元根据所述磁场检测单元检测到的磁场强度判断所述按键是否被按压。2.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述测量电路、所述磁场检测单元以及所述控制单元均设置于所述电路板上，所述磁场产生单元设置于所述按键上，所述电路板设置于所述框体的围合区域内。3.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述磁场检测单元为三轴磁场传感器。4.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述磁场产生单元为磁体或电磁体，在所述磁场产生单元为磁体时，所述按键的部分或全部均由所述磁体构成。5.根据权利要求4所述的电子设备，其特征在于，所述按键包括按键头和按键柱，所述按键柱包括第一按键柱和第二按键柱，所述第一按键柱为磁体，所述第一按键柱作为所述磁场产生单元，所述第二按键柱以及所述按键头均为导电材质，所述第一按键柱和所述第二按键柱之间设置有绝缘层，所述金属弹针的一端与所述测量电路连接，所述金属弹针的另一端与所述第二按键柱连接，所述第二按键柱与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄锐程，
申请(专利权)人：维沃移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：