一种电气表计读数识别方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种电气表计读数识别方法及系统，其中，一种电气表计读数识别方法包括：通过发射采集模块对电气表计盘面照射预设光，得到电气表计盘面的反射光，并对电气表计盘面的反射光进行采集；利用图像生成模块接受电气表计盘面的反射光，生成电气表计的明暗色图，并根据电气表计的明暗色图得到指针反射图形和起始点反射图形；通过读数计算模块根据指针反射图形和起始点反射图形，构建第一基准线和第二基准线，基于OpenCV、第一基准线和第二基准线识别角度，根据角度和第一基准线长度计算弧度得到电气表计读数；本方法通过基于电气表计的明暗色图可以准确识别电气表计的读数无需依靠盘面读数可准确得到电气表计的读数。需依靠盘面读数可准确得到电气表计的读数。需依靠盘面读数可准确得到电气表计的读数。

【技术实现步骤摘要】
一种电气表计读数识别方法及系统


[0001]本专利技术涉及电气表计读数的
，尤其涉及一种电气表计读数识别方法及系统。

技术介绍

[0002]近年来经济水平的不断发展，国民用电需求的不断增加，导致电力供应不稳定，于是国家不断建设变电站以满足人们日常生活的供电需求；但伴随着变电站的增多，对日常巡检工作的要求不断增加，人员的工作量过大，对工作的精细程度要求增加，且日常巡检过程中不难发现由于设备的长期运行，特别是电气表计的盘面极易损坏，例如：玻璃破损、盘面数据不清晰和电气表计使用时间过长导致盘面数据氧化等，导致现有的方法和人工巡检不能准确读出数据。

技术实现思路

[0003]本部分的目的在于概述本专利技术的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和专利技术名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和专利技术名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本专利技术的范围。
[0004]鉴于上述现有存在的问题，提出了本专利技术。
[0005]因此，本专利技术提供了一种电气表计读数识别方法及系统，能够避免(1)电气表计盘面模糊导致的读数不准确的问题；
[0006](2)避免电气表计的玻璃破损导致盘面氧化和进水的问题。
[0007]为解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：包括：通过发射采集模块对电气表计盘面照射预设光，得到电气表计盘面的反射光，并对所述电气表计盘面的反射光进行采集；
[0008]利用图像生成模块接受所述电气表计盘面的反射光，生成电气表计的明暗色图，并根据所述电气表计的明暗色图得到指针反射图形和起始点反射图形；
[0009]通过读数计算模块根据所述指针反射图形和起始点反射图形，构建第一基准线和第二基准线，基于opencv、第一基准线和第二基准线识别角度，根据所述角度和第一基准线长度计算弧度得到电气表计读数。
[0010]作为本专利技术所述的电气表计读数识别方法的一种优选方案，其中：所述发射采集模块发射单元和采集单元；
[0011]通过所述发射单元对电气表计盘面照射预设光，而后通过所述采集单元对所述电气表计盘面的反射光进行采集。
[0012]作为本专利技术所述的电气表计读数识别方法的一种优选方案，其中：所述预设光包括：预设光的光照强度大于A，光照角度为B。
[0013]作为本专利技术所述的电气表计读数识别方法的一种优选方案，其中：第一基准线包括：指针反射图形的圆心设为第一基准点，起始点反射图形设为第二基准点，连接所述第一
基准点和所述第二基准点构成第一基准线，所述第一基准线和第二基准线相交。
[0014]作为本专利技术所述的电气表计读数识别方法的一种优选方案，其中：所述第二基准线包括：指针反射图形的指尖设为第三基准点，所述第一基准点与所述第三基准点连接构成第二基准线，所述第二基准线在所述指针反射图形内。
[0015]作为本专利技术所述的电气表计读数识别方法的一种优选方案，其中：包括：所述第一基准线和所述第二基准线相交且形成夹角θ。
[0016]作为本专利技术所述的电气表计读数识别方法的一种优选方案，其中：识别角度包括：基于opencv设图像中三个基准点并连线，构成第一基准线和第二基准线，所述第一基准线和所述第二基准线的交点为坐标系原点，所述第一基准线为坐标系x轴，得到所述x轴与所述第二基准线夹角θ。
[0017]作为本专利技术所述的电气表计读数识别方法的一种优选方案，其中：电气表计读数D包括：
[0018][0019]其中，L为第一基准线的长度，θ为x轴与第二基准线夹角，l为一刻度对应的弧长。
[0020]作为本专利技术所述的电气表计读数识别系统的一种优选方案，其中：包括：发射采集模块，用于发射预设光和采集电气表计盘面的反射光；图像生成模块，与所述发射接受模块相连，用于接受电气表计盘面的反射光，生成电气表计的明暗色图；读数计算模块，与所述图像生成模块相连，用于根据电气表计的明暗色图，计算电气表计读数。
[0021]作为本专利技术所述的电气表计读数识别系统的一种优选方案，其中：所述发射采集模块包括发射单元和采集单元；发射单元，用于对电气表计盘面照射预设光；采集单元，与所述发射单元连接，用于对电气表计盘面的反射光进行采集。
[0022]本专利技术的有益效果：本专利技术基于电气表计的明暗色图可以准确识别电气表盘面是否破损且无需依靠盘面读数可准确得到电气表计的读数。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。其中：
[0024]图1为本专利技术第一个实施例所述的电气表计读数识别方法的流程图；
[0025]图2为本专利技术第一个实施例所述的电气表计读数识别方法的电气表计读数计算图；
[0026]图3为本专利技术第一个实施例所述的电气表计读数识别系统的结构示意图。
具体实施方式
[0027]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合说明书附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明，显然所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通人员在没有做出创造性劳动前提下
所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术的保护的范围。
[0028]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似推广，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0029]其次，此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本专利技术至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本说明书中不同地方出现的“在一个实施例中”并非均指同一个实施例，也不是单独的或选择性的与其他实施例互相排斥的实施例。
[0030]本专利技术结合示意图进行详细描述，在详述本专利技术实施例时，为便于说明，表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大，而且所述示意图只是示例，其在此不应限制本专利技术保护的范围。此外，在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。
[0031]同时在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语中的“上、下、内和外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一、第二或第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0032]本专利技术中除非另有明确的规定和限定，术语“安装、相连、连接”应做广义理解，例如：可以是固定连接、可拆卸连接或一体式连接；同样可以是机械连接、电连接或直接连接，也可以通过中间媒介间接相连，也可以是两个元件内部的连通。对于本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电气表计读数识别方法，其特征在于：包括：通过发射采集模块(100)对电气表计盘面照射预设光，得到电气表计盘面的反射光，并对所述电气表计盘面的反射光进行采集；利用图像生成模块(200)接受所述电气表计盘面的反射光，生成电气表计的明暗色图，并根据所述电气表计的明暗色图得到指针反射图形和起始点反射图形；通过读数计算模块(300)根据所述指针反射图形和起始点反射图形，构建第一基准线和第二基准线，基于OpenCV、第一基准线和第二基准线识别角度，根据所述角度和第一基准线长度计算弧度得到电气表计读数。2.如权利要求1所述的电气表计读数识别方法，其特征在于：所述发射采集模块(100)发射单元(101)和采集单元(102)；通过所述发射单元(101)对电气表计盘面照射预设光，而后通过所述采集单元(102)对所述电气表计盘面的反射光进行采集。3.如权利要求2所述的电气表计读数识别方法，其特征在于：所述预设光包括：预设光的光照强度大于A，光照角度为B。4.如权利要求3所述的电气表计读数识别方法，其特征在于：第一基准线包括：指针反射图形的圆心设为第一基准点，起始点反射图形设为第二基准点，连接所述第一基准点和所述第二基准点构成第一基准线，所述第一基准线和第二基准线相交。5.如权利要求4所述的电气表计读数识别方法，其特征在于：所述第二基准线包括：指针反射图形的指尖设为第三基准点，所述第一基准点与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李曜丞，许永鹏，严英杰，李喆，刘亚东，盛戈皞，江秀臣，
申请(专利权)人：上海交通大学，
类型：发明
国别省市：