本发明专利技术提供了一种电磁加热装置,包括导磁器皿;壳体,能够支撑导磁器皿,壳体内具有容纳腔;线圈盘,设置在容纳腔内,用于加热导磁器皿;检测组件,用于检测导磁器皿在线圈盘通电产生的磁场的作用下的变化参数,以确定导磁器皿的温度,其中,变化参数非温度;控制器,与线圈盘和检测组件电连接,控制器用于根据导磁器皿的温度控制线圈盘的加热状态。通过检测组件直接检测导磁器皿在线圈盘通电产生的磁场的作用下的变化参数,通过变化参数来确定导磁器皿的温度,并使控制器依据变化参数来控制线圈盘的加热状态,同时避免导磁器皿出现干烧情况,保证了导磁器皿的使用寿命,确保了电磁加热装置的安全性。热装置的安全性。热装置的安全性。
【技术实现步骤摘要】
电磁加热装置
[0001]本专利技术属于电磁加热设备
,具体而言,涉及一种电磁加热装置。
技术介绍
[0002]目前,为了检测电水壶的水温,常常采用红外测温探头对壶体外壁测温,提高测量结果的准确性和测量速度,但是对于玻璃电水壶,红外测温探头对玻璃壁的清洁度要求很高,污渍水垢或者玻璃壁容易对探头造成测温误差。相关技术中还提出了一种采用热敏电阻温度探测器进行测温的方式,常常在加热底盘上设置热敏电阻温度探测器,但存在探测温度迟滞的现象,测温速度并不理想。
技术实现思路
[0003]本专利技术旨在解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
[0004]为此,本专利技术的一方面提出了一种电磁加热装置。
[0005]有鉴于此,本专利技术的一方面实施例提出了一种电磁加热装置,包括导磁器皿;壳体,能够支撑导磁器皿,壳体内具有容纳腔;线圈盘,设置在容纳腔内,用于加热导磁器皿;检测组件,用于检测导磁器皿在线圈盘通电产生的磁场的作用下的变化参数,以确定导磁器皿的温度,其中,变化参数非温度;控制器,与线圈盘和检测组件电连接,控制器用于根据导磁器皿的温度控制线圈盘的加热状态。
[0006]在该实施例中,电磁加热装置包括导磁器皿、壳体、线圈盘、检测组件和控制器。其中,壳体能够支撑导磁器皿,壳体可以与导磁器皿固定连接,也可以与导磁器皿可拆卸连接,例如在使用时,将导磁器皿放置在壳体上,而在不使用时,将导磁器皿从壳体上拿走收纳起来。壳体内具有容纳腔,将线圈盘设置在容纳腔内,以对导磁器皿进行加热,具体地,导磁器皿能够在线圈盘通电产生的磁场的作用下发热,以加热位于导磁器皿内的液体等。检测组件用于检测导磁器皿在磁场的作用下的变化参数,该变化参数并非温度,但能够以此确定导磁器皿的温度,例如变化参数与导磁器皿的温度正相关或负相关等等,或者将变化参数带入公式计算得出导磁器皿的温度。通过检测组件直接检测导磁器皿在线圈盘通电产生的磁场的作用下的变化参数,通过变化参数来确定导磁器皿的温度,并使控制器依据变化参数来控制线圈盘的加热状态。与相关技术中,设置热敏电阻探测器进行传热测温相比,减少了热传递的滞后性,有利于快速获取到导磁器皿的温度,从而有利于控制器快速依据检测组件检测到的变化参数及时控制线圈盘的加热状态,实现急速测温。而且,也无需考虑导磁器皿的部分材质为玻璃的情况下,对玻璃的清洁度要求,便于用户使用。
[0007]而且,在线圈盘处于加热状态下,导磁器皿内部液体如果被倒空或者无液体或者仅具有很少的液体,检测组件检测到的导磁器皿的变化参数会在较短时间或者瞬间大幅度变化,有利于控制器及时依据变化参数的变化情况控制线圈盘停止工作,以避免导磁器皿出现干烧情况。与相关技术中需额外配置水位检测装置等传感器来防止干扰相比,节省零部件,节约成本,而且由于检测组件能够快速检测到导磁器皿的参数变化,能够及时控制线
圈盘停止加热,保证了导磁器皿的使用寿命,确保了电磁加热装置的安全性。
[0008]在一个具体实施例中,控制器还用于根据检测组件检测到的变化参数确定导磁器皿的温度,以根据导磁器皿的温度控制线圈盘的加热状态。例如,控制器用于将变化参数带入公式计算得出导磁器皿的温度。再例如,控制器用于参照变化参数与温度的对应表来确定导磁器皿的温度。
[0009]在一个具体实施例中,变化参数包括磁场强度。检测组件用于检测导磁器皿的磁场强度,导磁器皿的磁场强度随着导磁器皿内液体温度变化,控制器能够通过预设的磁场强度与温度的关系,获取导磁器皿的实时温度。在导磁器皿液体温度较低时,检测组件检测到导磁器皿的磁场强度较低,说明此时导磁器皿内部液体温度较低,控制器控制线圈盘对导磁器皿增大加热功率;在检测组件检测到导磁器皿的磁场较高时,说明此时导磁器皿温度较高,控制器控制线圈盘对导磁器皿减小加热功率或者停止加热。另外,在导磁器皿的温度高于设定的上限温度时,控制器控制线圈盘停止加热,或在导磁器皿的温度低于设定下限时,控制器控制线圈盘重新加热,有利于实现恒温或控温。
[0010]在一个具体实施例中,控制器控制线圈盘的加热状态可为增大加热功率、恒温、降低加热功率或大火加热、恒温、小火加热。其中增大加热功率和降低加热功率可根据检测到的变化参数进行逐级增加或逐级降低。
[0011]另外,根据本专利技术提供的上述技术方案中的电磁加热装置,还可以具有如下附加技术特征:
[0012]在一些可能的设计中,变化参数包括磁场强度变化参数、电压变化参数、电感变化参数和阻抗变化参数中的至少一种。
[0013]在一个具体的设计中,变化参数包括磁场强度变化参数。导磁器皿的磁场强度能够随着导磁器皿的温度变化而变化,从而有利于依据磁场强度确定导磁器皿的温度。
[0014]在一个具体的设计中,变化参数包括电压变化参数,导磁器皿的电压能够随着导磁器皿的温度变化而变化,从而有利于依据电压确定导磁器皿的温度。
[0015]在一个具体的设计中,变化参数包括电感变化参数和阻抗变化参数,有利于控制器将电感和阻抗带入公式计算得出导磁器皿的温度。
[0016]在一些可能的设计中,检测组件设置于导磁器皿靠近壳体的一侧。
[0017]在该些设计中,检测组件设置在导磁器皿靠近壳体的一侧。使得检测组件靠近导磁器皿,以便于更灵敏、快速地检测到导磁器皿的变化参数。
[0018]在一些可能的设计中,检测组件的检测面与导磁器皿的导磁面之间具有间隙。
[0019]在这些设计中,通过使检测组件的检测面与导磁器皿的导磁面之间具有间隙。一方面能够确保检测组件检测准确,另一方面,保证了电磁加热装置处于谐振工作状态,同时保证导磁器皿具有足够的散热空间。
[0020]在一些可能的设计中,检测组件的检测面与导磁器皿的导磁面的间距的取值范围为5mm至20mm。
[0021]在这些设计中,检测组件的检测面与导磁器皿的导磁面的间距大小决定了检测组件检测变化参数的效果。通过使检测组件的检测面与导磁器皿的导磁面的间距大于等于5mm,可有效避免距离过小热量大量的囤积在电磁加热装置的面板上,保证导磁器皿具有足够的散热空间,而且避免检测组件对线圈盘进行干扰,保证加热系统处于谐振工作状态。通
过使检测组件的检测面与导磁器皿的导磁面的间距小于等于20mm,可确保检测组件的检测效果,避免距离过大导致的检测组件检测效果不理想。
[0022]在一些可能的设计中,电磁加热装置还包括:弹性件,设置在容纳腔内,并与检测组件连接;检测组件能够在弹性件的弹力作用下与导磁器皿相接触。
[0023]在这些设计中,通过在容纳腔内设置弹性件,使检测组件能够在弹性件的弹力作用下与导磁器皿相接触,有利于保证检测组件和导磁器皿紧密接触,从而保证测温准确性。
[0024]在一个具体的实施例中,在电磁加热装置还包括面板的情况下,面板设置有通孔,检测组件能够在弹性件的弹力作用下经通孔与导磁器皿相接触。从而在自然状态下,即不放置导磁器皿的情况下,弹性件不受外力,此时检测组件伸出通孔,有利于用户观察判本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电磁加热装置,其特征在于,包括:导磁器皿;壳体,能够支撑所述导磁器皿,所述壳体内具有容纳腔;线圈盘,设置在所述容纳腔内,用于加热所述导磁器皿;检测组件,用于检测所述导磁器皿在所述线圈盘通电产生的磁场的作用下的变化参数,以确定所述导磁器皿的温度,其中,所述变化参数非温度;控制器,与所述线圈盘和所述检测组件电连接,所述控制器用于根据所述导磁器皿的温度控制所述线圈盘的加热状态。2.根据权利要求1所述的电磁加热装置,其特征在于,所述变化参数包括磁场强度变化参数、电压变化参数、电感变化参数和阻抗变化参数中的至少一种。3.根据权利要求1或2所述的电磁加热装置,其特征在于,所述检测组件设置于所述导磁器皿靠近所述壳体的一侧。4.根据权利要求3所述的电磁加热装置,其特征在于,所述检测组件的检测面与所述导磁器皿的导磁面之间具有间隙。5.根据权利要求4所述的电磁加热装置,其特征在于,所述检测组件的检测面与所述导磁器皿的导磁面的间距的取值范围为5mm至20mm。6.根据权利要求3所述的电磁加热装置,其特征在于,所述电磁加热装置还包括:弹性件,设置在所述容纳腔内,并与所述检测组件连接;所述检测组件能够在所述弹性件的弹力作用下与所述导磁器皿相接触。7.根据权利要求3所述的电磁加热装置,其特征在于,所述检测组件设置于所述线圈盘的中部;和/或所述线圈盘设置有安装孔,所述检测组件设置于所述安装孔。8.根据权利要求3所述的电磁加热装置,其特征在于,所述检测组件设置于所述导磁器皿的导磁面的正下方;和/或所述检测组件的中心线与所述导磁器皿的导磁面的中心线重叠。9.根据权利要求1或2所述的电磁加热装置,其特征在于,所述电磁加热装置还包括:面板,设置于所述壳体,所述壳体能够通过所述面板支撑所述导磁器皿;所述导磁器皿和所述面板可拆卸连接。10.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐尧,罗金柳生,刘志才,马向阳,南春来,任浩南,曹江雄,
申请(专利权)人:广东美的生活电器制造有限公司,
类型:发明
国别省市:
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