一种探针及连接器制造技术

技术编号:33692319 阅读:10 留言:0更新日期:2022-06-05 23:11
本申请公开了一种探针及连接器,该探针包括:在长度方向上间隔设置的第一接触部和第二接触部,还包括连接第一接触部和第二接触部的弹性部;所述弹性部包括第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构中的任意两种或多种;其中,所述第一弹性结构为具有至少两个曲率中心的弯折结构,其第一端部连接第一接触部,第二端部通过第一联结部连接第二弹性结构的第一端部;所述第二弹性结构具有类U型结构,其第二端部通过第二联结部连接第三弹性结构的第一端部;所述第三弹性结构具有类C型结构,其第二端部与第二接触部相连;本实用新型专利技术提供的探针较好的平衡了弹性部的横截面积、路径长度与其提供的弹力之间,能应用于高速信号传输、大电流的测试环境。流的测试环境。流的测试环境。

【技术实现步骤摘要】
一种探针及连接器


[0001]本申请涉及信号传输及测试
,更具体地,涉及一种适用于高速率信号传输、大电流测试使用环境的测试设备上使用的弹性扁平探针及连接器。

技术介绍

[0002]在液晶面板、集成电路等电子部件模块的制造工序中,往往需要进行导通检测和动作特性检查等过程,这通常需要使用探针将电子部件模块的主体基板与FPC接触电极对应连接,或者将基板的电极部与检测装置对应连接,进而完成相应的检测工作。
[0003]目前经常用的探针具有能够与电子部件的电极端部子和被连接电子部件的电极端部子分别接触一对触头,以及一对触头之间连接的弹性部。探针通过弹性部确保触头与电子部件的电极端部子和被连接电子部件的电极端部子之间的接触压力,提高针对电子部件的电极端部子和被连接电子部件的电极端部子的接触可靠性。除了接触可靠性这一指标之外,为了满足高速、大电流信号传输的使用要求,要求探针的导电电阻越小越好。
[0004]目前通常采用削减弹性部的路径长度和增大弹性部的路径的截面面积的方式来降低两个接触部之间的导通路径的电阻;该方式确实能够有效降低探针的电阻,但与此同时,增大弹性部的路径的截面面积加之削减弹性部的路径长度将显著提高弹性部的弹力,在使用过程中,为了保证被测对象物与探针接触良好,配套的夹持结构需要提供较大的夹持力,很有可能会压坏被测对象。因此,在探针的结构设计过程中需要考虑弹性部的横截面积(导电电阻)、弹性部的路径长度与其提供的弹力之间的相对平衡,在增大横截面积以减小导电电阻提高过流能力的同时,减小弹性部的弹力,防止探针及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本技术提供了一种适用于大电流高速信号测试的探针及连接器,其目的在于解决现有探针存在的增加横截面积且减小导通路径导致的探针弹力过大,容易损坏探针以及接触对象的问题。
[0006]为实现上述目的,按照本技术的一个方面,提供了一种探针,包括在长度方向上间隔设置的第一接触部和第二接触部,还包括连接所述第一接触部和第二接触部的弹性部;所述弹性部包括第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构中的任意两种或多种;
[0007]其中,所述第一弹性结构为具有至少两个曲率中心的弯折结构,其第一端部连接第一接触部,第二端部通过第一联结部连接第二弹性结构的第一端部;
[0008]所述第二弹性结构具有类U型结构,其第二端部通过第二联结部连接第三弹性结构的第一端部;所述第三弹性结构具有类C型结构,其第二端部与第二接触部相连;
[0009]第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构各自的端部在所述长度方向上间隔排布。
[0010]优选的,上述探针,其第一弹性结构包括依次连接的第一弯折部、第二弯折部和第
一直线部;
[0011]所述第一弯折部具有沿宽度方向延伸的类S型结构,其第一端部连接第一接触部,第二端部通过所述第二弯折部连接第一直线部;所述第一直线部与第一联结部相连。
[0012]优选的,上述探针,其第二弯折部、第二弹性结构和第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于同一侧。
[0013]优选的,上述探针,其第一联结部包括第二直线部、第三弯折部和第三直线部;
[0014]所述第二直线部的第一端部连接第一弹性结构,第二端部通过第三弯折部连接第三直线部;
[0015]所述第三弯折部与第二弹性结构/第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于不同侧。
[0016]优选的,上述探针,其第二联结部包括第四直线部、第四弯折部和第五直线部;
[0017]所述第四直线部的一端部连接第二弹性结构的第二端部,另一端部通过第四弯折部连接第五直线部;
[0018]所述第四弯折部与第二弹性结构/第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于不同侧。
[0019]优选的,上述探针,其第一接触部具有沿长度方向延伸的第六直线部和沿宽度方向上延伸的第七直线部;所述第六直线部的第一端部具有可与被测对象物的接触端子相匹配的第一触点部,第二端部与第七直线部的第一端部相连;所述第七直线部的第二端部连接第一弹性结构。
[0020]优选的,上述探针,其第一接触部上设置有第一限位部;
[0021]所述第一限位部以第一弹性结构与第七直线部的连接处为起点沿宽度方向延伸。该第一限位部在探针被收纳于壳体内部时与所述壳体的内壁抵触以对探针进行固定。
[0022]优选的,上述探针,其第二接触部呈一字型结构,其一侧与第三弹性结构相连,另一侧上具有至少一个可与被测对象物的接触端子相匹配的第二触点部。
[0023]优选的,上述探针,其第二接触部上设置有第二限位部;
[0024]所述第二限位部以第三弹性结构与第二接触部的连接处为起点沿宽度方向延伸,且与第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于不同侧。该第二限位部在探针被收纳于壳体内部时与所述壳体的内壁抵触以对探针进行固定。
[0025]优选的,上述探针,其第一弹性结构、第二弹性结构、第三弹性结构、第一联结部和第二联结部分别为一带状弹性片,或者是间隔设置的多个带状弹性片。
[0026]优选的,上述探针,其第一联结部和第二联结部中的带状弹性片的宽度不小于第一弹性结构、第二弹性结构、第三弹性结构中的带状弹性片的宽度。
[0027]优选的,上述探针,其第一弹性结构中所有带状弹性片的宽度之和不大于第二接触部、第一接触部中的最小宽度。
[0028]按照本专利技术的另一个方面,还提供了一种连接器,该连接器具有上述任一项所述的探针以及收纳所述探针的壳体,该探针以其第一接触部和第二接触部的端部突出于所述壳体表面的状态收纳于壳体中。
[0029]总体而言,通过本技术所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:
[0030](1)本技术提供的探针及连接器,其弹性部包括第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构中的任意两种或多种;第一弹性结构为具有至少两个曲率中心的弯折结构,第二弹性结构具有类U型结构,第三弹性结构具有类C型结构;通过第一弹性结构和第二弹性结构来削弱第三弹性结构的弹力,通过第二弹性结构和第三弹性结构来削减第一弹性结构的路径长度;通过这种弹力分级传递的结构来维持弹性部的横截面积、路径长度与其提供的弹力之间的平衡。由此,即便通过增大弹性部的横截面积来缩小导电电阻,第一弹性结构也可在保证第一接触部与被检测对象的端部子接触良好的前提下尽可能减小探针的弹力,防止探针及其接触对象因过大的弹力/夹持力而发生损坏。
[0031](2)本专利技术提供的探针及连接器,通过第一接触部中设置的第一限位部以及在第二接触部上设置的第二限位部对收纳于壳体内部的探针进行固定,防止探针上下活动,并防止探针在弹性部的作用下发生左右倾斜,确保第一接触部与被测对象物的准确对接。
[0032](3)本专利技术提供的探针及连接器,其结构简单,设置简本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针,包括在长度方向上间隔设置的第一接触部和第二接触部,还包括连接所述第一接触部和第二接触部的弹性部;其特征在于,所述弹性部包括第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构中的任意两种或多种;其中,所述第一弹性结构为具有至少两个曲率中心的弯折结构,其第一端部连接第一接触部,第二端部通过第一联结部连接第二弹性结构的第一端部;所述第二弹性结构具有类U型结构,其第二端部通过第二联结部连接第三弹性结构的第一端部;所述第三弹性结构具有类C型结构,其第二端部与第二接触部相连;第一弹性结构、第二弹性结构和第三弹性结构各自的端部在所述长度方向上间隔排布。2.如权利要求1所述的探针,其特征在于,所述第一弹性结构包括依次连接的第一弯折部、第二弯折部和第一直线部;所述第一弯折部具有沿宽度方向延伸的类S型结构,其第一端部连接第一接触部,第二端部通过所述第二弯折部连接第一直线部;所述第一直线部与第一联结部相连。3.如权利要求2所述的探针,其特征在于,所述第二弯折部、第二弹性结构和第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于同一侧。4.如权利要求1所述的探针,其特征在于,所述第一联结部包括第二直线部、第三弯折部和第三直线部;所述第二直线部的第一端部连接第一弹性结构,第二端部通过第三弯折部连接第三直线部;所述第三弯折部与第二弹性结构/第三弹性结构的曲率中心相对于所述弹性部分别配置于不同侧。5.如权利要求1所述的探针,其特征在于,所述第二联结部包括第四...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑和海张静波王涛王璞
申请(专利权)人:武汉精毅通电子技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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