光学取像系统、取像装置及电子装置制造方法及图纸

技术编号:33667214 阅读:15 留言:0更新日期:2022-06-02 20:50
本发明专利技术公开了一种光学取像系统,包含四片透镜,四片透镜由物侧至像侧依序为第一透镜、第二透镜、第三透镜与第四透镜。四片透镜分别具有朝向物侧方向的物侧表面与朝向像侧方向的像侧表面。第一透镜物侧表面于近光轴处为凹面且于离轴处具有至少一凸面,第一透镜物侧表面为非球面。第四透镜像侧表面于近光轴处为凹面。光学取像系统中的透镜总数为四片。当满足特定条件时,光学取像系统能同时满足微型化及广视角的需求。本发明专利技术还公开了具有上述光学取像系统的取像装置及具有取像装置的电子装置。像系统的取像装置及具有取像装置的电子装置。像系统的取像装置及具有取像装置的电子装置。

【技术实现步骤摘要】
光学取像系统、取像装置及电子装置
[0001]本申请是为分案申请,原申请的申请日为:2019年4月1日;申请号为:201910256454.8;专利技术名称为:光学取像系统、取像装置及电子装置。


[0002]本专利技术涉及一种光学取像系统、取像装置及电子装置,特别是一种适用于电子装置的光学取像系统及取像装置。

技术介绍

[0003]随着半导体工艺技术更加精进,使得电子感光元件性能有所提升,像素可达到更微小的尺寸,因此,具备高成像品质的光学镜头俨然成为不可或缺的一环。
[0004]而随着科技日新月异,配备光学镜头的电子装置的应用范围更加广泛,对于光学镜头的要求也是更加多样化。由于以前的光学镜头较不易在成像品质、敏感度、光圈大小、体积或视角等需求间取得平衡,所以本专利技术提供了一种光学镜头以符合需求。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种光学取像系统、取像装置以及电子装置。其中,光学取像系统包含四片透镜。当满足特定条件时,本专利技术提供的光学取像系统能同时满足微型化及广视角的需求。
[0006]本专利技术提供一种光学取像系统,包含四片透镜。四片透镜由物侧至像侧依序为第一透镜、第二透镜、第三透镜与第四透镜。四片透镜分别具有朝向物侧方向的物侧表面与朝向像侧方向的像侧表面。第一透镜物侧表面于近光轴处为凹面且于离轴处具有至少一凸面,第一透镜物侧表面为非球面。第三透镜物侧表面于近光轴处为凸面。第四透镜像侧表面于近光轴处为凹面。光学取像系统中的透镜总数为四片。第一透镜物侧表面至成像面于光轴上的距离为TL,光学取像系统的焦距为f,第一透镜与第二透镜于光轴上的间隔距离为T12,第二透镜与第三透镜于光轴上的间隔距离为T23,第三透镜与第四透镜于光轴上的间隔距离为T34,其满足下列条件:
[0007]3.0<TL/f<6.0;
[0008]T23<T12;
[0009]T34<T12;以及
[0010]0.50毫米<TL<4.0毫米。
[0011]本专利技术另提供一种光学取像系统,包含四片透镜。四片透镜由物侧至像侧依序为第一透镜、第二透镜、第三透镜与第四透镜。四片透镜分别具有朝向物侧方向的物侧表面与朝向像侧方向的像侧表面。第一透镜物侧表面于近光轴处为凹面且于离轴处具有至少一凸临界点,第一透镜物侧表面为非球面。第三透镜物侧表面于近光轴处为凸面。第四透镜物侧表面于近光轴处为凹面,第四透镜像侧表面于近光轴处为凹面。光学取像系统中的透镜总数为四片。第一透镜物侧表面至成像面于光轴上的距离为TL,光学取像系统的焦距为f,第
一透镜与第二透镜于光轴上的间隔距离为T12,第二透镜与第三透镜于光轴上的间隔距离为T23,第三透镜与第四透镜于光轴上的间隔距离为T34,光学取像系统的所有透镜阿贝数中的最小值为Vmin,其满足下列条件:
[0012]3.0<TL/f<6.0;
[0013]T23<T12;
[0014]T34<T12;以及
[0015]Vmin<22.5。
[0016]本专利技术再提供一种光学取像系统,包含四片透镜。四片透镜由物侧至像侧依序为第一透镜、第二透镜、第三透镜与第四透镜。四片透镜分别具有朝向物侧方向的物侧表面与朝向像侧方向的像侧表面。第一透镜物侧表面于近光轴处为凹面且于离轴处具有至少一凸临界点,第一透镜物侧表面为非球面,第一透镜像侧表面于近光轴处为凹面。第三透镜物侧表面于近光轴处为凸面。第四透镜物侧表面于近光轴处为凹面,第四透镜像侧表面于近光轴处为凹面。光学取像系统中的透镜总数为四片且光学取像系统还包含一光圈。第一透镜物侧表面至成像面于光轴上的距离为TL,光学取像系统的焦距为f,第一透镜与第二透镜于光轴上的间隔距离为T12,第二透镜与第三透镜于光轴上的间隔距离为T23,第三透镜与第四透镜于光轴上的间隔距离为T34,光圈至第四透镜像侧表面于光轴上的距离为SD,第一透镜物侧表面至第四透镜像侧表面于光轴上的距离为TD,其满足下列条件:
[0017]3.0<TL/f<6.0;
[0018]T23<T12;
[0019]T34<T12;以及
[0020]0.34<SD/TD<1.20。
[0021]本专利技术提供一种取像装置,其包含上述的光学取像系统以及一电子感光元件,其中电子感光元件设置于光学取像系统的成像面上。
[0022]本专利技术提供一种电子装置,其包含上述的取像装置。
[0023]当TL/f满足上述条件时,可平衡光学取像系统的总长与视角大小,以满足合适的装置应用。
[0024]当T12与T23或T12与T34满足上述条件时,可提供光学取像系统物侧端足够的空间以调和大视角的入射光线,进而优化像差。
[0025]当TL满足上述条件时,有效控制光学取像系统的总长,以满足微型化的需求。
[0026]当Vmin满足上述条件时,可提升透镜的光路控制能力,进而增加设计自由度,以达成更严苛的规格需求。
[0027]当SD/TD满足上述条件时,可有效控制光圈位置,同时平衡视角与光学取像系统的总长。
[0028]以上的关于本
技术实现思路
的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本专利技术的精神与原理,并且提供本专利技术的专利申请权利要求保护范围更进一步的解释。
附图说明
[0029]图1为依照本专利技术第一实施例的取像装置示意图。
[0030]图2由左至右依序为第一实施例的球差、像散以及畸变曲线图。
[0031]图3为依照本专利技术第二实施例的取像装置示意图。
[0032]图4由左至右依序为第二实施例的球差、像散以及畸变曲线图。
[0033]图5为依照本专利技术第三实施例的取像装置示意图。
[0034]图6由左至右依序为第三实施例的球差、像散以及畸变曲线图。
[0035]图7为依照本专利技术第四实施例的取像装置示意图。
[0036]图8由左至右依序为第四实施例的球差、像散以及畸变曲线图。
[0037]图9为依照本专利技术第五实施例的取像装置示意图。
[0038]图10由左至右依序为第五实施例的球差、像散以及畸变曲线图。
[0039]图11为依照本专利技术第六实施例的取像装置示意图。
[0040]图12由左至右依序为第六实施例的球差、像散以及畸变曲线图。
[0041]图13为依照本专利技术第七实施例的取像装置示意图。
[0042]图14由左至右依序为第七实施例的球差、像散以及畸变曲线图。
[0043]图15为依照本专利技术第八实施例的取像装置示意图。
[0044]图16由左至右依序为第八实施例的球差、像散以及畸变曲线图。
[0045]图17为依照本专利技术第九实施例的一种取像装本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学取像系统,其特征在于,该光学取像系统包含四片透镜,该四片透镜由物侧至像侧依序为第一透镜、第二透镜、第三透镜以及第四透镜,该四片透镜分别具有朝向物侧方向的物侧表面与朝向像侧方向的像侧表面;该第一透镜物侧表面于近光轴处为凹面且于离轴处具有至少一凸面,该第一透镜物侧表面为非球面;该第三透镜物侧表面于近光轴处为凸面;该第四透镜像侧表面于近光轴处为凹面;其中,该光学取像系统中的透镜总数为四片,该第一透镜物侧表面至一成像面于光轴上的距离为TL,该光学取像系统的焦距为f,该第一透镜与该第二透镜于光轴上的间隔距离为T12,该第二透镜与该第三透镜于光轴上的间隔距离为T23,该第三透镜与该第四透镜于光轴上的间隔距离为T34,其满足下列条件:3.0<TL/f<6.0;T23<T12;T34<T12;以及0.50毫米<TL<4.0毫米。2.如权利要求1所述的光学取像系统,其特征在于,该第一透镜具有负屈折力,该第一透镜物侧表面离轴处具有至少一凸临界点,该第三透镜具有正屈折力,且该第四透镜具有负屈折力。3.如权利要求1所述的光学取像系统,其特征在于,该第四透镜的阿贝数为V4,其满足下列条件:10.0<V4<23.0。4.如权利要求1所述的光学取像系统,其特征在于,该光学取像系统中任二相邻透镜之间于光轴上皆具有一间隙,该光学取像系统的焦距为f,该光学取像系统的入瞳孔径为EPD,其满足下列条件:1.0<f/EPD<2.25。5.如权利要求1所述的光学取像系统,其特征在于,该第三透镜像侧表面于近光轴处为凸面,且该第四透镜物侧表面于近光轴处为凹面。6.如权利要求1所述的光学取像系统,其特征在于,该第二透镜物侧表面的曲率半径为R3,该第二透镜像侧表面的曲率半径为R4,其满足下列条件:

0.45<(R3

R4)/(R3+R4)<1.45。7.如权利要求1所述的光学取像系统,其特征在于,该光学取像系统的所有透镜阿贝数中的最小值为Vmin,其满足下列条件:10.0<Vmin<20.5。8.如权利要求1所述的光学取像系统,其特征在于,该第一透镜物侧表面的曲率半径为R1,该第一透镜像侧表面的曲率半径为R2,其满足下列条件:

10.0<(R1+R2)/(R1

R2)<0.50。9.如权利要求1所述的光学取像系统,其特征在于,该第三透镜物侧表面的曲率半径为R5,该第三透镜像侧表面的曲率半径为R6,其满足下列条件:

0.30<(R5+R6)/(R5

R6)<0.50。10.一种取像装置,其特征在于,该取像装置包含:如权利要求1所述的光学取像系统;以及
一电子感光元件,设置于该光学取像系统的该成像面上。11.一种电子装置,其特征在于,该电子装置包含:如权利要求10所述的取像装置。12.一种光学取像系统,其特征在于,该光学取像系统包含四片透镜,该四片透镜由物侧至像侧依序为第一透镜、第二透镜、第三透镜以及第四透镜,该四片透镜分别具有朝向物侧方向的物侧表面与朝向像侧方向的像侧表面;该第一透镜物侧表面于近光轴处为凹面且于离轴处具有至少一凸临界点,该第一透镜物侧表面为非球面;该第三透镜物侧表面于近光轴处为凸面;该第四透镜物侧表面于近光轴处为凹面,该第四透镜像侧表面于近光轴处为凹面;其中,该光学取像系统中的透镜总数为四片,该第一透镜物侧表面至一成像面于光轴上的距离为TL,该光学取像系统的焦距为f,该第一透镜与该第二透镜于光轴上的间隔距离为T12,该第二透镜与该第三透镜于光轴上的间隔距离为T23,该第三透镜与该第四透镜于光轴上的间隔距离为T34,该光学取像系统的所有透镜阿贝数中的最小值为Vmin,其满足下列条件:3.0<TL/f<6.0;T23<T12;T34<T12;以及Vmin<22.5。13.如权利要求12所述的光学取像系统,其特征在于,该第一透镜具有负屈折力,该第一透镜像侧表面于近光轴处为凹面,该第三透镜具有正屈折力,且该第四透镜具有负屈折力。14.如权利要求12所述的光学取像系统,其特征在于,该光学取像系统中任二相邻透镜之间于光轴上...

【专利技术属性】
技术研发人员:曾昱泰黄歆璇
申请(专利权)人:大立光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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