本实用新型专利技术提供了一种激光测厚装置,其包括:支架,连接于所述支架上方的前压轮组和后压轮组以及激光对射探测组件,所述前压轮组和后压轮组前后等高分布,用于水平输送待测工件,所述激光对射探测组件用于分别向待测工件的上、下两面发射激光探测信号和接收反射信号。本实用新型专利技术的激光测厚装置,其通过激光对射探测组件与进料机构以及前压轮组和后压轮组配合,在待测物料前进过程中同步完成厚度测量,无需停机,不影响整体加工进度,耗时短,效率高。率高。率高。
【技术实现步骤摘要】
一种激光测厚装置
[0001]本技术涉及厚度测量设备
,尤其涉及一种激光测厚装置。
技术介绍
[0002]现有钢板、玻璃等板材一般都需要进行厚度测量,现有的测厚设备一般都是接触式的,接触式测厚设备需要物料停止移动,在静止状态下测量,中测量方式需要设备停机等待,耗时长,效率低。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种激光测厚装置,用于解决现有技术中接触式测厚耗时长、效率低的技术问题。
[0004]为实现上述目的,本技术采用以下技术方案:
[0005]本技术的实施例提供了一种激光测厚装置,其包括:支架,连接于所述支架上方的前压轮组和后压轮组以及激光对射探测组件,所述前压轮组和后压轮组前后等高分布,用于水平输送待测工件,所述激光对射探测组件用于分别向待测工件的上、下两面发射激光探测信号和接收反射信号。
[0006]其中,所述支架上还设有前侧板和后侧板,所述前侧板和后侧板相对设置,所述前压轮组和后压轮组均设置于所述前侧板和后侧板之间,所述前侧板和后侧板之间还设有支撑板,所述支撑板位于所述前压轮组和后压轮组之间,所述激光对射探测组件连接于所述支撑板上。
[0007]其中,所述支撑板上设有多组所述激光对射探测组件。
[0008]其中,所述支撑板上还设有导轨,所述激光对射探测组件滑动连接于所述导轨。
[0009]其中,所述支架上还设有丝杆,所述丝杆与所述导轨平行设置,所述激光对射探测组件上还设有连接块,所述连接块螺接于所述丝杆,转动所述丝杆可同步带动所述激光对射探测组件沿着导轨滑动。
[0010]其中,所述激光对射探测组件设有三组,分别为第一激光对射探测组件、第二激光对射探测组件和第三激光对射探测组件,所述第一激光对射探测组件、第二激光对射探测组件和第三激光对射探测组件依次呈直线分布,所述第二激光对射探测组件固定连接于所述支撑板,所述第一激光对射探测组件和第三激光对射探测组件可相对靠近或远离的滑动连接于所述支撑板。
[0011]其中,所述第一激光对射探测组件和第三激光对射探测组件上还各设有第一连接块和第二连接块,所述支架上还分别设有螺接于所述第一连接块和第二连接块的第一丝杆和第二丝杆。
[0012]其中,所述第一丝杆的端部与第二丝杆的端部共同连接于一杆体,转动所述杆体可同步调节第一激光对射探测组件和第三激光对射探测组件相互靠近或远离动作。
[0013]其中,还包括主机和进料机构,所述主机用于控制所述进料机构进料,并接收所述
激光对射探测组件的检测信号计算出待测工件的厚度值。
[0014]其中,所述进料机构包括:底座,连接于所述底座上的若干组送料滚轮组以及用于驱动所述送料滚轮组转动送料的驱动电机。
[0015]本技术的激光测厚装置,其通过激光对射探测组件与进料机构以及前压轮组和后压轮组配合,在待测物料前进过程中同步完成厚度测量,无需停机,不影响整体加工进度,耗时短,效率高。
[0016]上述说明仅是本技术技术方案的概述,为了能够更清楚了解本技术技术手段,可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本技术的上述和其它目的、特征及优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,详细说明如下。
附图说明
[0017]图1为本技术实施例的激光测厚装置的整体结构剖视图。
[0018]图2为本技术实施例的激光测厚装置去掉外罩部分结构示意图。
[0019]图3为本技术实施例的激光测厚装置的进料机构部分结构示意图。
[0020]图4和图5为本技术实施例的激光测厚装置的测厚机构部分不同角度结构示意图。
具体实施方式
[0021]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细说明。
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0023]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所述的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0024]此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
[0025]在本技术中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0026]在本技术中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之
“
下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0027]在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不应理解为必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行结合和组合。
[0028]请参阅图1至图5,在该实施例中,提供了一种激光测厚装置,其包括进料机构100、测厚机构200和主机300。所述进料机构100用于将待测厚度的物料从上一工位或外部输送给所述测厚机构200,所述测厚机构200用于对经过的待测工件进行非接触式的厚度测量,所述主本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种激光测厚装置,其特征在于,包括:支架,连接于所述支架上方的前压轮组和后压轮组以及激光对射探测组件,所述前压轮组和后压轮组前后等高分布,用于水平输送待测工件,所述激光对射探测组件用于分别向待测工件的上、下两面发射激光探测信号和接收反射信号。2.根据权利要求1所述的激光测厚装置,其特征在于,所述支架上还设有前侧板和后侧板,所述前侧板和后侧板相对设置,所述前压轮组和后压轮组均设置于所述前侧板和后侧板之间,所述前侧板和后侧板之间还设有支撑板,所述支撑板位于所述前压轮组和后压轮组之间,所述激光对射探测组件连接于所述支撑板上。3.根据权利要求2所述的激光测厚装置,其特征在于,所述支撑板上设有多组所述激光对射探测组件。4.根据权利要求3所述的激光测厚装置,其特征在于,所述支撑板上还设有导轨,所述激光对射探测组件滑动连接于所述导轨。5.根据权利要求4所述的激光测厚装置,其特征在于,所述支架上还设有丝杆,所述丝杆与所述导轨平行设置,所述激光对射探测组件上还设有连接块,所述连接块螺接于所述丝杆,转动所述丝杆可同步带动所述激光对射探测组件沿着所述导轨滑动。6.根据权利要求3所述的激光测厚装置,其特征在于,所述激光对射探测组件设有...
【专利技术属性】
技术研发人员:谭义满,
申请(专利权)人:广东新吉欣实业有限公司,
类型:新型
国别省市:
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