一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置及方法，包括检测平台、半圆柱型支架、加载端和评优端，所述检测平台，用于放置待检测的被分成无数小块的高光洁度表面；所述半圆柱型支架的长方形横切面平放在所述检测平台上，用于将高光洁度表面盖住；所述加载端安装在所述检测平台上方及所述半圆柱型支架下方内部，用于对高光洁度表面照射不同位置、不同角度及不同光级的RGB光；所述评优端，用于利用补色差的方法检测出每块小平面的最优模式，并经过多次实验进而利用神经网络拟合来求出高光洁度表面缺陷的最大清晰度从而使得该缺陷检测装置可以以最优的模式快速检测出高光洁度表面上的缺陷。洁度表面上的缺陷。洁度表面上的缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置及方法


[0001]本专利技术涉及高光洁度表面缺陷检测领域，特别涉及一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置及方法。

技术介绍

[0002]高光洁度表面出现缺陷，即裂纹斑点，存在表面进杂质、进水气的情况，既容易导致表面内进杂质，时间长了会导致裂痕扩大，同时一些产品的表面出现裂纹长期下来容易导致表面破裂，引起产品安全问题，表面斑点积尘导致产品表面不干净，给顾客造成不好的观感。
[0003]虽然目前市场上也存在大量这种高光洁度表面裂纹斑点检测方法和检测装置，但检测的准确率和检测效率还有待提高，同时随着科学技术的发展和人们对美好生活的向往，工业上对这种裂纹斑点检测的要求越来越严格，必须从多方面、多角度来进行实验，所以设计一套更加高效，准确率更加高的检测装置和检测方法显得十分重要。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是针对现有技术存在的问题，提供一种全新的、检测效率和检测准确率都更高的高光洁度表面检测装置及检测方法。
[0005]为了达到上述专利技术目的，解决其技术问题所采用的技术方案如下：
[0006]本专利技术公开了一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置，包括检测平台、半圆柱型支架、加载端和评优端，其中：
[0007]所述检测平台，用于放置待检测的被分成无数小块的高光洁度表面；
[0008]所述半圆柱型支架的长方形横切面平放在所述检测平台上，用于将高光洁度表面盖住；
[0009]所述加载端安装在所述检测平台上方及所述半圆柱型支架下方内部，用于对高光洁度表面照射不同位置、不同角度及不同光级的RGB光；
[0010]所述评优端，用于利用补色差的方法检测出每块小平面的最优模式，并经过多次实验进而利用神经网络拟合来求出高光洁度表面缺陷的最大清晰度从而使得该缺陷检测装置可以以最优的模式快速检测出高光洁度表面上的缺陷。
[0011]进一步的，所述加载端包括轨道机构、RGB光照机构和驱动单元，其中：
[0012]所述RGB光照机构固定于所述轨道机构上，并与所述驱动单元电性连接；
[0013]所述驱动单元固定在所述半圆柱型支架的上部，用于驱动所述RGB光照机构并控制其RGB亮度变换、角度变化以及位置变换。
[0014]进一步的，所述RGB光照机构为所述RGB光照亮度级变换装置，所述的R、G、B这三个不同光照的光照级别在0
‑
255之间变换。
[0015]进一步的，所述轨道机构由组成所述半圆柱型支架的半圆轨道和直线轨道组成。
[0016]进一步的，所述高光洁度表面为若干个子表面板块拼接而成。
[0017]进一步的，所述半圆柱型支架呈不透明状态，用于实验的准确性。
[0018]本专利技术另外公开了一种高光洁度表面最优的缺陷检测方法，采用上述高光洁度表面最优的缺陷检测装置进行检测，包括以下步骤：
[0019]步骤S1：将待检测的高光洁度表面放置在检测平台上方及半圆柱型支架下方内部；
[0020]步骤S2：启动驱动单元，驱动RGB光照机构随着半圆轨道和直线轨道移动，从不同角度和不同位置来照射待检测的高光洁度表面；
[0021]步骤S3：同时驱动RGB光照机构的RGB光照在0
‑
255级之间亮度变换，以向待检测的高光洁度表面裂痕缺陷照射RGB光；
[0022]步骤S4：将高光洁度表面分成无数小块，利用对每块小平面补色差的方法来寻找最优模式，经过多次实验，利用神经网络拟合来求出高光洁度表面缺陷的最大清晰度，达到以最优的模式来对高光洁度表面缺陷检测的目的。
[0023]进一步的，步骤S4中，所述最优模式包括最佳位置、最佳角度以及最佳RGB光照。
[0024]进一步的，步骤S4中，选取线性项加激活函数组成一个非线性模型，利用神经网络算法最优确定模型中的未知参数，利用随机搜索的方式确定函数模型，从而达到很好的拟合效果。
[0025]进一步的，当RGB光照机构向高光洁度表面照射不同光级、不同位置及不同角度的光时，清晰度C与光照(R、G、B)、位置(x、y、z)及角度(α)存在一定的函数关系，即C≈f(R，G，B，x，y，z，α)，则可通过神经网络拟合得到最大清晰度C
max
。
[0026]本专利技术由于采用以上技术方案，使之与现有技术相比，具有以下的优点和积极效果：
[0027]本专利技术的裂纹斑点检测装置并不是直接检测高光洁度表面缺陷，而是利用将平面分成无数小块，利用对每块小平面补色差的方法来寻找最优模式，经过无数个小平面的补色差也就是RGB光的光级变换、位置变换和角度变换的多次实验，利用神经网络拟合确认最大清晰度，从而可以以最优的模式快速地判断被测高光洁度表面裂纹斑点的位置。如果以最大清晰度处的最优模式快速检测出来的产品有缺陷，则该高光洁度表面不合格；反之，为合格品。本专利技术的检测方法的检测成功率和检测效率与现有相关检测技术相比有了很大的提升，而且该检测装置简单、容易实现，大大降低了检测成本，对于企业具有深远的意义。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附图中：
[0029]图1为本专利技术一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置的整体结构示意图；
[0030]图2为本专利技术一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置中的RGB光照半圆轨道模型；
[0031]图3为本专利技术一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置中的RGB光照直线轨道模型；
[0032]图4为本专利技术一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置中的高光洁度表面缺陷详细分成若干份检测的结构示意图；
[0033]图5为本专利技术一种高光洁度表面最优的缺陷检测方法的流程示意图。
[0034]【主要符号说明】
[0035]1‑
检测平台；
[0036]2‑
半圆柱型支架；
[0037]3‑
驱动单元；
[0038]4‑
RGB光照机构；
[0039]5‑
半圆轨道；
[0040]6‑
直线轨道；
[0041]7‑
高光洁度表面。
具体实施方式
[0042]下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0043]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置，其特征在于，包括检测平台、半圆柱型支架、加载端和评优端，其中：所述检测平台，用于放置待检测的被分成无数小块的高光洁度表面；所述半圆柱型支架的长方形横切面平放在所述检测平台上，用于将高光洁度表面盖住；所述加载端安装在所述检测平台上方及所述半圆柱型支架下方内部，用于对高光洁度表面照射不同位置、不同角度及不同光级的RGB光；所述评优端，用于利用补色差的方法检测出每块小平面的最优模式，并经过多次实验进而利用神经网络拟合来求出高光洁度表面缺陷的最大清晰度从而使得该缺陷检测装置可以以最优的模式快速检测出高光洁度表面上的缺陷。2.根据权利要求1所述的一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置，其特征在于，所述加载端包括轨道机构、RGB光照机构和驱动单元，其中：所述RGB光照机构固定于所述轨道机构上，并与所述驱动单元电性连接；所述驱动单元固定在所述半圆柱型支架的上部，用于驱动所述RGB光照机构并控制其RGB亮度变换、角度变化以及位置变换。3.根据权利要求2所述的一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置，其特征在于，所述RGB光照机构为所述RGB光照亮度级变换装置，所述的R、G、B这三个不同光照的光照级别在0
‑
255之间变换。4.根据权利要求2所述的一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置，其特征在于，所述轨道机构由组成所述半圆柱型支架的半圆轨道和直线轨道组成。5.根据权利要求1所述的一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置，其特征在于，所述高光洁度表面为若干个子表面板块拼接而成。6.根据权利要求1所述的一种高光洁度表面最优的缺陷检测装置，其特征在于，所述半圆柱型支架呈不透明状态，用于实验的...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈希忠，张洋，
申请(专利权)人：上海应用技术大学，
类型：发明
国别省市：