一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法；解决现有技术中光学计或测长机的操作复杂；并且没有针对被测量杆夹具的问题；检定装置包括装夹组件以及测量组件；装夹组件包括底座、第一安装座、第二安装座、弧形压板以及水平调节组件和垂直调节组件；第一安装座与第二安装座均开设有安装孔，第一安装座、第二安装座顶端均开设有V型槽，V型槽上端设置有弧形压板，水平调节组件与第一安装座连接，垂直调节组件与第二安装座连接，测量组件包括传感器支架、调节组件以及从上往下依次安装在传感器支架上的第一传感器与第二传感器；传感器支架与调节组件连接；本发明专利技术还提出了被测量杆的检定方法。测量杆的检定方法。测量杆的检定方法。

【技术实现步骤摘要】
一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法


[0001]本专利技术涉及精密测量装置，具体涉及一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法。

技术介绍

[0002]由于千分尺是各生产单位经常使用的计量器具，用量很大使用频繁，对其量值的准确掌控直接影响加工产品的质量，而千分尺校对用量杆示值的准确与否直接关系到千分尺示值的准确性。依据JJG 21
‑
2008《千分尺检定规程》，在对测量范围大于25mm以上的千分尺进行检定时，均需对其校对用量杆进行检定。
[0003]《千分尺检定规程》规定千分尺校对用量杆的尺寸及变动量，需在光学计或测长机上用量块以比较法进行检定，也可用同等准确度的其他仪器检定；而在实际的计量检定工作中，由于光学计或测长机不是专门用于检定千分尺校对用量杆的专用设备，熟练掌握操作技术需要经过培训和反复练习；并且由于没有合适的装夹具，每次都需要反复调整装夹，耽误时间影响工作效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是解决现有技术中存在的在实际的计量检定工作中，由于光学计或测长机不是专门用于检定千分尺校对用量杆的专用设备，熟练掌握操作技术需要经过培训和反复练习；并且由于没有合适的装夹具，每次都需要反复调整装夹，耽误时间影响工作效率的问题，而提供一种千分尺校对用量杆检定装置及量杆检定方法。
[0005]为实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案为：
[0006]一种千分尺校对用量杆检定装置，其特殊之处在于：包括标准块、底座、依次设置在底座上的装夹组件以及测量组件；
[0007]所述装夹组件包括依次设置的基准挡板、第一安装座、第二安装座，弧形压板以及安装在底座上的水平调节组件和垂直调节组件；
[0008]所述第一安装座与所述第二安装座均开设有轴线水平的安装孔，所述标准块一端依次穿过第二安装座的安装孔、第一安装座的安装孔后抵靠在基准挡板上；
[0009]所述第一安装座、第二安装座顶端均开设有V型槽，所述弧形压板安装在V型槽上端，用于将被测量杆固定在所述V型槽内且被测量杆的一端抵靠在基准挡板上；
[0010]所述水平调节组件与所述第一安装座连接，用于对标准块及被测量杆进行水平方向的调节；所述垂直调节组件与所述第二安装座连接，用于对标准块及被测量杆进行竖直方向的调节；
[0011]所述测量组件沿所述标准块轴线方向设置在第二安装座一侧，用于对被测量杆进行测量，包括传感器支架、拨叉、测量调节组件以及从上往下依次安装在传感器支架上的第一传感器与第二传感器；
[0012]所述传感器支架与所述测量调节组件连接；
[0013]所述测量调节组件用于对传感器支架进行水平以及竖直方向的移动；
[0014]所述拨叉与传感器支架连接，用于压缩第一传感器的测头与第二传感器的测头。
[0015]进一步地，所述水平调节组件包括第一导轨、第一挡板、弹簧挡板、第一螺钉以及安装在弹簧挡板上的第一弹簧；
[0016]所述第一导轨与底座连接；
[0017]所述第一安装座与第一导轨连接；
[0018]所述第一挡板与弹簧挡板分别安装在第一导轨两侧；
[0019]所述第一弹簧一端与弹簧挡板连接，另一端与第一安装座接触；
[0020]所述第一螺钉一端穿过所述第一挡板后与所述第一安装座接触，用于驱动第一安装座在所述第一导轨上滑动，且滑动方向与所述被测量杆的轴线垂直。
[0021]进一步地，所述垂直调节组件包括第二导轨以及第六螺钉；
[0022]所述第二导轨与所述底座连接，所述第二安装座与第二导轨连接，所述第六螺钉沿竖直方向穿过所述第二安装座后与所述第二导轨顶面接触，用于实现第二安装座的垂直向移动，且移动方向与所述被测量杆的轴线垂直。
[0023]进一步地，所述测量调节组件包括立柱、导轨、第二弹簧、安装座、第七螺钉以及第九螺钉；
[0024]所述导轨安装在所述安装座内，所述传感器支架在所述导轨上滑动且滑动方向与所述被测量杆的轴线垂直；
[0025]所述第七螺钉沿所述传感器支架滑动方向从外向内穿过安装座一端侧壁后与所述传感器支架的一端接触；
[0026]所述传感器支架另一端与安装座另一端侧壁之间安装有所述第二弹簧；
[0027]所述安装座一端开设有竖直的通孔，所述立柱穿过所述通孔后与所述底座连接，所述安装座开设有缺口，缺口的两端分别设置有第一紧固端与第二紧固端；
[0028]所述第一紧固端与第二紧固端通过所述第九螺钉连接并夹紧立柱，用于将安装座固定在立柱竖直方向的不同高度。
[0029]进一步地，所述拨叉为Y型，所述拨叉的两个前端均安装有圆环，两个所述圆环分别套在第一传感器与第二传感器的测头前端，用于对第一传感器与第二传感器的测头进行压缩；
[0030]所述拨叉后端通过固定螺钉与传感器支架连接；
[0031]所述拨叉后端开设长条孔，所述固定螺钉穿过长条孔后将拨叉固定在传感器支架上。
[0032]本专利技术还提供一种千分尺校对用量杆检定方法，其特殊之处在于：采用如权利要求1所述的检定装置，包括以下步骤：
[0033]步骤1：将被测量杆安装在检定装置上；
[0034]步骤2：将标准块与被测量杆的一端均抵靠在基准挡板上；
[0035]步骤3：将第一传感器、第二传感器均与标准块的端面接触，并且使得第一传感器与第二传感器的测头均压缩，从而使得第一传感器的测头与第二传感器的测头既可以伸长又可以压缩；
[0036]步骤4：将第一传感器与第二传感器测得的数值清零，将此位置记为初始测量位
置；
[0037]步骤5：压缩第一传感器与第二传感器的测头，使得第一传感器与第二传感器的测头离开标准块，并且上移第一传感器与第二传感器，使得第一传感器对准被测量杆端面的中心位置处，第二传感器对准标准块，松开第一传感器与第二传感器的测头，使得第一传感器的测头与被测量杆接触，第二传感器的测头与标准块接触；
[0038]步骤6：观察第二传感器的数值是否为零，如为零，则测量数据有效，记录第一传感器测得数据ΔL1，由于标准块的长度尺寸为L0，则被测量杆的尺寸L1＝L0+ΔL1；
[0039]其中：L0为标准块的长度，ΔL1为当前位置与初始测量位置的距离差；
[0040]步骤7：绕被测量杆的中心移动第一传感器，使得第一传感器得到多个不同位置的被测量杆的数据，测量时第二传感器的数值为零，则测量数据有效，并计算被测量杆的尺寸；
[0041]步骤8：计算被测量杆的变动量。
[0042]进一步地，步骤8中，计算被测量杆的变动量的方式为：将被测量杆在不同位置处计算得到最大值与最小值的差值，记为被测量杆的变动量。
[0043]进一步地，步骤7中，绕被测量杆的中心移动方式具体为：选择过中心的任意两条相互垂直的线段的端点处进行测量且四个端点在同一圆周上。
[0044]本专利技术的有益效果是：
[0045]1、本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种千分尺校对用量杆检定装置，其特征在于：包括标准块(18)、底座(1)、依次设置在底座(1)上的装夹组件以及测量组件；所述装夹组件包括依次设置的基准挡板(30)、第一安装座(2)、第二安装座(3)，弧形压板(9)以及安装在底座(1)上的水平调节组件和垂直调节组件；所述第一安装座(2)与所述第二安装座(3)均开设有轴线水平的安装孔，所述标准块(18)一端依次穿过第二安装座(3)的安装孔、第一安装座(2)的安装孔后抵靠在基准挡板(30)上；所述第一安装座(2)、第二安装座(3)顶端均开设有V型槽，所述弧形压板(9)安装在V型槽上端，用于将被测量杆(17)固定在所述V型槽内且被测量杆(17)的一端抵靠在基准挡板(30)上；所述水平调节组件与所述第一安装座(2)连接，用于对标准块(18)及被测量杆(17)进行水平方向的调节；所述垂直调节组件与所述第二安装座(3)连接，用于对标准块(18)及被测量杆(17)进行竖直方向的调节；所述测量组件沿所述标准块(18)轴线方向设置在第二安装座(3)一侧，用于对被测量杆(17)进行测量，包括传感器支架(23)、拨叉(20)、测量调节组件以及从上往下依次安装在传感器支架(23)上的第一传感器(191)与第二传感器(192)；所述传感器支架(23)与所述测量调节组件连接；所述测量调节组件用于对传感器支架(23)进行水平以及竖直方向的移动；所述拨叉(20)与传感器支架(23)连接，用于压缩第一传感器(191)的测头与第二传感器(192)的测头。2.根据权利要求1所述的一种千分尺校对用量杆检定装置，其特征在于：所述水平调节组件包括第一导轨(4)、第一挡板(6)、弹簧挡板(12)、第一螺钉(5)以及安装在弹簧挡板(12)上的第一弹簧(11)；所述第一导轨(4)与底座(1)连接；所述第一安装座(2)与第一导轨(4)连接；所述第一挡板(6)与弹簧挡板(12)分别安装在第一导轨(4)两侧；所述第一弹簧(11)一端与弹簧挡板(12)连接，另一端与第一安装座(2)接触；所述第一螺钉(5)一端穿过所述第一挡板(6)后与所述第一安装座(2)接触，用于驱动第一安装座(2)在所述第一导轨(4)上滑动，且滑动方向与所述被测量杆(17)的轴线垂直。3.根据权利要求2所述的一种千分尺校对用量杆检定装置，其特征在于：所述垂直调节组件包括第二导轨(15)以及第六螺钉(14)；所述第二导轨(15)与所述底座(1)连接，所述第二安装座(3)与第二导轨(15)连接，所述第六螺钉(14)沿竖直方向穿过所述第二安装座(3)后与所述第二导轨(15)顶面接触，用于实现第二安装座(3)的垂直向移动，且移动方向与所述被测量杆(17)的轴线垂直。4.根据权利要求1或2或3所述的一种千分尺校对用量杆检定装置，其特征在于：所述测量调节组件包括立柱(24)、导轨(21)、第二弹簧(25)、安装座(26)、第七螺钉(22)以及第九螺钉(28)；所述导轨(21)安装在所述安装座(26)内，所述传感器支架(23)在所述导轨(21)上滑动且滑动方向与所述被测量杆(17)的轴线垂直；
所述第七螺钉(22)沿所述传感器支架(23)滑动方向从外向内穿过安装座(26)一端侧壁后与所述传感器支架(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭胜，邓鹏波，赵米锋，丁国，李桂玲，王平，张春生，张团，
申请(专利权)人：西安航天计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：