本发明专利技术提供一种多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置，涉及飞秒激光器技术，根据时长预测模型对预设极限损伤值、所述间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长；获取在所述间隔时长内所述谐波分离器的实际使用时长和预设使用时长，根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值；基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长；基于所述谐波分离器的剩余时长控制所述飞秒激光器的运行时长，可以通过谐波分离器判断飞秒激光器的工作状态，有效控制飞秒激光器工作。有效控制飞秒激光器工作。有效控制飞秒激光器工作。
【技术实现步骤摘要】
多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置
[0001]本专利技术涉及飞秒激光器技术，尤其涉及一种多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置。
技术介绍
[0002]紫外飞秒激光一般通过腔外倍频产生，具有飞秒激光高峰值功率和紫外光短波长的特点，因此激光器内部光学器件非常容易损坏，从而影响飞秒激光器寿命。紫外光谐波分离器是激光器中比较容易损坏的光学元件，其是一种镀紫外光反射其它光透射的分光膜的分束镜。
[0003]现有技术中，通常是通过飞秒激光器的运行时间来判断飞秒激光器是否可以继续使用，如果没有达到期限，就继续控制飞秒激光器进行工作。
[0004]在实现以上专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：飞秒激光器需要高精度工作，尤其是容易损坏的紫外光谐波分离器，在期限内，如果紫外光谐波分离器损失值超出阈值，会严重影响飞秒激光器的工作。
[0005]因此，如何有效控制飞秒激光器的工作成为了急需解决的问题。
技术实现思路
[0006]本专利技术实施例提供一种多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置，可以判断飞秒激光器的工作状态，有效控制飞秒激光器工作。
[0007]本专利技术实施例的第一方面，提供一种多种波长的飞秒激光器的控制方法，包括：根据检测设备分别获取前一时间点和当前时间点经过谐波分离器后的透过光的光束质量，并基于所述光束质量和基准光束质量值分别获取前一时间点和当前时间点的光束质量损伤值；根据时长预测模型对预设极限损伤值、前一时间点和当前时间点之间的间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长；获取在所述间隔时长内所述谐波分离器的实际使用时长和预设使用时长，根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值；基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长；基于所述谐波分离器的剩余时长控制所述飞秒激光器的运行时长。
[0008]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在根据时长预测模型对预设极限损伤值、所述间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长的步骤中，具体包括：基于所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值的差值，生成剩余损伤量；基于当前时间点的光束质量损伤值和前一时间点的光束质量损伤值的差值与所
述间隔时长的比值，生成损伤率；根据所述时长预测模型对所述剩余损伤量和所述损伤率进行处理，生成所述初步时长。
[0009]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值的步骤中，具体包括：获取在所述间隔时长内的预设使用时长和实际使用时长，并生成预设使用时长和实际使用时长的时长差值；根据所述时长差值生成所述时长偏移值。
[0010]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长，包括：其中，T代表剩余时长，K1代表损伤率的权重,K2代表初步时长的权重，K3代表偏移值的权重，t1代表前一时间点，t2代表当前时间点，S1代表前一时间点的光束质量损伤值，S2代表当前时间点的光束质量损伤值，G代表预设极限损伤值, N代表在所述间隔时长内的预设使用时长，R代表实际使用时长，代表常数，h为与损耗率相关的常数，c代表非零常数，为大于1的常数，a2为小于1的常数。
[0011]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在获取所述谐波分离器的剩余时长之后，还包括：获取所述谐波分离器的总使用时长和总使用次数，根据所述总使用时长和所述总使用次数生成总使用量；根据时间序列模型对所述剩余时长、所述总使用量、所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值，生成预测测试次数；根据所述预测测试次数和所述剩余时长，生成多个测试时间点，基于所述测试时间点触发所述检测设备工作。
[0012]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在根据时间序列模型对所述剩余时长、所述总使用量、所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值，生成预测测试次数的步骤中，具体包括：基于总使用时长和总使用次数获取所述谐波分离器的总使用量，并根据所述总使用量和预设使用量生成调整值；根据所述调整值对用于指示检测间隔的预设损耗间隔进行调整，生成实时损耗间隔；基于所述实时损耗间隔和剩余损伤量，生成预测测试次数。
[0013]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，基于所述实时损耗间隔和剩余损伤量，生成预测测试次数，包括：其中，代表预测测试次数，J代表每检测一次的所隔的预设损耗间隔，代表J的调整值，Y代表预设使用量，Z1代表总使用时长, Z2代表总使用次数，K5代表Z1的权重，K6代表Z2的权重，为常数，为小于1的常数，b2为大于1的常数。
[0014]本专利技术实施例的第二方面，提供一种多种波长的飞秒激光器的控制装置，包括：检测模块，用于根据检测设备分别获取前一时间点和当前时间点经过谐波分离器后的透过光的光束质量，并基于所述光束质量和基准光束质量值分别获取前一时间点和当前时间点的光束质量损伤值；初步时长模块，用于根据时长预测模型对预设极限损伤值、前一时间点和当前时间点之间的间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长；偏移模块，用于获取在所述间隔时长内所述谐波分离器的实际使用时长和预设使用时长，根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值；结果模块，用于基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长；控制模块，用于基于所述谐波分离器的剩余时长控制所述飞秒激光器的运行时长。
[0015]本专利技术实施例的第三方面，提供一种多种波长的飞秒激光器的控制设备，包括：存储器、处理器以及计算机程序，所述计算机程序存储在所述存储器中，所述处理器运行所述计算机程序执行本专利技术第一方面及第一方面各种可能涉及的所述方法。
[0016]本专利技术实施例的第四方面，提供一种可读存储介质，所述可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现本专利技术第一方面及第一方面各种可能涉及的所述方法。
[0017]本专利技术提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制方法及装置，通过对飞秒激光器中经常损坏的谐波分离器进行损耗测试，来预测出谐波分离器的剩余工作时长，从而预测出飞秒激光器的工作时长，协助用户有效控制飞秒激光器运行，防止飞秒激光器的使用事故发生。另外，本专利技术还可以对测试时间进行预测，协助用户根据预测的时间来对谐波分离器进行测试，并且测试时间会进行更新。
附图说明
[0018]图1为本方案用于体现应用场景的示意图；图2是本专利技术实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制方法示意图；图3是本专利技术实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制装置的结构示意图；图4是本专利技术实施例提供的一种多种波长的飞秒激光器的控制设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
[0019]为使本专利技术实施例的目的、本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多种波长的飞秒激光器的控制方法，其特征在于，包括：根据检测设备分别获取前一时间点和当前时间点经过谐波分离器后的透过光的光束质量，并基于所述光束质量和基准光束质量值分别获取前一时间点和当前时间点的光束质量损伤值；根据时长预测模型对预设极限损伤值、前一时间点和当前时间点之间的间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长；获取在所述间隔时长内所述谐波分离器的实际使用时长和预设使用时长，根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值；基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长；基于所述谐波分离器的剩余时长控制所述飞秒激光器的运行时长。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据时长预测模型对预设极限损伤值、所述间隔时长、前一时间点和当前时间点之间的所述光束质量损伤值进行处理，生成初步时长的步骤中，具体包括：基于所述预设极限损伤值和当前时间点的光束质量损伤值的差值，生成剩余损伤量；基于当前时间点的光束质量损伤值和前一时间点的光束质量损伤值的差值与所述间隔时长的比值，生成损伤率；根据所述时长预测模型对所述剩余损伤量和所述损伤率进行处理，生成所述初步时长。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在根据时长偏移模型对所述实际使用时长和预设使用时长进行处理，生成时长偏移值的步骤中，具体包括：获取在所述间隔时长内的预设使用时长和实际使用时长，并生成预设使用时长和实际使用时长的时长差值；根据所述时长差值生成所述时长偏移值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述时长偏移值对所述初步时长进行偏移处理，生成所述谐波分离器的剩余时长，包括：其中，T代表剩余时长，K1代表损伤率的权重,K2代表初步时长的权重，K3代表偏移值的权重，t1代表前一时间点，t2代表当前时间点，S1代表前一时间点的光束质量损伤值，S2代表当前时间点的光束质量损伤值，G代表预设极限损伤值, N代表在所述间隔时长内的预设使用时长，R代表实际使用时长，代表常数，h为与损耗率相关的常数，c代表非零常数，为大于1的常数，a2为小于1的常数。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在获取所述谐波分离器的剩余时长之后，还包括：获取所述谐波分离器的总使用时长和总使用次数，根据所述总使用时长和所述总使用次数...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄焱坤，
申请(专利权)人：南京漫鱼医疗技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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