一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法，包括：电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块，所述电源模块与监测电脑电连接，所述电源模块设置在电源载板上，所述电源载板上还设置有第一连接座，所述测试主控模块设置在测试核心载板上，所述测试核心载板上还设置有第二连接座和第三连接座，所述第二连接座与所述第一连接座之间电连接，所述LPDDR4测试模块设置于待测载板上，所述待测载板上还设置有第四连接座，所述第四连接座与所述第三连接座电连接，所述待测载板上装载LPDDR4颗粒待测物；本发明专利技术由三个载板组成，能方便对载板进行更换，降低了成本，具有良好的市场应用价值。市场应用价值。市场应用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法


[0001]本专利技术涉及LPDDR4颗粒测试平台领域，具体的说是一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法。

技术介绍

[0002]LPDDR4可以说是全球范围内最广泛使用于移动设备的“工作记忆”内存，内存颗粒是内存条的核心部件，是内存的储存介质可以直接关系到内存的性能，目前大多生产厂商都针对内存颗粒进行验证平台开发，但主流做法是一体式，即将电源模块、主控测试芯片与待测物设计在同一载板上，此种做法通常只能测试相同封装样式的待测物，如用于测试200BALL封装样式的LPDDR4颗粒待测物的板子，通常无法直接用于测试254BALL封装样式的LPDDR4颗粒待测物，因此，在进行LPDDR4颗粒测试时，当LPDDR4颗粒待测物类型更换时，这种一体化的设计方式适配性差，同时，一体化的设计占用面积大，清洁不方便，当电路板一处出现损坏可能导致整板报废。

技术实现思路

[0003]本专利技术针对已有的一体化的LPDDR4颗粒的测试平台的不足，提供一种由三个载板组成，应用灵活的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统。
[0004]本专利技术解决其技术问题而提供一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，包括：电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块，所述电源模块设置在电源载板上，所述电源模块与监测电脑电连接，所述电源载板上还设置有第一连接座，所述测试主控模块设置在测试核心载板上，所述测试核心载板上还设置有第二连接座和第三连接座，所述第二连接座与所述第一连接座之间电连接，所述LPDDR4测试模块设置于待测载板上，所述待测载板上还设置有第四连接座，所述第四连接座与所述第三连接座电连接，所述待测载板用于装载LPDDR4颗粒待测物。
[0005]进一步的，所述LPDDR4颗粒待测物通过治具活动装载在所述待测载板上。
[0006]进一步的，所述电源模块包括总电源端口、控制芯片、第一电压电流检测电路和继电器控制电路，所述控制芯片经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，与所述测试主控模块进行数据交换，所述总电源端口一端外接电源，另一端与所述第一电压电流检测电路相连，所述第一电压电流检测电路用于检测电源输入端的电压、电流状态，所述第一电压电流检测电路的第一引线与所述控制芯片连接，第二引线经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，所述继电器控制电路的输入端接所述第一电压电流检测电路，使能端接所述控制芯片，输出端经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，所述继电器控制电路用于控制所述测试主控模块的通断。
[0007]进一步的，所述电源模块还包括数据传输电路，所述数据传输电路的一端与所述控制芯片相连，另一端与监测电脑相连，用于所述控制芯片与监测电脑之间通讯。
[0008]进一步的，所述电源模块还包括复位电路，所述复位电路的一端与所述控制芯片
相连，另一端经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，所述复位电路用于控制所述控制芯片和所述测试主控模块的复位。
[0009]进一步的，所述测试主控模块包括第一电源转换电路、主测试芯片和第二电压电流检测电路，所述第一电源转换电路的输入端经所述第二连接座和第一连接座与所述第一电压电流检测电路相连，输出端与所述第二电压电流检测电路的输入端相连，所述第二电压电流检测电路的输出端经第三连接座和第四连接座和LPDDR4测试模块相连，反馈端经第二连接座和第一连接座与所述控制芯片相连，所述第二电压电流检测电路用于检测所述第一电源转换电路的输出端的电压电流信息，并反馈至所述控制芯片，所述主测试芯片的第一端经所述第二连接座和第一连接座与所述控制芯片相连，第二端经第三连接座和第四连接座和LPDDR4测试模块相连，所述主测试芯片用于控制LPDDR4测试模块进行测试，获取测试状态并反馈至所述控制芯片。
[0010]进一步的，所述测试主控模块还包括第二电源转换电路，所述第二电源转换电路的输入端经所述第二连接座和第一连接座与所述继电器控制电路相连，输出端与所述主测试芯片连接。
[0011]进一步的，提供一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统的控制方法，其特征在于，包括以下步骤：电源模块收到开始测试讯号，对测试主控模块供电；测试主控模块对LPDDR4测试模块进行供电，同时采集所述LPDDR4测试模块的电压和电流数据，并反馈至所述电源模块；所述电源模块判断所述电压和电流数据是否正常，若否，向监测电脑上传错误信息，若是，向所述测试主控模块发出测试指令；所述测试主控模块对LPDDR4颗粒待测物进行测试，并将当前测试状态和进度发送至所述电源模块；所述电源模块将测试状态和进度上传至所述监测电脑。
[0012]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术的电源模块设置在电源载板上，测试主控模块设置在测试核心载板上，LPDDR4测试模块设置于待测载板上，电源载板和测试核心载板之间通过第一连接座和第二连接座相连，测试核心载板与待测载板之间通过第三连接座和第四连接座相连，在替换LPDDR4颗粒待测物的类别时，只需将第四连接座与第三连接座处的连接断开，更换待测载板,再进行连接即可，同时，其中一块电路板出现损坏时，只需将损坏载板进行更换，大大减省成本及更换所需要的时间，应用更灵活，使用更方便。
附图说明
[0013]附图1为本专利技术的平台开发系统的原理结构示意图之一；附图2为本专利技术的平台开发系统的原理结构示意图之二。
具体实施方式
[0014]为了便于理解本专利技术，下面结合附图和具体实施例，对本专利技术进行更详细的说明。附图中给出了本专利技术的较佳的实施例，但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限
于本说明书所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容的理解更加透彻全面。
[0015]除非另有定义，本说明书所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本说明书中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是用于限制本专利技术。
[0016]下面结合附图对本专利技术作以下详细地说明。在本专利技术的一个实施例中，如图1所示，提供一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，包括：电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块，所述电源模块与监测电脑116电连接，所述电源模块设置在电源载板11上，所述电源载板11上还设置有第一连接座107，所述测试主控模块设置在测试核心载板12上，所述测试核心载板12上还设置有第二连接座108和第三连接座113，所述第二连接座108与所述第一连接座107之间电连接，所述LPDDR4测试模块设置于待测载板13上，所述待测载板13上还设置有第四连接座114，所述第四连接座114与所述第三连接座113电连接，所述待测载板13上装载LPDDR4颗粒待测物115。
[0017]需要说明的是，由于电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块分别设置在三块载板上，在替换待测物的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，包括：电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块，所述电源模块设置在电源载板上，所述电源模块与监测电脑电连接，所述电源载板上还设置有第一连接座，所述测试主控模块设置在测试核心载板上，所述测试核心载板上还设置有第二连接座和第三连接座，所述第二连接座与所述第一连接座之间电连接，所述LPDDR4测试模块设置于待测载板上，所述待测载板上还设置有第四连接座，所述第四连接座与所述第三连接座电连接，所述待测载板用于装载LPDDR4颗粒待测物。2.根据权利要求1所述的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，所述LPDDR4颗粒待测物通过治具活动装载在所述待测载板上。3.根据权利要求1所述的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，所述电源模块包括总电源端口、控制芯片、第一电压电流检测电路和继电器控制电路，所述控制芯片经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，与所述测试主控模块进行数据交换，所述总电源端口一端外接电源，另一端与所述第一电压电流检测电路相连，所述第一电压电流检测电路的第一引线与所述控制芯片连接，第二引线经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，所述继电器控制电路的输入端接所述第一电压电流检测电路，使能端接所述控制芯片，输出端经所述第一连接座和第二连接座与所述测试主控模块相连，所述继电器控制电路用于控制所述测试主控模块的通断。4.根据权利要求3所述的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，所述电源模块还包括数据传输电路，所述数据传输电路的一端与所述控制芯片相连，另一端与所述监测电脑相连，用于所述控制芯片与监测电脑之间通讯。5.根据权利要求3所述的用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统，其特征在于，所述电源模块还包括复位电...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈宗廷，陈建光，杜兆航，戴洋洋，林国智，
申请(专利权)人：深圳市耀星微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：