面向雷达目标的二维探测线阵制造技术

本发明专利技术公开了面向雷达目标的二维探测线阵，包括相互平行且间隔分布的上层介质板和下层介质板；上层介质板包括相互垂直的纵向上层介质板和横向上层介质板；纵向上层介质板和横向上层介质板的顶部，分别设置有纵向独立辐射结构和横向独立辐射结构；纵向独立辐射结构包括多个纵向金属辐射贴片；横向独立辐射结构包括多个横向金属辐射贴片；纵向微带线与多个纵向金属辐射贴片的底面相连接；横向微带线与多个横向金属辐射贴片相连接；下层介质板包括相互垂直的纵向下层介质板和横向下层介质板；纵向下层介质板和横向下层介质板的上表面，分别设置有纵向独反射板和横向反射板。本发明专利技术具备波束可重构的优秀性能，在有效识别物体的同时，能够降低成本。能够降低成本。能够降低成本。

【技术实现步骤摘要】
面向雷达目标的二维探测线阵


[0001]本专利技术涉及可重构天线
，特别是涉及面向雷达目标的二维探测线阵。

技术介绍

[0002]目前，科学技术的不停创新，促使了现代无线通信技术的发展，通信系统对天线的需求量在稳步提升。
[0003]波束可重构天线设备，通过改变天线辐射方向，在特定方向上控制波束来避免噪声或者电子干扰，能够提高安全性并有效节省资源；同时，也可通过改变辐射方向，对空间物体进行扫描识别。因此，在无线，卫星，雷达等通信系统中，波束可重构天线有着广泛应用。
[0004]但是，现有的波束可重构天线，结构设计复杂，制造成本较高，无法有效识别物体的方位。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是针对现有技术存在的技术缺陷，提供面向雷达目标的二维探测线阵。
[0006]为此，本专利技术提供了面向雷达目标的二维探测线阵，包括相互平行且间隔分布的上层介质板和下层介质板；
[0007]对于上层介质板，其包括纵向上层介质板和横向上层介质板；
[0008]纵向上层介质板和横向上层介质板，相互垂直且间隔分布；
[0009]纵向上层介质板和横向上层介质板的顶部，分别设置有纵向独立辐射结构和横向独立辐射结构；
[0010]纵向独立辐射结构和横向独立辐射结构相互垂直；
[0011]纵向独立辐射结构，包括纵向排列且等间距分布的多个纵向金属辐射贴片；
[0012]纵向上层介质板在与每个纵向金属辐射贴片底面相对应的位置，分别具有横向分布的横向开口；
[0013]横向独立辐射结构，包括横向排列且等间距分布的多个横向金属辐射贴片；
[0014]横向上层介质板在与每个横向金属辐射贴片底面相对应的位置，分别具有纵向分布的纵向开口；
[0015]纵向上层介质板的下表面设置有一根纵向微带线；
[0016]纵向微带线的顶面，穿过纵向上层介质板上的多个横向开口，与多个纵向金属辐射贴片的底面横向中部位置相连接；
[0017]横向上层介质板的下表面设置有一根横向微带线；
[0018]横向微带线的顶面，穿过横向上层介质板上的多个纵向开口，与多个横向金属辐射贴片的底面纵向中部位置相连接；
[0019]纵向微带线和横向微带线，组成馈电结构；
[0020]对于下层介质板，其包括纵向下层介质板和横向下层介质板；
[0021]纵向下层介质板和横向下层介质板，相互垂直且间隔分布；
[0022]纵向下层介质板和横向下层介质板的上表面，分别设置有纵向独反射板和横向反射板。
[0023]优选地，上层介质板和下层介质板之间，具有空气间隙。
[0024]优选地，纵向上层介质板的中部，与横向上层介质板相互垂直；
[0025]纵向下层介质板的中部，与横向下层介质板相互垂直。
[0026]优选地，横向开口的大小，小于纵向金属辐射贴片的形状大小；
[0027]纵向开口的大小，小于横向金属辐射贴片的形状大小。
[0028]优选地，纵向上层介质板与纵向下层介质板的形状大小相同，并且上下对齐；
[0029]横向上层介质板和横向下层介质板的形状大小相同，并且上下对齐。
[0030]优选地，微带线的一端，与外部激励相连。
[0031]由以上本专利技术提供的技术方案可见，与现有技术相比较，本专利技术提供了面向雷达目标的二维探测线阵，其设计科学，可以通过调相改变波束扫描范围，实现利用两个一维线阵确定二维空间中物体的方位。本专利技术的这种天线，具备波束可重构的优秀性能，在有效识别物体的同时，能够降低成本，具有重大的实践意义。
[0032]对于本专利技术，公开了一种针对雷达目标的探测体制，可以控制天线的辐射波束，分别在XOZ面和YOZ面方向上对进行扫描，既利用两个一维线阵确定了空间中目标的方位，在有效识别物体的同时，又能够降低成本。
[0033]对于本专利技术，本专利技术由相互垂直的横向一维线阵以及纵向一维线阵组成。其中，利用横向一维线阵对空间目标在YOZ面进行扫描，确定目标物体的空间θ角；再利用纵向一维阵列对空间目标在XOZ面进行扫描，确定目标物体的空间角。然后利用θ角和角合成目标的方位信息，对空间目标进行扫描与识别。
附图说明
[0034]图1a为本专利技术提供的面向雷达目标的二维探测线阵中，上层介质板的上表面及辐射结构的俯视图；
[0035]图1b为本专利技术提供的面向雷达目标的二维探测线阵中，下层介质板的立体图；
[0036]图2为本专利技术提供的面向雷达目标的二维探测线阵中，上层介质板的上表面及辐射结构以及下层介质板的立体爆炸分解示意图；
[0037]图3a为采用本专利技术技术方案，模拟仿真得到的辐射方向图，具体是YOZ面的一维天线阵列，在YOZ面的方向图；
[0038]图3b为采用本专利技术技术方案，模拟仿真得到的辐射方向图，具体是YOZ面的一维天线阵列，在XOZ面的方向图；
[0039]图4a为采用本专利技术技术方案，输入信号相位差为30
°
时模拟仿真得到的辐射方向图，具体是YOZ面的一维天线阵列，在YOZ面的方向图；
[0040]图4b为采用本专利技术技术方案，输入信号相位差为
‑
30
°
时模拟仿真得到的辐射方向图，具体是YOZ面的一维天线阵列，在YOZ面的方向图；
[0041]图4c为采用本专利技术技术方案，输入信号相位差为60
°
时模拟仿真得到的辐射方向
图，具体是YOZ面的一维天线阵列，在YOZ面的方向图；
[0042]图4d为采用本专利技术技术方案，输入信号相位差为
‑
60
°
时模拟仿真得到的辐射方向图，具体是YOZ面的一维天线阵列，在YOZ面的方向图；
[0043]图4e为采用本专利技术技术方案，输入信号相位差为90
°
时模拟仿真得到的辐射方向图，具体是YOZ面的一维天线阵列，在YOZ面的方向图；
[0044]图4f为采用本专利技术技术方案，输入信号相位差为
‑
90
°
时模拟仿真得到的辐射方向图，具体是YOZ面的一维天线阵列，在YOZ面的方向图；
[0045]图中：1、上层介质板；101、纵向上层介质板；102、横向上层介质板；
[0046]201、纵向金属辐射贴片；202、横向金属辐射贴片；
[0047]301、纵向微带线；302、横向微带线；
[0048]401、纵向反射板；402、横向反射板；
[0049]5、下层介质板。
具体实施方式
[0050]下面将结合本专利技术的实施例，对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0051本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.面向雷达目标的二维探测线阵，其特征在于，包括相互平行且间隔分布的上层介质板(1)和下层介质板(5)；对于上层介质板(1)，其包括纵向上层介质板(101)和横向上层介质板(102)；纵向上层介质板(101)和横向上层介质板(102)，相互垂直且间隔分布；纵向上层介质板(101)和横向上层介质板(102)的顶部，分别设置有纵向独立辐射结构和横向独立辐射结构；纵向独立辐射结构和横向独立辐射结构相互垂直；纵向独立辐射结构，包括纵向排列且等间距分布的多个纵向金属辐射贴片(201)；纵向上层介质板(101)在与每个纵向金属辐射贴片(201)底面相对应的位置，分别具有横向分布的横向开口；横向独立辐射结构，包括横向排列且等间距分布的多个横向金属辐射贴片(202)；横向上层介质板(102)在与每个横向金属辐射贴片(202)底面相对应的位置，分别具有纵向分布的纵向开口；纵向上层介质板(101)的下表面设置有一根纵向微带线(301)；纵向微带线(301)的顶面，穿过纵向上层介质板(101)上的多个横向开口，与多个纵向金属辐射贴片(201)的底面横向中部位置相连接；横向上层介质板(102)的下表面设置有一根横向微带线(302)；横向微带线(302)的顶面，穿过横向上层介质板(102)上的多个纵向开口，与多个横向金属辐射贴片(202)的底面纵向中部位置相连接；纵...

【专利技术属性】
技术研发人员：安文星，许欣宇，罗宇，马凯学，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：