一种芯片测试系统及方法技术方案

本申请公开了一种芯片测试系统及方法，其中，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模组，用于调整所述电压转换模块输出的电压，以使得所述目标测试模组可以对所述待测试芯片进行测试，以输出测试结果。出测试结果。出测试结果。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试系统及方法


[0001]本申请属于计算机
，具体涉及一种芯片测试系统及方法。

技术介绍

[0002]在芯片测试器件领域中，常常优选将多个待测试器件连接到公用线路。因此，至少两个待测试器件的端子被连接到芯片测试器的公用通道。这些端子通常被指定为共享端子。然而，这些待测试器件的端子中有一些被优选地经由单独的(非共享的或未被共享的)线路连接到芯片测试器的通道。因此，在典型设置中，存在以下两种端子：经由共享线路被连接到芯片测试器的待测试器件的共享端子和经由未被共享的线路被连接到芯片测试器的通道的未被共享的端子。
[0003]然而，在现有技术中，通常需要设置较多的测试零件来对芯片进行测试，从而导致测试芯片进行测试的时间长。

技术实现思路

[0004]本申请的一个目的是解决至少上述问题和/或缺陷，并提供至少后面将说明的优点。
[0005]本申请提供的芯片测试系统，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模组，用于调整所述电压转换模块输出的电压，以使得所述目标测试模组可以对所述待测试芯片进行测试，以输出测试结果。
[0006]可选地，本申请实施例中，所述目标测试模组具有第一端口和第二端口；所述第一端口通过第一电阻接地，所述第二端口的电压为默认电压。
[0007]可选地，本申请实施例中，所述目标测试模组包括：第一放大器和第二放大器；所述第一放大器为常压器件，所述第二放大器为低压器件；其中，所述第一放大器和所述第二放大器的输入端与频谱仪的信号输出端，所述第一放大器和所述第二放大器的输出端与所述频谱仪的信号输入端连接。
[0008]可选地，本申请实施例中，所述测试系统还包括：用户终端，所述用户终端与所述处理模组连接；其中，所述用户终端，用于向所述处理模组发送控制命令，以使得处理模组根据所述控制命令，控制所述待测试芯片的ADC采集目标数据。
[0009]可选地，本申请实施例中，所述控制命令指示所述ADC的采集数；所述处理模组根据所述ADC的采集数，控制所述ADC采集所述目标数据。
[0010]本申请实施例提供的测试方法，应用于上述的测试系统，所述方法包括：通过所述测试系统的处理模组，调整所述测试系统的电压转换模块输出的电压；通过所述目标测试模组，基于所述调整后输出的电压，对待测试芯片进行测试，以输出测试结果。
[0011]可选地，本申请实施例中，所述对待测试芯片进行测试，包括：将所述目标测试模
组的第二端口的电压设置为默认电压，以对所述待测试芯片进行测试。
[0012]可选地，本申请实施例中，所述对待测试芯片进行测试，包括：将所述目标测试模组的第一放大器和第二放大器的第一端连接电源，并将所述第一放大器和所述第二放大器的第二端连接频谱仪；控制所述频谱仪输出目标电流，并对目标频率进行扫描，以对所述待测试芯片进行测试。
[0013]可选地，本申请实施例中，所述对待测试芯片进行测试，包括：通过所述测试系统的用户终端，向所述处理模组发送控制命令；所述处理模块根据所述控制命令，控制所述待测试芯片的ADC采集目标数据，以对所述待测试芯片进行测试。
[0014]可选地，本申请实施例中，所述控制命令指示所述ADC的采集数；所述处理模块根据所述控制命令，控制所述待测试芯片的ADC采集目标数据，包括：所述处理模组根据所述ADC的采集数，控制所述ADC采集所述目标数据。
[0015]与现有技术相比，本申请具有如下有益效果：
[0016]本申请实施例提供的测试系统，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模组，用于调整所述电压转换模块输出的电压，以使得所述目标测试模组可以对所述待测试芯片进行测试，以输出测试结果。由于可以仅通过处理模块，便可以完成对待测试芯片的测试，而无需设置较多的测试零件，因此，可以减少测试芯片进行测试的时间。
[0017]本申请的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本申请的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本申请实施例提供的测试系统的结构示意图；
[0020]图2为本申请实施例提供的SPI接口的时序图；
[0021]图3为本申请实施例提供的端口外接方法示意图。
具体实施方式
[0022]下面结合附图对本申请做进一步的详细说明，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。
[0023]应当理解，本文所使用的诸如“具有”、“包含”以及“包括”术语并不配出一个或多个其它元件或其组合的存在或添加。
[0024]1.该专利技术芯片测试系统设计使用专有测试平台和测试指令集，对BIT2021
‑
BCI芯片数字化单元(ADC单元、STIMULATOR单元)测试，针对该部分的内容设计了专有的指令集和STIMULATOR单元测试方法。通过与PC记得交互获取芯片的数字单元的测试结果。
[0025]2.传统的AMP功放测试需要用到模拟示波器、毫伏表、微安表、电流表、交直流电压
表、频率计数器等仪器搭建测试平台。结合专业仪器操作员和专业分析工程人员分析完成功放的测试。该专利技术测试系统使用BIT2021
‑
BCI芯片的特殊构架使用其内部ADC单元测试该芯片的模拟部分如AMP1、AMP2功放部分。该专利技术系统还专门设计了供电系统，提供12V、
±
20V，5V、3.3V和1.8V电压。仅使用频率发生器提供信号频率，该系统即可完成芯片的AMP功放部分的测试(信噪比测试、差模增益测试、共模增益测试、噪声输出测试等)。
[0026]3.刺激器的测试，不使用本专利技术系统测试时需要用到的仪器有，电压表、电流表、示多通道示波器、计算机、交直流稳压源以及恒流源等仪器。使用本专利技术系统测试时，仅需使用本专利技术的STIMULATOR测试指令集以及各个刺激测试部分的数据帧组合，即可完成刺激器的测试。
[0027]针对《x1
‑
CN202010193909
‑
芯片测试方法及芯片测试系统》专利提到的芯片测试系统。该芯片测试系统是针对芯片的良品、次良品和不良品功能性三个等级的选料测试系统。而本专利技术的芯片测试系统是针对BIT2021
‑
BCI芯片功能以及性能的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：电压转换模块，所述电压转换模块与电源、待测试芯片连接；目标测试模组，所述目标测试模组与所述待测试芯片连接；处理模组，所述处理模组与所述待测试芯片、电压转换模块连接；其中，所述处理模组，用于调整所述电压转换模块输出的电压，以使得所述目标测试模组可以对所述待测试芯片进行测试，以输出测试结果。2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述目标测试模组具有第一端口和第二端口；所述第一端口通过第一电阻接地，所述第二端口的电压为默认电压。3.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述目标测试模组包括：第一放大器和第二放大器；所述第一放大器为常压器件，所述第二放大器为低压器件；其中，所述第一放大器和所述第二放大器的输入端与频谱仪的信号输出端，所述第一放大器和所述第二放大器的输出端与所述频谱仪的信号输入端连接。4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：用户终端，所述用户终端与所述处理模组连接；其中，所述用户终端，用于向所述处理模组发送控制命令，以使得处理模组根据所述控制命令，控制所述待测试芯片的ADC采集目标数据。5.根据权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述控制命令指示所述ADC的采集数；所述处理模组根据所述ADC的采集数，控制所述ADC采集所述目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖钟凯，毛成华，安奇，王怡珊，李楠，
申请(专利权)人：中国科学院深圳先进技术研究院，
类型：发明
国别省市：