非接触式测量镜片中厚和矢高的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种非接触式测量镜片中厚和矢高的装置及方法，装置包括xy平移台(1)、第一、第二z平移台(2,3)、俯仰平台(4)、转接平台(5)、载物板(6)以及位移计(7)，所述位移计(7)包括同轴设置的第一、第二探头(8,9)，所述载物板(6)位于两探头之间，还包括测微计(10)。本发明专利技术可以同时测量出镜片中厚和矢高，从而避免分开测量带来的测量误差。开测量带来的测量误差。开测量带来的测量误差。

【技术实现步骤摘要】
非接触式测量镜片中厚和矢高的装置及方法


[0001]本专利技术涉及一种非接触式测量镜片中厚和矢高的装置及方法。

技术介绍

[0002]现有技术中，测量镜片中厚(即中心厚度)和矢高的方法是：先将镜片平放在千分表的大理石基座上面，镜片底面接触大理石平台，使用千分表接触镜片上凸面顶点(目视的顶点)测量，得到镜片的总厚；再将镜片倒置放在大理石基座上面，镜片上凸面顶点接触大理石平台，使用千分表接触镜片下凹面顶点(目视的顶点)测量，得到镜片的中厚；矢高由总厚减去中厚得出。该方法有以下问题或缺点：1.两次测量位置都是目视顶点，缺少准确性，不同人员测量得到的数据存在较大差异，测量不稳定，受人员影响较大；2.接触式测量(千分表接触镜片上下顶点)和镜片倒置(上凸面接触大理石台面)存在对镜片表面造成划伤的风险；3.操作不方便，效率比较低。
[0003]市场上现有使用白光共焦原理的设备，例如专利CN104613881A公开的测量装置，其利用光谱仪可以将对镜片中厚进行非接触式的测量，但是该装置无法同时测量镜片矢高，还需要借助于其他设备单独完成矢高的测量。因此这样分别测量的方式缺少准确性。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种能够同时测量镜片中厚和矢高的非接触式测量镜片中厚和矢高的装置及方法。
[0005]为实现上述专利技术目的，本专利技术提供一种非接触式测量镜片中厚和矢高的装置及方法，装置包括xy平移台、第一、第二z平移台、俯仰平台、转接平台、载物板以及位移计，所述位移计包括同轴设置的第一、第二探头，所述载物板位于两探头之间，还包括测微计。
[0006]根据本专利技术的一个方面，所述载物板设置在所述转接平台上，所述转接平台设置在所述xy平移台上；
[0007]所述xy平移台设置在所述俯仰平台上，所述俯仰平台设置在所述第二z平移台上；
[0008]第一探头设置在所述第一z平移台上。
[0009]根据本专利技术的一个方面，所述位移计为白光共焦位移计，其中各探头还包括各自的调节模块。
[0010]根据本专利技术的一个方面，还包括定心工装，其设置在所述载物板上。
[0011]根据本专利技术的一个方面，还包括支承柱，所述第一、第二z平移台、第二探头和测微计固定在所述支承柱上。
[0012]非接触式测量镜片中厚和矢高的方法，包括以下步骤：
[0013]a、在载物板上放置标准片，对测微计和第一、第二探头进行零点标定；
[0014]b、将标准片替换为被测镜片，移动载物板至第二探头的读数零点位置，记录载物板的移动距离y；
[0015]c、平移载物板至镜片凸面和凹面顶点位于第一、第二探头的轴线上，记录第一、第
二探头的读数y1和y2；
[0016]d、利用标准片的厚度d以及第一、第二探头的读数y1和y2计算镜片中厚；
[0017]e、利用载物板的移动距离y和第二探头的读数y2计算镜片矢高。
[0018]根据本专利技术的一个方面，在所述步骤(a)中，将载物板和第一探头先后移动至标定位置，使测微计的探针抵在载物板上，随后使测微计和第一、第二探头的读数清零。
[0019]根据本专利技术的一个方面，所述步骤(d)中计算镜片中厚A的公式为：A＝d+y1+y2；
[0020]所述步骤(e)中计算镜片矢高B的公式为：B＝y+y2。
[0021]根据本专利技术的一个方面，所述步骤(d)中计算镜片中厚A的公式为：A＝d-y1-y2；
[0022]所述步骤(e)中计算镜片矢高B的公式为：B＝y-y2。
[0023]根据本专利技术的构思，设置能够测量载物板的移动距离的测微计。如此，在将标准片更换为镜片后，载物板下移找准第二探头零点时，测微计能够测得载物板的距离。这一距离即为镜片低于标定零点的下限的部分高度，便于其与第二探头找到镜片凹面顶点后的读数配合即可计算出镜片矢高。由此，本专利技术通过额外设置的测微计所测出的参数，与测量镜片中厚所需的参数结合即可算出矢高，以实现同时测量中厚和矢高的目的，以此消除分别测量带来的误差。
[0024]根据本专利技术的一个方案，使得整套装置的轴线与竖直方向倾斜或呈竖直，这样，配合定心工装的设计可以使得镜片或标准片依靠自身重力定位在载物板上，从而避免了人为放置的测量误差，提高效率及测量准确性。
附图说明
[0025]图1示意性表示本专利技术的一种实施方式的非接触式测量镜片中厚和矢高的装置的结构图；
[0026]图2示意性表示本专利技术的一种实施方式的定心工装的安装示意图；
[0027]图3示意性表示利用本专利技术的一种实施方式的装置进行标定的流程示意图；
[0028]图4示意性表示利用本专利技术的一种实施方式的装置进行测量的流程示意图；
[0029]图5示意性表示利用本专利技术的一种实施方式的装置进行测量时各测量参数示意图。
具体实施方式
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]在针对本专利技术的实施方式进行描述时，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”所表达的方位或位置关系是基于相关附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此上述术语不能理解为对本专利技术的限制。
[0032]下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作详细地描述，实施方式不能在此一一赘
述，但本专利技术的实施方式并不因此限定于以下实施方式。
[0033]参见图1，本专利技术的非接触式测量镜片中厚和矢高的装置，包括xy平移台1、第一z平移台2、第二z平移台3、俯仰平台4、转接平台5、载物板6以及位移计7。位移计7包括同轴设置的第一探头8和第二探头9，其中的载物板6位于两探头之间，这样使得被测的镜片也能够位于两探头之间。根据本专利技术的构思，还包括用于测量载物板6沿第一探头8和第二探头9轴线(即z轴方向)的移动参数的测微计10。本实施方式中，该参数为载物板6的距离y，如此可以根据镜片矢高的定义，配合第二z平移台3的检测结果计算得到镜片矢高。使得本专利技术能够同时测量出镜片中厚和矢高，从而提高测量的准确性和效率，以及操作的方便程度。
[0034]继续参见图1，本专利技术中，位移计7为白光共焦位移计，其能够在不接触镜片的情况下完成测量工作。另外，由图可知，测微计10的测量方式为使其探针抵在载物板6上，即可测出载物板6的移动距离，因此其也不接触镜片。由此可见，本专利技术实现了非接触式的测量，从而避免了对镜片造成划伤。本专利技术的装置中，转接平台5用于实现载物板6与xy平移台1连接。因此，载物板6固定设置在转接平台5上，而转接平台5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非接触式测量镜片中厚和矢高的装置，包括xy平移台(1)、第一、第二z平移台(2,3)、俯仰平台(4)、转接平台(5)、载物板(6)以及位移计(7)，所述位移计(7)包括同轴设置的第一、第二探头(8,9)，所述载物板(6)位于两探头之间，其特征在于，还包括测微计(10)。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述载物板(6)设置在所述转接平台(5)上，所述转接平台(5)设置在所述xy平移台(1)上；所述xy平移台(1)设置在所述俯仰平台(4)上，所述俯仰平台(4)设置在所述第二z平移台(3)上；第一探头(8)设置在所述第一z平移台(2)上。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述位移计(7)为白光共焦位移计，其中各探头还包括各自的调节模块。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括定心工装(14)，其设置在所述载物板(6)上。5.根据权利要求1-4中任一项所述的装置，其特征在于，还包括支承柱(11)，所述第一、第二z平移台(2,3)、第二探头(9)和测微计(10)固定在所述支承柱(11)上。6.一种利用权利要求1-4中任一项所述的非接触式测量镜片中厚和矢高的装置的方法，包括以下...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾辉，沈栋树，修建鸿，杜文静，
申请(专利权)人：宁波舜宇红外技术有限公司，
类型：发明
国别省市：