一种镀膜锗镜片返修回收方法技术

技术编号:33537488 阅读:20 留言:0更新日期:2022-05-19 02:21
本发明专利技术涉及一种镀膜锗镜片返修回收方法,属于锗镜片加工工艺技术领域。该方法包括:步骤一:镀膜锗镜片分类;步骤二:返修处理;步骤三:返修零件检测与清洗;步骤四:回收零件去膜处理;步骤五:回收零件检测与清洗。本发明专利技术利用丸片磨具、夹持套和低速下摆抛光机组成的磨削设备对返修零件AR膜面和DLC膜面进行磨削处理,返修和回收的效率高,不会对锗镜片造成破坏,同时解决柱面残留的DLC残面数控车不了的缺点。利用白钢玉喷砂对待回收的零件进行退镀处理,克服了退镀液退镀时膜层难以去除、回收率低和回炉风险大的缺点。本方法实施后能高质量、高效、便捷的返修镀膜锗镜片和高效、高回收率、零回炉风险的回收镀膜锗镜片。零回炉风险的回收镀膜锗镜片。

【技术实现步骤摘要】
一种镀膜锗镜片返修回收方法


[0001]本专利技术属于锗镜片加工工艺
,具体涉及一种镀膜锗镜片返修回收方法。

技术介绍

[0002]锗金属属于稀贵金属,随着其应用的广泛,目前其金属单价已经超过银,经过精深加工后形成的镀膜锗镜片其单价将提高三倍以上,镀膜锗镜片使用时间过长受外界环境的影响,根据镀膜质量几年后需要更换镜片,同时在镀膜过程中由于诸多不可控因素的影响,镀膜后会出现成批镀膜不良的锗镜片,为此锗镜片的返修和回收在各行各业均显得尤为重要。
[0003]现目前对镀膜锗镜片的返修处理办法为,数控车削和退镀液退镀,在返修过程中只能用数控车削的方法来实现,数控车削效率低,当车削DLC镀膜面时候,由于DLC膜硬度和精钢石硬度相当,同时DLC膜与锗基片结合非常紧密,将导致在车削过程中非常伤刀,成本高同时破坏层很深,超出零件加工余量下限;在镀膜锗镜片回收过程中采用数控车削时候效率低、成本高,同时柱面残留的DLC残面数控车不了,为降低损耗只能用砂纸或砂轮进行打磨;利用退镀液退镀时候,退镀液腐蚀膜层的同时也会腐蚀锗材料,或将锗材料和膜层腐蚀溶接在一起,难以去除,回收率低,若在清洗过程中稍有不慎,流入单晶炉中将污染单晶炉锅体,对这锗单晶的拉制和晶像控制造成极大的影响。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种镀膜锗镜片回收返修方法,能够提高回收和返修的效率,而且,该方法不会对锗镜片本身造成损坏。
[0005]为实现上述目的,本专利技术是通过如下技术方案实现的:一种镀膜锗镜片返修回收方法,该方法包括:步骤一:镀膜锗镜片分类;利用专用的光学量具和检测设备对不合格镀膜锗镜片进行检测,加工余量足够同时表面质量达标的归为需返修的镀膜锗镜片,其余归为需回收的镀膜锗镜片;步骤二:返修处理;将镀膜锗镜片零件固定在装有阻尼布的夹持套内,利用丸片磨具、夹持套和低速下摆抛光机组成磨削设备对AR膜面和DLC膜面进行磨削处理;步骤三:返修零件检测与清洗;将磨削完成的锗镜片利用专用量具和设备检测加工余量、表面平整度和表面质量,满足抛光或单点车削加工要求后,利用酒精清洗后返抛光工序或单点车削工序进行返修,不合格零件再进行磨削;步骤四:回收零件去膜处理;针对需回收的镀膜锗镜片,在一定气压压力下,利用白钢玉对AR膜面和DLC膜面进行加压喷砂处理,去除表面膜层;
步骤五:回收零件检测与清洗;对于完成喷砂的零件,检测其表面是否还有未去除的残留膜层,若有再进行步骤四的喷砂处理,若合格则利用纯水和无尘布清洗干净后返单晶炉进行单晶拉制。
[0006]进一步,步骤二中,磨削设备包括丸片磨具、夹持套和低速下摆抛光机,丸片模具由丸片均布粘接在丸片治具上形成,丸片模具螺纹连接安装在低速下摆抛光机的下旋转轴上,装有阻尼布的夹持套固定在低速下摆抛光机的上摆轴上,待磨削锗镜片安装于夹持套内;磨削处理具体步骤为:将丸片均布粘接在丸片治具上形成丸片模具,然后将丸片模具螺纹连接安装在低速下摆抛光机的下旋转轴上,将装有阻尼布的夹持套固定在低速下摆抛光机的上摆轴上,将待磨削锗镜片安装于夹持套内,通过下旋转轴和上摆轴动作对锗镜片进行磨削。
[0007]进一步,步骤二中,丸片由目数为800~1000目的金刚砂组成,其厚度为2~4mm,直径为4~8mm。
[0008]进一步,步骤二中,夹持套夹持零件部分内圆尺寸较零件外圆尺寸大0.06

0.12mm。
[0009]进一步,步骤二中,AR膜磨削过程中下旋转轴转速为90~110rad/min,上摆轴摆速为35~60次/min,磨削时间为2

3min。
[0010]进一步,步骤二中,DLC膜磨削过程中下旋转轴转速为60~80rad/min,上摆轴摆速为15~30次/min,磨削时间为4

6min。
[0011]进一步,步骤四中,白刚玉的粒度为40#。
[0012]进一步,步骤四中,AR膜面喷砂所用压缩空气气压为0.3~0.4MP。
[0013]进一步,步骤四中,DLC膜面喷砂所用压缩空气气压为0.4~0.5MP。
[0014]本专利技术的有益效果:本专利技术利用丸片磨具、夹持套和低速下摆抛光机组成的磨削设备对返修零件AR膜面和DLC膜面进行磨削处理,对比目前现有的数控车削方法,返修和回收的效率高,不会对锗镜片造成破坏,同时解决柱面残留的DLC残面数控车不了的缺点。利用白钢玉喷砂对待回收的零件进行退镀处理,对比目前现有的退镀液退镀方法,克服了退镀液退镀时膜层难以去除、回收率低和回炉风险大的缺点。本方法实施后能高质量、高效、便捷的返修镀膜锗镜片和高效、高回收率、零回炉风险的回收镀膜锗镜片。
附图说明
[0015]图1是本专利技术的磨削设备结构示意图;图2本专利技术的丸片磨具结构示意图;图3是本专利技术未返修或回收处理的镀膜锗镜片实物图;图4是本专利技术返修磨削后的镀膜锗镜片实物图;图5是本专利技术喷砂回收后的镀膜锗镜片实物图。
[0016]图中,1

下旋转轴、2

丸片治具、3

丸片、4

上摆轴、5

夹持套、6

阻尼布、7

零件。
具体实施方式
[0017]下面结合实施例和附图对本专利技术作进一步的说明,但不以任何方式对本专利技术加以限制,基于本专利技术教导所作的任何变换或替换,均属于本专利技术的保护范围。
[0018]本实施例锗镜片零件7规格为:外圆直径:50mm,总厚:5mm,中心厚:5mm,球面半径:无穷大,矢高:5mm,膜层结构:DLC膜+AR膜。
[0019]一种镀膜锗镜片返修回收方法,该方法包括:步骤一:镀膜锗镜片分类;利用专用的光学测厚仪检测镀膜锗镜片的总厚、矢高和中心厚,再用冷光源检测灯箱检测镀膜锗镜片的表面质量,其总厚、矢高和中心厚在返修加工余量内同时其表变完好归为需返修的镀膜锗镜片,其余归为需回收的镀膜锗镜片。
[0020]经过检测厚若零件7符合返修要求直接进入步骤二进行返修。
[0021]步骤二:返修处理;将镀膜锗镜片零件7固定在装有阻尼布6的夹持套5内,利用丸片磨具、夹持套5和低速下摆抛光机组成磨削设备对AR膜面和DLC膜面进行磨削处理。
[0022]如图2所示,磨削设备包括丸片磨具、夹持套5和低速下摆抛光机,丸片模具由丸片3均布粘接在丸片治具2上形成,利用粘接胶将6mmx3mm

900目的丸片3均布粘接在丸片治具2上,丸片3最外圈外圆直径大于52mm。丸片模具螺纹连接安装在低速下摆抛光机的下旋转轴1上。利用剪刀将阻尼布6外圆修剪成49mm后,如图1所示将阻尼布6放入夹持套5内,夹持套5内圆外径为50.08mm,内圆深度为3mm,外圆直径为55mm。装有阻尼布6的夹持套5固定在低速下摆抛光机的上摆轴4上,待磨削锗镜片安装于夹持套5内,AR膜面与阻尼布6接触,DLC膜面朝外,以待磨削。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种镀膜锗镜片返修回收方法,其特征在于:该方法包括:步骤一:镀膜锗镜片分类;利用专用的光学量具和检测设备对不合格镀膜锗镜片进行检测,加工余量足够同时表面质量达标的归为需返修的镀膜锗镜片,其余归为需回收的镀膜锗镜片;步骤二:返修处理;将镀膜锗镜片零件固定在装有阻尼布的夹持套内,利用丸片磨具、夹持套和低速下摆抛光机组成磨削设备对AR膜面和DLC膜面进行磨削处理;步骤三:返修零件检测与清洗;将磨削完成的锗镜片利用专用量具和设备检测加工余量、表面平整度和表面质量,满足抛光或单点车削加工要求后,利用酒精清洗后返抛光工序或单点车削工序进行返修,不合格零件再进行磨削;步骤四:回收零件去膜处理;针对需回收的镀膜锗镜片,在一定气压压力下,利用白钢玉对AR膜面和DLC膜面进行加压喷砂处理,去除表面膜层;步骤五:回收零件检测与清洗;对于完成喷砂的零件,检测其表面是否还有未去除的残留膜层,若有再进行步骤四的喷砂处理,若合格则利用纯水和无尘布清洗干净后返单晶炉进行单晶拉制。2.根据权利要求1所述的一种镀膜锗镜片返修回收方法,其特征在于:步骤二中,磨削设备包括丸片磨具、夹持套和低速下摆抛光机,丸片模具由丸片均布粘接在丸片治具上形成,丸片模具螺纹连接安装在低速下摆抛光机的下旋转轴上,装有阻尼布的夹持套固定在低速下摆抛光机的上摆轴上,待磨削锗镜片安装于夹持套内;磨削处理具体步骤为:将丸片均布粘接在丸片治具上形成丸片模具,然后将丸片模具螺纹连接安装在低速下摆抛光机的下旋转轴上...

【专利技术属性】
技术研发人员:崔丁方钱海东陈琳杨康李俊仪王博文孙思壮胡光瑞龙正祥杨发平陈晓玲史桂平姜俊缪彦美
申请(专利权)人:云南驰宏国际锗业有限公司
类型:发明
国别省市:

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