显微镜观测载台及其使用方法技术

本发明专利技术提供一种显微镜观测载台，包括旋转座及驱动单元。旋转座适于承载基材，基材适于承接液滴，液滴包括样品液及悬浮于样品液中的至少一样品颗粒。驱动单元连接于旋转座且适于驱动旋转座旋转，以透过旋转座旋转所产生的离心力移除基材上的样品液。此外，一种显微镜观测载台的使用方法亦被提及。本发明专利技术的显微镜观测载台及其使用方法可使样品颗粒确实地吸附在基材表面上，且可降低基材表面产生交叉污染的机率。的机率。的机率。

【技术实现步骤摘要】
显微镜观测载台及其使用方法


[0001]本专利技术涉及一种观测载台，且特别是涉及一种显微镜观测载台。

技术介绍

[0002]一种常见的电子显微镜观测方式是先将内含有样品颗粒的样品液以滴管或其他方式滴于干净的表面，然后将基材覆盖于此样品液上以使样品颗粒吸附着于基材表面。接着，再将基材表面上的样品液拭干后，以清水洗净基材表面的残留物并将基材上的清水拭干，从而可藉由电子显微镜观测基材上的样品颗粒。
[0003]然而，在上述方式中，当将基材覆盖于样品液上时，样品液的表面张力使得基材滑动而影响其对样品颗粒的吸附，且拭干基材表面时对基材表面的接触亦会影响其对样品颗粒的吸附。此外，上述方式无法确保基材表面上的样品液被完全拭干，而使后续的清水洗净过程产生交叉污染，且上述方式需利用夹子夹取基材多次，亦会产生交叉污染。

技术实现思路

[0004]本专利技术是针对一种显微镜观测载台及其使用方法，可使样品颗粒确实地吸附在基材表面上，且可降低基材表面产生交叉污染的机率。
[0005]根据本专利技术的实施例，显微镜观测载台包括旋转座及驱动单元。旋转座适于承载基材，基材适于承接液滴，液滴包括样品液及悬浮于样品液中的至少一样品颗粒。驱动单元连接于旋转座且适于驱动旋转座旋转，以透过旋转座旋转所产生的离心力移除基材上的样品液。
[0006]在根据本专利技术的实施例中，基材适于吸附至少一样品颗粒。
[0007]在根据本专利技术的实施例中，基材带正电及负电的其中之一，至少一样品颗粒带正电及负电的其中之另一。<br/>[0008]在根据本专利技术的实施例中，旋转座具有承载面且适于藉由承载面承载基材，驱动单元适于驱动旋转座沿旋转轴线旋转，旋转轴线垂直于承载面。
[0009]在根据本专利技术的实施例中，吸附了至少一样品颗粒的基材适于承接清洗液，驱动单元适于驱动旋转座旋转，以透过旋转座旋转所产生的离心力移除基材上的清洗液。
[0010]根据本专利技术的实施例，显微镜观测载台的使用方法适用于观测载台，显微镜观测载台包括旋转座及驱动单元，使用方法包括以下步骤。藉由旋转座承载基材，并藉由基材承接液滴，其中液滴包括样品液及悬浮于样品液中的至少一样品颗粒。藉由驱动单元驱动旋转座旋转，以透过旋转座旋转所产生的离心力移除基材上的样品液。
[0011]在根据本专利技术的实施例中，使用方法包括藉由基材吸附至少一样品颗粒。
[0012]在根据本专利技术的实施例中，基材带正电及负电的其中之一，至少一样品颗粒带正电及负电的其中之另一。
[0013]在根据本专利技术的实施例中，旋转座具有承载面且适于藉由承载面承载基材，驱动单元适于驱动旋转座沿旋转轴线旋转，旋转轴线垂直于承载面。
[0014]在根据本专利技术的实施例中，使用方法包括以下步骤。藉由吸附了至少一样品颗粒的基材承接清洗液。藉由驱动单元驱动旋转座旋转，以透过旋转座旋转所产生的离心力移除基材上的清洗液。
[0015]基于上述，本专利技术利用驱动单元来驱动旋转座旋转而产生离心力，藉以使基材上的除了样品颗粒以外的样品液及/或清洗液能够快速且完全地被移除。据此，不需以擦拭的方式来移除样品液及/或清洗液，而可避免擦拭过程对基材的接触影响其对样品颗粒的吸附。此外，由于样品液及/或清洗液能够如上述般藉由离心力而完全被移除，且此方式可大幅减少用夹子夹取基材的次数，故可降低基材表面产生交叉污染的机率。
附图说明
[0016]图1是本专利技术一实施例的显微镜观测载台的方块图。
[0017]图2A至图2F绘示图1的显微镜观测载台的操作流程。
[0018]图3绘示图2A的液滴中的样品颗粒被基材吸附。
[0019]图4是本专利技术一实施例的显微镜观测载台的使用流程图。
具体实施方式
[0020]现将详细地参考本专利技术的示范性实施例，示范性实施例的实例说明于附图中。只要有可能，相同组件符号在图式和描述中用来表示相同或相似部分。
[0021]图1是本专利技术一实施例的显微镜观测载台的方块图。图2A至图2F绘示图1的显微镜观测载台的操作流程。图3绘示图2A的液滴中的样品颗粒被基材吸附，其示意性地绘示图2A的基材的局部放大图。请参考图1、图2A及图3，本实施例的显微镜观测载台100包括旋转座110及驱动单元120。旋转座110适于藉其承载面110a承载基材50，基材50适于承接液滴60，液滴60包括样品液62(标示于图2A)及悬浮于样品液62中的至少一样品颗粒64(标示于图3)。如图3所示，基材50例如带正电，样品颗粒64例如带负电，从而基材50可吸附样品颗粒64。
[0022]驱动单元120(绘示于图1)连接于旋转座110且适于驱动旋转座110如图2B所示沿垂直于承载面110a的旋转轴线A旋转，以透过旋转座110旋转所产生的离心力移除基材50上的样品液62，使其成为图2C所示状态。吸附了样品颗粒64(绘示于图3)的基材50适于如图2D所示承接清洗液70，以藉由清洗液70洗清基材50上的残余物(如样品液62所残留的液渍)。接着，驱动单元120(绘示于图1)适于驱动旋转座110如图2E所示沿旋转轴线A旋转，以透过旋转座110旋转所产生的离心力移除基材50上的清洗液70，使其成为图2F所示状态而可利用显微镜来观察基材50上的样品颗粒64(绘示于图3)。
[0023]如上所述，本实施例利用驱动单元120来驱动旋转座110旋转而产生离心力，藉以使基材50上的除了样品颗粒64以外的样品液62及/或清洗液70能够快速且完全地被移除。据此，不需以擦拭的方式来移除样品液62及/或清洗液70，而可避免擦拭过程对基材50的接触影响其对样品颗粒64的吸附。此外，由于样品液62及/或清洗液70能够如上述般藉由离心力而完全被移除，且此方式可大幅减少用夹子夹取基材50的次数，故可降低基材50表面产生交叉污染的机率。
[0024]在其他实施例中，若图2B所示的旋转步骤能够完全移除基材50上的样品液62而使
基材50表面仅留有样品颗粒64，则可省略图2D至图2F的清水清洗及清水移除的步骤，本专利技术不对此加以限制。以下对此进行具体说明。
[0025]图4是本专利技术一实施例的显微镜观测载台的使用流程图。请参考图4，首先，藉由旋转座110承载基材50，并藉由基材50承接液滴60，其中液滴60包括样品液62及悬浮于样品液62中的样品颗粒64(步骤S1)。藉由驱动单元120驱动旋转座110旋转，以透过旋转座110旋转所产生的离心力移除基材50上的样品液62(步骤S2)。
[0026]若上述步骤S2已完全移除基材50上的样品液62，则可利用显微镜来观察基材50上的样品颗粒64。反之，若上述步骤S2未完全移除基材50上的样品液62，则更可进行后续的步骤。即，藉由吸附了样品颗粒64的基材50承接清洗液70，并藉由驱动单元120驱动旋转座110旋转，以透过旋转座110旋转所产生的离心力移除基材50上的清洗液70，然后利用显微镜来观察基材50上的样品颗粒64。
[0027]综上所述，本专利技术利用驱动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显微镜观测载台，其特征在于，包括：旋转座，适于承载基材，其中所述基材适于承接液滴，所述液滴包括样品液及悬浮于所述样品液中的至少一样品颗粒；以及驱动单元，连接于所述旋转座且适于驱动所述旋转座旋转，以透过所述旋转座旋转所产生的离心力移除所述基材上的所述样品液。2.根据权利要求1所述的显微镜观测载台，其特征在于，所述基材适于吸附所述至少一样品颗粒。3.根据权利要求1所述的显微镜观测载台，其特征在于，所述基材带正电及负电的其中之一，所述至少一样品颗粒带正电及负电的其中之另一。4.根据权利要求1所述的显微镜观测载台，其特征在于，所述旋转座具有承载面且适于藉由所述承载面承载所述基材，所述驱动单元适于驱动所述旋转座沿旋转轴线旋转，所述旋转轴线垂直于所述承载面。5.根据权利要求1所述的显微镜观测载台，其特征在于，吸附了所述至少一样品颗粒的所述基材适于承接清洗液，所述驱动单元适于驱动所述旋转座旋转，以透过所述旋转座旋转所产生的离心力移除所述基材上的所述清洗液。6.一种显微镜观测载台的使用方法，所述显微镜观测载台包...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖良训，李信宏，
申请(专利权)人：邑流微测股份有限公司，
类型：发明
国别省市：