一种地质测绘用测绘尺制造技术

本实用新型专利技术涉及地质测量用具技术领域，具体为一种地质测绘用测绘尺，包括主尺和副尺，主尺由两个呈镜像对称的半尺固定连接而成，副尺设于两个半尺之间，且副尺的右侧且靠近半尺的前后端面均固定设有转轴，转轴转动连接有方形滑块，两个半尺相向的端面开设有允许副尺的左端伸出主尺的左端以及允许副尺以转轴为中心旋转的收纳槽，半尺上开设有与收纳槽连通且与方形滑块相适配的方形滑槽。本实用新型专利技术结构紧凑，装配简单，易于收纳携带，副尺可以与主尺发生相对移动或旋转，不仅可以进行长度绘制，也可以进行角度绘制。也可以进行角度绘制。也可以进行角度绘制。

【技术实现步骤摘要】
一种地质测绘用测绘尺


[0001]本技术涉及地质测量用具
，具体为一种地质测绘用测绘尺。

技术介绍

[0002]在进行地质测绘考察时，需要在实地进行多种测绘，在实际测绘的过程中需要用到多种测绘工具进行工作，因此在测绘之前需要做足准备工作。
[0003]公开号为CN211373386U的技术公开了一种地质测绘用测绘尺，其包括测绘尺主体，该测绘尺主体尺寸较大，不易收纳和携带。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种地质测绘用测绘尺，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种地质测绘用测绘尺，包括主尺和副尺，所述主尺由两个呈镜像对称的半尺固定连接而成，所述副尺设于两个所述半尺之间，且所述副尺的右侧且靠近所述半尺的前后端面均固定设有转轴，所述转轴转动连接有方形滑块，两个所述半尺相向的端面开设有允许副尺的左端伸出主尺的左端以及允许副尺以转轴为中心旋转的收纳槽，所述半尺上开设有与收纳槽连通且与方形滑块相适配的方形滑槽。
[0006]可选的，两个所述半尺相背的端面绘制有主长度刻度，所述副尺上绘制有与所述主长度刻度处于同一水平高度的副长度刻度，所述主长度刻度的分度值与副长度刻度的分度值相等。
[0007]可选的，所述方形滑块上远离所述副尺的端面绘制有角度刻度，所述转轴上固定设有指向角度刻度的箭头标识。
[0008]可选的，所述转轴为台阶轴，所述转轴上直径较小的一端贯穿方形滑块后与副尺固定连接。
[0009]可选的，所述收纳槽内且位于副尺与半尺之间设有阻尼圈，所述阻尼圈呈环形，且所述阻尼圈套设于所述方形滑块的外周，所述阻尼圈的一端面与副尺固定连接，且所述阻尼圈的另一端面与半尺相抵接。
[0010]可选的，所述副尺的表面涂覆有夜光漆涂层，所述副尺的左端一体成型有拉环，所述拉环呈半圆环形。
[0011]与现有技术相比，本技术具备以下有益效果：
[0012]1.本技术结构紧凑，装配简单，易于收纳携带，副尺可以与主尺发生相对移动或旋转，不仅可以进行长度绘制，也可以进行角度绘制；
[0013]2.本技术通过阻尼圈增大副尺与半尺之间的摩擦力，一方面可以实现副尺与半尺之间可以获得平缓的相对移动或旋转，另一方面可以维持副尺与半尺之间特定位移距离或角度，方便使用。
附图说明
[0014]图1为本技术的结构示意图；
[0015]图2为本技术中主尺的装配图；
[0016]图3为本技术中副尺的结构示意图。
[0017]图中：1、主尺；2、半尺；3、收纳槽；4、方形滑槽；5、主长度刻度；6、副尺；7、转轴；8、方形滑块；9、副长度刻度；10、角度刻度；11、箭头标识；12、阻尼圈；13、拉环。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]实施例：请参阅图1
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图3，本技术提供了一种地质测绘用测绘尺，包括主尺1和副尺6，主尺1由两个呈镜像对称的半尺2固定连接而成，副尺6设于两个半尺2之间。副尺6的右侧且靠近半尺2的前后端面均固定设有转轴7，转轴7转动连接有方形滑块8，转轴7为台阶轴，转轴7上直径较小的一端贯穿方形滑块8后与副尺6固定连接，转轴7上直径较大的一端阻挡方形滑块8脱离转轴7。两个半尺2相向的端面开设有允许副尺6的左端伸出主尺1的左端以及允许副尺6以转轴7为中心旋转的收纳槽3，半尺2上开设有与收纳槽3连通且与方形滑块8相适配的方形滑槽4。副尺6可以收纳在主尺1内，方便使用携带，副尺6可以与主尺1发生相对移动或旋转，不仅可以进行长度绘制，也可以进行角度绘制。
[0020]在上述实施例的基础之上，本实施例中的两个半尺2相背的端面绘制有主长度刻度5，副尺6上绘制有与主长度刻度5处于同一水平高度的副长度刻度9，且主长度刻度5的分度值与副长度刻度9的分度值相等，当副尺6的左端伸出主尺1后，副尺6可以增大主尺1的测量范围，方便长度绘制。
[0021]在上述实施例的基础之上，本实施例中的方形滑块8上远离副尺6的端面绘制有角度刻度10，转轴7上固定设有指向角度刻度10的箭头标识11。当副尺6以转轴7为中心旋转时，由于方形滑槽4的阻挡，使得方形滑块8保持不动，因此箭头标识11随转轴7旋转会指在角度刻度10上相对应的刻度处，因而可以快速判断副尺6的角度，方便角度绘制。
[0022]在上述实施例的基础之上，本实施例中的收纳槽3内且位于副尺6与半尺2之间设有阻尼圈12，阻尼圈12呈环形，且阻尼圈12套设于方形滑块8的外周，阻尼圈12的一端面与副尺6固定连接，且阻尼圈12的另一端面与半尺2相抵接。阻尼圈12用于增大副尺6与半尺2之间的摩擦力，一方面可以实现副尺6与半尺2之间可以获得平缓的相对移动或旋转，另一方面可以维持副尺6与半尺2之间特定位移距离或角度，方便使用。
[0023]在上述实施例的基础之上，本实施例中副尺6的表面涂覆有夜光漆涂层，可以方便找寻。副尺6的左端一体成型有拉环13，拉环13呈半圆环形，为移动或旋转副尺6提供施力点。
[0024]尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种地质测绘用测绘尺，其特征在于：包括主尺(1)和副尺(6)，所述主尺(1)由两个呈镜像对称的半尺(2)固定连接而成，所述副尺(6)设于两个所述半尺(2)之间，且所述副尺(6)的右侧且靠近所述半尺(2)的前后端面均固定设有转轴(7)，所述转轴(7)转动连接有方形滑块(8)，两个所述半尺(2)相向的端面开设有允许副尺(6)的左端伸出主尺(1)的左端以及允许副尺(6)以转轴(7)为中心旋转的收纳槽(3)，所述半尺(2)上开设有与收纳槽(3)连通且与方形滑块(8)相适配的方形滑槽(4)。2.根据权利要求1所述的一种地质测绘用测绘尺，其特征在于：两个所述半尺(2)相背的端面绘制有主长度刻度(5)，所述副尺(6)上绘制有与所述主长度刻度(5)处于同一水平高度的副长度刻度(9)，所述主长度刻度(5)的分度值与副长度刻度(9)的分度值相等。3.根据权利要求1所述的一种地质测绘用测绘尺...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁超，
申请(专利权)人：丁超，
类型：新型
国别省市：