一种大米颗粒智能筛选方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种大米颗粒智能筛选方法及系统，其方法包括：根据排列好的大米粒的拍摄图像对每颗大米粒进行表面成色分析，获取分析结果，根据所述分析结果对大米颗粒进行初步筛选，获取筛选结果，对所述筛选结果中成色合格的第一大米粒进行扫描，获取扫描参数，根据所述扫描参数对每颗第一大米粒进行饱满度解析，根据目标解析结果将第一大米粒中饱满度不足的第二大米粒划出。通过对表面成分合格的第一大米粒进行饱满度解析可以深度地确定每颗第一大米粒的内部结构是否完整以及是否存在蛀虫等，保证了筛选结果的准确性和工作效率，避免遗漏。避免遗漏。避免遗漏。

【技术实现步骤摘要】
一种大米颗粒智能筛选方法及系统


[0001]本专利技术涉及设计服务
，尤其涉及一种大米颗粒智能筛选方法及系统。

技术介绍

[0002]大米是稻谷经清理、砻谷、碾米、成品整理等工序后制成的成品，大米含有稻米中近64％的营养物质和90％以上的人体所需的营养元素，同时是中国大部分地区人民的主要食品，因此，大米的食用性合格是各个生产单位首当其冲要注意的问题，由于大米加工厂的工作量庞大故而对加工后的大米进行人工筛选的方式无法满足供应同时又效率低下，于是，科研人员研究出了通过拍摄视频并通过视频算法进行智能判断加工大米的合格性来将加工的大米进行快速高效的筛选工作，极大地提高了工作效率的同时也大大地降低了人工成本，但是上述方法存在以下问题：只单纯地针对加工大米的表面成色来对其进行优劣筛选会遗漏部分成色过关的大米由于内部腐烂而错筛选情况的发生，不可避免的出现后续人们食用后出现的食品安全问题。

技术实现思路

[0003]针对上述所显示出来的问题，本专利技术提供了一种大米颗粒智能筛选方法及系统用以解决
技术介绍
中提到的只单纯地针对加工大米的表面成色来对其进行优劣筛选会遗漏部分成色过关的大米由于内部腐烂而错筛选情况的发生，不可避免的出现后续人们食用后出现的食品安全问题。
[0004]一种大米颗粒智能筛选方法，包括以下步骤：
[0005]根据排列好的大米粒的拍摄图像对每颗大米粒进行表面成色分析，获取分析结果；
[0006]根据所述分析结果对大米颗粒进行初步筛选，获取筛选结果；
[0007]对所述筛选结果中成色合格的第一大米粒进行扫描，获取扫描参数；
[0008]根据所述扫描参数对每颗第一大米粒进行饱满度解析，根据目标解析结果将第一大米粒中饱满度不足的第二大米粒划出。
[0009]优选的，所述根据排列好的大米粒的拍摄图像对每颗大米粒进行表面成色分析，获取分析结果，包括：
[0010]将待筛选的大米粒排列到预设阵列中，获取排列结果；
[0011]对所述排列结果进行多角度图像拍摄，获取拍摄结果；
[0012]根据预设图像色素分析方法对所述拍摄结果中每个角度的拍摄图像中的每颗大米粒进行表面成色分析；
[0013]将每颗大米粒多角度的成色分析结果进行结合以获取该大米粒的最终表面成色分析结果。
[0014]优选的，所述根据所述分析结果对大米颗粒进行初步筛选，获取筛选结果，包括：
[0015]根据所述分析结果确定每颗大米粒的表面成色分析参数；
[0016]将每颗大米粒的表面成色分析参数与标准合格大米粒的预设表面成色参数进行比较，获取比较结果；
[0017]根据所述比较结果将表面成色分析参数与预设表面成色参数偏差度小于等于预设阈值的第一大米粒确认为成色合格，将表面成色分析参数与预设表面成色参数偏差度大于预设阈值的第三大米粒确认为成色不合格；
[0018]根据每颗大米粒的确认结果对大米颗粒进行初步筛选，获取所述筛选结果。
[0019]优选的，对所述筛选结果中成色合格的第一大米粒进行扫描，获取扫描参数，包括：
[0020]将所述第一大米粒重新排列到所述预设阵列中；
[0021]排列完毕后，根据所述预设阵列的面积和第一大米粒分布设置扫描区域和扫描指标；
[0022]基于所述扫描指标对扫描区域中的每颗第一大米粒进行红外扫描，获取扫描结果；
[0023]根据所述扫描结果确定每颗第一大米粒的形状参数和纹理参数以及内部结构参数并将其确认为所述扫描参数。
[0024]优选的，根据所述扫描参数对每颗第一大米粒进行饱满度解析，根据目标解析结果将第一大米粒中饱满度不足的第二大米粒划出，包括：
[0025]根据每颗第一大米粒的形状参数对该第一大米粒进行饱和度解析，获取第一解析结果；
[0026]根据每颗第一大米粒的纹理参数对该第一大米粒进行表面杂质解析，获取第二解析结果；
[0027]根据每颗第一大米粒的内部结构参数对该第一大米粒进行硬度解析，获取第二解析结果；
[0028]根据每个第一大米粒的的第一解析结果、第二解析结果和第三解析结果综合地对该第一大米粒进行饱满度分析，获取所述目标分析结果；
[0029]根据每颗第一大米粒的目标解析结果将饱满度小于预设阈值的第二大米粒进行筛选并划出。
[0030]优选的，所述根据每颗第一大米粒的形状参数对该第一大米粒进行饱和度解析，获取第一解析结果，包括：
[0031]根据每颗第一大米粒的形状参数确定该第一大米粒的粒径；
[0032]提取每颗第一大米粒的形状参数对应的形状特征向量；
[0033]根据每颗第一大米粒的形状特征向量和粒径构建该第一大米粒的虚拟参考模型；
[0034]基于每颗第一大米粒的虚拟参考模型的模型参数对该第一大米粒进行饱和度解析，获取所述第一解析结果。
[0035]优选的，所述根据每颗第一大米粒的形状特征向量和粒径构建该第一大米粒的虚拟参考模型，包括：
[0036]根据每颗第一大米粒的形状特征向量构建该第一大米粒的形状参考序列；
[0037]基于每颗第一大米粒的形状特征向量中相邻两个特征向量之间的相关性确定该第一大米粒的形状参考序列中相邻两个序列因子的连接轨迹；
[0038]根据每颗第一大米粒的形状特征向量及该第一大米粒的形状参考序列中相邻两个序列因子的连接轨迹构建该第一大米粒的初始参考模型；
[0039]根据每颗第一大米粒的粒径对该第一大米粒的初始参考模型进行比例缩小或者方法，获得该第一大米粒的虚拟参考模型。
[0040]优选的，所述根据每颗第一大米粒的形状特征向量构建该第一大米粒的形状参考序列，包括：
[0041]根据每个第一大米粒的形状特征向量构建该第一大米粒的仿真网格模型；
[0042]确定每个第一大米粒的仿真网格模型中的多个边缘点；
[0043]提取每个第一大米粒的仿真网格模型中每个边缘点的点云数据；
[0044]根据每个第一大米粒的图像序列和该大米粒的仿真网格模型中每个边缘点的点云数据确定该第一大米粒的形状纹理特征；
[0045]提取出每个第一大米粒的形状纹理特征中的空域纹理特征；
[0046]确定每个第一大米粒的空域纹理特征在该第一大米粒的仿真网格模型中的投射情况；
[0047]根据所述投射情况将每个第一大米粒的仿真网格模型划分为多个几何模型；
[0048]获取每个第一大米粒的每个划分几何模型的几何属性；
[0049]根据每个第一大米粒的饱满度确定该第一大米粒的每个划分几何模型的几何属性中的实体属性；
[0050]根据每个第一大米粒的实体属性映射出该第一大米粒的形状属性；
[0051]将每个第一大米粒的形状属性输入到预设形状序列库中生成该第一大米粒的形状参考序列。
[0052]一种大米颗粒智能筛选系统，该系统包括：
[0053]分析模块，用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大米颗粒智能筛选方法，其特征在于，包括以下步骤：根据排列好的大米粒的拍摄图像对每颗大米粒进行表面成色分析，获取分析结果；根据所述分析结果对大米颗粒进行初步筛选，获取筛选结果；对所述筛选结果中成色合格的第一大米粒进行扫描，获取扫描参数；根据所述扫描参数对每颗第一大米粒进行饱满度解析，根据目标解析结果将第一大米粒中饱满度不足的第二大米粒划出。2.根据权利要求1所述大米颗粒智能筛选方法，其特征在于，所述根据排列好的大米粒的拍摄图像对每颗大米粒进行表面成色分析，获取分析结果，包括：将待筛选的大米粒排列到预设阵列中，获取排列结果；对所述排列结果进行多角度图像拍摄，获取拍摄结果；根据预设图像色素分析方法对所述拍摄结果中每个角度的拍摄图像中的每颗大米粒进行表面成色分析；将每颗大米粒多角度的成色分析结果进行结合以获取该大米粒的最终表面成色分析结果。3.根据权利要求1所述大米颗粒智能筛选方法，其特征在于，所述根据所述分析结果对大米颗粒进行初步筛选，获取筛选结果，包括：根据所述分析结果确定每颗大米粒的表面成色分析参数；将每颗大米粒的表面成色分析参数与标准合格大米粒的预设表面成色参数进行比较，获取比较结果；根据所述比较结果将表面成色分析参数与预设表面成色参数偏差度小于等于预设阈值的第一大米粒确认为成色合格，将表面成色分析参数与预设表面成色参数偏差度大于预设阈值的第三大米粒确认为成色不合格；根据每颗大米粒的确认结果对大米颗粒进行初步筛选，获取所述筛选结果。4.根据权利要求2所述大米颗粒智能筛选方法，其特征在于，对所述筛选结果中成色合格的第一大米粒进行扫描，获取扫描参数，包括：将所述第一大米粒重新排列到所述预设阵列中；排列完毕后，根据所述预设阵列的面积和第一大米粒分布设置扫描区域和扫描指标；基于所述扫描指标对扫描区域中的每颗第一大米粒进行红外扫描，获取扫描结果；根据所述扫描结果确定每颗第一大米粒的形状参数和纹理参数以及内部结构参数并将其确认为所述扫描参数。5.根据权利要求4所述大米颗粒智能筛选方法，其特征在于，根据所述扫描参数对每颗第一大米粒进行饱满度解析，根据目标解析结果将第一大米粒中饱满度不足的第二大米粒划出，包括：根据每颗第一大米粒的形状参数对该第一大米粒进行饱和度解析，获取第一解析结果；根据每颗第一大米粒的纹理参数对该第一大米粒进行表面杂质解析，获取第二解析结果；根据每颗第一大米粒的内部结构参数对该第一大米粒进行硬度解析，获取第二解析结果；
根据每个第一大米粒的的第一解析结果、第二解析结果和第三解析结果综合地对该第一大米粒进行饱满度分析，获取所述目标分析结果；根据每颗第一大米粒的目标解析结果将饱满度小于预设阈值的第二大米粒...

【专利技术属性】
技术研发人员：何育群，
申请(专利权)人：深圳市友丽城米业有限公司，
类型：发明
国别省市：