本实用新型专利技术公开了一种芯片承载盘外观检测装置，该检测装置旨在解决现有技术下无法对废料进行收集，废料只能运送出去，不能很好地储存起来，造成了不必要的经济损失的技术问题。该检测装置包括检测台、设置于所述检测台上侧用于输送物料的输送模块、设置于所述输送模块上侧用于外观检测的检测模块、设置于所述检测台内侧用于回收废料的回收模块；所述检测模块右侧设有用于移送废料的转运模块，所述输送模块前侧设有用于防掉落的挡框，所述挡框左侧设有用于驱动的第一电机。该检测装置通过回收模块的设置，可以对不合格的残次品进行收集，将其储存起来，以便后续再次加工使用，可以避免材料的浪费，减少了不必要的经济损失。减少了不必要的经济损失。减少了不必要的经济损失。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片承载盘外观检测装置
[0001]本技术属于芯片承载盘外观检测
，具体涉及一种芯片承载盘外观检测装置。
技术介绍
[0002]芯片是一种将电路小型化的电子元器件，把一个电路中所需要用到的晶体管、电阻、电容等用布线的方式连接在一起，通常芯片都会用专门的芯片承载盘来放置，是芯片中的一部分。
[0003]目前，专利号为CN202021607774.8的技术公开了一种芯片电容器检测设备，包括用于芯片电容器上料的上料装置，用于检测芯片电容器电性能的电性能检测装置，用于收纳电性能不良品的电性能不良品料盘，用于测试芯片电容器外观的外观检测装置，用于收纳传送检测合格的芯片电容器的合格品下料装置，用于收纳外观不良品的外观不良料盘，用于吸附抓取芯片电容器，并转动变换芯片电容器的工位的转盘传送装置；其中，上料装置、电性能检测装置、电性能不良品料盘、外观检测装置、合格品下料装置、外观不良料盘成圆形依次排列在转盘传送装置的外侧。但是该申请方案无法对废料进行收集，废料只能运送出去，不能很好地储存起来，造成了不必要的经济损失。
[0004]因此，针对上述检测装置无法对废料进行收集的问题，亟需得到解决，以改善检测装置的使用场景。
技术实现思路
[0005]（1）要解决的技术问题
[0006]针对现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种芯片承载盘外观检测装置，该检测装置旨在解决现有技术下无法对废料进行收集，废料只能运送出去，不能很好地储存起来，造成了不必要的经济损失的技术问题。
[0007]（2）技术方案
[0008]为了解决上述技术问题，本技术提供了这样一种芯片承载盘外观检测装置，该检测装置包括检测台、设置于所述检测台上侧用于输送物料的输送模块、设置于所述输送模块上侧用于外观检测的检测模块、设置于所述检测台内侧用于回收废料的回收模块；其中，所述检测模块右侧设有用于移送废料的转运模块，所述输送模块前侧设有用于防掉落的挡框，所述挡框左侧设有用于驱动的第一电机，所述检测模块内侧设有用于外观检测的摄像头，所述转运模块内侧设有用于吸附物料的吸盘。
[0009]使用本技术方案的检测装置时，先将输送模块、检测模块和转运模块打开，再把需要进行外观检测的芯片承载盘依次挨个放置在输送模块上，输送模块带动芯片承载盘向右移动，当移动至检测模块下侧的摄像头拍摄的位置时，摄像头对其外观进行分析检测，将检测结果传送给转运模块，当芯片移至转运模块的时候，如果是残次品，转运模块启动，其下侧的吸盘向芯片承载盘靠近，将其吸附在转运模块中，然后通过转运模块移送到挡框处落
下，残次品顺着挡框落至检测台内侧的回收模块进行收集和储存，于此同时，合格的产品顺着输送模块一直往右移，进入下一道工序，当残次品数量到达一定程度后，可以将残次品取出；通过回收模块的设置，可以对不合格的残次品进行收集，将其储存起来，以便后续再次加工使用，可以避免材料的浪费，减少了不必要的经济损失，整个装置外观整洁，检测、筛选出料都井然有序，而且可以连续性地进行外观检测，使用起来更加地省时省力，通过挡框的设置，可以防止物料落到其他地方，从而减少了对废料的整理工序，使用起来更加方便。
[0010]优选地，所述输送模块包括固定板，所述固定板内侧设有用于输送物流的输送带，所述输送带外侧开设有用于放置物料的放置槽。通过放置槽的设置，可以将芯片承载盘的位置牢牢固定住，避免其在输送的过程中掉落或发生偏移，使得检测结果能够更加精准。
[0011]进一步的，所述检测模块包括第一固定架，所述第一固定架内侧设有用于支撑的支撑杆，所述支撑杆外侧设有用于固定所述摄像头的卡块，所述卡块上侧设有用于拆卸的螺栓。通过螺栓和卡块的设置，可以在摄像头损坏的情况下将其拆卸下来，方便对摄像头进行更换，以便检测工作不会受到影响。
[0012]更进一步的，所述转运模块包括第二固定架，所述第二固定架下侧设有用于限位的轨道，所述第二固定架上侧设有用于移动的第二电机，所述第二电机的输出轴设有用于转动的齿轮。第二电机转动带动齿轮转动，使得齿轮能够在轨道中前后移动，可以改变第二电机以及其下侧吸盘的前后位置，将残次品输送到挡框处落下。
[0013]更进一步的，所述齿轮设置在所述轨道内侧，且齿轮与所述轨道之间为啮合连接，所述齿轮下侧设有用于升降的升降气缸，所述升降气缸下侧设有用于固定所述吸盘的横板。通过升降气缸的设置，可以改变横板以及其下侧吸盘的高度，从而对其下侧的芯片承载盘进行吸附。
[0014]更进一步的，所述回收模块包括出料管，所述出料管下侧设有用于收集废料的收集箱，所述收集箱下侧设有用于缓冲作用力的弹性元件。通过弹性元件的设置，可以缓冲物料的重力作用，避免不合格的芯片承载盘在下落过程中摔坏。
[0015]更进一步的，所述检测台前侧设有用于控制的控制面板，所述检测台前侧设有用于开合的箱门。通过箱门的设置，可以方便将收集到的残次品拿出来，以便后续回收使用。
[0016]（3）有益效果
[0017]与现有技术相比，本技术的有益效果在于：本技术的装置通过回收模块的设置，可以对不合格的残次品进行收集，将其储存起来，以便后续再次加工使用，可以避免材料的浪费，减少了不必要的经济损失，整个装置外观整洁，检测、筛选出料都井然有序，而且可以连续性地进行外观检测，使用起来更加地省时省力，通过挡框的设置，可以防止物料落到其他地方，从而减少了对废料的整理工序，使用起来更加方便。
附图说明
[0018]图1为本技术装置一种具体实施方式的结构示意图；
[0019]图2为本技术装置一种具体实施方式的剖视图；
[0020]图3为本技术装置一种具体实施方式中检测模块的结构示意图；
[0021]图4为本技术装置一种具体实施方式中转运模块的结构示意图。
[0022]附图中的标记为：1、检测台；2、输送模块；3、检测模块；4、转运模块；5、回收模块；
6、控制面板；7、箱门；8、第一电机；9、摄像头；10、吸盘；11、挡框；12、固定板；13、输送带；14、放置槽；15、第一固定架；16、支撑杆；17、卡块；18、螺栓；19、第二固定架；20、第二电机；21、齿轮；22、轨道；23、升降气缸；24、横板；25、出料管；26、弹性元件；27、收集箱。
具体实施方式
[0023]本具体实施方式是芯片承载盘外观检测装置，其结构示意图如图1所示，其剖视图如图2所示，该检测装置包括检测台1、设置于检测台1上侧用于输送物料的输送模块2、设置于输送模块2上侧用于外观检测的检测模块3、设置于检测台1内侧用于回收废料的回收模块5；检测模块3右侧设有用于移送废料的转运模块4，输送模块2前侧设有用于防掉落的挡框11，挡框11左侧设有用于驱动的第一电机8，检测模块3内侧设有用于外观检测的摄像头9，转运模块4内侧设有用于吸附物料的吸盘10，检测台1前侧设有用于控制的控制面板6，检测台1前侧设有用于开合的箱门7。<本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片承载盘外观检测装置，该检测装置包括检测台、设置于所述检测台上侧用于输送物料的输送模块、设置于所述输送模块上侧用于外观检测的检测模块、设置于所述检测台内侧用于回收废料的回收模块；其特征在于，所述检测模块右侧设有用于移送废料的转运模块，所述输送模块前侧设有用于防掉落的挡框，所述挡框左侧设有用于驱动的第一电机，所述检测模块内侧设有用于外观检测的摄像头，所述转运模块内侧设有用于吸附物料的吸盘。2.根据权利要求1所述的一种芯片承载盘外观检测装置，其特征在于，所述输送模块包括固定板，所述固定板内侧设有用于输送物流的输送带，所述输送带外侧开设有用于放置物料的放置槽。3.根据权利要求2所述的一种芯片承载盘外观检测装置，其特征在于，所述检测模块包括第一固定架，所述第一固定架内侧设有用于支撑的支撑杆，所述支撑杆外侧设有用于固定所述摄像头的卡块，所述卡块上侧...
【专利技术属性】
技术研发人员：华波琴，朱俊，
申请(专利权)人：苏州原津光电有限公司，
类型：新型
国别省市：
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