信号测量装置及系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种信号测量装置及系统，涉及ATE测试技术领域，包括依次电连接的控制器、高输入摆幅比较器和衰减网络组件，高输入摆幅比较器包括多个比较通道，衰减网络组件包括多个衰减网络电路；控制器用于配置每个比较通道的比较电平；衰减网络电路用于接收信号源发送的原始待测信号，对原始待测信号进行衰减处理得到目标待测信号；比较通道用于利用比较电平对目标待测信号进行整形处理得到多对差分方波信号；控制器还用于对至少一对目标差分方波信号进行计算处理得到目标待测信号对应的信号测量结果。本实用新型专利技术可以有效降低信号测量装置的结构复杂度和成本，而且可以实现更多样化和高精度的信号测量功能。更多样化和高精度的信号测量功能。更多样化和高精度的信号测量功能。

【技术实现步骤摘要】
信号测量装置及系统


[0001]本技术涉及ATE(Automatic Test Equipment，自动化测试设备)测试
，尤其是涉及一种信号测量装置及系统。

技术介绍

[0002]目前在ATE测试领域，针对高速高压信号的测试主要使用的衰减匹配网络以1M阻抗匹配为主，使用DAC(数模转换器)加电压比较器的架构进行信号触发，特定输入的待测信号整形处理成方波信号，并通过FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)对方波信号进行计算得到测量结果，测量结果将传输至上位机进行存储。仅采用1M欧姆阻抗匹配的衰减网络容易因匹配失调而信号失真，另外，由于在实际应用中普通电压比较器的输入摆幅较小，且需要额外部署外部基准源(诸如DAC)作为比较电平，从而增加了整体架构的复杂度和成本，此外，采用上述架构的测量设备还存在功能较为单一的问题。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种信号测量装置及系统，可以有效降低信号测量装置的结构复杂度和成本，而且可以实现更多样化和高精度的信号测量功能。
[0004]第一方面，本技术实施例提供了一种信号测量装置，包括依次电连接的控制器、高输入摆幅比较器和衰减网络组件，所述高输入摆幅比较器包括多个比较通道，所述衰减网络组件包括多个衰减网络电路，所述比较通道与所述衰减网络电路一一对应；其中，所述控制器用于配置每个所述比较通道的比较电平；每个所述衰减网络电路均连接有信号源，所述衰减网络电路用于接收所述信号源发送的原始待测信号，对所述原始待测信号进行衰减处理得到目标待测信号；所述比较通道用于接收所述衰减网络电路发送的所述目标待测信号，利用所述比较电平对所述目标待测信号进行整形处理得到多对差分方波信号；所述控制器还用于接收每个所述比较通道发送的多对所述差分方波信号，对多对所述差分方波信号中的至少一对目标差分方波信号进行计算处理，得到所述目标待测信号对应的信号测量结果。
[0005]在一种实施方式中，所述衰减网络电路包括多个衰减网络子电路和多个第一开关电路，所述衰减网络子电路经所述第一开关电路与所述信号源电连接；其中，所述第一开关电路用于在信号源类型与所述衰减网络子电路匹配、且所述信号源输出的所述原始待测信号的信号幅值高于幅值阈值时闭合；所述衰减网络子电路用于在所述第一开关电路闭合时接收所述信号源发送的原始待测信号，并对所述原始待测信号进行衰减处理得到目标待测信号。
[0006]在一种实施方式中，所述衰减网络电路包括1M欧姆衰减网络子电路和50欧姆衰减网络子电路。
[0007]在一种实施方式中，所述高输入摆幅比较器的每个所述比较通道均经第二开关电路与所述信号源电连接；其中，所述第二开关电路用于在所述信号源输出的所述原始待测
信号的信号幅值低于幅值阈值时闭合；所述比较通道还用于在所述第二开关电路闭合时接收所述信号源发送的原始待测信号，并利用所述比较电平对所述原始待测信号进行整形处理得到差分方波信号。
[0008]在一种实施方式中，每个所述比较通道输出的所述差分方波信号的数量均为两对。
[0009]在一种实施方式中，所述控制器包括上位控制端和下位控制端，所述下位控制端分别与所述上位控制端和所述高输入摆幅比较器电连接；其中，所述上位控制端用于配置每个所述比较通道的比较电平；所述下位控制端用于接收每个所述比较通道的比较电平，将每个所述比较通道的所述比较电平以数据编码形式配置至每个所述比较通道。
[0010]在一种实施方式中，所述下位控制端包括FPGA控制端。
[0011]在一种实施方式中，所述高输入摆幅比较器包括高速PE比较器。
[0012]在一种实施方式中，所述衰减网络电路的数量为两个，所述比较通道的数量为两个。
[0013]第二方面，本技术实施例还提供一种信号测量系统，包括上述第一方面提供的任一项所述的信号测量装置，以及与所述信号测量装置电连接的多个信号源。
[0014]本技术实施例提供的一种信号测量装置及系统，包括依次电连接的控制器、高输入摆幅比较器和衰减网络组件，高输入摆幅比较器包括多个比较通道，衰减网络组件包括多个衰减网络电路，比较通道与衰减网络电路一一对应。控制器用于配置每个比较通道的比较电平；每个衰减网络电路均连接有信号源，衰减网络电路用于接收信号源发送的原始待测信号，对原始待测信号进行衰减处理得到目标待测信号；比较通道用于接收衰减网络电路发送的目标待测信号，利用比较电平对目标待测信号进行整形处理得到多对差分方波信号；控制器还用于接收每个比较通道发送的多对差分方波信号，对至少一对目标差分方波信号进行计算处理，得到目标待测信号对应的信号测量结果。上述信号测量装置采用拥有宽摆幅、多比较通道、可配置比较电平的高输入摆幅比较器，无需额外部署外部基准源作为比较电平，从而显著降低了信号测量装置的结构复杂度和成本，而且利用多比较通道对目标待测信号进行整形处理可以实现更多样化和高精度的信号测量功能。
[0015]本技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
[0016]为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本技术实施例提供的一种ATE设备信号测试架构图；
[0019]图2为本技术实施例提供的一种电压比较器的原理示意图；
[0020]图3为本技术实施例提供的一种信号测量装置的结构示意图；
[0021]图4为本技术实施例提供的另一种信号测量装置的结构示意图；
[0022]图5为本技术实施例提供的一种50欧姆衰减网络子电路的电路图；
[0023]图6为本技术实施例提供的一种高速PE比较器的原理示意图；
[0024]图7为本技术实施例提供的一种信号测量系统的结构示意图。
具体实施方式
[0025]下面将结合实施例对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]目前，相关技术提供的通常采用衰减匹配网络和DAC加电压比较器的架构，诸如图1所示的一种ATE设备信号测试架构图，信号源的输入信号经1M阻抗分压网络后输入至本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信号测量装置，其特征在于，包括依次电连接的控制器、高输入摆幅比较器和衰减网络组件，所述高输入摆幅比较器包括多个比较通道，所述衰减网络组件包括多个衰减网络电路，所述比较通道与所述衰减网络电路一一对应；其中，所述控制器用于配置每个所述比较通道的比较电平；每个所述衰减网络电路均连接有信号源，所述衰减网络电路用于接收所述信号源发送的原始待测信号，对所述原始待测信号进行衰减处理得到目标待测信号；所述比较通道用于接收所述衰减网络电路发送的所述目标待测信号，利用所述比较电平对所述目标待测信号进行整形处理得到多对差分方波信号；所述控制器还用于接收每个所述比较通道发送的多对所述差分方波信号，对多对所述差分方波信号中的至少一对目标差分方波信号进行计算处理，得到所述目标待测信号对应的信号测量结果。2.根据权利要求1所述的信号测量装置，其特征在于，所述衰减网络电路包括多个衰减网络子电路和多个第一开关电路，所述衰减网络子电路经所述第一开关电路与所述信号源电连接；其中，所述第一开关电路用于在信号源类型与所述衰减网络子电路匹配、且所述信号源输出的所述原始待测信号的信号幅值高于幅值阈值时闭合；所述衰减网络子电路用于在所述第一开关电路闭合时接收所述信号源发送的原始待测信号，并对所述原始待测信号进行衰减处理得到目标待测信号。3.根据权利要求2所述的信号测量装置，其特征在于，所述衰减网络电路包括1M欧姆衰减网络子电路和50欧姆衰减网络子电路。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建明，朱灿，徐炜，陈长正，宋阿奎，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：