传感器校准方法、电子设备、介质及系统技术方案

本申请提供了一种传感器校准方法、电子设备、介质及系统，方法包括，获取测量第一参数得到的第一序列；获取测量所述第一参数得到的第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐；修正所述第一序列。该方法无需拆卸传感器，不会影响物联网中的设备的工作状态，并且无需在传感器中增设校准元件，能够降低硬件成本。能够降低硬件成本。能够降低硬件成本。

【技术实现步骤摘要】
传感器校准方法、电子设备、介质及系统


[0001]本专利技术涉及无线传感器领域，特别涉及一种传感器校准方法、电子设备、介质及系统。

技术介绍

[0002]在工业设备物联网中，通常在工业设备上部署传感器来实时测量数据，以实现状态监控和故障诊断。为了保证传感器的测量精度，需要对传感器进行定期校准。
[0003]一般地，通常采用拆卸传感器并将传感器送至校准实验室，或者在传感器中加入激励单元来实现定期校准。然而，拆卸传感器回实验室进行校准的方法不能很好地满足工业场景，当设备需要连续工作时，拆卸传感器需要在设备停机后执行，并且在传感器的校准过程中，设备处于无监控的状态，因此拆卸传感器回实验室进行校准的方法时效性较低并会影响对设备的状态监控。而在传感器中加入激励单元的方法会增加额外的硬件成本。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种传感器校准方法、电子设备、介质及系统，无需拆卸传感器，并可以在不增加额外成本的前提下实现对传感器的在线校准。
[0005]本申请的第一方面公开了一种传感器校准方法，所述电路包括：获取测量第一参数得到的第一序列；获取测量所述第一参数得到的第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐；修正所述第一序列。
[0006]在上述第一方面的一种可能的实现中，修正所述第一序列包括，将所述第一序列按照第一步进进行迭代得到第三序列，计算所述第三序列和对齐后的所述第二序列的第一相似度；将所述第三序列按照第二步进进行迭代得到第四序列，计算所述第四序列和对齐后的所述第二序列的第二相似度，所述第二步进增量为所述第一步进增量加一个步进增量；若所述第一相似度小于所述第二相似度，则所述第三序列为校准后的所述第一序列。
[0007]在上述第一方面的一种可能的实现中，所述第一序列为Q＝q1,q2,...,q
n
，n为所述第一序列中的数据点个数，所述迭代指将Qt
‑
1更新为Qt＝q1+tμ,q
2+
tμ,...,q
n+
tμ，其中t为迭代的步数，μ为步进增量。
[0008]在上述第一方面的一种可能的实现中，所述第二序列是利用巡检设备在指定的时间内测量得出，所述巡检设备定期校准。
[0009]在上述第一方面的一种可能的实现中，所述传感器在所述第一时间内的采样频率为大于0.2次/秒。
[0010]在上述第一方面的一种可能的实现中，所述第一参数为以下的一种或多种：温度、压力、PH。
[0011]本申请的第二方面公开了一种电子设备，所述设备包括存储有计算机可执行指令的存储器和处理器；当所述指令被所述处理器执行时，使得所述设备实施根据本申请第一
方面的所述的传感器校准方法。
[0012]本申请的第三方面公开了一种计算机可读介质，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现本申请第一方面的所述的传感器校准方法。
[0013]本申请的第四方面公开了一种传感器校准系统，所述系统包括，传感器，巡检设备和耦接到所述传感器和所述巡检设备的处理器，其中所述传感器测量第一参数以得到第一序列；所述巡检设备测量所述第一参数以得到第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；所述处理器采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐并修正所述第一序列。
[0014]在上述第四方面的一种可能的实现中，所述传感器校准系统还包括网关，所述网关汇总所述传感器的数据并修正所述第一序列。
[0015]本申请提供的传感器校准方法和装置，在传感器实时测试参数的同时，利用巡检设备间隔地测试参数，再通过DTW算法将这两者测试的序列对齐，根据对齐后的两个序列之间的差异来校准传感器。这种方法无需拆卸传感器，不会影响物联网中的设备的工作状态，并且无需在传感器中增设校准元件，能够降低硬件成本。
附图说明
[0016]图1为相关技术中的物联网的数据处理系统的结构示意图；
[0017]图2为本申请一个实施例的传感器校准方法的流程示意图；
[0018]图3为本申请一个实施例的第一序列和第二序列的示意图；
[0019]图4为本申请一个实施例的利用DTW计算第一序列和第二序列相似度的示意图；
[0020]图5为本申请一个实施例的将第一序列进行迭代的流程示意图；
[0021]图6为本申请一个实施例的经过校准的第一序列和第二序列的示意图；
[0022]图7为本申请一个实施例的传感器校准系统的结构示意图；
[0023]图8为本申请一个实施例的电子设备的结构示意图；
具体实施方式
[0024]下面结合具体实施例和附图对本申请做进一步说明。可以理解的是，本公开的说明性实施例包括但不限于传感器校准方法、电子设备、介质及系统，此处描述的具体实施例仅仅是为了解释本申请，而非对本申请的限定。此外，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部的结构或过程。
[0025]以下由特定的具体实施例说明本申请的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本申请的其他优点及功效。虽然本申请的描述将结合较佳实施例一起介绍，但这并不代表此专利技术的特征仅限于该实施方式。恰恰相反，结合实施方式作专利技术介绍的目的是为了覆盖基于本申请的权利要求而有可能延伸出的其它选择或改造。为了提供对本申请的深度了解，以下描述中将包含许多具体的细节。本申请也可以不使用这些细节实施。此外，为了避免混乱或模糊本申请的重点，有些具体细节将在描述中被省略。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0026]此外，各种操作将以最有助于理解说明性实施例的方式被描述为多个离散操作；
然而，描述的顺序不应被解释为暗示这些操作必须依赖于顺序。特别是，这些操作不需要按呈现顺序执行。
[0027]除非上下文另有规定，否则术语“包含”，“具有”和“包括”是同义词。短语“A/B”表示“A或B”。短语“A和/或B”表示“(A和B)或者(A或B)”。
[0028]如这里所使用的，术语“模块”或“单元”可以指代、是或者包括：专用集成电路(ASIC)、电子电路、执行一个或多个软件或固件程序的(共享、专用或组)处理器和/或存储器、组合逻辑电路和/或提供所描述的功能的其他合适的组件。
[0029]在一些情况下，所公开的实施例可以以硬件、固件、软件或其任何组合来实现。所公开的实施例还可以被实现为由一个或多个暂时或非暂时性机器可读(例如，计算机可读)存储介质承载或存储在其上的指令，其可以由一个或多个处理器读取和执行。例如，指令可以通过网络或通过其他计算机可读介质的途径分发。因此，机器可读介质可以包括用于以机器(例如，计算机)可读的形式存储或传输信息的任何机制、但不限于、软盘、光盘、光盘、只读存储器(CD
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种传感器校准方法，用于电子设备，其特征在于，所述方法包括，获取测量第一参数得到的第一序列；获取测量所述第一参数得到的第二序列，所述第二序列的采样频率低于所述第一序列的采样频率；采用动态时间规整算法将所述第二序列调整至和所述第一序列对齐；修正所述第一序列。2.根据权利要求1所述的传感器校准方法，其特征在于，修正所述第一序列包括，将所述第一序列按照第一步进进行迭代得到第三序列，计算所述第三序列和对齐后的所述第二序列的第一相似度；将所述第三序列按照第二步进进行迭代得到第四序列，计算所述第四序列和对齐后的所述第二序列的第二相似度，所述第二步进增量为所述第一步进增量加一个步进增量；若所述第一相似度小于所述第二相似度，则所述第三序列为校准后的所述第一序列。3.根据权利要求2所述的传感器校准方法，其特征在于，所述第一序列为Q＝q1,q2,...,q
n
，n为所述第一序列中的数据点个数，所述迭代指将Qt
‑
1更新为Qt＝q1+tμ,q2+tμ,...,q
n
+tμ，其中t为迭代的步数，μ为步进增量。4.根据权利要求1所述的传感器校准方法，其特征在于，所述第二序列是利用巡检设备在指定...

【专利技术属性】
技术研发人员：李知周，
申请(专利权)人：震坤行工业超市上海有限公司，
类型：发明
国别省市：