测试系统配置适配器系统和方法技术方案

本申请提供了测试系统配置适配器系统和方法。在一个实施例中，测试系统配置适配器包括测试器侧插接口、分线引脚和被测器件侧槽。测试器侧插接口被配置为与测试设备插接口耦合。分线引脚被配置为与补充设备耦合。被测器件侧槽被配置为与测试器侧插接口、分线引脚和被测器件耦合。测试系统配置适配器被配置为在被测器件保持耦合到被测器件侧槽的情况下使能耦合到测试设备插接口的测试设备和耦合到分线引脚的补充设备之间的通信。在一个示例性实现方式中，分线引脚和测试器侧插接口选择性地耦合到被测器件侧槽。测试系统配置适配器可以包括开关，该开关被配置为对被测器件侧槽与测试器侧插接口和分线引脚的耦合的一部分进行切换。行切换。行切换。

【技术实现步骤摘要】
测试系统配置适配器系统和方法


[0001]本专利技术涉及电子测试领域。

技术介绍

[0002]电子系统和设备对现代社会的进步做出了重大贡献，并促进了在各种商业、科学、教育和娱乐应用中分析和交流信息的生产率的提高和成本的降低。这些电子系统和设备通常经过测试以确保适当运行。虽然对系统和设备的测试取得了重大进展，但传统方法通常很昂贵，并且经常在吞吐量和便利性方面存在限制。
[0003]被测器件(DUT)经常很复杂，需要不同类型的复杂测试过程才能获得可靠的结果。通常，测试旨在确定被测器件是否正在适当地执行和运作。此外，在测试期间，许多其他类型的补充(supplemental)操作经常是有用的和期望的。补充操作可以包括附加信息收集、被测器件配置操作等。
[0004]传统的测试方法通常需要各自不同的独立系统来执行功能测试和补充操作。将DUT加载到单独/专用的补充设备上，进行补充操作，然后将DUT从单独的补充设备中取出，加载到不同的单独功能测试器上进行功能测试。如果需要额外的补充操作，DUT通常必须在功能测试器和单独的补充设备之间来回移动。将DUT加载/卸载到单独的补充设备和功能测试器中会产生大量与测试相关的成本。
[0005]传统测试系统通常包括大型受控环境室，其中机架包含许多载板托盘中的被测器件(DUT)。载板托盘被手动填充被测器件，插入环境室并手动连接到测试器电子设备。这个过程可能是劳动密集型和繁琐的。在能添加或移除被测器件之前，通常必须先手动移除整个托盘。
[0006]传统系统在多种不同类型的测试和补充操作方面通常效率不高，因为：1)单独的不同系统的构建和操作成本很高；和2)在单独的测试系统之间对被测器件进行物理操纵(例如，插入、移除等)是劳动密集型的。工作量很大，因为载板通常需要从环境室中手动移除和更换，手动填充大量被测器件，然后手动重新耦合到测试器切片。传统的测试头和炉箱外壳访问限制以及测试切片和载板耦合的典型硬接线性质都增加了任务的难度。
[0007]传统测试方法的其他方面也经常对生产率和吞吐量产生不利影响。为了将被测器件从一个单独的测试系统物理移动到另一个测试系统，整个传统的测试器系统(例如，测试头、炉箱等)通常需要被关闭并打开环境室或炉箱(失去对环境条件的维持)。这些繁琐的传统被测器件方法通常会中断所有被测器件的测试操作，并且通常不允许在物理操作其他设备时灵活或持续地测试某些设备。由于与传统方法执行不同类型测试(例如，补充操作、功能测试、性能测试等)相关的成本和困难，长期以来一直需要更便宜且方便的生产电子设备测试和补充操作方法。

技术实现思路

[0008]所提出的实施例促进了测试系统中不同类型的测试过程的高效且有效的灵活实
现方式。在一个实施例中，测试系统配置适配器包括：测试器侧插接口(socket)、分线(break up)引脚和被测器件侧槽。测试器侧插接口被配置为与测试设备插接口耦合。分线引脚被配置为与补充设备耦合。被测器件侧槽被配置为与测试器侧插接口、分线引脚和被测器件耦合。测试系统配置适配器被配置为使能被测器件与耦合到测试设备插接口的测试设备和耦合到分线引脚的补充设备之间的通信，并且在通信期间，被测器件保持耦合到被测器件侧槽。在一个示例性实现方式中，分线引脚和测试器侧插接口选择性地耦合到被测器件侧槽。测试系统配置适配器可以包括开关，该开关被配置为对被测器件侧槽与测试器侧插接口和分线引脚的耦合的一部分进行切换。测试系统配置适配器还可以包括控制器，该控制器被配置为指导针对被测器件在耦合补充操作和耦合功能测试之间的切换和选择，其中控制器专用于指导针对DUT的选择。功能测试可以包括扫描测试。在一个实施例中，补充设备被包括在测试设备中。从被测器件的角度来看，可以在功能测试的暂停期间对被测器件执行补充操作。
[0009]在一个实施例中，一种测试方法包括：选择第一类型的过程并对被测器件执行第一类型的过程，选择第二类型的过程并对被测器件执行第二类型的规程，其中在贯穿相应选择第一类型的测试过程、执行第一类型的测试过程、选择第二类型的测试、和执行第二类型的测试过程的整个过程中，被测器件保持耦合到测试系统。第一类型的过程可以是功能测试，第二类型的过程可以是补充操作。在一个实施例中，在为第二被测器件选择第一类型的测试过程、执行第一类型的测试过程、选择第二类型的测试和执行第二类型的测试过程期间，第一被测器件可以选择性地与测试系统解耦。
[0010]在一个实施例中，在贯穿相应为被测器件选择第一类型的测试过程、执行第一类型的测试过程、选择第二类型的测试、和执行第二类型的测试过程的整个过程中，该被测器件保持耦合到测试系统，并且在对其他被测器件进行这些活动期间，该被测器件可以被有选择地移除。从被测器件的角度来看，可以在功能测试的暂停期间执行补充操作。选择第一类型的过程、执行第一类型的过程、选择第二类型的过程和执行第二类型的过程可以是自动的。在一个示例性实现方式中，选择第一类型的过程和选择第二类型的过程基于各自的选择触发。选择第一类型的过程、执行第一类型的过程、选择第二类型的过程和执行第二类型的测试过程可以迭代地进行。
[0011]在一个实施例中，测试方法包括切换到另一个被测器件。在贯穿相应为另一个被测器件选择第一类型的测试过程、对另一个被测器件执行第一类型的测试过程、为另一个被测器件选择第二类型的测试、和对另一个被测器件执行第二类型的测试过程的整个过程中，该另一个被测器件可以保持耦合到测试系统。在一个示例性实现方式中，多个被测器件可以在贯穿相应选择第一类型的测试过程、执行第一类型的测试过程、选择第二类型的测试、和执行第二类型的测试过程的整个过程中保持耦合到测试系统。主要功能测试可以包括利用自动测试模式生成(ATPG)序列的扫描测试过程。
附图说明
[0012]包含在本说明书中并构成本说明书一部分的附图被包括用于示例性说明本专利技术的原理，并不旨在将本专利技术限制于其中所示的特定实现方式。除非另有特别说明，否则附图不是按比例绘制的。
[0013]图1是根据一个实施例的示例性测试环境或系统的框图。
[0014]图2是根据一个实施例的示例性测试系统的框图。
[0015]图3是根据一个实施例的示例性测试系统的框图。
[0016]图4是根据一个实施例的示例性测试系统的框图。
[0017]图5是根据一个实施例的示例性测试系统的框图。
[0018]图6是根据一个实施例的测试方法的框图。
[0019]图7是根据一个实施例的示例性测试系统的框图。
[0020]图8是根据一个实施例的另一示例性测试系统的框图。
具体实施方式
[0021]现在将详细参考本专利技术的优选实施例，其示例在附图中示出。虽然将结合优选实施例描述本专利技术，但应当理解，它们并不旨在将本专利技术限制于这些实施例。相反，本专利技术旨在覆盖可包括在由所附权利要求限定的本专利技术的精神和范围内的替代、修改和等同物。此外，在本专利技术的以下详细描述中，阐述了许多具体细节以提供对本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试系统配置适配器，包括：测试器侧插接口，被配置为与测试设备插接口耦合；分线引脚，被配置为与补充设备耦合；和被测器件侧槽，被配置为与所述测试器侧插接口、所述分线引脚和被测器件耦合；其中，所述测试系统配置适配器被配置为使能所述被测器件与耦合到所述测试设备插接口的测试设备和耦合到所述分线引脚的所述补充设备之间的通信，其中在所述通信期间，所述被测器件保持耦合到所述被测器件侧槽。2.如权利要求1所述的测试系统配置适配器，其中，所述分线引脚和所述测试器侧插接口被选择性地耦合到所述被测器件侧槽。3.如权利要求1所述的测试系统配置适配器，还包括开关，该开关被配置为对所述被测器件侧槽与所述测试器侧插接口和所述分线引脚的耦合的一部分进行切换。4.如权利要求3所述的测试系统配置适配器，还包括控制器，该控制器被配置为指导针对所述被测器件在耦合补充操作和耦合主要功能测试之间的切换和选择。5.如权利要求4所述的测试系统，其中所述主要功能测试包括扫描测试。6.如权利要求1所述的测试系统，其中所述补充设备被包括在所述测试设备中。7.如权利要求1所述的测试系统，其中从所述被测器件的角度来看，在所述功能测试的暂停期间，所述被测器件被执行补充操作。8.一种测试方法，包括：选择第一类型的过程，其中所述第一类型的过程包括功能测试；对被测器件执行所述第一类型的测试过程；选择第二类型的过程，其中所述第二类型的过程包括补充操作；和对所述被测器件执行所述第二类型的测试过程，其中，在贯穿相应选择第一类型的测试过程、执行所述第一类型的测试过程、选择第二类型的测试和执行所述第二类型的测试过程的整个过程中，所述被测器件保持耦合到测试系统。9.如权利要求8所述的测试方法，其中，从所述被测器件的角度来看，所述补充操作在所述功能测试的暂停期间被执行。10.如权利要求8所述的测试方法，其中选择所述第一类型的过程、执行所述第一类型的过程、选择所述第二类型的过程和执行所述第二类型的过程是自动的。11.如权利要求8所述的测试方法，其中选择所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：埃迪，
申请(专利权)人：爱德万测试公司，
类型：发明
国别省市：