一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置制造方法及图纸

技术编号:33422544 阅读:29 留言:0更新日期:2022-05-19 00:14
本实用新型专利技术涉及一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置,包括用于照射待测隔膜表面的光源发射装置和与光源发射装置的照射点对应的灰度相机,光源发射装置与相机沿隔膜的输送方向分布,光源发射装置和灰度相机均设于隔膜的同一侧,并且光源发射装置和相机分别位于照射点处的法线两侧,灰度相机连接有图像处理器。本实用新型专利技术通过将光源发射装置和相机设置在隔膜的同一侧,并且光源发射装置和相机分别位于照射点处的法线两侧,利用不同介质对光的反射量不同,漏涂区域和正常涂覆区域所形成的图像灰度具有显著差异,从而根据灰度差异即可检测出漏涂现象。出漏涂现象。出漏涂现象。

【技术实现步骤摘要】
一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置


[0001]本技术涉及隔膜生产
,具体涉及一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置。

技术介绍

[0002]在锂电池隔膜的生产过程中,通常需要用浆料涂覆到隔膜的表面以增加其性能,但由于一些涂覆技术的局限性,隔膜在涂覆过程中会出现一些漏涂的不良现象,造成隔膜无法用于锂电池的生产制造,因此需要用涂层检测装置对隔膜进行检测,涂层检测装置主要包括光源发射装置和视觉检测器。
[0003]现有的涂层检测装置中,光源发射装置和视觉检测器采用上下检测方式,检测时光源发射装置照射隔膜的一侧表面,视觉检测器检测照射点另一侧的透光度,透光度高则说明该处漏涂,然而对于一些超薄涂层隔膜,由于超薄涂层透光度高,采用上下检测方式难以检测出超薄涂层隔膜的漏涂现象。

技术实现思路

[0004]本技术针对现有技术存在之缺失,提供一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置,其光源发射装置和相机采用同侧检测方式对照射点的灰度进行检测,从而能够检测出漏涂现象。
[0005]为实现上述目的,本技术采用如下之技术方案:
[0006]一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置,包括用于照射待测隔膜表面的光源发射装置和与光源发射装置的照射点对应的相机,所述光源发射装置和相机均设于隔膜的同一侧,并且光源发射装置和相机分别位于照射点处的法线两侧。
[0007]作为一种优选方案,所述相机连接有图像处理器。
[0008]作为一种优选方案,所述相机为灰度相机。
[0009]作为一种优选方案,所述相机与照射点的距离为370mm~960mm。
[0010]作为一种优选方案,所述光源发射装置与相机沿隔膜的输送方向分布。
[0011]作为一种优选方案,所述光源发射装置的发出光线与隔膜表面之间形成的夹角为20
°
~70
°

[0012]作为一种优选方案,所述光源发射装置与照射点的距离为50mm~ 100mm。
[0013]本技术与现有技术相比具有明显的优点和有益效果,具体而言,通过将光源发射装置和相机设置在隔膜的同一侧,并且光源发射装置和相机分别位于照射点处的法线两侧,由于不同介质对光的反射量不同,漏涂区域和正常涂覆区域所形成的图像灰度具有显著差异,从而根据灰度差异即可检测出漏涂现象,此外该检测方式也可以用于检测如异物、隔膜褶皱、穿孔等缺陷,实用性高。
[0014]为更清楚地阐述本技术的结构特征、技术手段及其所达到的具体目的和功能,下面结合附图与具体实施例来对本技术作进一步详细说明:
附图说明
[0015]图1是本技术之实施例的工作状态示意图;
[0016]图2是本技术之实施例的另一视角工作状态示意图。
[0017]附图标识说明:
[0018]10

隔膜;11

光源发射装置;12

相机。
具体实施方式
[0019]在本技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的位置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0020]在本技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以视具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0021]如图1

2所示,一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置,包括用于照射待测隔膜10表面的光源发射装置11和与光源发射装置11的照射点对应的相机 12,所述光源发射装置11与相机12沿隔膜10的输送方向分布,所述光源发射装置和相机12均设于隔膜10的同一侧,并且光源发射装置和相机12分别位于照射点处的法线两侧,所述相机12为灰度相机12,所述灰度相机12连接有图像处理器,相机12拍摄照射点形成图像,图像处理器对图像的灰度进行分析处理,由于不同介质对光的反射量不同,漏涂区域和正常涂覆区域所形成的图像灰度具有显著差异,根据灰度差异即可检测出漏涂现象。
[0022]所述光源发射装置11与照射点的距离d1为50mm~100mm,优选为75mm。
[0023]所述相机12与照射点的距离d2为370mm~960mm,优选为600mm。
[0024]所述光源发射装置11的发出光线与隔膜10表面之间形成的夹角θ为 20
°
~70
°
,优选为45
°
mm。
[0025]综上所述,本技术通过将光源发射装置和相机设置在隔膜的同一侧,并且光源发射装置和相机分别位于照射点处的法线两侧,由于不同介质对光的反射量不同,漏涂区域和正常涂覆区域所形成的图像灰度具有显著差异,从而根据灰度差异即可检测出漏涂现象,此外该检测方式也可以用于检测如异物、隔膜褶皱、穿孔等缺陷,实用性高。
[0026]以上所述,仅是本技术的较佳实施例而已,并不用以限制本技术,故凡是依据本技术的技术实际对以上实施例所作的任何修改、等同替换、改进等,均仍属于本技术技术方案的范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置,其特征在于,包括用于照射待测隔膜表面的光源发射装置和与光源发射装置的照射点对应的相机,所述光源发射装置和相机均设于隔膜的同一侧,并且光源发射装置和相机分别位于照射点处的法线两侧。2.根据权利要求1所述的一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置,其特征在于,所述相机连接有图像处理器。3.根据权利要求1或2所述的一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置,其特征在于,所述相机为灰度相机。4.根据权利要求3所述的一种隔膜超薄涂层外观缺陷检测装置,其特征在于,所述相机...

【专利技术属性】
技术研发人员:廖凤鸣李珂廖洪杨闯
申请(专利权)人:东莞市卓高电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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