芯片管脚耦合电压测试系统技术方案

本实用新型专利技术实施例提供一种芯片管脚耦合电压测试系统，属于芯片管脚测试领域。所述芯片管脚耦合电压测试系统应用于有界波电场中电路板特定芯片管脚耦合的电压测量，所述芯片管脚耦合电压测试系统包括：有界波模拟器，用于形成有界波电场；测试支架，设置在所述有界波电场中，用于固定被测设备；射频线缆，沿与所述有界波电场的方向正交的方向走线，用于引出所述被测设备的测试信号；测试装置，连接在所述射频线缆的末端，用于接收所述测试信号。本实用新型专利技术方案避免了进行芯片管脚电压测试时被耦合电压影响的问题，提高了管脚电压测试准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
芯片管脚耦合电压测试系统


[0001]本技术涉及芯片管脚测试领域，具体地涉及一种芯片管脚耦合电压测试系统。

技术介绍

[0002]为了分析电子和电力设备受外界电磁脉冲作用产生的感应电压，需开展设备内部电路板卡上特定芯片管脚的电压。现有的测量系统一般通过示波器和高阻抗高压探头，进行特定芯片管脚电压的测量。探头的使用和示波器的测试环境，直接影响了最终的测试结果，在现有的测试方法中，主要是在有界波电场中，直接将示波器的探头放置在电场中进行测量，示波器的探头通常是没有进行屏蔽的线缆，在测量的过程中，放置于有界波的较强电场空间中。在这种情况下，探头及其线缆会耦合产生较强的电压，众所周知，管脚电压值本身较小，当受到该耦合电压影响时，势必会对结果造成极大的干扰，这就使得测试结果极度不准确。针对测试系统和设备本身在测量过程中，因其对电场耦合而引入的干扰信号而导致的测试结果不准确、不可信的问题。需要创造一种新的芯片管脚耦合电压测试系统。

技术实现思路

[0003]本技术实施例的目的是提供一种芯片管脚耦合电压测试系统，该芯片管脚耦合电压测试系统解决了现有测试方法由于电场耦合引入的干扰信号导致测试结果不准确、不可信的问题。
[0004]为了实现上述目的，本技术实施例提供一种芯片管脚耦合电压测试系统，应用于有界波电场中电路板特定芯片管脚耦合的电压测量，所述芯片管脚耦合电压测试系统包括：有界波模拟器，用于形成有界波电场；测试支架，设置在所述有界波电场中，用于固定被测设备；射频线缆，沿与所述有界波电场的方向正交的方向走线，用于引出所述被测设备的测试信号；测试装置，连接在所述射频线缆的末端，用于接收所述测试信号。
[0005]可选的，所述有界波模拟器包括两个有界波模拟装置，两个有界波模拟装置正对布置，用于在二者正对区域内形成有界波电场。
[0006]可选的，所述测试支架固定在所述两个有界波模拟装置的正对区域内的中心位置。
[0007]可选的，所述测试支架包括多个固定卡槽，用于固定被测设备。
[0008]可选的，所述射频线缆通过测试端子与被测设备的对应管脚连接。
[0009]可选的，所述射频线缆为同轴线缆。
[0010]可选的，所述测试装置包括：测试探头，连接在所述射频线缆的末端，用于接收并转发所述测试信号；示波器，用于显示所述测试信号。
[0011]可选的，所述测试探头为高阻抗高压探头。
[0012]可选的，所述测试装置还包括：射频屏蔽箱，用于存放所述测试探头和所述示波器。
[0013]可选的，所述测试探头和所述示波器通过同轴线转接头通信连接。
[0014]通过上述技术方案，本技术选择屏蔽性能极佳的同轴线，将特定管脚的电压信号引出有界波电场空间，在有界波电场外的电磁屏蔽箱中进行测量，保证测试结构不收耦合电压影响，使得测试结果可信。提高了管脚电压测试准确性。
[0015]本技术实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
[0016]附图是用来提供对本技术实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本技术实施例，但并不构成对本技术实施例的限制。在附图中：
[0017]图1是本技术一种实施方式提供的芯片管脚耦合电压测试系统的系统结构图。
[0018]附图标记说明
[0019]10
‑
有界波模拟器；20
‑
测试支架；30
‑
射频线缆；40
‑
测试装置；50
‑
被测设备；
[0020]401
‑
测试探头；402
‑
示波器；403
‑
射频屏蔽箱。
具体实施方式
[0021]以下结合附图对本技术实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本技术实施例，并不用于限制本技术实施例。
[0022]在本技术实施例中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、左、右”通常是指基于附图所示的方位或位置关系，或者是该技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系。
[0023]术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0024]术语“平行”、“垂直”等并不表示要求部件绝对平行或垂直，而是可以稍微倾斜。如“平行”仅仅是指其方向相对“垂直”而言更加平行，并不是表示该结构一定要完全平行，而是可以稍微倾斜。
[0025]术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平、竖直或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。
[0026]此外，“大致”、“基本”等用语旨在说明相关内容并不是要求绝对的精确，而是可以有一定的偏差。例如：“大致相等”并不仅仅表示绝对的相等，由于实际生产、操作过程中，难以做到绝对的“相等”，一般都存在一定的偏差。因此，除了绝对相等之外，“大致等于”还包括上述的存在一定偏差的情况。以此为例，其他情况下，除非有特别说明，“大致”、“基本”等用语均为与上述类似的含义。
[0027]在本技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，
或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0028]为了分析电子和电力设备受外界电磁脉冲作用产生的感应电压，需开展设备内部电路板卡上特定芯片管脚的电压。现有的测量系统一般通过示波器402和高阻抗高压探头，进行特定芯片管脚电压的测量。其中，探头是介于被测信号和示波器402之间的中间环节，如果信号在探头处就已经失真了，那么示波器402做的再好也没有用。针对电压信号的测量，一种比较常见的场景就是系统在运行，需要使用示波器402探测被测信号的波形情况。在这种场景中，需要考虑示波器402测试系统对被测电路的影响以及测量系统对信号的失真影响。理想的系统测试系统应该是对被测电路没有任何影响，而且对被测信号进行没有任何失真的测量。但是这种理想状况是不可能实现的，因为这个测试系统必定是要汲取一定的电流的。
[0029]可见，探头的使用和示波器402的测试环境，直接影响了最终的测试结果，在现有的测试方法中，主要是在有界波电场中，直接将示波器402的探头放置在电场中进行测量，示波器402的探头通常是没有进行屏蔽的线缆，在测量的过程中，放置于有界波的较强电场空间中。在这种情况下，探头及其线缆会耦合产生较强的电压，众所周知，管脚电压值本身较小，当收到该耦合电压影响时，势必会对结果造本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片管脚耦合电压测试系统，应用于有界波电场中电路板特定芯片管脚耦合的电压测量，其特征在于，所述芯片管脚耦合电压测试系统包括：有界波模拟器，用于形成有界波电场；测试支架，设置在所述有界波电场中，用于固定被测设备；射频线缆，沿与所述有界波电场的方向正交的方向走线，用于引出所述被测设备的测试信号；测试装置，连接在所述射频线缆的末端，用于接收所述测试信号。2.根据权利要求1所述的芯片管脚耦合电压测试系统，其特征在于，所述有界波模拟器包括两个有界波模拟装置，两个有界波模拟装置正对布置，用于在二者正对区域内形成有界波电场。3.根据权利要求2所述的芯片管脚耦合电压测试系统，其特征在于，所述测试支架固定在所述两个有界波模拟装置的正对区域内的中心位置。4.根据权利要求1所述的芯片管脚耦合电压测试系统，其特征在于，所述测试支架包括多个固...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵东艳，王于波，陈燕宁，钟明琛，李杰伟，符荣杰，
申请(专利权)人：北京芯可鉴科技有限公司，
类型：新型
国别省市：