一种数字集成电路测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种数字集成电路测试系统，包括：电路数据获取模块：用于通过预设检测设备实时采集数字集成电路的运行数据；测试仿真模块：用于获取数字集成电路的电路图，并进行仿真测试，确定仿真运行数据；数据分析模块：将所述仿真运行数据和运行数据进行对比，判断是否存在数据偏差；结果反馈模块：用于在存在数据偏差时，判断数据偏差是否合理，当数据偏差超过偏差阈值，对所述运行数据位置进行分析，并确定电路异常，本发明专利技术可以对数字集成电路进行多项测试，并且可以对测试结果进行调取的解决方案，给工作人员作为参考。给工作人员作为参考。给工作人员作为参考。

【技术实现步骤摘要】
一种数字集成电路测试系统


[0001]本专利技术涉及数字集成电路
，特别涉及一种数字集成电路测试系统。

技术介绍

[0002]数字集成电路在机器设备中应用越来越广泛，数字集成电路也从开始只有简单元器件到现在具有越来越多精细微小的元器件，数字集成电路可以实现的功能越多，电路越复杂，同时数字集成电路测试系统需要测试的项目越多，通过数字集成电路测试系统，确保数字集成电路的质量，同时在测试过程中逐步对数字集成电路进行产品升级，
[0003]国内的数字集成电路测试系统能过测试的内容相对较少，如专利文件CN 102540060 A
‑
一种数字集成电路芯片测试系统中，也只是对数字集成电路中的功能测试，部分发达国家具有全面完整的数字集成电路测试系统，所以我国需要进行较为完整的数字集成电路测试还需要引进国外的测试系统，因此，数字集成电路测试系统能过完成、全面对数字集成电路进行测试，是我们需要探究的方向。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种数字集成电路测试系统，用以解决数字集成电路测试系统不能全面、完整对数字集成电路进行测试的情况。
[0005]一种数字集成电路测试系统，包括：
[0006]电路数据获取模块：用于通过预设检测设备实时采集数字集成电路的运行数据；
[0007]测试仿真模块：用于获取数字集成电路的电路图，并进行仿真测试，确定仿真运行数据；
[0008]数据分析模块：将所述仿真运行数据和运行数据进行对比，判断是否存在数据偏差；
[0009]结果反馈模块：用于在存在数据偏差时，判断数据偏差是否合理，当数据偏差超过偏差阈值，对所述运行数据位置进行分析，并确定电路异常。
[0010]作为本专利技术的一种实施例：所述电路数据获取模块，包括：
[0011]数据采集单元：用于通过数据采集器与数字集成电路进行电连接，实时采集数字集成电路的运行数据；
[0012]数据传输单元：用于通过数据传输通道，将运行数据传送到运行数据库；
[0013]数据识别单元：用于对所述运行数据根据数据参数进行分类，确定运行数据类型。
[0014]作为本专利技术的一种实施例：所述测试仿真模块，包括：
[0015]图像获取单元：用于通过扫描仪扫描数字集成电路，生成数字集成电路图像；
[0016]仿真电路单元：用于对所述数字集成电路图像进行图像编辑，并通过仿真引擎进行数字集成电路仿真，生成数字集成仿真电路；
[0017]仿真运行单元：用于对所述数字集成仿真电路设置数字集成电路的等量电压，进行数字集成仿真电路测试，并实时收集仿真电路中的仿真运行数据，将所述仿真运行数据
传送到仿真运行数据库。
[0018]作为本专利技术的一种实施例：还包括数据库模块；其中：
[0019]运行数据库：用于储存数字集成电路的运行数据；其中，所述运行数据包括：电流运行数据、电压运行数据、频率运行数据；
[0020]仿真运行数据库：用于存储数字集成仿真电路的仿真运行数据；其中，所述仿真运行数据包括：仿真电流运行数据、仿真电压运行数据、仿真频率运行数据。
[0021]作为本专利技术的一种实施例：所述数据分析模块，包括：
[0022]电流对比单元：用于调取所述电流运行数据和所述仿真电流运行数据，并计算所述电流运行数据和所述仿真电流运行数据的数据偏差，确定电流偏差值；
[0023]电压对比单元：用于调取所述电压运行数据和所述仿真电压运行数据，并计算所述电压运行数据和所述仿真电压运行数据的数据偏差，确定电压偏差值；
[0024]频率对比单元：用于调取所述电流运行数据和所述仿真频率运行数据，并计算所述频率运行数据和所述仿真运行数据的数据偏差，确定频率偏差值。
[0025]作为本专利技术的一种实施例：所述结果反馈模块，包括：
[0026]偏差分析单元：用于预设偏差阈值，当所述数据偏差值超过预设偏差阈值时，进行故障位置定位；其中，所述预设偏差阈值包括：电流偏差阈值，电压偏差阈值和频率偏差阈值；
[0027]故障位置确定单元：用于当所述偏差值超过阈值时，将对应的运行数据位置进行故障标记；
[0028]故障处理单元：用于通过故障测试仪对所述故障位置进行故障测试，确定故障类型，并将所述故障类型的关键字匹配电路故障解决方案。
[0029]作为本专利技术的一种实施例：所述故障处理单元，包括：
[0030]方案存储库：用于存储电路故障的解决方案；
[0031]故障分析次单元：通过故障测试仪确定所述故障位置的故障信号，并将所述故障信号定位到故障原点，确定故障元器件，提取故障元器件的故障参数；
[0032]故障类型判断次单元：用于通过建立不同类型的故障模型，提取故障模型的故障参数，通过对比故障元器件的故障参数和故障模型的故障参数，确定元器件故障类型；
[0033]结果反馈单元：根据所述故障类型的关键字自动检索方案存储库的解决方案，匹配对应的电路故障的解决方案。
[0034]作为本专利技术的一种实施例：还包括运行性能测试模块：
[0035]运行数据时间计算单元：用于计算运行数据从输入端到输出端的过程时间，获得运行时长值；
[0036]仿真运行数据时间计算单元：用于计算仿真运行数据从输入端到输出端的过程时间，获得仿真运行时长值；
[0037]测试结果单元：用于将运行时长值和仿真运行时长值进行对比，获得时长差值，判断电路性能。
[0038]作为本专利技术的一种实施例：所述故障处理单元，还包括故障模拟次单元：用于通过模拟各类型故障电路，确定各类型故障电路的故障元器件；其中：
[0039]开路故障模拟次单元：用于通过故障模拟器，模拟开路故障电路，确定故障位置，
并标记故障位置对应的故障元器件，提取开路故障参数；
[0040]短路故障模拟次单元：用于通过故障模拟器，模拟开路故障电路，确定故障位置，并标记故障位置对应的故障元器件，提取短路故障参数；
[0041]桥接故障模拟次单元：用于通过故障模拟器，模拟桥接故障电路，确定故障位置，并标记故障位置对应的故障元器件，提取桥接故障参数；
[0042]延时故障模拟次单元：用于通过故障模拟器，模拟延时故障电路，确定延时时间范围。
[0043]作为本专利技术的一种实施例：所述测试步骤为：
[0044]步骤一：通过预设检测设备获得数字集成电路的运行数据，将运行数据存储至运行数据库，并对运行数据进行分类；
[0045]步骤二：通过仿真引擎进行仿真测试，获取仿真运行数据，将仿真运行数据存储至仿真运行数据库；
[0046]步骤三：将运行数据和仿真运行数据进行数据对比，确定数据偏差，当数据偏差超过数据阈值时，标记故障位置和对应的故障元器件；
[0047]步骤四：通过对比故障元器件的故障参数和故障模型的故障参数，确定数字集成电路的故障类型，根据所述故障类型关键字匹配电路故障解决本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数字集成电路测试系统，其特征在于，包括：电路数据获取模块：用于通过预设检测设备实时采集数字集成电路的运行数据；测试仿真模块：用于获取数字集成电路的电路图，并进行仿真测试，确定仿真运行数据；数据分析模块：将所述仿真运行数据和运行数据进行对比，判断是否存在数据偏差；结果反馈模块：用于在存在数据偏差时，判断数据偏差是否合理，当数据偏差超过偏差阈值，对所述运行数据位置进行分析，并确定电路异常。2.如权利要求1所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于，所述电路数据获取模块，包括：数据采集单元：用于通过数据采集器与数字集成电路进行电连接，实时采集数字集成电路的运行数据；数据传输单元：用于通过数据传输通道，将运行数据传送到运行数据库；数据识别单元：用于对所述运行数据根据数据参数进行分类，确定运行数据类型。3.如权利要求1所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于，所述测试仿真模块，包括：图像获取单元：用于通过扫描仪扫描数字集成电路，生成数字集成电路图像；仿真电路单元：用于对所述数字集成电路图像进行图像编辑，并通过仿真引擎进行数字集成电路仿真，生成数字集成仿真电路；仿真运行单元：用于对所述数字集成仿真电路设置数字集成电路的等量电压，进行数字集成仿真电路测试，并实时收集仿真电路中的仿真运行数据，将所述仿真运行数据传送到仿真运行数据库。4.如权利要求1所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于，还包括数据库模块；其中：运行数据库：用于储存数字集成电路的运行数据；其中，所述运行数据包括：电流运行数据、电压运行数据、频率运行数据；仿真运行数据库：用于存储数字集成仿真电路的仿真运行数据；其中，所述仿真运行数据包括：仿真电流运行数据、仿真电压运行数据、仿真频率运行数据。5.如权利要求1所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于，所述数据分析模块，包括：电流对比单元：用于调取所述电流运行数据和所述仿真电流运行数据，并计算所述电流运行数据和所述仿真电流运行数据的数据偏差，确定电流偏差值；电压对比单元：用于调取所述电压运行数据和所述仿真电压运行数据，并计算所述电压运行数据和所述仿真电压运行数据的数据偏差，确定电压偏差值；频率对比单元：用于调取所述电流运行数据和所述仿真频率运行数据，并计算所述频率运行数据和所述仿真运行数据的数据偏差，确定频率偏差值。6.如权利要求1所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于，所述结果反馈模块，包括：偏差分析单元：用于预设偏差阈值，当所述数据偏差值超过预设偏差阈值时，进行故障位置定位；其中，所述预设偏差阈值包括：电流偏差阈值，电压偏差阈值和频率偏差阈值；

【专利技术属性】
技术研发人员：郭琼丹，
申请(专利权)人：深圳市嘉伟亿科技有限公司，
类型：发明
国别省市：