一种光学非接触检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种光学非接触检测装置，包括：腔体A、腔体B、连接部以及第一检测部，第一检测部包括：检测光发生部、收光镜头以及感光芯片电路板，腔体A与腔体B之间通过连接部连接固定，检测光发生部设于腔体A内，收光镜头与感光芯片电路板设于腔体B内，腔体A上设有让检测光射出的出射窗口，腔体B上设有用于让检测需要收集的光通过的入射窗口。本光学非接触检测装置布局合理，整个装置体积小巧，采用连接部将腔体A与腔体B连为一个整体，使得腔体A与腔体B的相对位置不变，从而减少误差的产生，提高了检测或加工效率。配备了校准数据，方便用户进行高精度复杂的标定或校准，而且用户使用简单方便。简单方便。简单方便。

【技术实现步骤摘要】
一种光学非接触检测装置


[0001]本技术涉及光学检测领域，尤其涉及一种光学非接触检测装置。

技术介绍

[0002]目前市场上的光学检测装置，当需要多个检测部或者检测部与加工部结合的常规做法是，将多个部分开设置，每个部之间相隔较远。以带检测的点胶机为例，通常用一个点胶加工部和一个2D检测镜头相机来修正平面位置，使用一个高度或3D的检测部来确定高度或点胶后的高度。而且胶路有可能是弯曲的圆形或不规则的形状，这种情况就需要检测部和加工部之间可以循迹，还需要旋转轴，回转半径很大，导致光学检测装置的体积大增，成本也随之大增。而且容易产生误差，降低了检测或加工效率。
[0003]另外，如果使用分开的镜头相机加独立的结构光源的方法，则安装复杂，镜头畸变和空间位置校准复杂，一般的设备厂家没有能力进行高精度的复杂标定，实用性很差。
[0004]因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种光学非接触检测装置。
[0006]本技术的技术方案如下：一种光学非接触检测装置，包括：腔体A、腔体B以及第一检测部，所述第一检测部包括：检测光发生部、收光镜头以及感光芯片电路板，所述光学非接触检测装置还包括连接部，所述腔体A与腔体B之间通过连接部连接固定，所述检测光发生部设于所述腔体A内，所述收光镜头与感光芯片电路板设于所述腔体B内，所述检测光发生部用于发出检测光，所述腔体A上设有让检测光射出的出射窗口，所述收光镜头用于收集检测需要的光，所述腔体B上设有用于让检测需要收集的光通过的入射窗口。
[0007]进一步地，本光学非接触检测装置还包括用于对所述光学非接触检测装置进行标定或校准的校准数据。
[0008]进一步地，本光学非接触检测装置还包括用于连通腔体A与腔体B的通道，电线位于所述通道内。
[0009]进一步地，所述腔体A与腔体B上设有用于将腔体A或腔体B密封的盖板。
[0010]进一步地，所述连接部上设有安装孔。
[0011]进一步地，本光学非接触检测装置还包括第二检测部，所述第二检测部安装在所述连接部上。
[0012]进一步地，所述第二检测部包括镜头与相机，所述第二检测部检测的位置或视野与所述第一检测部的检测点或检测区域重合或接近。
[0013]进一步地，所述第二检测部还包括光源，所述腔体A与腔体B避开所述光源所占的空间。
[0014]进一步地，所述光源与所述检测光发生部不同时发光。
[0015]进一步地，本光学非接触检测装置还包括加工部，所述第一检测部检测的位置或
视野与所述加工部的加工区域重合或接近。
[0016]采用上述方案，本技术具有如下有益效果：
[0017]1、本光学非接触检测装置布局合理，整个装置体积小巧，采用连接部将腔体A与腔体B连为一个整体，使得腔体A与腔体B的相对位置不变，从而减少误差的产生，提高了检测或加工效率；
[0018]2、本光学非接触检测装置配备了校准数据，方便用户进行高精度复杂的标定或校准，而且用户使用简单方便；
[0019]3、本光学非接触检测装置设有第一检测部与第二检测部，第一检测部可以用于检测高度方向信息，第二检测部可以用于检测平面图像或影像信息，两者结合进行检测非常方便。
附图说明
[0020]图1为本技术实施例1的结构示意图。
[0021]图2为本技术实施例2的结构示意图。
[0022]图3为本技术实施例3的结构示意图。
具体实施方式
[0023]以下结合附图和具体实施例，对本技术进行详细说明。
[0024]实施例1：
[0025]请参阅图1，本实施例提供一种光学非接触检测装置，包括：腔体A 101、腔体B 103、连接部102以及第一检测部，所述腔体A 101与腔体B 103为两个独立的腔体，腔体B 103位于腔体A 101的旁侧，连接部102位于腔体A 101与腔体B 103的中间，连接部102将腔体A 101与腔体B 103连接在一起。
[0026]所述第一检测部包括：检测光发生部110、收光镜头105以及感光芯片电路板104，所述检测光发生部110设于所述腔体A101内，检测光发生部110用于发出检测光。所述收光镜头105与感光芯片电路板104设于所述腔体B103内，所述收光镜头105用于收集检测所需要的光，所述感光芯片电路板104上设有感光芯片。所述腔体A 101上设有让检测光108射出的出射窗口109，所述腔体B 103上设有用于让检测需要收集的光通过的入射窗口106(图1中的107为收集光)，检测光发生部110发出的检测光108从出射窗口109射出后从入射窗口106进入，然后被收光镜头105收集。优选地，出射窗口109与入射窗口106采用透光材料密封，既能保证光线能透过，又能保证腔体的内部密封性。
[0027]由于采用连接部将腔体A 101与腔体B 103连为一个整体，使得腔体A 101与腔体B 103的相对位置不变，也就能保证检测光发生部与收光镜头的相对位置保持不变，从而减少误差的产生，提高了检测或加工效率。
[0028]本光学非接触检测装置还包括用于对所述光学非接触检测装置进行标定或校准的校准数据，所述校准数据存储在腔体内的电路板里面或者以其它媒介提供，可以对检测装置进行高精度复杂的标定或校准，且使用简单方便。
[0029]本光学非接触检测装置还包括用于连通腔体A 101与腔体B 103的通道113，所述通道113设于腔体A 101、腔体B 103与连接部102的背面，电线111位于所述通道113内，使得
腔体A 101与腔体B 103之间的部件进行电连接或通讯，而且将电线111隐藏在通道内，安全且美观。
[0030]所述腔体A 101与腔体B 103上设有用于将腔体A 101或腔体B 103密封的盖板，保证腔体A 101与腔体B 103为密封的空间。
[0031]所述连接部102上设有安装孔112，安装孔112用于安装其它部件。
[0032]实施例2：
[0033]请参阅图2，相比于实施例1，本实施例的光学非接触检测装置还包括第二检测部212，所述第二检测部212安装在所述连接部102的安装孔112上。所述第二检测部212包括镜头与相机，第二检测部212检测的位置或视野与第一检测部的检测点或检测区域重合或接近。第一检测部可以用于检测高度方向信息，第二检测部212可以用于检测平面图像或影像信息，两者结合进行检测非常方便。
[0034]所述第二检测部212还包括光源215，该光源215用于第二检测部212的照明。所述腔体A 101与腔体B 103在形状上避开所述光源215所占的空间，不会对光源215发出的光线造成干扰。
[0035]所述光源215与所述检测光发生部110不同时发光，因此第一检测部与第二检测部212的发光不会产生干本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学非接触检测装置，包括：腔体A、腔体B以及第一检测部，所述第一检测部包括：检测光发生部、收光镜头以及感光芯片电路板，其特征在于，所述光学非接触检测装置还包括连接部，所述腔体A与腔体B之间通过连接部连接固定，所述检测光发生部设于所述腔体A内，所述收光镜头与感光芯片电路板设于所述腔体B内，所述检测光发生部用于发出检测光，所述腔体A上设有让检测光射出的出射窗口，所述收光镜头用于收集检测需要的光，所述腔体B上设有用于让检测需要收集的光通过的入射窗口。2.根据权利要求1所述的光学非接触检测装置，其特征在于，还包括用于对所述光学非接触检测装置进行标定或校准的校准数据。3.根据权利要求1所述的光学非接触检测装置，其特征在于，还包括用于连通腔体A与腔体B的通道，电线位于所述通道内。4.根据权利要求1所述的光学非接触检测装置，其特征在于，所述腔体A与腔体B上设有用于将腔体A...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘杰波，
申请(专利权)人：深圳立仪科技有限公司，
类型：新型
国别省市：