孔隙结构系数确定方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种孔隙结构系数确定方法及装置，该方法包括：根据目标区域的测井数据，建立岩石骨架、泥质含量、孔隙流体和孔隙结构作为影响因子的电阻率计算模型；确定孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异；根据电阻率计算模型、同类测井信息的差异和经典阿奇公式，确定目标区域的孔隙结构系数的解析解；根据目标区域的岩电实验数据，确定目标区域的孔隙结构系数的理论解；根据解析解和理论解，确定孔喉比的最优解；根据孔喉比的最优解和目标区域的孔隙结构系数的解析解，确定目标区域的孔隙结构系数。将孔隙流体和孔隙结构分析与阿奇公式相结合，求取目标区域的孔隙结构系数，相较于理论值，提高了孔隙结构系数的准确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
孔隙结构系数确定方法及装置


[0001]本专利技术涉及致密油气藏勘探开发
，尤其涉及一种孔隙结构系数确定方法及装置。

技术介绍

[0002]含水饱和度指地层中水占岩心孔隙空间的百分比，是评价地层含气性的重要标志。常用经典阿奇公式计算，该公式中的孔隙结构系数是关系到计算准确性的重要参数，在一般地层计算中均选用区域性常量。在复杂碳酸盐岩地层中，如四川盆地高磨地区，多样的地层孔隙结构(孔隙大小组合、连通性)导致地层强烈的非均质性，引起孔隙结构系数发生明显变化，依旧采用经典阿奇公式选取区域性常量计算，就会出现计算值与实验值偏差较大的问题，使得确定的孔隙结构系数准确性低。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供一种孔隙结构系数确定方法，用以提高孔隙结构系数的准确性，该方法包括：
[0004]获取目标区域的测井数据和岩电实验数据；
[0005]根据目标区域的测井数据，建立岩石骨架、泥质含量、孔隙流体和孔隙结构作为影响因子的电阻率计算模型；
[0006]根据目标区域的测井数据，确定孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异；
[0007]根据所述电阻率计算模型、同类测井信息的差异和经典阿奇公式，确定目标区域的孔隙结构系数的解析解；
[0008]根据目标区域的岩电实验数据，确定目标区域的孔隙结构系数的理论解；
[0009]根据目标区域的孔隙结构系数的解析解和目标区域的孔隙结构系数的理论解，确定孔喉比的最优解；
[0010]根据孔喉比的最优解和目标区域的孔隙结构系数的解析解，确定目标区域的孔隙结构系数。
[0011]本专利技术实施例还提供一种孔隙结构系数确定装置，用以提高孔隙结构系数的准确性，该装置包括：
[0012]数据获取模块，用于获取目标区域的测井数据和岩电实验数据；
[0013]电阻率计算模型确定模块，用于根据目标区域的测井数据，建立岩石骨架、泥质含量、孔隙流体和孔隙结构作为影响因子的电阻率计算模型；
[0014]同类测井信息差异模块，用于根据目标区域的测井数据，确定孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异；
[0015]解析解确定模块，用于根据所述电阻率计算模型、同类测井信息的差异和经典阿奇公式，确定目标区域的孔隙结构系数的解析解；
[0016]理论解确定模块，用于根据目标区域的岩电实验数据，确定目标区域的孔隙结构系数的理论解；
[0017]孔喉比最优解确定模块，用于根据目标区域的孔隙结构系数的解析解和目标区域的孔隙结构系数的理论解，确定孔喉比的最优解；
[0018]孔隙结构系数确定模块，用于根据孔喉比的最优解和目标区域的孔隙结构系数的解析解，确定目标区域的孔隙结构系数。
[0019]本专利技术实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述孔隙结构系数确定方法。
[0020]本专利技术实施例也提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行上述孔隙结构系数确定方法的计算机程序。
[0021]本专利技术实施例中，通过获取目标区域的测井数据和岩电实验数据；根据目标区域的测井数据，建立岩石骨架、泥质含量、孔隙流体和孔隙结构作为影响因子的电阻率计算模型；根据目标区域的测井数据，确定孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异；根据电阻率计算模型、同类测井信息的差异和经典阿奇公式，确定目标区域的孔隙结构系数的解析解；根据目标区域的岩电实验数据，确定目标区域的孔隙结构系数的理论解；根据目标区域的孔隙结构系数的解析解和目标区域的孔隙结构系数的理论解，确定孔喉比的最优解；根据孔喉比的最优解和目标区域的孔隙结构系数的解析解，确定目标区域的孔隙结构系数。通过结合岩电实验和测井多种地球物理手段，将孔隙流体和孔隙结构分析与阿奇公式相结合，求取目标区域的孔隙结构系数，相较于利用阿奇公式和岩电实验数据所求得的理论值，更加贴合实际地层中多样的孔隙结构，从而提高孔隙结构系数的准确性。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1为本专利技术实施例中孔隙结构系数确定方法的示意图。
[0024]图2为本专利技术具体实施例中步骤106的具体实现方法示意图。
[0025]图3为本专利技术具体实施例中步骤107的具体实现方法示意图。
[0026]图4为本专利技术具体实施例中单井岩心孔喉比与孔喉加权均值、饱和度中值半径之间的相关关系示意图。
[0027]图5为本专利技术具体实施例中根据单井岩心数据所建立的孔喉比与孔喉加权均值的回归关系拟合示意图。
[0028]图6为本专利技术具体实施例中对δ函数模拟权系数的标定过程示意图。
[0029]图7为本专利技术具体实施例中测井计算孔隙结构系数m与含水饱和度反演的理论解m*之间相关性的标定示意图。
[0030]图8为本专利技术具体实施例中以两种孔隙结构系数所构建的单井含水饱和度计算模型的对比分析图。
[0031]图9为本专利技术实施例中孔隙结构系数确定装置的示意图。
具体实施方式
[0032]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0033]本专利技术实施例提供了一种孔隙结构系数确定方法，用以提高孔隙结构系数的准确性，如图1所示，该方法包括：
[0034]步骤101：获取目标区域的测井数据和岩电实验数据；
[0035]步骤102：根据目标区域的测井数据，建立岩石骨架、泥质含量、孔隙流体和孔隙结构作为影响因子的电阻率计算模型；
[0036]步骤103：根据目标区域的测井数据，确定孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异；
[0037]步骤104：根据电阻率计算模型、同类测井信息的差异和经典阿奇公式，确定目标区域的孔隙结构系数的解析解；
[0038]步骤105：根据目标区域的岩电实验数据，确定目标区域的孔隙结构系数的理论解；
[0039]步骤106：根据目标区域的孔隙结构系数的解析解和目标区域的孔隙结构系数的理论解，确定孔喉比的最优解；
[0040]步骤107：根据孔喉比的最优解和目标区域的孔隙结构系数的解析解，确定目标区域的孔隙结构系数。
[0041]由图1所示流程可以得知，本专利技术实施例中，通过获取目标区域的测井数据和岩电实验数据；根据目标区域的测井数据，建立岩石骨架、泥质含量、孔隙流体和孔隙结构作为影响因子的电阻率计算模型；根据目标区域的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种孔隙结构系数确定方法，其特征在于，包括：获取目标区域的测井数据和岩电实验数据；根据目标区域的测井数据，建立岩石骨架、泥质含量、孔隙流体和孔隙结构作为影响因子的电阻率计算模型；根据目标区域的测井数据，确定孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异；根据所述电阻率计算模型、同类测井信息的差异和经典阿奇公式，确定目标区域的孔隙结构系数的解析解；根据目标区域的岩电实验数据，确定目标区域的孔隙结构系数的理论解；根据目标区域的孔隙结构系数的解析解和目标区域的孔隙结构系数的理论解，确定孔喉比的最优解；根据孔喉比的最优解和目标区域的孔隙结构系数的解析解，确定目标区域的孔隙结构系数。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电阻率计算模型为：其中，RT代表深地层电阻率，深地层的深度范围在距离井筒1m以上；RXO代表浅地层电阻率，浅地层的深度范围在距离井筒1m以内；RT
mai
代表深地层中第i种的矿物电阻率；V
mai
代表地层中第i种矿物的体积含量；RT
sh
代表深地层中泥质的电阻率；V
sh
代表地层中泥质的体积含量；RT
f
代表地层孔隙中流体的电阻率；φ
f
代表地层的孔隙度；代表孔隙结构对测井值的贡献因子，目前测井信息度量孔隙的范围一般认为从um到mm；σ、υ分别代表孔隙直径与长度；RXO
mai
代表浅地层中第i种的矿物电阻率；RXO
sh
代表浅地层中泥质的电阻率；RXO
f
代表浅地层孔隙中流体的电阻率。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标区域的孔隙结构系数的解析解为：其中，m代表目标区域的孔隙结构系数的解析解；a、b均为区域常量；Rw代表地层水电阻率；f(V
sh
)代表泥质含量；RT代表深地层电阻率，深地层的深度范围在距离井筒1m以上；RXO代表浅地层电阻率，浅地层的深度范围在距离井筒1m以内；Rmf代表泥浆滤液电阻率；n0代表胶结指数，为区域常量；φ代表总孔隙度；δ代表孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异的总和；λ代表大小孔径比；r代表孔径；rc代表大小孔径分界。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，按照如下公式，计算孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异的总和δ的值：
其中，w1+w2+w3＝1，w1，w2，w3代表不同测井信息的权系数；α代表斯通利波能量衰减量；β代表溶蚀孔洞面孔率；φ
fv
代表裂缝孔隙度；φ
ac
代表声波孔隙度；φ
cnl
代表中子孔隙度。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，根据孔喉比的最优解和目标区域的孔隙结构系数的解析解，确定目标区域的孔隙结构系数，包括：根据孔喉比的最优解和岩电实验数据中的岩心孔喉加权均值，确定孔喉比与孔喉加权均值的关联关系；根据孔喉比与孔喉加权均值的关联关系和目标区域的测井数据中的孔喉加权均值测井数据，确定孔喉比的测井数值；根据孔喉比与孔喉加权均值的关联关系，对孔隙流体和孔隙结构导致的同类测井信息的差异的总和δ的权系数w1，w2，w3进行标定，确定δ的值；根据孔喉比的测井数值、δ的值和目标区域的孔隙结构系数的解析解，确定目标区域的孔隙结构系数。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标区域的孔隙结构系数的理论解为：其中，m*代表目标区域的孔隙结构系数的理论解；a、b均为区域常量；Rw代表地层水电阻率；C(Sw)代表岩心含水饱和度；RT
*
代表岩心取样深度段的地层电阻率；φ
*
代表岩心取样深度段的孔隙度。7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据目标区域的孔隙结构系数的解析解和目标区域的孔隙结构系数的理论解，确定孔喉比的最优解，包括：联立目标区域的孔隙结构系数的解析解和目标区域的孔隙结构系数的理论解，得到大小孔径比的理论值；根据大小孔径比的理论值，确定孔喉比的最优解。8.一种孔隙结构系数确定装置，其特征在于，包括：数据获取模块，用于获取目标区域的测井数据和岩电实验数据；电阻率计算模型确定模块，用于根据目标区域的测井数据，建立岩石骨架、泥质含量、孔隙...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺川航，臧殿光，刘定锦，林煜，李杰，鲜成龙，
申请(专利权)人：中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司，
类型：发明
国别省市：