阻抗检测方法、阻抗检测器及系统技术方案

本发明专利技术涉及一种阻抗检测方法、阻抗检测器及系统，所述阻抗检测方法中，通过获取待检测电路的电信号数据；对电信号数据进行校正处理，得到电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据；根据电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据，得到负载阻抗数据，从而实现对待检测电路的阻抗检测。通过对阻抗处理算法的改进，提高了计算精度，降低了计算量，进而提高了计算效率，同时无需采用传统的成高且体积大的硬件电路，进而能够缩小阻抗检测器的体积，在适用于射频电源应用场合的同时，能更方便的携带测量。能更方便的携带测量。能更方便的携带测量。

【技术实现步骤摘要】
阻抗检测方法、阻抗检测器及系统


[0001]本专利技术涉及阻抗检测
，特别是涉及一种阻抗检测方法、阻抗检测器及系统。

技术介绍

[0002]阻抗测量技术是电子测量技术的重要组成部分，具有无创、使用简单、复杂性低等特点，广泛应用于生物医学、电化学、工控、电网控制等领域，可以满足各种参数的测量需求。目前可应用于射频电源领域的阻抗检测器主要有三种：LCR测量仪、阻抗分析仪、网络分析仪。
[0003]在实现过程中，专利技术人发现传统技术中至少存在如下问题：现有的阻抗检测器存在体积较大，重量较重，仅适用于实验室，无法便捷式携带等问题。另外，传统的便携式阻抗检测器仅仅只是通过电压电流的比值来计算阻抗，计算精度低，计算量大，速度慢，无法跟上射频的速度，并不适用于射频电源领域。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对传统的阻抗检测器存在体积较大，重量较重，仅适用于实验室，无法便捷式携带等问题。另外，传统的便携式阻抗检测器仅仅只是通过电压电流的比值来计算阻抗，计算精度低，计算量大，速度慢，无法跟上射频的速度，并不适用于射频电源领域的问题，提供一种阻抗检测方法、阻抗检测器及系统。
[0005]第一方面，本申请提供一种阻抗检测方法，包括：
[0006]获取待检测电路的电信号数据；
[0007]对电信号数据进行校正处理，得到电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据；
[0008]根据电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据，得到负载阻抗数据。r/>[0009]可选的，电信号数据包括电压信号数据和电流信号数据；
[0010]对电信号数据进行校正处理，得到电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据的步骤包括：
[0011]对电压信号数据和电流信号数据进行校正处理，得到电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据。
[0012]可选的，根据电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据，得到负载阻抗数据的步骤包括：
[0013]将电压实部数据与电流实部数据进行相乘处理，得到第一中间数值；将电压虚部数据与电流虚部数据进行相乘处理，得到第二中间数值；
[0014]将第一中间数值与第二中间数值进行和值处理，得到第一和值；
[0015]将电压实部数据与电流实部数据之间的差值进行平方处理，得到第一平方值；将
电压虚部数据与电流虚部数据之间的差值进行平方处理，得到第二平方值；
[0016]将第一平方值与第二平方值进行和值处理，得到第二和值；
[0017]第一和值与第二和值进行比值处理，得到负载电阻值。
[0018]可选的，根据电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据，得到负载阻抗数据的步骤还包括：
[0019]将电压虚部数据与电流实部数据进行相乘处理，得到第三中间数值；将电压实部数据与电流虚部数据进行相乘处理，得到第四中间数值；
[0020]将第三中间数值与第四中间数值进行差值处理，得到第一差值；
[0021]将电压实部数据与电流实部数据之间的差值进行平方处理，得到第三平方值；将电压虚部数据与电流虚部数据之间的差值进行平方处理，得到第四平方值；
[0022]将第三平方值与第四平方值进行和值处理，得到第三和值；
[0023]第一差值与第三和值进行比值处理，得到负载电抗值。
[0024]可选的，第一差值与第三和值进行比值处理，得到负载电抗值的步骤之后包括：
[0025]根据负载电阻值和负载电抗值，得到负载阻抗数据。
[0026]第二方面，本申请提供一种阻抗检测器，包括：
[0027]传感器组件，传感器组件用于连接待测电路，传感器组件被配置为采集电信号数据；
[0028]处理器，处理器连接传感器组件，处理器用于执行上述任意一项的阻抗检测方法。
[0029]可选的，阻抗检测器还包括连接处理器的显示屏。
[0030]可选的，传感器组件包括电压传感器和电流传感器；
[0031]电压传感器连接处理器，电压传感器被配置为采集电压信号数据；
[0032]电流传感器连接处理器，电流传感器被配置为采集电流信号数据。
[0033]可选的，阻抗检测器还包括连接处理器的锂电池。
[0034]第三方面，本申请提供一种阻抗检测系统，包括射频电源、阻抗匹配箱、负载和如上述任意一项的阻抗检测器；
[0035]阻抗匹配箱的输入端连接射频电源，阻抗匹配箱的输出端连接负载；阻抗检测器连接阻抗匹配箱的输出端。
[0036]上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果：
[0037]本申请各实施例提供的阻抗检测方法中，通过获取待检测电路的电信号数据；对电信号数据进行校正处理，得到电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据；根据电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据，得到负载阻抗数据，从而实现对待检测电路的阻抗检测。本申请通过获取待检测电路的电信号数据，并对电信号数据进行校正，然后对校正后的数据进行阻抗计算处理，进而可得到相应的负载阻抗数据，通过对阻抗处理算法的改进，提高了计算精度，降低了计算量，进而提高了计算效率，同时无需采用传统的成高且体积大的硬件电路，进而能够缩小阻抗检测器的体积，在适用于射频电源应用场合的同时，能更方便的携带测量。
附图说明
[0038]通过附图中所示的本申请的优选实施例的更具体说明，本申请的上述及其它目
的、特征和优势将变得更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分，且并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本申请的主旨。
[0039]图1为本申请实施例中阻抗检测方法的应用示意图。
[0040]图2为本申请实施例中阻抗检测方法的第一流程示意图。
[0041]图3为本申请实施例中阻抗检测方法的第二流程示意图。
[0042]图4为本申请实施例中阻抗检测方法的第三流程示意图。
[0043]图5为本申请实施例中阻抗检测器的电路示意图。
[0044]图6为本申请实施例中阻抗检测系统的电路示意图。
具体实施方式
[0045]为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的首选实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容更加透彻全面。
[0046]需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件并与之结合为一体，或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“设置”、“一端”、“另一端”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0047]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阻抗检测方法，其特征在于，包括：获取待检测电路的电信号数据；对所述电信号数据进行校正处理，得到电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据；根据所述电压实部数据、所述电压虚部数据、所述电流实部数据和所述电流虚部数据，得到负载阻抗数据。2.根据权利要求1所述的阻抗检测方法，其特征在于，所述电信号数据包括电压信号数据和电流信号数据；所述对所述电信号数据进行校正处理，得到电压实部数据、电压虚部数据、电流实部数据和电流虚部数据的步骤包括：对所述电压信号数据和所述电流信号数据进行校正处理，得到所述电压实部数据、所述电压虚部数据、所述电流实部数据和所述电流虚部数据。3.根据权利要求1所述的阻抗检测方法，其特征在于，所述根据所述电压实部数据、所述电压虚部数据、所述电流实部数据和所述电流虚部数据，得到负载阻抗数据的步骤包括：将所述电压实部数据与所述电流实部数据进行相乘处理，得到第一中间数值；将所述电压虚部数据与所述电流虚部数据进行相乘处理，得到第二中间数值；将所述第一中间数值与所述第二中间数值进行和值处理，得到第一和值；将所述电压实部数据与所述电流实部数据之间的差值进行平方处理，得到第一平方值；将所述电压虚部数据与所述电流虚部数据之间的差值进行平方处理，得到第二平方值；将所述第一平方值与所述第二平方值进行和值处理，得到第二和值；所述第一和值与所述第二和值进行比值处理，得到负载电阻值。4.根据权利要求3所述的阻抗检测方法，其特征在于，所述根据所述电压实部数据、所述电压虚部数据、所述电流实部数据和所述电流虚部数据，得到负载阻抗数据的步骤还包括：将所述电压虚部数据与所述电流实部数据进行相乘处理，得到第三中间数值；将所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林伟群，乐卫平，张桂东，
申请(专利权)人：深圳市恒运昌真空技术有限公司，
类型：发明
国别省市：