相频响应测量方法和装置制造方法及图纸

本申请实施例提供一种相频响应测量方法和装置。该相频响应测量装置至少包括：第一处理单元，其用于将第一信号经过窄带光电检测器后分别与第一参考信号和第二参考信号进行混频去噪，以得到第一检测信号和第二检测信号，其中，测量信号经过光发射端滤波模块后获得该第一信号，该测量信号在多个支路中的一路上发射，该多个支路中的其他路不发射信号，该测量信号的帧结构包括至少一个双频信号，该双频信号中的两个频率有固定的频率间隔；第一计算单元，其用于根据该第一检测信号和该第二检测信号计算多个频点处的群时延；第一确定单元，其用于根据该多个频点处的群时延确定该光发射端滤波模块在该一路上的相频响应。端滤波模块在该一路上的相频响应。端滤波模块在该一路上的相频响应。

【技术实现步骤摘要】
相频响应测量方法和装置


[0001]本专利技术涉及通信


技术介绍

[0002]在光通信系统中，数字域的预均衡技术常用来克服光发射机带宽受限的问题。其中，预均衡用来补偿信号在光发射机中所经过的各个模块带来的滤波损伤。这些模块的级联滤波响应构成该传输通道的滤波响应。在已知该滤波响应的条件下，预均衡器的系数可以采用多种现有技术得到，例如迫零(zero forcing)法、最小均方误差(minimum mean square error)法等。
[0003]应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本专利技术的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本专利技术的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。

技术实现思路

[0004]在现有技术中，可以使用仪器来测量发射机的滤波响应。但是仪器测量的成本高，且难以大规模使用。滤波响应包括幅频响应和相频响应，其中，幅频响应可以利用光收发机内置的窄带光电检测器(PD)来测量。而相频响应的测量还没有低成本的解决方案。本专利提出一种相频响应的测量方法。
[0005]针对上述问题中的至少之一，本申请实施例提供一种相频响应测量方法和装置。
[0006]根据本申请实施例的第一方面，提供一种相频响应测量装置，其中，该装置包括：
[0007]第一处理单元，其用于将第一信号经过窄带光电检测器后分别与第一参考信号和第二参考信号进行混频去噪，以得到第一检测信号和第二检测信号，其中，测量信号经过光发射端滤波模块后获得该第一信号，该测量信号在多个支路中的一路上发射，该多个支路中的其他路不发射信号，该测量信号的帧结构包括至少一个双频信号，该双频信号中的两个频率有固定的频率间隔；
[0008]第一计算单元，其用于根据该第一检测信号和该第二检测信号计算多个频点处的群时延；
[0009]第一确定单元，其用于根据该多个频点处的群时延确定该光发射端滤波模块在该一路上的相频响应。
[0010]根据本申请实施例的第二方面，提供一种相频响应测量方法，其中，该装置包括：
[0011]在多个支路中的一路上发射测量信号，在该多个支路的其他路上不发射信号，该测量信号的帧结构包括至少一个双频信号，该双频信号中的两个频率有固定的频率间隔；
[0012]该测量信号经过光发射端滤波模块后获得第一信号；
[0013]该第一信号经过窄带光电检测器后分别与第一参考信号和第二参考信号进行混频去噪，以得到第一检测信号和第二检测信号；
[0014]根据该第一检测信号和该第二检测信号计算多个频点处的群时延；
[0015]根据该多个频点处的群时延确定该光发射端滤波模块在该一路上的相频响应。
[0016]本专利技术的有益效果之一在于：利用单路双频测量信号和光收发机内置的光电检测器即可以测量各支路的相频响应，由此，不需要借助额外的测量仪器测量相频响应，从而避免由于使用仪器测量相频响应带来的高成本以及难以大规模使用的问题。
[0017]参照后文的说明和附图，详细公开了本专利技术的特定实施方式，指明了本专利技术的原理可以被采用的方式。应该理解，本专利技术的实施方式在范围上并不因而受到限制。在所附权利要求的精神和条款的范围内，本专利技术的实施方式包括许多改变、修改和等同。
[0018]针对一种实施方式描述和/或示出的特征可以以相同或类似的方式在一个或更多个其它实施方式中使用，与其它实施方式中的特征相组合，或替代其它实施方式中的特征。
附图说明
[0019]所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本专利技术的实施方式，并与文字描述一起来阐释本专利技术的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0020]图1是本申请实施例的光发射端结构一示意图；
[0021]图2是本申请实施例的相频响应测量方法一示意图；
[0022]图3是本申请实施例的测量信号帧结构的一示意图；
[0023]图4A至图4C是本申请实施例的测量信号帧结构的示意图；
[0024]图5是本申请实施例的相频响应测量方法一示意图；
[0025]图6是本申请实施例的根据拍频的相位确定一个群时延片段方法一示意图；
[0026]图7是本申请实施例的相频响应测量装置的一示意图；
[0027]图8是本申请实施例的相频响应测量装置的一示意图；
[0028]图9是本申请实施例的第一计算单元构成一示意图；
[0029]图10是本申请实施例的通信系统构成一示意图；
[0030]图11是本申请实施例的通信设备构成一示意图；
[0031]图12是本申请实施例的预均衡器构成一示意图；
[0032]图13是本申请实施例的通信设备构成一示意图。
具体实施方式
[0033]在本申请实施例中，术语“第一”、“第二”等用于对不同元素从称谓上进行区分，但并不表示这些元素的空间排列或时间顺序等，这些元素不应被这些术语所限制。术语“和/或”包括相关联列出的术语的一种或多个中的任何一个和所有组合。术语“包含”、“包括”、“具有”等是指所陈述的特征、元素、元件或组件的存在，但并不排除存在或添加一个或多个其他特征、元素、元件或组件。
[0034]在本申请实施例中，单数形式“一”、“该”等包括复数形式，应广义地理解为“一种”或“一类”而并不是限定为“一个”的含义；此外术语“所述”应理解为既包括单数形式也包括复数形式，除非上下文另外明确指出。此外术语“根据”应理解为“至少部分根据
……”
，术语“基于”应理解为“至少部分基于
……”
，除非上下文另外明确指出。
[0035]参照附图，通过下面的说明书，本专利技术的前述以及其它特征将变得明显。在说明书和附图中，具体公开了本专利技术的特定实施方式，其表明了其中可以采用本专利技术的原则的部分实施方式，应了解的是，本专利技术不限于所描述的实施方式，相反，本专利技术包括落入所附权利要求的范围内的全部修改、变型以及等同物。
[0036]图1是本申请实施例的光发射机或光收发机的光发射端结构一示意图。光发射机或光发射端结构100包括发射器101、数模转换模块102、DRV模块103、光调制器104、激光器105。其中由发射器101发出数字电信号，经过后续各滤波模块，如数模转换(DAC)模块102、驱动(DRV)模块103、光调制器(例如马赫曾德尔调制器)104、激光器(LD)105对发出的数字电信号带来的滤波损伤，此处将发射器101后续各发射端滤波模块，即数模转换模块102、DRV模块103、光调制器104带来的滤波损伤称之为发射端的滤波响应，本申请实施例提出一种测量滤波响应中相频响应的方法和装置。
[0037]下面结合附图对本申请实施例的各种实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种相频响应测量装置，其特征在于，所述装置包括：第一处理单元，其用于将第一信号经过窄带光电检测器后分别与第一参考信号和第二参考信号进行混频去噪，以得到第一检测信号和第二检测信号，其中，测量信号经过光发射端滤波模块后获得所述第一信号，所述测量信号在多个支路中的一路上发射，所述多个支路中的其他路不发射信号，所述测量信号的帧结构包括至少一个双频信号，所述双频信号中的两个频率有固定的频率间隔；第一计算单元，其用于根据所述第一检测信号和所述第二检测信号计算多个频点处的群时延；第一确定单元，其用于根据所述多个频点处的群时延确定所述光发射端滤波模块在所述一路上的相频响应。2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一参考信号和所述第二参考信号分别为cos(dω
×
t+δ)和sin(dω
×
t+δ)，其中，dω为所述频率间隔，δ为所述第一参考信号和/或所述第二参考信号相对于测量信号的初始相位。3.根据权利要求1所述的装置，其中，所述装置还包括：第一控制单元，其用于改变所述双频信号中的两个频率，以便所述第一处理单元获得对应多个频点的第一检测信号和第二检测信号；并且所述第一计算单元根据对应多个频点的所述第一检测信号和所述第二检测信号计算拍频的相位，根据所述拍频的相位确定所述多个频点处的群时延，所述第一确定单元对所述多个频点处的群时延进行积分以确定所述光发射端滤波模块在所述一路上的相频响应。4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述光发射端滤波模块中的光调制器仅将所述一路的直流偏置设置在消光点。5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述测量信号的帧结构包括至少两个(N个)双频信号，各个双频信号中的两个频率的频率间隔相同。6.根据权利要求5所述的装置，所述第一计算单元计算当前帧结构的测量信号对应的多个(N个)频点处的群时延，所述多个频点处的群时延构成对应当前帧结构的群时延片段，所述装置还包括：第二控制单元，其用于改变当前帧结构的测量信号中各个所述双频信号中的两个频率，以便所述第一计算单元计算不同帧结构的测量信号对应的分离的群时延片段，其中，用于测量相邻群时延片段的两个测量信号的最低频不同；拼接单元，其用于根据重叠双频信号测量得到的重叠频点处的群时延拼接各个分离的群时延片段；其中，用于测量相邻群时延片段的两个测量信号包含至少一个相同的所述重叠双频信号；并且所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊洋洋，陶振宁，
申请(专利权)人：富士通株式会社，
类型：发明
国别省市：