一种差动保护装置，包括：差动电流测量装置（１），处理装置（７），连接到测量装置，并且包括用于选择跳闸曲线的运行额定值选择装置（１４；１０８）和时间延迟选择装置（１６；１１０），致动装置（２１），以及测试装置（３１到３８），连接到测量装置，在保护装置中，测量装置与运行额定值选择装置以及时间延迟选择装置相关联，以便当启动所述测试装置时，选择最小或减小的运行额定值并且选择最小或减小的时间延迟。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及差动保护装置，包括-差动电流测量装置，-处理装置，连接到测量装置，以便接收代表差动电流的信号，所述处理 装置包括用于选择跳闸曲线的运行额定值选择装置和时间延迟选择装置，-致动装置，用于按照跳闸曲线选择，打开断路器的主触点，以及-测试装置，连接到测量装置。
技术介绍
专利申请EP 0 936 716描述了一种差动保护装置，包括差动电流测量 装置；处理装置，连接到测量装置，以便接收代表差动电流的信号；选择装 置，用于选择处理装置的运行额定值；测试装置，连接到测量装置，并且与 额定值选择装置相关联，额定值选择装置用于当启动所述测试装置时，选择 低额定值；以及，致动装置。现有技术的差动保护装置的测试装置通过生成测试电流实施，该测试电 流呈现足以被差动电流测量装置检测到的强度。因此，在现有技术的差动保 护装置中实施的测试装置的缺点在于，功率消耗未被优化。
技术实现思路
本专利技术的目的是通过提出一种差动保护装置，克服现有技术的设备的缺 点，本专利技术的差动保护装置包括-差动电流测量装置，-处理装置，连接到测量装置，以便接收代表差动电流的信号，所述处理 装置包括用于选择跳闸曲线的运行额定值选择装置和时间延迟选择装置，-致动装置，用于按照跳闸曲线选择，打开断路器的主触点，以及 -测试装置，连接到测量装置。在按照本专利技术的差动保护装置中，测量装置与运行额定值选择装置以及时间延迟选择装置相关联，以便当启动所述测试装置时，选择最小或减小的 运行额定值并且选4奪最小或减小的时间延迟。最好，测试装置与处理装置的输入电路相关联，以便当启动测试装置时， 使放大装置的增益增加。最好，测试装置包括控制开关，所述开关使得能够在比最小时间延迟长 的时间段内生成测试电流。优选生成具有大于50毫秒的初始时间延迟的测试 电流。优选测试电流包括至少一个脉沖，并且，最好包括至少一个脉冲串。 在这种情况下，至少一个脉沖串最好具有比最小时间延迟长的持续时间，例 如，小于十倍最小时间延迟。最好，测试电流包括多个由至少两倍于最小或 减'J、的时间延迟的时间段分开的多个脉冲串。附图说明根据以下对只作为非限制性例子给出的，并且在附图中示出的本专利技术的 特定实施例的描述，其他优点和特性将变得更加清楚。图1示意性地表示按照本专利技术实施例的差动保护装置以及相关联的测试 装置。图2为按照本专利技术实施例的差动保护装置的控制电路的功能示意图。 图3a和3b，出于举例的目的，表示差动保护装置的测试命令信号和测 试信号。具体实施例方式图1中表示的断路器为差动保护装置，包括测量环形线圈1,用于测量 受保护装备的导线2中的差动电流。环形线圈的^F兹路3环绕导线，导线由此 构成了一次绕组。导线与主触点4串联，主触点4可以^皮机构5打开。这些 触点可以是继电器、开关或断路器的触点。在图1的差动保护装置中，测量环形线圈1包括第一二次绕组6，连接 到处理电路7，以接收代表差动电流的信号ID。负载电阻器8连接到第一二 次绕组的两端，以确定处理电路的最高灵敏度。处理电路7还包括电流处理电路11,用于给跳闸电路12提供跳闸命令， 跳闸电路12使得致动的机构5将主触点4打开。电流处理电路11连接到环 形线圈1的第一二次绕组6，以接收表示导线2中流过的差动电流的信号ID。连接到电流处理电路11的第一调节设备13使得运行额定值或预定运行阔值能够被调节或选择。通过输入端14进行调节或选择。例如，如果导线2中的 差动电流超过这个运行阈值，则保护装置动作主触点4。也连接到电流处理 电路11的第二调节设备15使得时间延迟能够被调节或选择。通过输入端16 进行调节或选择。因此，按照选择的时间延迟，给跳闸电路12施加跳闸命令。 选择运行额定值和选择时间延迟，使得能够选择跳闸曲线。通过控制晶体管22,跳闸电路12连接到致动器21。响应于差动型电故 障并且按照跳闸曲线选择，致动器使得断路器的主触点4能够被打开。致动 器21和控制晶体管22与电能存储电容器23并联，电能存储电容器23使得 能够保持对致动器供电。电源24通过二极管25给这个电容器供电。本专利技术的差动保护装置还包括测试装置，该测试装置使得测试电流IT能 够被传送到第二二次绕组31。测试装置包括按钮32形式的开关，按钮32连 接到处理电路7中的测试电路33。响应于按钮32闭合，测试电路在处理电 路7的输出端34上生成测试信号。这个输出端34本身通过由电源24供电的 放大装置，连接到测量环形线圈的第二二次绕组31。这些放大装置包括两个 晶体管35和36以及两个电阻器37和38。在图1的情况下，晶体管35和36 具有开关功能。由输出端34提供的脉冲使得这些接受命令的开关能够闭合， 从而在第二二次绕组31中生成测试电流IT。电阻器37的用途是限制第二二 次绕组31中的电流，电阻器38的用途是给开关36提供偏置电压。这样，当 进行测试时，对开关32的操作使得测试电流IT能够在第二二次绕组31中流 过。如图1所示，测试装置的开关32还连接到运行额定值选择装置13和时 间选择延迟装置15。测试装置与运行额定值选4奪装置13和时间选^l奪延迟装 置15的这种关联使得，当启动所述测试装置时，能够选择最小或减小的运行 额定值以及最小或减小的时间延迟。由此，设备的测试装置作用于调节设备 13和15,从而既选择最小或减小的额定值，又选择最小或减小的时间延迟。 这样，当进行测试时，强度不大的测试电流IT足以对差动保护装置的运行进 行测试，并且因此，电损耗被优化。为了进一步限制测试电流值，可以增加 第二二次绕组31的匝数。第二二次绕组与第一二次绕组之间的匝数比受环形 线圈周围的空间限制。这个比值可以在1与50之间，例如，等于10。如图2所示，电流处理电路ll包括一连串模块，这些模块使得能够按照代表差动电流的信号ID,给跳闸电路12提供跳闸命令。在图2表示的实施 例中，电流处理电路包括输入电路101，用于接收并处理代表差动电流的信 号ID。输入电路配备有放大器102、模数转换器103和用于选择信号中的直 流部分的高通滤波器104。乘法器模块105,在本例中用于自乘平方，和低通 滤波器106使得能够确定差动电流的rms(root mean square,均方根)值。 比较器模块107将差动电流的rms值与通过额定值选择装置13选择的运行额 定值进行比较。当差动电流的rms值大于运行额定值时，向时间延迟模块109 发送第一启动信号。在通过时间延迟选择装置15选择的时间延迟过去之后， 时间延迟模块发送第一启动信号。与模块105、 106、 107和109并行，在高 速滤波器111进行滤波之后，将来自高通滤波器104的信号作为第二起动信 号发送。滤波器lll使得能够对出现差动故障进行快速确认。模块105、 106、 107和109进行处理比滤波器111进行处理慢。两个启动信号被发送到进行 逻辑与运算的布尔模块112。当同时发送启动信号时，向跳闸电路12发 送跳闸命令。因此，为了发送跳闸命令，至少在时间延迟时间段结束之前， 必须由高速滤波器111对出现差动故障进行确认。如图2所示，就功能而言，测试开关通过功能链接121连接到输入电路 101的放大器102。测试开关启动使得放大器102的增本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种差动保护装置，包括： －差动电流测量装置（１）， －处理装置（７），连接到所述测量装置，以接收代表差动电流的信号（ＩＤ），所述处理装置包括用于选择跳闸曲线的运行额定值选择装置（１４；１０８）和时间延迟选择装置（１６；１１０）， －致动装置（２１），用于按照对跳闸曲线的选择，打开断路器的主触点（４），以及 －测试装置（３１到３８），连接到所述测量装置， 其特征在于，所述测量装置与所述运行额定值选择装置以及所述时间延迟选择装置相关联，以便当启动所述测试装置时，选择最小或减小的运行额定值并且选择最小或减小的时间延迟。
【技术特征摘要】
FR 2006-12-18 06/110101.一种差动保护装置，包括-差动电流测量装置(1)，-处理装置(7)，连接到所述测量装置，以接收代表差动电流的信号(ID)，所述处理装置包括用于选择跳闸曲线的运行额定值选择装置(14；108)和时间延迟选择装置(16；110)，-致动装置(21)，用于按照对跳闸曲线的选择，打开断路器的主触点(4)，以及-测试装置(31到38)，连接到所述测量装置，其特征在于，所述测量装置与所述运行额定值选择装置以及所述时间延迟选择装置相关联，以便当启动所述测试装置时，选择最小或减小的运行额定值并且选择最小或减小的时间延迟。2. 如权利要求l所述的设备，其特征在于，所述测试装置与所述处理装 置(7)的输入电路(101)相关联，以便当启动所述测试装置时，增加放大装置 (102)的增益...
【专利技术属性】
技术研发人员：马斯塔法切洛格，
申请(专利权)人：施耐德电器工业公司，
类型：发明
国别省市：FR[法国]
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