一种CT本体二次回路校验设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种CT本体二次回路校验设备，校验箱、信号灯、衔接插座、控制器、波段屏，校验箱表面与波段屏整体嵌固连接，波段屏下端与控制器整体间隙配合，控制器左侧与衔接插座整体间隙配合，衔接插座内部与信号灯内部活动配合，信号灯整体与控制器内部间隙配合，本实用新型专利技术通过热导槽在散热器的吹动向将电路板产生的高温热量进行导流，从而使扇叶盘间接被带动，进行旋转引导热流，热流在引流座内吹动摆动条展开，使互通腔开合，最后将热量从隔层网表面的排气孔吹出，有效将电路板运作时产生的高温热量进行导出，使设备内部实现通风循环，表避免精密元器件遇热后运行卡顿，造成本体二次回路校验数据不精确的问题发生。本体二次回路校验数据不精确的问题发生。本体二次回路校验数据不精确的问题发生。

【技术实现步骤摘要】
一种CT本体二次回路校验设备


[0001]本技术涉及电气调试
，具体的是一种CT本体二次回路校验设备。

技术介绍

[0002]CT机，即电子计算机断层扫描，它是利用精确准直的X线束、γ射线、超声波等，与灵敏度极高的探测器一同围绕人体的某一部位作一个接一个的断面扫描，具有扫描时间快，图像清晰等特点，可用于多种疾病的检查；
[0003]当前一种CT本体二次回路校验设备，由于需要对CT本体进行回路校验，校验的途中内部固定满精密元器件的电路板同时运作计算，产生高度热量，从而导致精密元器件遇热后运行起来会存有卡顿，进而造成CT本体二次回路校验数据不精确。

技术实现思路

[0004]针对上述当前一种CT本体二次回路校验设备，由于需要对CT本体进行回路校验，校验的途中内部固定满精密元器件的电路板同时运作计算，产生高度热量，从而导致精密元器件遇热后运行起来会存有卡顿，进而造成CT本体二次回路校验数据不精确问题，本技术提供一种CT本体二次回路校验设备。
[0005]为了实现上述目的，本技术是通过如下的技术方案来实现：一种CT本体二次回路校验设备，其结构包括校验箱、信号灯、衔接插座、控制器、波段屏，所述校验箱表面与波段屏整体嵌固连接，所述波段屏下端与控制器整体间隙配合，所述控制器左侧与衔接插座整体间隙配合，所述衔接插座内部与信号灯内部活动配合，所述信号灯整体与控制器内部间隙配合。
[0006]更进一步的，所述校验箱包括热导槽、运作电源、散热器、箱本体、电路板、固器座，所述固器座表面与波段屏整体嵌固连接，所述热导槽内侧与电路板两端间隙配合，所述电路板整体与箱本体表面螺栓固定，所述箱本体后端与散热器整体螺栓固定，所述散热器表面与热导槽内部间隙配合，所述电路板顶端与固器座内部卡合连接，所述电路板表面与运作电源整体嵌固连接，所述固器座整体分布在箱本体表面前端，内部和电路板顶部进行卡合连接，两侧与热导槽内部间隙配合。
[0007]更进一步的，所述热导槽包括引流座、扇叶盘、固槽板、排气孔、隔尘网，所述固槽板底部与箱本体表面焊接连接，所述引流座内部与扇叶盘底部啮合连接，所述扇叶盘外侧与排气孔内侧间隙配合，所述排气孔内壁与隔尘网表面嵌固连接，所述隔尘网两端与固槽板内壁嵌固连接，所述扇叶盘一共设有五个，整体与引流座内部进行啮合连接，外侧和隔尘网、排气孔形成间隙配合。
[0008]更进一步的，所述引流座包括自转环、互通腔、固定杆、摆动条、座支架，所述自转环内部与扇叶盘底部啮合连接，所述自转环外壁与固定杆顶端焊接连接，所述固定杆底部与座支架表面螺栓固定，所述座支架表面与摆动条末端铰接连接，所述摆动条表面与互通腔整体活动配合，所述互通腔整体与座支架内部嵌固连接，所述摆动条设有两个，分别分布
在座支架的左右两侧，末端与其座支架表面进行铰接连接，表面与互通腔进行活动配合。
[0009]更进一步的，所述电路板表面与信号灯内部活动配合，所述信号灯共设三组，竖直分布在校验箱表面，内部和电路板进行活动配合，反馈设备是否运行正常，发出光亮提示。
[0010]更进一步的，所述扇叶盘整体呈圆盘形，设有四瓣弧形叶片，所述扇叶盘整体与引流座内部进行啮合连接。
[0011]有益效果
[0012]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0013]本技术通过热导槽在散热器的吹动向将电路板产生的高温热量进行导流，从而使扇叶盘间接被带动，进行旋转引导热流，热流在引流座内吹动摆动条展开，使互通腔开合，最后将热量从隔层网表面的排气孔吹出，有效将电路板运作时产生的高温热量进行导出，使设备内部实现通风循环，表避免精密元器件遇热后运行卡顿，造成本体二次回路校验数据不精确的问题发生。
附图说明
[0014]图1为本技术一种CT本体二次回路校验设备的结构示意图。
[0015]图2为本技术校验箱的俯视结构示意图。
[0016]图3为本技术热导槽的内部结构示意图。
[0017]图4为本技术引流座的内部结构示意图。
[0018]图中：校验箱
‑
1、信号灯
‑
2、衔接插座
‑
3、控制器
‑
4、波段屏
‑
5、热导槽
‑
11、运作电源
‑
12、散热器
‑
13、箱本体
‑
14、电路板
‑
15、固器座
‑
16、引流座
‑
111、扇叶盘
‑
112、固槽板
‑
113、排气孔
‑
114、隔尘网
‑
115、自转环
‑
a1、互通腔
‑
a2、固定杆
‑
a3、摆动条
‑
a4、座支架
‑
a5。
具体实施方式
[0019]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0021]实施例
[0022]如图1
‑
图4所示，本技术提供一种CT本体二次回路校验设备，其结构包括校验箱1、信号灯2、衔接插座3、控制器4、波段屏5，所述校验箱1表面与波段屏5整体嵌固连接，所述波段屏5下端与控制器4整体间隙配合，所述控制器4左侧与衔接插座3整体间隙配合，所述衔接插座3内部与信号灯2内部活动配合，所述信号灯2整体与控制器4内部间隙配合，所述校验箱 1包括热导槽11、运作电源12、散热器13、箱本体14、电路板 15、固器座16，所述固器座16表面与波段屏5整体嵌固连接，所述热导槽11内侧与电路板15两端间隙配合，所述电
路板15整体与箱本体14表面螺栓固定，所述箱本体14后端与散热器13整体螺栓固定，所述散热器13表面与热导槽11内部间隙配合，所述电路板15顶端与固器座16内部卡合连接，所述电路板15表面与运作电源12整体嵌固连接，所述固器座16整体分布在箱本体 14表面前端，内部和电路板15顶部进行卡合连接，两侧与热导槽11内部间隙配合，其中固器座16有利于将校验箱1表面的控制设备、显示设备和连接设进行固定，使这些设备保持在一个操控版面上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CT本体二次回路校验设备，其结构包括校验箱(1)、信号灯(2)、衔接插座(3)、控制器(4)、波段屏(5)，其特征在于：所述校验箱(1)表面与波段屏(5)整体嵌固连接，所述波段屏(5)下端与控制器(4)整体间隙配合，所述控制器(4)左侧与衔接插座(3)整体间隙配合，所述衔接插座(3)内部与信号灯(2)内部活动配合，所述信号灯(2)整体与控制器(4)内部间隙配合；所述校验箱(1)包括热导槽(11)、运作电源(12)、散热器(13)、箱本体(14)、电路板(15)、固器座(16)，所述固器座(16)表面与波段屏(5)整体嵌固连接，所述热导槽(11)内侧与电路板(15)两端间隙配合，所述电路板(15)整体与箱本体(14)表面螺栓固定，所述箱本体(14)后端与散热器(13)整体螺栓固定，所述散热器(13)表面与热导槽(11)内部间隙配合，所述电路板(15)顶端与固器座(16)内部卡合连接，所述电路板(15)表面与运作电源(12)整体嵌固连接。2.根据权利要求1所述的一种CT本体二次回路校验设备，其特征在于：所述热导槽(11)包括引流座(111)、扇叶盘(112)、固槽板(113)、排气孔(114)、隔尘网(115)，所述固槽板(11...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾恕嘉，汪凤月，李泳龙，钟建，曾加跃，王少龙，
申请(专利权)人：大唐水电科学技术研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：