一种四通道微波光延迟线测试系统及其方法技术方案

本发明专利技术公开了一种四通道微波光延迟线测试系统及其方法，包括网络分析仪；发射部分，与所述网络分析仪的参考发射端口相连；接收部分，与所述网络分析仪的参考接收端口及所述网络分析仪的测试接收端口相连。所述测试方法根据网络分析仪的接收端口的读数计算微波光延迟线的四个输出端口的相位差。本发明专利技术基于普通的双端口矢量网络分析仪，而不需要宽带微波源和额外的软件，完成对一个四通道微波光延迟线的所有通道同时进行快速测试，提高了测试效率，降低了测试难度与成本。降低了测试难度与成本。降低了测试难度与成本。

【技术实现步骤摘要】
一种四通道微波光延迟线测试系统及其方法


[0001]本专利技术涉及一种四通道微波光延迟线测试系统及一种四通道微波光延迟线测试方法，属于微波测试


技术介绍

[0002]随着通信技术的发展，光控相控阵天线成为未来通信相控阵天线发展的重要方向，相关的测试问题也随之出现。光控相控阵天线的工作模式与普通无源相控阵天线不同，最大的差别在于光控相控阵天线使用的是微波光延迟线。与传统电调移相器相比，微波光延迟线可以实现真实时间延迟，具有瞬时带宽大和损耗低等优点。但是微波光延迟线通常与微波源、激光源集成在一起，不方便单独测试。哪怕分离出来进行单独测试，又需要额外配置微波源。微波光延迟线的测试需要宽带的微波源，而宽带高频的微波源成本高昂，一般的光控相控阵系统不会专门配置。
[0003]此外，从微波光延迟线解调出来的各通道微波信号的相位的测试需要采用网络分析仪，普通双端口网分最多同时测试双通道，超过双通道是需要多次连线测试，效率较低。目前市面上的产品基本上都集成了微波源，没有单独测试或者需要额外的测试微波源；对于单通道或者多通道微波光延迟线的测试并没有既定的标准，基本沿用普通移向器的测试方法，同时可以测试的通道数有限；国内外厂商也未见相关的微波光延迟线的测试方案。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种简便的四通道微波光延迟线测试系统及一种四通道微波光延迟线测试方法，特别是该系统可以基于普通的双端口网络分析仪，而不需要宽带微波源，对一个四通道微波光延迟线的所有通道同时进行快速测试，提高了测试效率，降低了测试难度与成本。
[0005]为达到上述目的，本专利技术提供一种四通道微波光延迟线测试系统，包括：网络分析仪；发射部分，与所述网络分析仪的参考发射端口相连；接收部分，与所述网络分析仪的参考接收端口及所述网络分析仪的测试接收端口相连。
[0006]优先地，参考接收端口包括第一参考接收端口和第二参考接收端口；测试接收端口包括第一测试接收端口和第二测试接收端口；所述网络分析仪是具有端口一和端口二的双端口矢量网络分析仪，端口一通过跳线提供独立的第一参考接收端口和独立的第一测试接收端口，端口二通过跳线提供独立的第二参考接收端口和独立的第二测试接收端口，所述网络分析仪通过跳线提供参考发射端口。
[0007]优先地，所述发射部分包括低噪放、第一可调衰减器和待测微波光延迟线的信号输入端口，所述低噪放的输入端连接网络分析仪的参考发射端口，所述低噪放的输出端通
过第一可调衰减器连接待测微波光延迟线的信号输入端口。
[0008]优先地，所述低噪放的增益不小于50dB。
[0009]优先地，所述接收部分包括第二可调衰减器、第三可调衰减器和待测微波光延迟线的四个输出端口；待测微波光延迟线的四个输出端口为第一输出端口、第二输出端口、第三输出端口和第四输出端口，第一输出端口连接网络分析仪的第一测试接收端口，第二输出端口通过第三可调衰减器连接第一参考接收端口，第三输出端口通过第二可调衰减器连接网络分析仪的第二参考接收端，第四输出端口通过可调衰减器连接网络分析仪的第二测试接收端口。
[0010]优先地，所述第一可调衰减器、第二可调衰减器和第三可调衰减器的衰减范围均不小于30dB，所述第一可调衰减器、第二可调衰减器和第三可调衰减器的最小步长均不大于1dB。
[0011]一种四通道微波光延迟线测试方法，，包括：根据所述网络分析仪的第一参考接收端口的读数R1、第二参考接收端口的读数R2、第一测试接收端口的读数A和第二测试接收端口的读数B，计算所述待测微波光延迟线的四个输出端口的幅度和相位：以所述输出端口P1的相位作为初始参考相位，则所述P2相对于P1的相位差分别为，P3相对于P1的相位差分别为，P4相对于P1的相位差分别为。
[0012]本专利技术所达到的有益效果：本专利技术提出一种四通道微波光延迟线测试系统，该系统可以基于普通的双端口矢量网络分析仪，对一个四通道微波光延迟线的所有通道同时进行快速测试，提高了测试效率。
[0013]本专利技术提出的四通道微波光延迟线测试系统结构简单，成本较低。在硬件方面充分利用了网络分析仪的内置信号源，因此待测光延迟线无需额外的宽带微波源；除了网络分析仪，只需要低噪放和衰减器，成本较低。本专利技术只需要实用仪表自带的S参数测量，就可以获得所有端口的相位测试结果，而无需额外的软件，降低了测试难度与成本。
附图说明
[0014]图1为本专利技术的电路图；图2为本专利技术的流程图。
[0015]附图标记含义，1
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待测微波光延迟线；2
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低噪放；3
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第一可调衰减器；4
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网络分析仪；5
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第二可调衰减器；6
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第三可调衰减器；7
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工控机；10
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信号输入端口；11
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第一输出端口；12
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第二输出端口；13
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第三输出端口；14
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第四输出端口；41
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参考发射端口；42
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第一测试接收端口；43
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第一参考接收端口；45
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第二测试接收端口；46
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第二参考接收端口。
具体实施方式
[0016]以下实施例仅用于更加清楚地说明本专利技术的技术方案，而不能以此来限制本专利技术的保护范围。
[0017]需要说明，若本专利技术实施例中有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后......)，则其仅用于解释在某一特定姿态下各部件之间的相对位置关系和运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0018]另外，若在本专利技术中涉及“第一”和“第二”等的描述，则其仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”和“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0019]如图1
‑
2所示，本专利技术提供一种四通道微波光延迟线测试系统，包括：网络分析仪4；发射部分，与所述网络分析仪的参考发射端口41相连；接收部分，与所述网络分析仪的第一参考接收端口43、第二参考接收端口46、第一测试接收端口42和第二测试接收端口45相连；测试方法，可以根据网络分析仪4的接收端口的读数计算待测微波光延迟线1的四个输出端口的相位差。
[0020]所述网络分析仪是具有端口一和端口二的双端口矢量网络分析仪，本实施例中采用的是Agilent PNA 8363C。其中端口一可通过跳线提供独立的第一测试接收端口42和第一参考接收端口43，端口二可通过跳本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种四通道微波光延迟线测试系统，其特征在于，包括：网络分析仪；发射部分，与所述网络分析仪的参考发射端口相连；接收部分，与所述网络分析仪的参考接收端口及所述网络分析仪的测试接收端口相连。2.根据权利要求1所述的一种四通道微波光延迟线测试系统，其特征在于，参考接收端口包括第一参考接收端口和第二参考接收端口；测试接收端口包括第一测试接收端口和第二测试接收端口；所述网络分析仪是具有端口一和端口二的双端口矢量网络分析仪，端口一通过跳线提供独立的第一参考接收端口和独立的第一测试接收端口，端口二通过跳线提供独立的第二参考接收端口和独立的第二测试接收端口，所述网络分析仪通过跳线提供参考发射端口。3.根据权利要求1所述的一种四通道微波光延迟线测试系统，其特征在于，所述发射部分包括低噪放、第一可调衰减器和待测微波光延迟线的信号输入端口，所述低噪放的输入端连接网络分析仪的参考发射端口，所述低噪放的输出端通过第一可调衰减器连接待测微波光延迟线的信号输入端口。4.根据权利要求3所述的一种四通道微波光延迟线测试系统，其特征在于，所述低噪放的增益不小于50dB。5.根据权利要求3所述的一种四通道微波光延迟线测试系统，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：段维嘉，徐结海，张照锋，顾斌，谭立容，
申请(专利权)人：南京信息职业技术学院，
类型：发明
国别省市：